技術(shù)總結(jié)
描述了一種用于獲取檢查受試者(2)的投影數(shù)據(jù)(P11，P12，...，P1i，P21，P22，...，P2i)的X射線系統(tǒng)(1)，該X射線系統(tǒng)(1)特別地是計(jì)算機(jī)斷層攝影系統(tǒng)(1)。該X射線系統(tǒng)(1)包括X射線發(fā)射器布置，該X射線發(fā)射器布置包括多個(gè)X射線輻射源(3，3')、以及具有至少兩個(gè)檢測(cè)閾值的多個(gè)光子計(jì)數(shù)檢測(cè)器(4，4')。在該配置中，X射線發(fā)射器布置(3)被實(shí)施為使得該X射線發(fā)射器布置(3)生成具有至少兩個(gè)X射線輻射光譜的X射線輻射(S1，S2)。更進(jìn)一步地，多個(gè)光子計(jì)數(shù)檢測(cè)器(4，4')被布置和被實(shí)施為使得多個(gè)光子計(jì)數(shù)檢測(cè)器(4，4')以能量分辨的方式將至少通過(guò)檢查受試者(2)的X射線輻射(S1，S2)檢測(cè)為投影數(shù)據(jù)(P11，P12，...，P1i，P21，P22，...，P2i)的形式。還公開(kāi)了一種圖像重建方法(REC)。

技術(shù)研發(fā)人員：T·弗洛爾;S·卡普勒;B·克勞瑟;B·施密特;F·舍克;K·施蒂爾施托費(fèi)爾
受保護(hù)的技術(shù)使用者：西門子醫(yī)療有限公司
文檔號(hào)碼：201611195593
技術(shù)研發(fā)日：2016.12.21
技術(shù)公布日：2017.06.30