本發(fā)明具體涉及一種β敷貼器表面吸收劑量率校準裝置及方法，屬于β敷貼器輻射劑量校準技術(shù)領(lǐng)域。

背景技術(shù)：

在使用β敷貼器治療皮膚病變的過程中，為了保證放療效果和防止患者皮膚燒傷，必須準確測定β敷貼器表面的(組織)吸收劑量率，從而正確估算患者受到的皮膚劑量?！秅bz134-2002放射性核素敷貼治療衛(wèi)生防護標準》規(guī)定需要定期檢測敷貼器表面空氣吸收劑量率(或參考點空氣吸收劑量率)和表面均勻性。

外推電離室可用于校準β敷貼器表面吸收劑量率，然而實際操作中所用源的安裝與位置調(diào)節(jié)困難。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明設(shè)計的校準裝置，利用β外推電離室測量敷貼器表面劑量率和表面均勻性，操作簡單，既能保證測量的準確性，又保護了工作人員，避免其受到過量照射。

具體的，本發(fā)明提供一種β敷貼器表面吸收劑量率校準裝置，所述校準裝置包括底座、β敷貼器定位架和β外推電離室；所述敷貼器定位架和β外推電離室固定在所述底座上；β敷貼器安裝在所述β敷貼器定位架上，然后 對準所述β外推電離室，利用β外推電離室測量并校準敷貼器表面劑量率。

進一步，如上所述的β敷貼器表面吸收劑量率校準裝置，所述β敷貼器定位架包括軸向旋鈕、徑向旋鈕、緊固螺帽、軸向旋進軸、軸承和源托，所述軸向旋鈕、緊固螺帽、軸承和源托自遠離β外推電離室的位置到靠近所述β外推電離室的位置順序套裝在所述軸向旋進軸上。

進一步，如上所述的β敷貼器表面吸收劑量率校準裝置，所述β外推電離室通過電離室支撐柱固定在底座上，所述電離室支撐柱能夠支撐β外推電離室和調(diào)節(jié)β外推電離室高度。

進一步，如上所述的β敷貼器表面吸收劑量率校準裝置，所述軸向旋鈕帶動軸向旋進軸，調(diào)節(jié)源托與β外推電離室的入射窗之間的軸向距離。

進一步，如上所述的β敷貼器表面吸收劑量率校準裝置，當源托與β外推電離室的入射窗之間的軸向距離調(diào)節(jié)好后，鎖死所述緊固螺帽，可記憶該軸向距離。

進一步，如上所述的β敷貼器表面吸收劑量率校準裝置，所述徑向旋鈕可調(diào)節(jié)源托與β外推電離室的入射窗之間的徑向距離，該徑向距離可由徑向旋鈕下方的徑向旋進刻度尺讀出。

進一步，如上所述的β敷貼器表面吸收劑量率校準裝置，所述源托可從β敷貼器定位架中拆卸，并用于固定待校準的β敷貼器，所述源托帶有3個互成120°的緊固螺釘；源托凹槽的直徑和深度根據(jù)待校準的β敷貼器加工。

進一步，如上所述的β敷貼器表面吸收劑量率校準裝置，所述軸承可帶動源托旋轉(zhuǎn)，旋轉(zhuǎn)過程中源托與β外推電離室的入射窗之間的距離不變；軸承上帶有角度刻度標記，以記錄源托的旋轉(zhuǎn)角度。

再者，本發(fā)明還提供了一種使用如上所述校準裝置的β敷貼器表面吸收劑量率校準方法，所述方法包括如下步驟：

1)根據(jù)待校準的β敷貼器尺寸參數(shù)，選擇β外推電離室；

2)使用電離室支撐柱將β外推電離室安裝在底座上，并保證源托的中軸線和β外推電離室收集極的中軸線在同一水平面上；

3)調(diào)節(jié)徑向旋鈕，使徑向旋進刻度尺上下兩個零刻度對齊；

4)調(diào)節(jié)軸向旋鈕，從而調(diào)節(jié)源托前表面與β外推電離室之間的距離；

5)鎖死緊固螺帽，記憶此時源托的軸向位置；

6)調(diào)節(jié)軸向旋鈕，使得有足夠的空間取下源托；

7)將β敷貼器安裝在源托上，再將源托安裝在軸承上；

8)調(diào)節(jié)軸向旋鈕至緊固螺帽記憶的位置；

9)利用β外推電離室測量敷貼器表面劑量率。

另外，本發(fā)明還提供一種使用如上所述方法的β敷貼器表面均勻性測量方法，其特征在于所述測量方法在步驟9)后進一步包括如下步驟：

10)調(diào)節(jié)徑向旋鈕，使徑向旋進刻度尺的上下刻度相差7mm，測量以點a為圓心的小源的表面劑量率；

11)旋轉(zhuǎn)軸承，分別旋轉(zhuǎn)90°、180°和270°，并測量記錄以點b、c、d為圓心的小源的表面劑量率。

本發(fā)明的裝置結(jié)構(gòu)簡單，操作方便，可靈活調(diào)節(jié)源與外推電離室的相對位置，實現(xiàn)敷貼器表面劑量率的測量和均勻性的測定。

附圖說明

圖1為本發(fā)明β敷貼器表面吸收劑量率校準裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2為校準裝置距離控制系統(tǒng)圖。

圖3為源托的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖4為本發(fā)明的均勻性測定方法示意圖。

具體實施方式

下面結(jié)合附圖和實施例對本發(fā)明進行詳細的描述。

如圖1所示，為本發(fā)明的用于校準β敷貼器表面吸收劑量率的裝置，該裝置主要包括底座1、β敷貼器定位架2和β外推電離室3三大部分，定位架2和外推電離室3固定在底座1上，保證其穩(wěn)定性。其中定位架2包括軸向旋鈕5和徑向7旋鈕兩個旋鈕、緊固螺帽6、軸向旋進軸11、軸承10和源托9等部分。

其中，各個部分的功能和結(jié)構(gòu)如下：

電離室支撐柱4：起到支撐外推電離室和調(diào)節(jié)外推電離室高度的作用。

軸向旋鈕5：帶動軸向旋進軸11，調(diào)節(jié)源托與外推電離室入射窗之間的軸向距離，每旋轉(zhuǎn)1圈等于旋進/出1mm。

緊固螺帽6：當源托與外推電離室入射窗之間的軸向距離調(diào)節(jié)好后，鎖死緊固螺帽，可記憶該距離。

徑向旋鈕7：可調(diào)節(jié)源托與外推電離室入射窗之間的徑向距離，該距離可由徑向旋鈕下方的徑向旋進刻度尺讀出。

徑向旋進刻度尺8：如圖2所示，當上下兩個刻度尺的零刻度對齊時，可保證源托的中軸線和外推電離室收集極的中軸線在同一鉛垂面上。

源托9：可從定位架中拆卸，如圖3所示；用于固定待校準的β敷貼器14，帶有3個互成120°的緊固螺釘13。源托凹槽12的直徑和深度根據(jù)待校準的β敷貼器加工。源托整體厚度為20mm，鋁材質(zhì)，起到屏蔽β射線作用，以減少操作人員受到的劑量。

軸承10：帶動源托旋轉(zhuǎn)，旋轉(zhuǎn)過程源托與外推電離室入射窗之間的距離不變。軸承上帶有角度刻度標記，以記錄源托的旋轉(zhuǎn)角度。

β外推電離室3：用于測量β敷貼器14的表面劑量率，其靈敏區(qū)15正對β敷貼器14。

本發(fā)明因此進而提供一種使用如上所述校準裝置的β敷貼器表面吸收劑量率校準方法，所述方法包括如下步驟：

1)根據(jù)待校準的β敷貼器尺寸參數(shù)，選擇合適的β外推電離室。注意在使用β外推電離室校準β敷貼器表面劑量率時，要求敷貼器源的直徑大于外推電離室有效收集區(qū)域的直徑。

2)選擇合適高度的電離室支撐柱，將β外推電離室安裝在底座上，并保證源托的中軸線和電離室收集極的中軸線在同一水平面上。

3)調(diào)節(jié)徑向旋鈕，使刻度尺上下兩個零刻度對齊(此時源托的中軸線和外推電離室收集極的中軸線在同一鉛垂面上)。這樣，源托的中軸線和電離室收集極的中軸線就重合了。

4)調(diào)節(jié)軸向旋鈕，使得源托前表面與外推電離室之間的距離為所需值(如1mm)。

5)鎖死緊固螺帽，記憶此時源托的軸向位置。

6)調(diào)節(jié)軸向旋鈕，使得有足夠的空間取下源托。

7)將β敷貼器安裝在源托上，再將源托安裝在軸承上。

8)調(diào)節(jié)軸向旋鈕至緊固螺帽記憶的位置。

9)利用外推電離室測量敷貼器表面劑量率。

以上步驟可實現(xiàn)使用β外推電離室測量敷貼器的表面吸收劑量率。對于均勻性的測定，需要測量β敷貼器源的圓面上數(shù)個非中心位置處的表面吸收劑量率。下面以一個示例說明定位并測量這些非中心位置點的方法。

圖4中β敷貼器的活性區(qū)直徑為30mm，所選用β外推電離室收集極直徑為10mm。經(jīng)過前面的九步操作，測得的是以o為圓心、10mm為直徑的小源表面劑量率；即測量過程中電離室收集極中心正對著o點。為了測定源的均勻性，現(xiàn)假設(shè)需要測量以圖中a、b、c和d四點為圓心的源的表面劑量率，這四個點距離圓心o的距離為7mm，相鄰兩個點與圓心的夾角為直角。則在前九步的基礎(chǔ)上繼續(xù)操作：

10)調(diào)節(jié)徑向旋鈕，使上下刻度相差7mm。測量以a為圓心的小源的表面劑量率。

11)旋轉(zhuǎn)軸承，分別旋轉(zhuǎn)90°、180°和270°，并測量記錄以b、c、d為圓心的小源的表面劑量率。

12)對于其他希望測量的點，也可以用類似第10步和第11步的方法，通過調(diào)節(jié)徑向旋鈕和旋轉(zhuǎn)軸承將指定的待測點轉(zhuǎn)動到外推電離室收集極的正前方并進行測量。

利用上述各次測量的數(shù)據(jù)即可測定β敷貼器的均勻性。

顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對本發(fā)明進行各種改動和變型而不脫離本發(fā)明的精神和范圍。這樣，倘若對本發(fā)明的這些修改和變型屬于本發(fā)明權(quán)利要求及其同等技術(shù)的范圍之內(nèi)，則本發(fā)明也意圖包含這些改動和變型在內(nèi)。