技術編號：6229869
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明公開一種光譜發(fā)射率的穩(wěn)態(tài)測試系統(tǒng)及方法，該系統(tǒng)包括樣品加熱單元，用于對樣品進行熱輻射加熱，所述樣品為具有漫射表面的不透明材料；光譜輻射能量測量單元，用于對樣品表面的多光譜有效輻射能量進行測量；光譜發(fā)射率反演單元，用于根據(jù)多光譜有效輻射能量反演樣品的光譜發(fā)射率與溫度。相比于光譜發(fā)射率直接測量法，本發(fā)明提供的方法無需參考黑體源，并克服了對高溫樣品溫度進行準確測量的依賴性；相比于基于發(fā)射率模型的光譜發(fā)射率測量方法，本發(fā)明提供的方法不依賴于光譜發(fā)射率建設模型...
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