專利名稱：光模塊測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及光通信技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種光模塊測試方法。
背景技術(shù)：
在生產(chǎn)通信光模塊的過程中，需要對光模塊進行各種性能參數(shù)測試，例如對光模塊發(fā)射光功率、接收光功率、光眼圖等的測試。測試前將多個待測光模塊安裝在測試板上，位于測試板上的光模塊通過多路光開關(guān)與各種光路測試儀器連接，測試主機與連接測試板，控制測試板對多個光模塊進行測試。目前在測試過程中，如果遇到停電等故障，工人需要對所有光模塊重新進行測試，浪費人力物力，生產(chǎn)成本增加，光模塊測試效率大大降低
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)中所存在的上述不足，提供一種提高測試效率、節(jié)省人力物力財力的光模塊測試方法。為了實現(xiàn)上述發(fā)明目的，本發(fā)明提供了以下技術(shù)方案
一種光模塊測試方法，該方法包括如下步驟
a)在多個不同環(huán)境溫度下對至少一個具有唯一序列號的待測光模塊進行至少一個測試項的測試；
b)將當(dāng)前測試時的環(huán)境溫度、待測光模塊序列號和每個測試項的測試數(shù)據(jù)相關(guān)聯(lián)以索引表方式存儲在本地數(shù)據(jù)庫中，所述每個測試項的測試數(shù)據(jù)以待測光模塊序列號為索引，所述待測光模塊序列號以環(huán)境溫度為索引；其中，每個環(huán)境溫度對應(yīng)至少一個待測光模塊序列號，每個待測光模塊序列號再對應(yīng)至少一個測試項的測試數(shù)據(jù)；
c)當(dāng)測試中斷重新測試時，將本地數(shù)據(jù)庫中存儲的索引表查找判斷每個環(huán)境溫度下哪些待測光模塊未完成所有測試項，對未完成所有測試項的待測光模塊繼續(xù)進行測試。其中，所述步驟a)和步驟c)中，當(dāng)一個環(huán)境溫度下所有待測光模塊的測試項都測試完后，再進行下一環(huán)境溫度下所有待測光模塊的測試。進一步的，當(dāng)一個待測光模塊的所有測試項都完成后，再測試下一個待測光模塊；若一個待測光模塊的所有測試項未完成，則下次重新測試該待測光模塊。所述測試項為光功率測試、光眼圖測試，消光比測試、靈敏度測試中的至少一個。根據(jù)本發(fā)明實施例，當(dāng)完成一輪測試后將本地數(shù)據(jù)庫中存儲的測試數(shù)據(jù)上傳到服務(wù)器存儲。根據(jù)本發(fā)明實施例，當(dāng)將本地數(shù)據(jù)庫中存儲的測試數(shù)據(jù)上傳至服務(wù)器失敗后，由人工手動將本地數(shù)據(jù)庫中存儲的測試數(shù)據(jù)導(dǎo)入服務(wù)器。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果
本發(fā)明的光模塊測試方法在多個不同環(huán)境溫度下對至少一個具有唯一序列號的待測光模塊進行至少一個測試項的測試；將當(dāng)前測試時的環(huán)境溫度、待測光模塊序列號和每個測試項的測試數(shù)據(jù)相關(guān)聯(lián)以索引表方式存儲在本地數(shù)據(jù)庫中，當(dāng)測試中斷重新測試時，可以根據(jù)本地數(shù)據(jù)庫中存儲的索引表查找判斷每個環(huán)境溫度下哪些待測光模塊未完成所有測試項，對未完成所有測試項的待測光模塊繼續(xù)進行測試，不需要對已經(jīng)完成所有測試的光模塊重新進行測試，避免了重復(fù)測試，測試效率提高，節(jié)省人力物力財力，降低生產(chǎn)成本。


圖1為本發(fā)明測試方法流程圖。
具體實施例方式下面結(jié)合試驗例及具體實施方式
對本發(fā)明作進一步的詳細(xì)描述。但不應(yīng)將此理解為本發(fā)明上述主題的范圍僅限于以下的實施例，凡基于本發(fā)明內(nèi)容所實現(xiàn)的技術(shù)均屬于本發(fā)明的范圍。 本發(fā)明測試前將多個待測光模塊安裝在測試板上，多個待測光模塊通過測試板與各種測試儀器連接，例如光功率計(測試光功率)、示波器(測試光眼圖)，衰減器(測試靈敏度，過載，光功率差損等)等。測試主機與測試板總線連接，將安裝有多個待測光模塊的測試板放置在溫箱中，測試主機控制溫箱溫度，同時控制測試板對多個待測光模塊進行測試。以上這些都是現(xiàn)有成熟技術(shù)，不再詳述。參考圖1，本發(fā)明的光模塊測試方法包括如下步驟
a)在多個不同環(huán)境溫度下對至少一個具有唯一序列號的待測光模塊進行至少一個測試項的測試。測試主機控制調(diào)節(jié)溫箱溫度，在每一個測試環(huán)境溫度下，對光模塊進行至少一個測試項的測試。測試主機通過下發(fā)指令到測試板掃描讀取光模塊序列號并保存在測試主機內(nèi)備用。測試數(shù)據(jù)以環(huán)境溫度、光模塊序列號為索引保存，一一對應(yīng)。b)測試主機將當(dāng)前測試時的環(huán)境溫度、待測光模塊序列號和每個測試項的測試數(shù)據(jù)相關(guān)聯(lián)以索引表方式存儲在本地數(shù)據(jù)庫中，所述每個測試項的測試數(shù)據(jù)以待測光模塊序列號為索引，所述待測光模塊序列號以環(huán)境溫度為索引；其中，每個環(huán)境溫度對應(yīng)至少一個待測光模塊序列號，每個待測光模塊序列號再對應(yīng)至少一個測試項的測試數(shù)據(jù)。其中所述本地數(shù)據(jù)庫可以位于測試主機內(nèi)，也可以是單獨的與測試主機連接的本地數(shù)據(jù)庫。c)當(dāng)測試中斷重新測試時，測試主機從本地數(shù)據(jù)庫中讀取與每個環(huán)境溫度下各待測光模塊對應(yīng)的測試項及該項測試數(shù)據(jù)，判斷每個環(huán)境溫度下哪些待測光模塊未完成所有測試項，對未完成所有測試項的待測光模塊繼續(xù)進行測試。完成本次所有光模塊測試后取下所有光模塊，在測試板上安裝下一批光模塊進行測試。測試時可根據(jù)情況選擇需要重新測試的光模塊和溫度點，對未完成待測溫度點測試的光模塊及未完成該溫度點對應(yīng)的所有測試項的光模塊繼續(xù)進行測試，而不需要重新對已完成多溫度點測試的光模塊進行重復(fù)測試，測試效率提高。其中，所述步驟a)和步驟c)中，當(dāng)一個環(huán)境溫度下所有待測光模塊的測試項都測試完后，再進行下一環(huán)境溫度下所有待測光模塊的測試。當(dāng)一個待測光模塊的所有測試項都完成后，再測試下一個待測光模塊；若一個待測光模塊的所有測試項未完成，則下次重新測試該待測光模塊。所述測試項為光功率測試、光眼圖測試，消光比測試，靈敏度測試中的至少一個，但不限于以上幾種，還可以包括過載測試，光功率差損測試等常用測試項，這里不--列出。為了保證數(shù)據(jù)存儲的安全可靠性，所述本地數(shù)據(jù)庫(位于測試主機內(nèi))還連接有服務(wù)器，當(dāng)完成一輪測試后將本地數(shù)據(jù)庫中存儲的測試數(shù)據(jù)上傳到服務(wù)器存儲。進一步的，當(dāng)由于網(wǎng)絡(luò)或其他原因?qū)⒈镜財?shù)據(jù)庫中存儲的測試數(shù)據(jù)上傳至服務(wù)器失敗后，由人工手動將本地數(shù)據(jù)庫中存儲的測試數(shù)據(jù)導(dǎo)入服務(wù)器，不丟失數(shù)據(jù)，增強數(shù)據(jù)存儲安全可靠性。本發(fā)明的光模塊測試方法通過軟硬件的結(jié)合實現(xiàn)，在多個不同環(huán)境溫度下對至少一個具有唯一序列號的待測光模塊進行至少一個測試項的測試；將當(dāng)前測試時的環(huán)境溫度、待測光模塊序列號和每個測試項的測試數(shù)據(jù)相關(guān)聯(lián)以索引表方式存儲在本地數(shù)據(jù)庫中，每個環(huán)境溫度下對應(yīng)所有待測光模塊序列號，每個待測光模塊序列號再對應(yīng)多個測試項及相應(yīng)的測試數(shù)據(jù)，當(dāng)測試中斷重新測試時，可以根據(jù)本地數(shù)據(jù)庫中存儲的索引表查找判斷每個環(huán)境溫度下哪些待測光模塊未完成所有測試項，對未完成所有測試項的待測光模塊繼續(xù)進行測試，不需要對已經(jīng)完成所有測試的光模塊重新進行測試，避免了重復(fù)測試，測 試效率提高，節(jié)省人力物力財力，降低生產(chǎn)成本。
權(quán)利要求
1.一種光模塊測試方法，其特征在于，該方法包括如下步驟 a)在多個不同環(huán)境溫度下對至少一個具有唯一序列號的待測光模塊進行至少一個測試項的測試； b)將當(dāng)前測試時的環(huán)境溫度、待測光模塊序列號和每個測試項的測試數(shù)據(jù)相關(guān)聯(lián)以索引表方式存儲在本地數(shù)據(jù)庫中，所述每個測試項的測試數(shù)據(jù)以待測光模塊序列號為索引，所述待測光模塊序列號以環(huán)境溫度為索引；其中，每個環(huán)境溫度對應(yīng)至少一個待測光模塊序列號，每個待測光模塊序列號再對應(yīng)至少一個測試項的測試數(shù)據(jù)； c)當(dāng)測試中斷重新測試時，根據(jù)本地數(shù)據(jù)庫中存儲的索引表查找判斷每個環(huán)境溫度下哪些待測光模塊未完成所有測試項，對未完成所有測試項的待測光模塊繼續(xù)進行測試。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述光模塊測試方法，其特征在于，所述步驟a)和步驟c)中，當(dāng)一個環(huán)境溫度下所有待測光模塊的測試項都測試完后，再進行下一環(huán)境溫度下所有待測光模塊的測試。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述光模塊測試方法，其特征在于，當(dāng)一個待測光模塊的所有測試項都完成后，再測試下一個待測光模塊；若一個待測光模塊的所有測試項未完成，則下次重新測試該待測光模塊。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2或3所述光模塊測試方法，其特征在于，所述測試項為光功率測試、光眼圖測試，消光比測試、靈敏度測試中的至少一個。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述光模塊測試方法，其特征在于，當(dāng)完成一輪測試后將本地數(shù)據(jù)庫中存儲的測試數(shù)據(jù)上傳到服務(wù)器存儲。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述光模塊測試方法，其特征在于，當(dāng)本地數(shù)據(jù)庫中存儲的測試數(shù)據(jù)上傳至服務(wù)器失敗后，由人工手動將本地數(shù)據(jù)庫中存儲的測試數(shù)據(jù)導(dǎo)入服務(wù)器。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種光模塊測試方法，包括如下步驟在多個不同環(huán)境溫度下對至少一個具有唯一序列號的待測光模塊進行至少一個測試項的測試；將當(dāng)前測試時的環(huán)境溫度、待測光模塊序列號和每個測試項的測試數(shù)據(jù)相關(guān)聯(lián)以索引表方式存儲在本地數(shù)據(jù)庫中，所述每個測試項的測試數(shù)據(jù)以待測光模塊序列號為索引，所述待測光模塊序列號以環(huán)境溫度為索引；當(dāng)測試中斷重新測試時，根據(jù)本地數(shù)據(jù)庫中存儲的索引表查找判斷每個環(huán)境溫度下哪些待測光模塊未完成所有測試項，對未完成所有測試項的待測光模塊繼續(xù)進行測試。本發(fā)明方法不需要對已經(jīng)完成所有測試的光模塊重新進行測試，避免了重復(fù)測試，測試效率提高。
文檔編號H04B10/07GK103001693SQ20121056991
公開日2013年3月27日 申請日期2012年12月25日 優(yōu)先權(quán)日2012年12月25日
發(fā)明者古穎泉, 陳曉鵬, 胡云, 克瑞斯·勞鮑特 申請人:索爾思光電(成都)有限公司