一種螺旋光電清紗器的制造方法
【專利摘要】本實(shí)用新型提供一種螺旋光電清紗器，設(shè)置有反射涂層的監(jiān)測(cè)環(huán)，所述監(jiān)測(cè)環(huán)的中心通過(guò)需監(jiān)測(cè)的紗線，所述監(jiān)測(cè)環(huán)的內(nèi)壁上設(shè)置有掃過(guò)所述監(jiān)測(cè)環(huán)平面的可轉(zhuǎn)動(dòng)的光學(xué)發(fā)射頭，所述監(jiān)測(cè)環(huán)滑動(dòng)設(shè)置在一環(huán)形支座上且通過(guò)一驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)旋轉(zhuǎn)，所述光學(xué)發(fā)射頭發(fā)射光線掃過(guò)的平面兩側(cè)設(shè)置有監(jiān)測(cè)所述光學(xué)發(fā)射頭發(fā)射光線的光學(xué)監(jiān)測(cè)裝置，本實(shí)用新型光學(xué)發(fā)射頭發(fā)射的光線在所述監(jiān)測(cè)環(huán)內(nèi)壁不斷反射，形成了類圓形的光學(xué)軌跡，當(dāng)紗線阻擋光學(xué)軌跡時(shí)，光線在所述紗線表面形成漫反射，所述漫反射被所述光學(xué)監(jiān)測(cè)裝置監(jiān)測(cè)到，由于光學(xué)軌跡以環(huán)形的方式監(jiān)測(cè)紗線的直徑，因此適應(yīng)任何形狀的紗疵，提高了紗疵的鑒別率。
【專利說(shuō)明】—種螺旋光電清紗器
所屬【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及紡織檢測(cè)設(shè)備領(lǐng)域，特別地，是一種監(jiān)測(cè)紗線品質(zhì)的光電清紗器。

【背景技術(shù)】
[0002]細(xì)紗工序所生產(chǎn)的管紗一般度帶有粗節(jié)、絨毛及塵屑雜物等疵點(diǎn)，因此必須利用清紗器來(lái)對(duì)紗線進(jìn)行檢查和清潔。清紗器根據(jù)其原理和結(jié)構(gòu)可分為機(jī)械式電子式兩大類，即機(jī)械清紗器和電子清紗器。機(jī)械清紗器有金屬刀片或梳針組成，他可以測(cè)量紗線的粗細(xì)變化，但易損傷纖維，刮毛紗線，影響紗線的彈性，尤其，當(dāng)提高靈敏度時(shí)，易積聚浮游纖維、塵雜，導(dǎo)致斷頭。電子清紗器采用無(wú)接觸檢測(cè)，不會(huì)損傷和刮毛紗線，其通過(guò)對(duì)紗疵信息，再與設(shè)定值進(jìn)行比較，當(dāng)紗線某處的檢測(cè)值超出標(biāo)準(zhǔn)時(shí)則切斷紗線，剔除紗疵。
[0003]不管是機(jī)械清紗器和電子清紗器由于對(duì)紗線的檢測(cè)指標(biāo)都是監(jiān)測(cè)紗線在固定角度的某一直徑，無(wú)法監(jiān)測(cè)整個(gè)紗線的直徑狀況，因此，易漏掉扁平狀的紗疵。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0004]為了解決上述問(wèn)題，本實(shí)用新型的目的在于提供一種螺旋光電清紗器，該螺旋光電清紗器能夠提高紗疵的鑒別率。
[0005]本實(shí)用新型解決其技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案是:
[0006]該螺旋光電清紗器包括內(nèi)壁設(shè)置有反射涂層的監(jiān)測(cè)環(huán)，所述監(jiān)測(cè)環(huán)的中心通過(guò)需監(jiān)測(cè)的紗線，所述監(jiān)測(cè)環(huán)的內(nèi)壁上設(shè)置有掃過(guò)所述監(jiān)測(cè)環(huán)平面的可轉(zhuǎn)動(dòng)的光學(xué)發(fā)射頭，所述監(jiān)測(cè)環(huán)滑動(dòng)設(shè)置在一環(huán)形支座上且通過(guò)一驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)旋轉(zhuǎn)，所述光學(xué)發(fā)射頭發(fā)射光線掃過(guò)的平面兩側(cè)設(shè)置有監(jiān)測(cè)所述光學(xué)發(fā)射頭發(fā)射光線的光學(xué)監(jiān)測(cè)裝置。
[0007]作為優(yōu)選，所述光學(xué)監(jiān)測(cè)裝置和所述光學(xué)發(fā)射頭接收和發(fā)射的光線為紅外線。
[0008]作為優(yōu)選，所述光學(xué)監(jiān)測(cè)裝置為均勻環(huán)布在監(jiān)測(cè)環(huán)的內(nèi)壁上的兩圈監(jiān)測(cè)探頭，所述監(jiān)測(cè)探頭位于所述光學(xué)發(fā)射頭掃過(guò)的平面的兩側(cè)。
[0009]作為優(yōu)選，所述光學(xué)監(jiān)測(cè)裝置還可以為均勻環(huán)布在監(jiān)測(cè)環(huán)的內(nèi)壁上的兩圈導(dǎo)光條，所述導(dǎo)光條一側(cè)均設(shè)置有監(jiān)測(cè)所述光學(xué)發(fā)射頭發(fā)射光線的光學(xué)監(jiān)測(cè)頭。
[0010]本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)在于:
[0011]所述光學(xué)發(fā)射頭不斷的往復(fù)轉(zhuǎn)動(dòng)，即掃描所述監(jiān)測(cè)環(huán)內(nèi)的平面，由于光線在所述監(jiān)測(cè)環(huán)內(nèi)壁不斷反射，形成了類圓形的光學(xué)軌跡，光學(xué)軌跡不斷的擴(kuò)大和縮小，當(dāng)紗線阻擋光學(xué)軌跡時(shí)，光線在所述紗線表面形成漫反射，所述漫反射被所述光學(xué)監(jiān)測(cè)裝置監(jiān)測(cè)到，通過(guò)此時(shí)光學(xué)發(fā)射頭的角度，可以得知紗線的直徑是否符合標(biāo)準(zhǔn)，由于光學(xué)軌跡以環(huán)形的方式監(jiān)測(cè)紗線的直徑，因此適應(yīng)任何形狀的紗疵，提高了紗疵的鑒別率。

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0012]圖1是本螺旋光電清紗器光學(xué)發(fā)射頭狀態(tài)一的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0013]圖2是本螺旋光電清紗器光學(xué)發(fā)射頭狀態(tài)二的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0014]圖3是本螺旋光電清紗器光學(xué)發(fā)射頭狀態(tài)三的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0015]圖4是本螺旋光電清紗器的立體結(jié)構(gòu)示意圖。

【具體實(shí)施方式】
[0016]下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)一步說(shuō)明:
[0017]在本實(shí)施例中，參閱圖1，該螺旋光電清紗器包括內(nèi)壁設(shè)置有反射涂層的監(jiān)測(cè)環(huán)100，所述監(jiān)測(cè)環(huán)100的中心通過(guò)需監(jiān)測(cè)的紗線10，所述監(jiān)測(cè)環(huán)100的內(nèi)壁上設(shè)置有掃過(guò)所述監(jiān)測(cè)環(huán)100平面的可轉(zhuǎn)動(dòng)的光學(xué)發(fā)射頭110，所述監(jiān)測(cè)環(huán)100滑動(dòng)設(shè)置在一環(huán)形支座200上且通過(guò)一驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)旋轉(zhuǎn)，所述光學(xué)發(fā)射頭110發(fā)射光線掃過(guò)的平面兩側(cè)設(shè)置有監(jiān)測(cè)所述光學(xué)發(fā)射頭110發(fā)射光線的光學(xué)監(jiān)測(cè)裝置。
[0018]上述螺旋光電清紗器，所述光學(xué)監(jiān)測(cè)裝置和所述光學(xué)發(fā)射頭110接收和發(fā)射的光線為紅外線，采用紅外線可以避免可見(jiàn)光對(duì)所述光學(xué)監(jiān)測(cè)裝置待測(cè)干擾。
[0019]參閱圖4，所述光學(xué)監(jiān)測(cè)裝置為均勻環(huán)布在監(jiān)測(cè)環(huán)的內(nèi)壁上的兩圈監(jiān)測(cè)探頭300，所述監(jiān)測(cè)探頭300位于所述光學(xué)發(fā)射頭110掃過(guò)的平面的兩側(cè)，環(huán)形設(shè)置的監(jiān)測(cè)探頭300可以360度監(jiān)測(cè)被所述紗線10漫反射的光線，防止產(chǎn)生監(jiān)測(cè)死角。
[0020]上述螺旋光電清紗器，所述光學(xué)監(jiān)測(cè)裝置在另外的實(shí)施例中還可以為均勻環(huán)布在監(jiān)測(cè)環(huán)的內(nèi)壁上的兩圈導(dǎo)光條(未圖示)，所述導(dǎo)光條一側(cè)均設(shè)置有監(jiān)測(cè)所述光學(xué)發(fā)射頭110發(fā)射光線的光學(xué)監(jiān)測(cè)頭。
[0021]上述螺旋光電清紗器的工作方式和原理:
[0022]參閱圖1、圖2和圖3，所述光學(xué)發(fā)射頭110不斷的往復(fù)轉(zhuǎn)動(dòng)，即掃描所述監(jiān)測(cè)環(huán)100內(nèi)的平面，由于光線在所述監(jiān)測(cè)環(huán)100內(nèi)壁不斷反射，形成了類圓形的光學(xué)軌跡，光學(xué)軌跡不斷的擴(kuò)大和縮小，當(dāng)紗線10阻擋光學(xué)軌跡時(shí)，光線在所述紗線10表面形成漫反射，所述漫反射被所述光學(xué)監(jiān)測(cè)裝置監(jiān)測(cè)到，通過(guò)此時(shí)光學(xué)發(fā)射頭110的角度，可以得知紗線10的直徑是否符合標(biāo)準(zhǔn)。
[0023]以上所述僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例，并不用以限制本實(shí)用新型，凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種螺旋光電清紗器，其特征在于:包括內(nèi)壁設(shè)置有反射涂層的監(jiān)測(cè)環(huán)(100)，所述監(jiān)測(cè)環(huán)(100)的中心通過(guò)需監(jiān)測(cè)的紗線(10)，所述監(jiān)測(cè)環(huán)(100)的內(nèi)壁上設(shè)置有掃過(guò)所述監(jiān)測(cè)環(huán)(100)平面的可轉(zhuǎn)動(dòng)的光學(xué)發(fā)射頭(110)，所述監(jiān)測(cè)環(huán)(100)滑動(dòng)設(shè)置在一環(huán)形支座(200)上且通過(guò)一驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)旋轉(zhuǎn)，所述光學(xué)發(fā)射頭(110)發(fā)射光線掃過(guò)的平面兩側(cè)設(shè)置有監(jiān)測(cè)所述光學(xué)發(fā)射頭(110)發(fā)射光線的光學(xué)監(jiān)測(cè)裝置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的螺旋光電清紗器，其特征在于:所述光學(xué)監(jiān)測(cè)裝置和所述光學(xué)發(fā)射頭(110)接收和發(fā)射的光線為紅外線。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的螺旋光電清紗器，其特征在于:所述光學(xué)監(jiān)測(cè)裝置為均勻環(huán)布在監(jiān)測(cè)環(huán)的內(nèi)壁上的兩圈監(jiān)測(cè)探頭(300)，所述監(jiān)測(cè)探頭(300)位于所述光學(xué)發(fā)射頭(110)掃過(guò)的平面的兩側(cè)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的螺旋光電清紗器，其特征在于:所述光學(xué)監(jiān)測(cè)裝置還可以為均勻環(huán)布在監(jiān)測(cè)環(huán)的內(nèi)壁上的兩圈導(dǎo)光條，所述導(dǎo)光條一側(cè)均設(shè)置有監(jiān)測(cè)所述光學(xué)發(fā)射頭(110)發(fā)射光線的光學(xué)監(jiān)測(cè)頭。
【文檔編號(hào)】D01H13/32GK203938800SQ201420269606
【公開(kāi)日】2014年11月12日 申請(qǐng)日期:2014年5月23日 優(yōu)先權(quán)日:2014年5月23日
【發(fā)明者】徐強(qiáng) 申請(qǐng)人:湖州博潤(rùn)實(shí)業(yè)有限公司