技術(shù)編號:6289626
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本公開涉及調(diào)節(jié)硬盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)的溫度。 背景技術(shù)磁盤驅(qū)動器生產(chǎn)商通常要對其所生產(chǎn)的磁盤驅(qū)動器進行測試,以符合需求。為了 測試大量串聯(lián)或者并聯(lián)的磁盤驅(qū)動器,就要有測試設(shè)備和技術(shù)。生產(chǎn)商傾向于對大量磁盤 驅(qū)動器進行同時測試或者分批測試。磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)通常包括具有多個用于測試的測 試槽的一個或者多個支架,該測試槽容納磁盤驅(qū)動器。在制造磁盤驅(qū)動器期間,通常會控制磁盤驅(qū)動器的溫度,例如以確保磁盤驅(qū)動器 在預(yù)定溫度范圍內(nèi)的功能。為此,緊鄰磁盤驅(qū)動器的測試環(huán)境被精...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。