本發(fā)明涉及一種內(nèi)窺鏡系統(tǒng)，特別是涉及一種能夠進行誤比特率試驗的內(nèi)窺鏡系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

以往，一種具備向體腔內(nèi)等插入細長的內(nèi)窺鏡來進行被檢部位的觀察、各種處置的內(nèi)窺鏡的內(nèi)窺鏡系統(tǒng)被廣泛使用。作為這種內(nèi)窺鏡系統(tǒng)，例如在日本特開2002-199291號公報中公開了一種在內(nèi)窺鏡的目鏡部安裝有頭分離型攝像裝置(攝像頭)的內(nèi)窺鏡系統(tǒng)，該頭分離型攝像裝置(攝像頭)具有固體攝像元件。

該攝像頭包括內(nèi)置有固體攝像元件且與內(nèi)窺鏡的目鏡部連接的頭部、從頭部延伸出的電線纜、以及設置于電線纜的基端部的連接器部，該攝像頭經(jīng)由該連接器部而與攝像控制單元或視頻處理器裝卸自如地連接。向攝像控制單元輸入來自內(nèi)置于攝像頭的固體攝像元件的攝像信號。而且，攝像控制單元對被輸入的攝像信號實施規(guī)定的圖像處理并向連接的監(jiān)視器輸出，由此將內(nèi)窺鏡圖像顯示于監(jiān)視器。

近年來，關(guān)于醫(yī)療用的攝像頭，正朝向固體攝像元件高像素化并且驅(qū)動頻率高速化、輸出的影像數(shù)據(jù)量增加、向攝像控制單元傳輸影像的速率也提高的方向進化。另一方面，攝像控制單元為了使來自攝像頭的攝像信號與被連接的監(jiān)視器的性能匹配而實施影像信號的放大/縮小處理、截取區(qū)域等圖像處理后向監(jiān)視器輸出。

然而，關(guān)于以往的攝像頭，在向攝像控制單元發(fā)送由頭部的攝像元件拍攝到的攝像信號時，有可能由于干擾噪聲等混入攝像信號而發(fā)生傳輸錯誤。在發(fā)生了這種傳輸錯誤的情況下，無法判定是在從頭部向連接器部進行傳輸時存在錯誤還是在從連接器部向攝像控制單元進行傳輸時存在錯誤。另外，還設想到有可能由于線纜的特性劣化(在極端的情況下出現(xiàn)斷線、短路)而發(fā)生傳輸錯誤。在發(fā)生了這種傳輸錯誤的情況下，利用以往的攝像頭無法實現(xiàn)區(qū)分是在哪個位置發(fā)生了該傳輸錯誤的適當?shù)姆椒ā?/p>

因此，本發(fā)明的目的在于，提供一種能夠在發(fā)生了傳輸錯誤的情況下可靠地判別產(chǎn)生了錯誤的位置的內(nèi)窺鏡系統(tǒng)。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

用于解決問題的方案

本發(fā)明的一個方式的內(nèi)窺鏡系統(tǒng)具有：頭分離型攝像裝置以及信號處理裝置，該頭分離型攝像裝置具有頭部和連接器部，該頭部具有攝像元件，該連接器部經(jīng)由線纜而與所述頭部連接為一體，該信號處理裝置經(jīng)由所述連接器部而相對于所述頭分離型攝像裝置裝卸自如，在該內(nèi)窺鏡系統(tǒng)中，所述頭部具有：第一測試圖案生成部，其生成第一測試圖案信號；以及第一發(fā)送部，其經(jīng)由所述線纜而發(fā)送由所述第一測試圖案生成部生成的所述第一測試圖案信號，所述連接器部具有：第一接收部，其接收從所述第一發(fā)送部發(fā)送的所述第一測試圖案信號；第一檢測電路，其從由所述第一接收部接收到的所述第一測試圖案信號中檢測規(guī)定的數(shù)據(jù)圖案并輸出第一生成開始信號；第二測試圖案生成部，其基于所述第一生成開始信號生成作為與所述第一測試圖案相同的圖案信號的第二測試圖案信號；第一比較電路，其輸出將所述第一測試圖案信號與所述第二測試圖案信號進行比較所得到的比較結(jié)果；第三測試圖案生成部，其生成第三測試圖案信號；以及第二發(fā)送部，其發(fā)送由所述第三測試圖案生成部生成的所述第三測試圖案信號，所述信號處理裝置具有：第二接收部，其接收從所述第二發(fā)送部發(fā)送的所述第三測試圖案信號；第二檢測電路，其從由所述第二接收部接收到的所述第三測試圖案信號中檢測規(guī)定的數(shù)據(jù)圖案并輸出第二生成開始信號；第四測試圖案生成部，其基于所述第二生成開始信號生成作為與所述第三測試圖案相同的圖案信號的第四測試圖案信號；以及第二比較電路，其輸出將所述第三測試圖案信號與所述第四測試圖案信號進行比較所得到的比較結(jié)果。連接器部還具有控制信號的生成電路，該控制信號的生成電路進行指示以向頭部發(fā)送測試圖案信號。頭部還具有選擇電路，該選擇電路基于所述控制信號來在影像信號與測試圖案信號之間切換發(fā)送信號。

附圖說明

圖1是示出第一實施方式所涉及的內(nèi)窺鏡系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)的圖。

圖2是示出第一實施方式所涉及的內(nèi)窺鏡系統(tǒng)的攝像頭和攝像控制單元的詳細的電路結(jié)構(gòu)的圖。

圖3是用于說明對比部21的詳細的電路結(jié)構(gòu)的圖。

圖4是用于說明比較電路中的對比試驗的開始動作的例子的圖。

圖5是用于說明比較電路中的對比試驗的測試合格(Pass)時的結(jié)束動作的例子的圖。

圖6是用于說明比較電路中的對比試驗的測試不合格(Fail)時的結(jié)束動作的例子的圖。

圖7是示出第二實施方式所涉及的內(nèi)窺鏡系統(tǒng)的攝像頭和攝像控制單元的詳細的電路結(jié)構(gòu)的圖。

圖8是用于說明連接器部4d的結(jié)構(gòu)的圖。

圖9A是用于說明雙扭線線纜的結(jié)構(gòu)的圖。

圖9B是用于說明同軸線纜的結(jié)構(gòu)的圖。

具體實施方式

下面，參照附圖來詳細地說明本發(fā)明的實施方式。

(第一實施方式)

圖1是示出第一實施方式所涉及的內(nèi)窺鏡系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)的圖，圖2是示出第一實施方式所涉及的內(nèi)窺鏡系統(tǒng)的攝像頭和攝像控制單元的詳細的電路結(jié)構(gòu)的圖。

如圖1所示，內(nèi)窺鏡系統(tǒng)1例如構(gòu)成為具有：光學式的內(nèi)窺鏡2、與該內(nèi)窺鏡2的目鏡部3裝卸自如地連接的攝像頭4、裝卸自如地連接攝像頭4的攝像控制單元(以下稱為CCU(central control unit：中央控制單元))5、用于向內(nèi)窺鏡2供給照明光的光源裝置6、被輸入由CCU 5的后述的圖像處理部生成的影像信號并顯示觀察圖像的監(jiān)視器7、以及用于進行后述的對比試驗開始的指示、對比試驗結(jié)果的顯示以及對比試驗結(jié)果的記錄等的個人計算機(以下稱為計算機)8。

計算機8具有用于顯示對比試驗結(jié)果等的顯示部8a、以及用于進行對比試驗開始的指示等的鍵盤8b和鼠標8c。另外，計算機8具有用于記錄對比試驗結(jié)果的未圖示的記錄部。

作為頭分離型攝像裝置的攝像頭4具有與目鏡部3連接的頭部4a、從頭部4a延伸出的線纜4b、以及設置于線纜4b的基端部的連接器部4c。攝像頭4經(jīng)由該連接器部4c而與CCU 5連接。

此外，雖然以對內(nèi)窺鏡2連接攝像頭4進行說明，但是例如也能夠連接放大率等的規(guī)格不同的其它攝像頭。另外，還能夠?qū)CU 5連接作為醫(yī)療設備的手術(shù)器具等。

如圖2所示，頭部4a構(gòu)成為具有：包括CMOS(Complementary Metal OxideSemiconductor：互補金屬氧化物半導體)傳感器的攝像元件10、控制信號接收部11、測試信號生成部12、切換部13以及并串/LVDS發(fā)送部14。此外，攝像元件10不限定于CMOS傳感器，也可以是CCD(Charge-coupled Device：電荷耦合元件)傳感器等。

另外，連接器部4c構(gòu)成為具有串并/LVDS接收部20、對比部21、測試信號生成部22、控制信號發(fā)送接收部23、測試信號生成部24、切換部25以及并串/LVDS發(fā)送部26。

另外，CCU 5構(gòu)成為具有串并/LVDS接收部30、對比部31、測試信號生成部32、控制信號發(fā)送接收部33、圖像處理部34以及CCU控制部35。

來自光源裝置6的照明光經(jīng)由未圖示的光導件而向內(nèi)窺鏡2傳輸，并經(jīng)由插入部內(nèi)的未圖示的光導件而從插入部的前端面向被攝體照射。從被攝體返回的光被頭部4a的攝像元件10拍攝。由攝像元件10拍攝得到的攝像信號向切換部13輸出。

在通常的內(nèi)窺鏡觀察時，切換部13將來自攝像元件10的攝像信號向連接器部4c的并串/LVDS發(fā)送部14輸出。此外，在實施后述的對比試驗的情況下，切換部13基于來自控制信號接收部11的切換信號，將由測試信號生成部12生成的測試信號向并串/LVDS發(fā)送部14輸出。

并串/LVDS發(fā)送部14將被輸入的攝像信號從并行轉(zhuǎn)換為串行，并以LVDS(Low-Voltage Differential Signaling：低電壓差動信號)向串并/LVDS接收部20發(fā)送。串并/LVDS接收部20將接收到的攝像信號從串行轉(zhuǎn)換為并行，并向切換部25輸出。

在通常的內(nèi)窺鏡觀察時，切換部25將來自串并/LVDS接收部20的攝像信號向并串/LVDS發(fā)送部26輸出。此外，在實施后述的對比試驗的情況下，切換部25基于來自控制信號發(fā)送接收部23的切換信號，將由測試信號生成部24生成的測試信號向并串/LVDS發(fā)送部26輸出。

并串/LVDS發(fā)送部26將被輸入的攝像信號從并行轉(zhuǎn)換為串行，并以LVDS向串并/LVDS接收部30發(fā)送。串并/LVDS接收部30將接收到的攝像信號從串行轉(zhuǎn)換為并行，并向圖像處理部34輸出。

圖像處理部34對被輸入的攝像信號實施規(guī)定的圖像處理來生成影像信號，并且將生成的影像信號向監(jiān)視器7輸出，由此將觀察圖像顯示于監(jiān)視器7。

在此，對頭部4a與連接器部4c之間的數(shù)據(jù)傳輸?shù)膶Ρ仍囼灥倪^程的一例進行說明。

首先，由用戶操作計算機8的鍵盤8b或鼠標8c，從計算機8向CCU控制部35發(fā)送用于指示對比試驗開始的命令。CCU控制部35將從計算機8發(fā)送的命令發(fā)送到控制信號發(fā)送接收部33?？刂菩盘柊l(fā)送接收部33將從CCU控制部35發(fā)送出的命令發(fā)送到連接器部4c的控制信號發(fā)送接收部23，控制信號發(fā)送接收部23將從控制信號發(fā)送接收部33發(fā)送的命令發(fā)送到頭部4a的控制信號接收部11。

頭部4a的控制信號接收部11當接收到用于指示對比試驗開始的命令時，向測試信號生成部12發(fā)送測試信號發(fā)生開始信號并且向切換部13發(fā)送用于切換為測試信號發(fā)送模式的切換信號。作為第一測試圖案生成部的測試信號生成部12當被輸入測試信號發(fā)生開始信號時，生成用于進行誤比特率試驗的測試信號并向切換部13輸出。

切換部13當被從控制信號接收部11輸入切換信號時，向并串/LVDS發(fā)送部14輸出由測試信號生成部12生成的測試信號。作為第一發(fā)送部的并串/LVDS發(fā)送部14將從切換部13輸入的測試信號從并行轉(zhuǎn)換為串行，以LVDS向連接器部4c的串并/LVDS接收部20發(fā)送。

作為第一接收部的串并/LVDS接收部20接收來自并串/LVDS發(fā)送部14的測試信號，將接收到的測試信號從串行轉(zhuǎn)換為并行后向?qū)Ρ炔?1輸出。對比部21當從被輸入的測試信號檢測出規(guī)定的數(shù)據(jù)圖案時，向測試信號生成部22輸出用于開始生成測試信號的生成開始信號。作為第二測試圖案生成部的測試信號生成部22當被輸入生成開始信號時，生成作為與由測試信號生成部12生成的測試信號相同的圖案信號的測試信號，向?qū)Ρ炔?1輸出生成的測試信號。

對比部21將來自串并/LVDS接收部20的測試信號與來自測試信號生成部22的測試信號進行比較，向控制信號發(fā)送接收部23輸出比較結(jié)果。在比較結(jié)果一致的情況下、即在來自串并/LVDS接收部20的測試信號與來自測試信號生成部22的測試信號一致的情況下，判定為在頭部4a與連接器部4c之間的數(shù)據(jù)傳輸中沒有錯誤。另一方面，在比較結(jié)果不一致的情況下、即在來自串并/LVDS接收部20的測試信號與來自測試信號生成部22的測試信號不一致的情況下，判定為在頭部4a與連接器部4c之間的數(shù)據(jù)傳輸中存在錯誤。

控制信號發(fā)送接收部23將來自對比部21的比較結(jié)果發(fā)送到CCU 5的控制信號發(fā)送接收部33?？刂菩盘柊l(fā)送接收部33向CCU控制部35發(fā)送所接收到的比較結(jié)果。計算機8通過對CCU控制部35進行訪問來獲取比較結(jié)果，并將獲取到的比較結(jié)果顯示于顯示部8a或記錄于存儲器等記錄部。

接著，說明連接器部4c與CCU 5之間的數(shù)據(jù)傳輸?shù)膶Ρ仍囼灥倪^程的一例。

首先，由用戶操作計算機8的鍵盤8b或鼠標8c，從計算機8向CCU控制部35發(fā)送用于指示對比試驗開始的命令。CCU控制部35將從計算機8發(fā)送的命令發(fā)送到控制信號發(fā)送接收部33，控制信號發(fā)送接收部33將從CCU控制部35發(fā)送的命令發(fā)送到連接器部4c的控制信號發(fā)送接收部23。

連接器部4c的控制信號發(fā)送接收部23當接收到用于指示對比試驗開始的命令時，向測試信號生成部24發(fā)送測試信號發(fā)生開始信號并且向切換部25發(fā)送用于切換為測試信號發(fā)送模式的切換信號。作為第三測試圖案生成部的測試信號生成部24當被輸入測試信號發(fā)生開始信號時，生成用于進行誤比特率試驗的測試信號并向切換部25輸出。

切換部25當被從控制信號發(fā)送接收部23輸入切換信號時，向并串/LVDS發(fā)送部26輸出由測試信號生成部24生成的測試信號。作為第二發(fā)送部的并串/LVDS發(fā)送部26將被從切換部25輸入的測試信號從并行轉(zhuǎn)換為串行，以LVDS向CCU 5的串并/LVDS接收部30發(fā)送。

作為第二接收部的串并/LVDS接收部30接收來自并串/LVDS發(fā)送部26的測試信號，并將接收到的測試信號從串行轉(zhuǎn)換為并行后向?qū)Ρ炔?1輸出。對比部31當從被輸入的測試信號檢測出規(guī)定的數(shù)據(jù)圖案時，向測試信號生成部32輸出用于開始生成測試信號的生成開始信號。作為第四測試圖案生成部的測試信號生成部32當被輸入生成開始信號時，生成作為與由測試信號生成部24生成的測試信號相同的圖案信號的測試信號，向?qū)Ρ炔?1輸出生成的測試信號。

對比部31將來自串并/LVDS接收部30的測試信號與來自測試信號生成部32的測試信號進行比較，向CCU控制部35輸出比較結(jié)果。判定方法同在上述的頭部4a與連接器部4c之間傳輸數(shù)據(jù)時相同，在比較結(jié)果一致的情況下，判定為在連接器部4c與CCU 5之間的數(shù)據(jù)傳輸中沒有錯誤，在比較結(jié)果不一致的情況下，判定為在連接器部4c與CCU 5之間的數(shù)據(jù)傳輸中存在錯誤。

計算機8通過對CCU控制部35進行訪問來獲取比較結(jié)果，并將獲取到的比較結(jié)果顯示于顯示部8a或存儲于存儲器等存儲部。

此外，用于指示頭部4a與連接器部4c之間的數(shù)據(jù)傳輸?shù)膶Ρ仍囼灥拿钆c用于指示連接器部4c與CCU 5之間的數(shù)據(jù)傳輸?shù)膶Ρ仍囼灥拿罴瓤梢允窍嗤拿?，也可以是彼此不同的命令。即，既可以利用一個命令來進行兩個對比試驗，也可以利用第一命令來進行頭部4a與連接器部4c之間的數(shù)據(jù)傳輸?shù)膶Ρ仍囼炃依玫诙顏磉M行連接器部4c與CCU 5之間的數(shù)據(jù)傳輸?shù)膶Ρ仍囼灐?/p>

在此，使用圖3至圖6來說明對比試驗的動作。

圖3是用于說明對比部21的詳細的電路結(jié)構(gòu)的圖，圖4是用于說明比較電路中的對比試驗的開始動作的例子的圖，圖5是用于說明比較電路中的對比試驗的測試合格(Pass)時的結(jié)束動作的例子的圖，圖6是用于說明比較電路中的對比試驗的測試不合格(Fail)時的結(jié)束動作的例子的圖。此外，對比部21與對比部31是相同的結(jié)構(gòu)且進行相同的對比試驗的動作，因此，下面，作為代表，說明對比部21。

如圖3所示，對比部21構(gòu)成為具有檢測電路40、延遲電路41以及比較電路42。由頭部4a的測試信號生成部12生成用于評價高速的數(shù)字信號的傳輸品質(zhì)的PRBS(Pseudo Random Bit Sequence：偽隨機比特序列)23信號來作為測試信號，生成的PRBS23信號經(jīng)由切換部13、并串/LVDS發(fā)送部14以及串并/LVDS接收部20而輸入到對比部21的檢測電路40和延遲電路41。

檢測電路40當從被輸入的PRBS23信號檢測出規(guī)定的數(shù)據(jù)圖案時，向測試信號生成部22發(fā)送用于開始生成測試信號的生成開始信號(觸發(fā)信號)。在圖4的例子中，檢測電路40從被輸入的PRBS23信號檢測出“FFF”“7FF”連續(xù)而成的數(shù)據(jù)圖案而生成了生成開始信號。

測試信號生成部22當被從對比部21的檢測電路40輸入生成開始信號時，以與向?qū)Ρ炔?1輸入的PRBS23信號相同的順序生成數(shù)據(jù)圖案(PRBS23信號)，向比較電路42輸出生成的PRBS23信號。

另外，延遲電路41使被輸入的PRBS23信號延遲規(guī)定的期間例如兩個時鐘，將延遲了兩個時鐘的PRBS23信號輸出到比較電路42。

如圖4所示，在檢測電路40中生成了生成開始信號之后，比較電路42將由測試信號生成部22生成的PRBS23信號與從延遲電路41輸入的PRBS23信號進行比較并針對規(guī)定的數(shù)據(jù)量確認是否一致。

比較電路42具備對比較過的數(shù)據(jù)數(shù)進行計數(shù)的計數(shù)器、對比較過的數(shù)據(jù)的一致數(shù)進行計數(shù)的計數(shù)器、以及通過從比較過的數(shù)據(jù)數(shù)減去一致數(shù)來對錯誤數(shù)進行計數(shù)的錯誤計數(shù)器。

比較電路42檢測錯誤計數(shù)器的錯誤數(shù)是否為0，將檢測結(jié)果轉(zhuǎn)換為以0(“低(Low)”)或1(“高(High)”)表示的判定信號(比較結(jié)果)輸出。比較電路42例如在錯誤數(shù)為0的情況下，輸出表示測試合格(Pass)的1(“高”)的判定信號，在錯誤數(shù)為1以上的情況下，輸出表示測試不合格(Fail)的0(“低”)的判定信號。

此外，比較電路42通過判定錯誤數(shù)是否為0來判定測試合格(Pass)還是不合格(Fail)，但是不限定于此，也可以使用規(guī)定的閾值來進行判定。具體地說，例如在錯誤計數(shù)器的錯誤數(shù)小于規(guī)定的錯誤數(shù)(規(guī)定的閾值)的情況下，比較電路42判定為測試合格(Pass)，在錯誤數(shù)為規(guī)定的錯誤數(shù)(規(guī)定的閾值)以上的情況下，判定為測試不合格(Fail)。

如圖5所示，在進行n個數(shù)據(jù)比較的情況下，在執(zhí)行n個數(shù)據(jù)比較之后，向比較電路42輸入比較動作完成信號。此外，在對數(shù)據(jù)數(shù)進行計數(shù)的計數(shù)器為n時，從該計數(shù)器輸出該比較動作完成信號。比較電路42當被輸入比較動作完成信號時，確認錯誤計數(shù)器的錯誤數(shù)。在如圖5所示的例子的情況下，由于錯誤計數(shù)器的錯誤數(shù)為0，因此比較電路42輸出表示測試合格(Pass)的1(“高”)的判定信號。另一方面，在如圖6所示的例子的情況下，由于錯誤計數(shù)器的錯誤數(shù)為1，因此比較電路42輸出表示測試不合格(Fail)的0(“低”)的判定信號。

如上所述，關(guān)于內(nèi)窺鏡系統(tǒng)1，在對比部21中實施攝像頭4的頭部4a與連接器部4c之間的誤比特率試驗，在對比部31中實施連接器部4c與CCU 5之間的誤比特率試驗。由此，內(nèi)窺鏡系統(tǒng)1判定頭部4a與連接器部4c之間是否存在傳輸錯誤并且判定連接器部4c與CCU 5之間是否存在傳輸錯誤。

由此，通過本實施方式的內(nèi)窺鏡系統(tǒng)，能夠在發(fā)生了傳輸錯誤的情況下可靠地判別產(chǎn)生了錯誤的位置。

另外，內(nèi)窺鏡系統(tǒng)1能夠在頭部4a與連接器部4c之間進行誤比特率試驗以及在連接器部4c與CCU 5之間進行誤比特率試驗，因此能夠在發(fā)送攝像信號時產(chǎn)生了錯誤的情況下可靠地判別產(chǎn)生了錯誤的位置。

此外，通過利用計算機8執(zhí)行誤比特率試驗的例子記載了實施方式，但是也可以是將誤比特率試驗的規(guī)格傳入CCU 5，能夠從CCU 5的菜單選擇誤比特率試驗并執(zhí)行測試、顯示結(jié)果、進行記錄這樣的結(jié)構(gòu)。

(第二實施方式)

接著，說明第二實施方式。

圖7是示出第二實施方式所涉及的內(nèi)窺鏡系統(tǒng)的攝像頭和攝像控制單元的詳細的電路結(jié)構(gòu)的圖。此外，在圖7中，針對與圖2相同的結(jié)構(gòu)標注相同的附圖標記并省略說明。

如圖7所示，在本實施方式中，內(nèi)窺鏡系統(tǒng)1a構(gòu)成為使用連接器部4d來代替圖2的連接器部4c。連接器部4d構(gòu)成為在串并/LVDS接收部20的前級具有放大器27。

通常，線纜4b具有幾米的長度，因此從并串/LVDS發(fā)送部14發(fā)送的信號在線纜4b中傳輸?shù)钠陂g發(fā)生劣化。放大器27將在線纜4b中傳輸?shù)钠陂g發(fā)生了劣化的信號進行放大后向串并/LVDS接收部20輸出。

此外，連接器部4d是具有放大器27的結(jié)構(gòu)，但是不限定于此，例如也可以是頭部4a具有放大器27的結(jié)構(gòu)。更具體地說，在并串/LVDS發(fā)送部14的后級設置放大器27，將從并串/LVDS發(fā)送部14發(fā)送的信號放大之后由線纜4b進行傳輸。其它的結(jié)構(gòu)和動作與第一實施方式相同。

在此，說明連接器部4d的結(jié)構(gòu)。圖8是用于說明連接器部4d的結(jié)構(gòu)的圖。

如圖8所示，在連接器部4d具有用于與CCU 5電連接的多個連接銷50a、50b、50c、···。有時對多個連接銷50a、50b、50c施加ESD(Electro-Staticdischarge：靜電放電)，對多個連接銷50a、50b、50c設置ESD保護構(gòu)件，該ESD保護構(gòu)件用于保護內(nèi)部的電路、IC等免受該ESD。

如圖8所示，連接銷50b與電路部51連接，因此為了保護電路部51免受ESD而在連接銷50b的附近設置包括ESD保護用二極管或變阻器等ESD保護構(gòu)件52。

近年來，伴隨數(shù)字傳輸?shù)母咚倩鳨SD保護構(gòu)件52的容量變小，因此當對連接銷50b施加大的ESD時，有可能無法保護電路部51。另外，有時施加于未使用的連接銷50a的ESD繞進將連接銷50b與電路部51連接起來的連接線。

因此，在本實施方式中，在對連接銷50b施加了大的ESD的情況下、或者在對未使用的連接銷50a施加的ESD繞進連接線的情況下，在電路部51的附近也設置ESD保護構(gòu)件53以能夠保護電路部51。另外，為了防止施加于未使用的連接銷50a的ESD繞進連接線，例如也對未使用的連接銷50c設置有ESD保護構(gòu)件54。此外，還可以與連接銷50c同樣地對未使用的連接銷50a也設置ESD保護構(gòu)件，在此省略圖示。

接著，說明本實施方式的攝像頭4的線纜4b的結(jié)構(gòu)。圖9A是用于說明雙扭線線纜的結(jié)構(gòu)的圖，圖9B是用于說明同軸線纜的結(jié)構(gòu)的圖。

一般來說，在通過線纜4b傳輸LVDS等數(shù)字差動信號的情況下，如圖9A所示那樣使用將兩個單線搓捻而成為一對的雙扭線線纜4b1。關(guān)于該雙扭線線纜4b1，一對中的一方與Pch連接，另一方與Nch連接，將一對之間的差動阻抗設計為100Ω。另外，雙扭線線纜4b1除了需要Pch和Nch這兩條線之外，還需要單線的GND線。

來自頭部4a的攝像信號通過數(shù)字差動信號而被傳輸?shù)竭B接器部4d和CCU 5，但是近年來，由于攝像元件10的高像素化、多片化導致傳輸速率的高速化變得顯著而傳輸?shù)募夹g(shù)性困難變大。為了應對高速傳輸，使線纜本身變粗，或者將傳輸?shù)臄?shù)據(jù)分割并使通道數(shù)增加來降低每個通道的傳輸速率，這是慣用技術(shù)。

然而，雙扭線線纜4b1是被搓捻而成的，因此如果搓捻間距不緊，則在雙扭線線纜4b1彎曲時一對線纜之間的距離發(fā)生變化，從而導致無法維持差動阻抗。另一方面，如果雙扭線線纜4b1的搓捻間距細，則一對線纜之間的距離不會發(fā)生變化，但是會導致雙扭線線纜4b1本身變硬而處理性變差。

另外，當進行多通道化而增加線纜的對數(shù)時，雙扭線線纜4b1的條數(shù)與此相應地增加，因此導致總的線纜徑變粗。如果總的線纜徑變粗，則總的線纜變硬而處理性變差。在醫(yī)療現(xiàn)場，也要重視線纜4b的處理性良好度，因此處理性變差會與用戶過失相關(guān)聯(lián)。因此，在不固定線纜4b而是使線纜4b彎曲或移動的攝像頭4的情況下，利用雙扭線線纜4b1有可能無法充分地發(fā)揮性能。

因此，在本實施方式中，在線纜4b中，代替圖9A的雙扭線線纜4b1而使用圖9B所示的同軸線纜4b2來進行差動傳輸。即，代替雙扭線線纜4b1而通過兩個同軸線纜4b2來進行攝像頭4的數(shù)字差動傳輸。對于同軸線纜4b2，即使彎曲，單個的特性阻抗也不會波動。另外，同軸線纜4b2按每根進行屏蔽，因此同軸線纜4b2的抗干擾性比雙扭線線纜4b1的抗干擾性好。

另外，在需要高速傳輸而進行多通道化的情況下，通過使用同軸線纜4b2，能夠利用同軸線纜4b2所具有的屏蔽性來確保GND，因此能夠去除雙扭線線纜4b1的單線的GND線。其結(jié)果，即使進行多通道化，對線纜4b的總徑的影響也少，從而能夠確保處理性。

這樣，在通過多通道的分割差動信號來傳輸差動數(shù)字信號時，通過使用同軸線纜4b2，能夠去除雙扭線線纜4b1的單線的GND線，能夠同時實現(xiàn)高速傳輸和線纜4b的細徑化。

在多通道傳輸這樣的結(jié)構(gòu)中，通過針對各傳輸通道執(zhí)行誤比特率試驗而能夠進行各傳輸通道各自的錯誤確定。

本發(fā)明不限定于上述的實施方式，在不改變本發(fā)明的主旨的范圍內(nèi)，能夠進行各種變更、改變等。

本申請根據(jù)在2015年3月26日向日本申請的日本特愿2015-64540號公報主張優(yōu)先權(quán)，在本申請說明書、權(quán)利要求書、附圖中引用上述的公開內(nèi)容。