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切縫方法及切縫裝置與流程

文檔序號(hào):40457398發(fā)布日期:2024-12-27 09:22閱讀:11來(lái)源:國(guó)知局
切縫方法及切縫裝置與流程

本公開(kāi)涉及光通信,具體涉及一種切縫方法及切縫裝置。


背景技術(shù):

1、集成化是光通信器件的發(fā)展趨勢(shì),光通信集成器件的基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)是光波導(dǎo)結(jié)構(gòu)。在實(shí)際應(yīng)用中,為了實(shí)現(xiàn)通信目的,需要對(duì)光波導(dǎo)結(jié)構(gòu)進(jìn)行切割;例如,在陣列波導(dǎo)光柵的無(wú)熱封裝方案中采用波導(dǎo)切割的方式以補(bǔ)償波長(zhǎng)隨溫度的變化。但是波導(dǎo)結(jié)構(gòu)在進(jìn)行切縫時(shí),一方面要求切縫的寬度要窄,從而減少切縫損耗,另一方面要求切縫的內(nèi)側(cè)光滑平整,不能有太多的缺口或崩邊。

2、相關(guān)技術(shù)中雖然通過(guò)在波導(dǎo)芯片的背面進(jìn)行開(kāi)槽以解決上述問(wèn)題,但是此方法不能提升波導(dǎo)芯片的切縫精度,不利于提升波導(dǎo)芯片的溫度補(bǔ)償效果。


技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、有鑒于此,本公開(kāi)的主要目的在于提供一種切縫方法及切縫裝置。

2、第一方面,本公開(kāi)實(shí)施例提供一種切縫方法,所述方法應(yīng)用于具有切縫標(biāo)記的波導(dǎo)芯片,所述方法,包括:

3、基于所述波導(dǎo)芯片的第一表面的切縫標(biāo)記,設(shè)置所述波導(dǎo)芯片的第二表面的開(kāi)槽區(qū)域,所述切縫標(biāo)記在所述波導(dǎo)芯片的第二表面的投影位于所述開(kāi)槽區(qū)域內(nèi)部;

4、將開(kāi)槽后的波導(dǎo)芯片固定于切縫基板上,所述開(kāi)槽區(qū)域在所述切縫基板上的投影位于所述切縫基板的切縫區(qū)域內(nèi)部;

5、基于所述波導(dǎo)芯片的第一表面的切縫標(biāo)記,對(duì)所述波導(dǎo)芯片進(jìn)行切縫,形成所述波導(dǎo)芯片上的細(xì)縫。

6、可選地,所述基于所述波導(dǎo)芯片的第一表面的切縫標(biāo)記,設(shè)置所述波導(dǎo)芯片的第二表面的開(kāi)槽區(qū)域,包括:

7、基于所述波導(dǎo)芯片的第一表面的切縫標(biāo)記,在所述波導(dǎo)芯片的邊緣選取所述波導(dǎo)芯片的參考標(biāo)記;

8、確定所述參考標(biāo)記與所述切縫標(biāo)記之間的相對(duì)位置信息;

9、基于所述相對(duì)位置信息和所述參考標(biāo)記,在所述波導(dǎo)芯片的第二表面開(kāi)設(shè)凹槽,以形成所述開(kāi)槽區(qū)域,所述凹槽的凹陷深度小于所述波導(dǎo)芯片的厚度,所述凹槽的槽寬大于所述波導(dǎo)芯片的切縫寬度。

10、可選地,所述基于所述相對(duì)位置信息和所述參考標(biāo)記,在所述波導(dǎo)芯片的第二表面開(kāi)設(shè)凹槽,包括:

11、基于所述參考標(biāo)記和所述相對(duì)位置信息,在所述波導(dǎo)芯片的第二表面選取第一標(biāo)記,所述切縫標(biāo)記在所述波導(dǎo)芯片的第二表面上的投影與所述第一標(biāo)記重合;

12、基于預(yù)設(shè)的切縫寬度,確定開(kāi)槽區(qū)域的目標(biāo)槽寬;

13、以所述第一標(biāo)記為中心點(diǎn),設(shè)置具有所述目標(biāo)槽寬的所述凹槽。

14、可選地,所述波導(dǎo)芯片為平板波導(dǎo)芯片;所述相對(duì)位置信息至少包括:相對(duì)距離;

15、所述基于所述參考標(biāo)記和所述相對(duì)位置信息,在所述波導(dǎo)芯片的第二表面選取第一標(biāo)記,包括:

16、確定所述參考標(biāo)記所在的定位線,其中,所述定位線與所述切縫標(biāo)記所在的直線平行;

17、將所述定位線沿靠近所述波導(dǎo)芯片內(nèi)的切縫標(biāo)記的方向移動(dòng)所述相對(duì)距離;

18、基于移動(dòng)后的所述定位線的所在位置,確定所述第一標(biāo)記的所在位置。

19、可選地,所述波導(dǎo)芯片包括:平板波導(dǎo)和與所述平板波導(dǎo)相連的單模波導(dǎo),且平板波導(dǎo)相對(duì)于單模波導(dǎo)傾斜;

20、所述相對(duì)位置信息至少包括:相對(duì)距離和相對(duì)角度;

21、所述基于所述參考標(biāo)記和所述相對(duì)位置信息,在所述波導(dǎo)芯片的第二表面選取第一標(biāo)記,包括:

22、基于所述相對(duì)角度,對(duì)所述參考標(biāo)記所在的定位線旋轉(zhuǎn),其中,旋轉(zhuǎn)后的所述定位線與切縫標(biāo)記所在的直線平行;

23、將所述定位線沿靠近所述平板波導(dǎo)內(nèi)的切縫標(biāo)記的方向移動(dòng)所述相對(duì)距離;

24、基于移動(dòng)后的所述定位線的所在位置,確定所述第一標(biāo)記的所在位置。

25、可選地,所述方法,還包括:

26、基于所述參考標(biāo)記在所述切縫基板上的投影,確定所述切縫基板上的對(duì)準(zhǔn)標(biāo)記;

27、基于所述對(duì)準(zhǔn)標(biāo)記和所述相對(duì)位置信息,選取所述切縫基板上的切縫區(qū)域,所述對(duì)準(zhǔn)標(biāo)記與所述切縫區(qū)域之間的第一距離小于或等于所述參考標(biāo)記與所述開(kāi)槽區(qū)域之間的第二距離。

28、可選地,所述基于所述對(duì)準(zhǔn)標(biāo)記和所述相對(duì)位置信息,選取所述切縫基板上的切縫區(qū)域,包括:

29、基于所述對(duì)準(zhǔn)標(biāo)記和所述相對(duì)位置信息,在所述切縫基板上選取第二標(biāo)記,所述切縫標(biāo)記在所述切縫基板上的投影與所述第二標(biāo)記重合;

30、以所述第二標(biāo)記為中心點(diǎn),選取所述切縫區(qū)域,所述切縫區(qū)域的區(qū)域?qū)挾却笥谒鲩_(kāi)槽區(qū)域的目標(biāo)槽寬。

31、可選地,所述切縫基板為溫度補(bǔ)償基板;所述方法,還包括:

32、在溫度變化的影響下,與所述波導(dǎo)芯片固定的所述溫度補(bǔ)償基板,帶動(dòng)所述細(xì)縫兩側(cè)的波導(dǎo)芯片相對(duì)移動(dòng),以補(bǔ)償由溫度引起的所述波導(dǎo)芯片折射率變化,進(jìn)而導(dǎo)致的中心波長(zhǎng)的偏移。

33、可選地,所述基于所述波導(dǎo)芯片的第一表面的切縫標(biāo)記,在所述波導(dǎo)芯片的邊緣選取所述波導(dǎo)芯片的參考標(biāo)記,還包括:

34、若所述波導(dǎo)芯片是不規(guī)則形狀,基于所述切縫標(biāo)記,確定波導(dǎo)芯片對(duì)應(yīng)的切割線,其中,所述切割線與多個(gè)所述切縫標(biāo)記之間的連線不相交;

35、基于所述切割線,對(duì)所述波導(dǎo)芯片切割,以獲得規(guī)則形狀的波導(dǎo)芯片;

36、在所述規(guī)則形狀的波導(dǎo)芯片的邊緣選取所述參考標(biāo)記。

37、第二方面,本公開(kāi)實(shí)施例提供一種切縫裝置,所述裝置,包括:

38、開(kāi)槽組件,所述開(kāi)槽組件用于基于所述波導(dǎo)芯片的第一表面的切縫標(biāo)記,設(shè)置所述波導(dǎo)芯片的第二表面的開(kāi)槽區(qū)域,所述切縫標(biāo)記在所述波導(dǎo)芯片的第二表面的投影位于所述開(kāi)槽區(qū)域內(nèi)部;

39、固定組件,所述固定組件用于將開(kāi)槽后的波導(dǎo)芯片固定于切縫基板上,所述開(kāi)槽區(qū)域在所述切縫基板上的投影位于所述切縫基板的切縫區(qū)域內(nèi)部;

40、切縫組件,所述切縫組件用于基于所述波導(dǎo)芯片的第一表面的切縫標(biāo)記,對(duì)所述波導(dǎo)芯片進(jìn)行切縫,形成所述波導(dǎo)芯片上的細(xì)縫。

41、本公開(kāi)實(shí)施例基于波導(dǎo)芯片的第一表面的切縫標(biāo)記,設(shè)置波導(dǎo)芯片的第二表面的開(kāi)槽區(qū)域,使得波導(dǎo)芯片的第一表面的切縫標(biāo)記在波導(dǎo)芯片的第二表面上的投影位于波導(dǎo)芯片的開(kāi)槽區(qū)域的內(nèi)部;并將開(kāi)槽后的波導(dǎo)芯片固定于切縫基板上,令開(kāi)槽區(qū)域在切縫基板上的投影位于切縫基板的切縫區(qū)域內(nèi)部,從而使得波導(dǎo)芯片的第一表面的切縫標(biāo)記在切縫基板的投影也位于切縫基板的切縫區(qū)域內(nèi)部;最后基于波導(dǎo)芯片的第一表面的切縫標(biāo)記,對(duì)波導(dǎo)芯片進(jìn)行切縫,形成波導(dǎo)芯片上的細(xì)縫;以提高波導(dǎo)芯片的切縫精度,降低波導(dǎo)芯片的切縫損耗,提升波導(dǎo)芯片的溫度補(bǔ)償效果。



技術(shù)特征:

1.一種切縫方法,其特征在于,所述方法應(yīng)用于具有切縫標(biāo)記的波導(dǎo)芯片,所述方法,包括:

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述波導(dǎo)芯片的第一表面的切縫標(biāo)記,設(shè)置所述波導(dǎo)芯片的第二表面的開(kāi)槽區(qū)域,包括:

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于所述相對(duì)位置信息和所述參考標(biāo)記,在所述波導(dǎo)芯片的第二表面開(kāi)設(shè)凹槽,包括:

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,所述波導(dǎo)芯片為平板波導(dǎo)芯片;所述相對(duì)位置信息至少包括:相對(duì)距離;

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,所述波導(dǎo)芯片包括:平板波導(dǎo)和與所述平板波導(dǎo)相連的單模波導(dǎo),且平板波導(dǎo)相對(duì)于單模波導(dǎo)傾斜;

6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述方法,還包括:

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,所述基于所述對(duì)準(zhǔn)標(biāo)記和所述相對(duì)位置信息,選取所述切縫基板上的切縫區(qū)域,包括:

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述切縫基板為溫度補(bǔ)償基板;所述方法,還包括:

9.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于所述波導(dǎo)芯片的第一表面的切縫標(biāo)記,在所述波導(dǎo)芯片的邊緣選取所述波導(dǎo)芯片的參考標(biāo)記,還包括:

10.一種切縫裝置,所述裝置應(yīng)用于權(quán)利要求1至9任一項(xiàng)所述的方法,其特征在于,所述裝置,包括:


技術(shù)總結(jié)
本公開(kāi)提供一種切縫方法及切縫裝置,所述方法應(yīng)用于具有切縫標(biāo)記的波導(dǎo)芯片,所述方法,包括:基于所述波導(dǎo)芯片的第一表面的切縫標(biāo)記,設(shè)置所述波導(dǎo)芯片的第二表面的開(kāi)槽區(qū)域,所述切縫標(biāo)記在所述波導(dǎo)芯片的第二表面的投影位于所述開(kāi)槽區(qū)域內(nèi)部;將開(kāi)槽后的波導(dǎo)芯片固定于切縫基板上,所述開(kāi)槽區(qū)域在所述切縫基板上的投影位于所述切縫基板的切縫區(qū)域內(nèi)部;基于所述波導(dǎo)芯片的第一表面的切縫標(biāo)記,對(duì)所述波導(dǎo)芯片進(jìn)行切縫,形成所述波導(dǎo)芯片上的細(xì)縫。

技術(shù)研發(fā)人員:孔祥健,丁蘭,劉文俊,陳宏剛,張博,羅勇,馬衛(wèi)東
受保護(hù)的技術(shù)使用者:武漢光迅科技股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日:
技術(shù)公布日:2024/12/26
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