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一種電控鎖的鎖舌位置檢測(cè)方法及裝置與流程

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一種電控鎖的鎖舌位置檢測(cè)方法及裝置與流程
本發(fā)明涉及電控鎖
技術(shù)領(lǐng)域
,具體而言,涉及一種電控鎖的鎖舌位置檢測(cè)方法及裝置。
背景技術(shù)
:電控鎖是一個(gè)由繼電器控制的機(jī)械鎖裝置,可以應(yīng)用于汽車(chē)上、家用防盜門(mén)、校園教室門(mén)及儲(chǔ)物箱等場(chǎng)合。電磁鎖包括鎖舌、鎖芯和線(xiàn)圈等,在使用電磁鎖時(shí),一般將電磁鎖安裝在門(mén)上,在門(mén)框上相應(yīng)位置處設(shè)置有鎖槽,當(dāng)鎖舌插入鎖槽內(nèi)時(shí),電控鎖鎖上,當(dāng)鎖舌從鎖槽內(nèi)收回時(shí),電控鎖打開(kāi)?,F(xiàn)在,經(jīng)常會(huì)出現(xiàn)一些不法分子人為干預(yù)鎖舌的位置,比如說(shuō),偷偷在鎖舌上粘貼膠紙、在電控鎖內(nèi)塞入阻擋物,使得鎖舌的初始位置發(fā)生變化,鎖舌無(wú)法完全伸出或者收回,進(jìn)而使得電控鎖無(wú)法被鎖上,導(dǎo)致安全隱患。技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:有鑒于此,本發(fā)明實(shí)施例的目的在于提供一種電控鎖的鎖舌位置檢測(cè)方法及裝置,以解決或者試圖緩解上述問(wèn)題。第一方面,本發(fā)明實(shí)施例提供了一種電控鎖的鎖舌位置檢測(cè)方法,所述電控鎖包括鎖芯、鎖舌和電磁線(xiàn)圈,所述鎖舌與所述鎖芯連接,所述電磁線(xiàn)圈設(shè)置在所述鎖芯上遠(yuǎn)離所述鎖舌的一端,其中,所述方法包括:獲取電控鎖在開(kāi)啟過(guò)程中所述電磁線(xiàn)圈上的電壓數(shù)據(jù),所述電壓數(shù)據(jù)包括多個(gè)采集時(shí)刻對(duì)應(yīng)的電壓值;在確定出所述電壓數(shù)據(jù)中的電壓突變點(diǎn)后,確定從所述電控鎖開(kāi)啟到出現(xiàn)所述電壓突變點(diǎn)所經(jīng)過(guò)的時(shí)間;根據(jù)所述時(shí)間及預(yù)先設(shè)定的時(shí)間與鎖舌移動(dòng)位移的映射關(guān)系,檢測(cè)所述電控鎖的鎖舌位置。結(jié)合第一方面,本發(fā)明實(shí)施例提供了上述第一方面的第一種可能的實(shí)現(xiàn)方式,其中,所述獲取電控鎖在開(kāi)啟過(guò)程中所述電磁線(xiàn)圈上的電壓數(shù)據(jù),包括:當(dāng)所述電控鎖開(kāi)啟時(shí),按照預(yù)設(shè)時(shí)間間隔采集流過(guò)所述電磁線(xiàn)圈的電流值;將采集的所述電流值轉(zhuǎn)換成電壓值;將所述電壓值及所述電壓值對(duì)應(yīng)的采集時(shí)刻點(diǎn)確定為所述電控鎖上的電壓數(shù)據(jù)。結(jié)合第一方面的第一種可能的實(shí)現(xiàn)方式,本發(fā)明實(shí)施例提供了上述第一方面的第二種可能的實(shí)現(xiàn)方式,其中,根據(jù)以下步驟確定所述電壓數(shù)據(jù)中的電壓突變點(diǎn),包括:根據(jù)所述電壓數(shù)據(jù)擬合生成所述電磁線(xiàn)圈上的電壓變化曲線(xiàn);判斷所述電壓變化曲線(xiàn)上是否存在拐點(diǎn);如果是,確定所述電壓變化曲線(xiàn)上的拐點(diǎn);將所述拐點(diǎn)確定為所述電壓數(shù)據(jù)中的電壓突變點(diǎn)。結(jié)合第一方面的第一種可能的實(shí)現(xiàn)方式,本發(fā)明實(shí)施例提供了上述第一方面的第三種可能的實(shí)現(xiàn)方式,其中,所述根據(jù)所述時(shí)間及預(yù)先設(shè)定的時(shí)間與鎖舌移動(dòng)位移的映射關(guān)系,檢測(cè)所述電控鎖的鎖舌位置,包括:根據(jù)所述時(shí)間和預(yù)先設(shè)定的時(shí)間與鎖舌移動(dòng)位移的映射關(guān)系確定在電控鎖開(kāi)啟過(guò)程中所述鎖舌移動(dòng)的位移;根據(jù)所述鎖舌移動(dòng)的位移,檢測(cè)所述電控鎖的鎖舌位置。結(jié)合第一方面的第三種可能的實(shí)現(xiàn)方式,本發(fā)明實(shí)施例提供了上述第一方面的第四種可能的實(shí)現(xiàn)方式,其中,所述根據(jù)所述鎖舌移動(dòng)的位移,檢測(cè)所述電控鎖的鎖舌位置,包括:根據(jù)所述鎖舌的長(zhǎng)度和所述鎖舌移動(dòng)的位移,計(jì)算出現(xiàn)所述電壓突變點(diǎn)時(shí)所述鎖舌伸出所述電控鎖的長(zhǎng)度;根據(jù)所述鎖舌伸出所述電控鎖的長(zhǎng)度,檢測(cè)所述電控鎖的鎖舌位置。第二方面,本發(fā)明實(shí)施例提供了一種電控鎖的鎖舌位置檢測(cè)裝置,所述電控鎖包括鎖芯、鎖舌和電磁線(xiàn)圈,所述鎖舌與所述鎖芯連接,所述電磁線(xiàn)圈設(shè)置在所述鎖芯上遠(yuǎn)離所述鎖舌的一端,其中,所述裝置包括:獲取模塊,用于獲取電控鎖在開(kāi)啟過(guò)程中所述電磁線(xiàn)圈上的電壓數(shù)據(jù),所述電壓數(shù)據(jù)包括多個(gè)采集時(shí)刻對(duì)應(yīng)的電壓值;第一確定模塊,用于在確定出所述電壓數(shù)據(jù)中的電壓突變點(diǎn)后,確定從電控鎖開(kāi)啟到出現(xiàn)電壓突變點(diǎn)所經(jīng)過(guò)的時(shí)間;檢測(cè)模塊,用于根據(jù)所述時(shí)間及預(yù)先設(shè)定的時(shí)間與鎖舌移動(dòng)位移的映射關(guān)系,檢測(cè)所述電控鎖的鎖舌位置。結(jié)合第二方面,本發(fā)明實(shí)施例提供了上述第二方面的第一種可能的實(shí)現(xiàn)方式,其中,所述獲取模塊包括:采集單元,用于當(dāng)所述電控鎖開(kāi)啟時(shí),按照預(yù)設(shè)時(shí)間間隔采集流過(guò)所述電磁線(xiàn)圈的電流值;轉(zhuǎn)換單元,用于將采集的所述電流值轉(zhuǎn)換成電壓值;第一確定單元,用于將所述電壓值及所述電壓值對(duì)應(yīng)的采集時(shí)刻點(diǎn)確定為所述電控鎖上的電壓數(shù)據(jù)。結(jié)合第二方面的第一種可能的實(shí)現(xiàn)方式,本發(fā)明實(shí)施例提供了上述第二方面的第二種可能的實(shí)現(xiàn)方式,其中,所述裝置還包括:生成模塊,用于根據(jù)所述電壓數(shù)據(jù)擬合生成所述電磁線(xiàn)圈上的電壓變化曲線(xiàn);判斷模塊,用于判斷所述電壓變化曲線(xiàn)上是否存在拐點(diǎn);第二確定模塊,用于如果所述電壓變化曲線(xiàn)上存在拐點(diǎn),確定所述電壓變化曲線(xiàn)上的拐點(diǎn);第三確定模塊,用于將所述拐點(diǎn)確定為所述電壓數(shù)據(jù)中的電壓突變點(diǎn)。結(jié)合第二方面的第一種可能的實(shí)現(xiàn)方式,本發(fā)明實(shí)施例提供了上述第二方面的第三種可能的實(shí)現(xiàn)方式,其中,所述檢測(cè)模塊包括:第二確定單元,用于根據(jù)所述時(shí)間和預(yù)先設(shè)定的時(shí)間與鎖舌移動(dòng)位移的映射關(guān)系確定在電控鎖開(kāi)啟過(guò)程中所述鎖舌移動(dòng)的位移;檢測(cè)單元,用于根據(jù)所述鎖舌移動(dòng)的位移,檢測(cè)所述電控鎖的鎖舌位置。結(jié)合第二方面的第三種可能的實(shí)現(xiàn)方式,本發(fā)明實(shí)施例提供了上述第二方面的第四種可能的實(shí)現(xiàn)方式,其中,所述檢測(cè)單元包括:計(jì)算子單元,用于根據(jù)所述鎖舌的長(zhǎng)度和所述鎖舌移動(dòng)的位移,計(jì)算出現(xiàn)所述電壓突變點(diǎn)時(shí)所述鎖舌伸出所述電控鎖的長(zhǎng)度;檢測(cè)子單元,用于根據(jù)所述鎖舌伸出所述電控鎖的長(zhǎng)度,檢測(cè)所述電控鎖的鎖舌位置。在本發(fā)明實(shí)施例提供的電控鎖的鎖舌位置檢測(cè)方法及裝置中,當(dāng)電控鎖開(kāi)啟時(shí),則觸發(fā)采集通過(guò)電控鎖內(nèi)電磁線(xiàn)圈的電壓數(shù)據(jù),根據(jù)該電壓數(shù)據(jù)檢測(cè)電控鎖的鎖舌位置,以此判斷電控鎖的鎖舌的初始位置是否正常,進(jìn)而檢測(cè)是否出現(xiàn)人為干預(yù)鎖舌位置的情況,提高了電控鎖的安全性。為使本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂,下文特舉較佳實(shí)施例,并配合所附附圖,作詳細(xì)說(shuō)明如下。附圖說(shuō)明為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例的技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹,應(yīng)當(dāng)理解,以下附圖僅示出了本發(fā)明的某些實(shí)施例,因此不應(yīng)被看作是對(duì)范圍的限定,對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他相關(guān)的附圖。圖1示出了本發(fā)明實(shí)施例1所提供的電控鎖的鎖舌位置檢測(cè)方法中的電控鎖的結(jié)構(gòu)示意圖;圖2示出了本發(fā)明實(shí)施例1所提供的電控鎖的鎖舌位置檢測(cè)方法的流程圖;圖3示出了本發(fā)明實(shí)施例1所提供的電控鎖的鎖舌位置檢測(cè)方法中,檢測(cè)電控鎖的鎖舌位置的流程圖;圖4示出了本發(fā)明實(shí)施例2所提供的電控鎖的鎖舌位置檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖;圖5示出了本發(fā)明實(shí)施例2所提供的電控鎖的鎖舌位置檢測(cè)裝置的第二種結(jié)構(gòu)示意圖。圖標(biāo):1-鎖舌;2-鎖芯;3-彈簧;4-電磁線(xiàn)圈。具體實(shí)施方式為使本發(fā)明實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚,下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中附圖,對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例。通常在此處附圖中描述和示出的本發(fā)明實(shí)施例的組件可以以各種不同的配置來(lái)布置和設(shè)計(jì)。因此,以下對(duì)在附圖中提供的本發(fā)明的實(shí)施例的詳細(xì)描述并非旨在限制要求保護(hù)的本發(fā)明的范圍,而是僅僅表示本發(fā)明的選定實(shí)施例?;诒景l(fā)明的實(shí)施例,本領(lǐng)域技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍??紤]到現(xiàn)在,經(jīng)常會(huì)出現(xiàn)一些不法分子,偷偷在電控鎖的鎖舌上粘貼膠紙、在鎖舌與鎖槽之間塞入阻擋物,使得電控鎖的鎖舌無(wú)法完全伸出,進(jìn)而使得電控鎖無(wú)法被鎖舌,導(dǎo)致安全隱患?;诖?,本發(fā)明實(shí)施例提供了一種電控鎖的鎖舌位置檢測(cè)方法及裝置,下面通過(guò)實(shí)施例進(jìn)行描述。實(shí)施例1本發(fā)明實(shí)施例提供了一種電控鎖的鎖舌位置檢測(cè)方法,圖1示出了本發(fā)明實(shí)施例中的一種可能的電控鎖的結(jié)構(gòu)示意圖,該電控鎖包括鎖芯2、鎖舌1和電磁線(xiàn)圈4,鎖舌1與鎖芯2連接,電磁線(xiàn)圈4設(shè)置在鎖芯上遠(yuǎn)離鎖舌1的一端,另外,上述電控鎖還包括彈簧3,彈簧3纏繞在鎖芯2上,在鎖舌收回的過(guò)程中,彈簧被壓縮。參考圖2所示,本發(fā)明實(shí)施例提供的電控鎖的鎖舌位置檢測(cè)方法,包括步驟s110-s130,具體如下。s110,獲取電控鎖在開(kāi)啟過(guò)程中電磁線(xiàn)圈上的電壓數(shù)據(jù),該電壓數(shù)據(jù)包括多個(gè)采集時(shí)刻對(duì)應(yīng)的電壓值。其中,本發(fā)明實(shí)施例的執(zhí)行主體為電控鎖的控制器,當(dāng)電控鎖開(kāi)啟(電控鎖的鎖舌收回)時(shí),會(huì)觸發(fā)控制器獲取通過(guò)電控鎖的電磁線(xiàn)圈的電壓數(shù)據(jù)。上述電壓數(shù)據(jù)包括每個(gè)采集時(shí)刻點(diǎn)對(duì)應(yīng)的電壓值。其中,在本發(fā)明實(shí)施例中,根據(jù)以下步驟獲取電控鎖在開(kāi)啟過(guò)程中電磁線(xiàn)圈上的電壓數(shù)據(jù):當(dāng)電控鎖開(kāi)啟時(shí),按照預(yù)設(shè)時(shí)間間隔采集流過(guò)電磁線(xiàn)圈的電流值;將采集的電流值轉(zhuǎn)換成電壓值;將上述電壓值及電壓值對(duì)應(yīng)的采集時(shí)刻點(diǎn)確定為電磁線(xiàn)圈上的電壓數(shù)據(jù)。上述預(yù)設(shè)時(shí)間間隔是預(yù)先設(shè)定好的,比如說(shuō),可以是10μs(微秒),即每間隔10μs采集一次流過(guò)電磁線(xiàn)圈的電流值,當(dāng)然,上述預(yù)設(shè)時(shí)間間隔還可以是其它數(shù)值,預(yù)設(shè)時(shí)間間隔的具體大小可以根據(jù)實(shí)際應(yīng)用場(chǎng)景進(jìn)行限定,并不局限于此。在電控鎖開(kāi)啟的一瞬間觸發(fā)控制器按照預(yù)設(shè)時(shí)間間隔開(kāi)始采集流過(guò)電磁線(xiàn)圈的電流值。在電磁線(xiàn)圈上串聯(lián)有電阻,流過(guò)電阻的電流值就是流過(guò)電磁線(xiàn)圈的電流值,根據(jù)電阻的阻值以及采集的電流值,可以計(jì)算出電壓值。通過(guò)上述放大將采集的電流值轉(zhuǎn)換成電壓值,并將電壓值及每個(gè)電壓值對(duì)應(yīng)的采集時(shí)刻組成通過(guò)電磁線(xiàn)圈的電壓數(shù)據(jù)。參考表1所示,為電壓數(shù)據(jù)的一種可能存在形式。表1采集時(shí)刻點(diǎn)電壓值1a2b3c在表1中,列舉了采集時(shí)刻點(diǎn)1、采集時(shí)刻點(diǎn)2和采集時(shí)刻點(diǎn)3分別對(duì)應(yīng)的電壓值,上述采集時(shí)刻點(diǎn)1指的是第一次采集,上述采集時(shí)刻點(diǎn)2指的是間隔預(yù)設(shè)時(shí)間間隔后第2次采集,上述a、b和c分別為對(duì)應(yīng)的電壓值,上述表1指示列舉了3個(gè)采集時(shí)刻點(diǎn),采集時(shí)刻點(diǎn)的個(gè)數(shù)并不局限于此。s120,在確定出上述電壓數(shù)據(jù)中的電壓突變點(diǎn)后,確定從電控鎖開(kāi)啟到出現(xiàn)電壓突變點(diǎn)所經(jīng)過(guò)的時(shí)間。上述電壓突變點(diǎn)指的是上述電壓數(shù)據(jù)中的電壓異常點(diǎn),在電控鎖正常收回的過(guò)程中,采集的一系列的電壓值可以擬合生成一條平滑的電壓變化曲線(xiàn),因此,當(dāng)電控鎖被認(rèn)為干預(yù)時(shí),會(huì)出現(xiàn)電壓異常點(diǎn)。在本發(fā)明實(shí)施例中,確定電壓數(shù)據(jù)中的電壓突變點(diǎn)的具體確定過(guò)程包括:根據(jù)上述電壓數(shù)據(jù)擬合生成電磁線(xiàn)圈上的電壓變化曲線(xiàn);判斷上述電壓變化曲線(xiàn)上是否存在拐點(diǎn);如果是,確定上述電壓變化曲線(xiàn)上的拐點(diǎn);將上述拐點(diǎn)確定為上述電壓數(shù)據(jù)中的電壓突變點(diǎn)。在電控鎖的鎖舌正常收回過(guò)程中,根據(jù)電壓數(shù)據(jù)擬合生成的電壓變化曲線(xiàn)為一條平滑的曲線(xiàn),電壓變化曲線(xiàn)類(lèi)似于函數(shù)x為橫坐標(biāo),表示時(shí)間,y為縱坐標(biāo),表示電壓值,如果電控鎖的鎖舌被卡住或者擋住,在鎖舌收回的過(guò)程中,在鎖舌撞倒擋板的時(shí)候,通過(guò)電磁線(xiàn)圈的電壓值會(huì)發(fā)生突變,即采集的電壓數(shù)據(jù)中會(huì)出現(xiàn)電壓突變點(diǎn),該電壓突變點(diǎn)表現(xiàn)在電壓變化曲線(xiàn)上則是在電壓變化曲線(xiàn)上出現(xiàn)拐點(diǎn)。當(dāng)擬合得到上述電壓變化曲線(xiàn)后,可以通過(guò)觀察該曲線(xiàn)判斷該曲線(xiàn)是否存在拐點(diǎn)。由于曲線(xiàn)上拐點(diǎn)左右的斜率的符號(hào)相反,因此,可以通過(guò)計(jì)算曲線(xiàn)上任意相鄰兩點(diǎn)的斜率,將斜率的正負(fù)號(hào)發(fā)生變化的位置點(diǎn)確定為電壓變化曲線(xiàn)的拐點(diǎn)。當(dāng)確定出電壓數(shù)據(jù)中的電壓突變點(diǎn)后,確定從電控鎖開(kāi)啟到出現(xiàn)電壓突變點(diǎn)經(jīng)過(guò)的時(shí)間。上述時(shí)間指的是一個(gè)時(shí)間長(zhǎng)度。當(dāng)電控鎖開(kāi)啟時(shí)觸發(fā)控制器開(kāi)始采集通過(guò)電磁線(xiàn)圈的電壓值,當(dāng)前時(shí)刻作為第一個(gè)采集時(shí)刻點(diǎn),記錄當(dāng)前的電壓值,之后每間隔預(yù)設(shè)時(shí)間間隔,采集一次通過(guò)電磁線(xiàn)圈的電壓值。在上述步驟中,當(dāng)確定出通過(guò)電磁線(xiàn)圈的電壓突變點(diǎn)后,根據(jù)從開(kāi)始采集到出現(xiàn)電壓突變點(diǎn)對(duì)應(yīng)的采集時(shí)刻點(diǎn),以及相鄰采集時(shí)刻點(diǎn)之間的預(yù)設(shè)時(shí)間間隔,確定出從電控鎖開(kāi)啟到出現(xiàn)電壓突變點(diǎn)經(jīng)過(guò)的時(shí)間,比如說(shuō),電壓突變發(fā)生在第三個(gè)采集時(shí)刻點(diǎn),則從開(kāi)始采集的第一個(gè)采集時(shí)刻點(diǎn)到第三個(gè)采集時(shí)刻點(diǎn)之間經(jīng)過(guò)了兩個(gè)預(yù)設(shè)時(shí)間間隔,所以從電控鎖開(kāi)啟到出現(xiàn)電壓突變點(diǎn)經(jīng)過(guò)的時(shí)間為預(yù)設(shè)時(shí)間間隔的兩倍。s130,根據(jù)上述時(shí)間及預(yù)先設(shè)定的時(shí)間與鎖舌移動(dòng)位移的映射關(guān)系,檢測(cè)電控鎖的鎖舌位置。上述預(yù)先設(shè)定的時(shí)間與鎖舌移動(dòng)位移的映射關(guān)系指的也是與預(yù)先設(shè)定的不同的時(shí)間長(zhǎng)度與鎖舌移動(dòng)位移之間的關(guān)系。在電控鎖的鎖舌收回的過(guò)程中,電控鎖的鎖舌會(huì)壓縮彈簧,使得彈簧發(fā)生壓縮形變,彈簧的形變量就是電控鎖的所述在收回過(guò)程中移動(dòng)的位移。因此,參考圖3所示,根據(jù)上述從電控鎖開(kāi)啟到出現(xiàn)電壓突變點(diǎn)所經(jīng)過(guò)的時(shí)間,及預(yù)先設(shè)定的時(shí)間與鎖舌移動(dòng)位移的映射關(guān)系,檢測(cè)電控鎖的鎖舌位置,包括步驟s210-s220,具體如下:s210,根據(jù)上述時(shí)間和預(yù)先設(shè)定的時(shí)間與鎖舌移動(dòng)位移的映射關(guān)系確定在電控鎖開(kāi)啟過(guò)程中鎖舌移動(dòng)的位移;s220,根據(jù)上述鎖舌移動(dòng)的位移,檢測(cè)電控鎖的鎖舌位置。在本發(fā)明實(shí)施例中,由于彈簧的勁度系數(shù)是恒定的,因此,電控鎖在正常收回過(guò)程中,需要的時(shí)間是恒定的,如果從電控鎖開(kāi)啟到出現(xiàn)電壓突變點(diǎn)所經(jīng)過(guò)的時(shí)間小于電控鎖正常收回需要的時(shí)間,可以檢測(cè)出電控鎖的鎖舌的初始位置異常,即電控鎖的鎖舌為人為干預(yù),可能存在安全隱患。另外,電控鎖的鎖舌在收回時(shí),鎖舌會(huì)壓縮彈簧,使得彈簧發(fā)生彈性形變,而彈簧在發(fā)生彈性形變時(shí),滿(mǎn)足胡克定律,具體公式如下所示:f=k·δx其中,在上述公式中,k為彈簧的勁度系數(shù),δx為彈簧的形變量,彈簧在形變量等于電控鎖在開(kāi)啟過(guò)程中鎖舌移動(dòng)的位移,f為彈簧的彈力。彈簧的勁度系數(shù)是恒定的,在本發(fā)明實(shí)施例中,從電控鎖開(kāi)啟到出現(xiàn)電壓突變點(diǎn)所經(jīng)過(guò)的時(shí)間的大小與電控鎖在開(kāi)啟過(guò)程中鎖舌移動(dòng)的位移的大小成等比例關(guān)系。在電控鎖的鎖舌收回的過(guò)程中,彈簧被壓縮,因此鎖舌會(huì)受到彈簧的彈力,另外,鎖舌還會(huì)受到電磁線(xiàn)圈產(chǎn)生的洛倫茲力,洛倫茲力的方向和彈簧的彈力的方向是相反的,且洛倫茲力的沖量的大小與k*δx的大小是相等的,因此,可以根據(jù)上述關(guān)系設(shè)定時(shí)間與鎖舌移動(dòng)的位移的映射關(guān)系。在本發(fā)明實(shí)施例中,上述時(shí)間與鎖舌移動(dòng)的位移的映射關(guān)系可以是等比例關(guān)系,即從電控鎖開(kāi)啟到出現(xiàn)電壓突變點(diǎn)所經(jīng)過(guò)的時(shí)間的大小與鎖舌移動(dòng)的位移的大小相等。因此,在上述步驟s210中,根據(jù)電控鎖從開(kāi)啟到出現(xiàn)電壓突變點(diǎn)經(jīng)過(guò)的時(shí)間的大小和上述映射關(guān)系,計(jì)算彈簧的形變量,該形變量就是鎖舌在收回過(guò)程中移動(dòng)的位移。在上述步驟s220中,根據(jù)鎖舌移動(dòng)的位移,檢測(cè)電控鎖的鎖舌位置,具體是通過(guò)如下步驟實(shí)現(xiàn)的:根據(jù)鎖舌的長(zhǎng)度和鎖舌移動(dòng)的位移,計(jì)算出現(xiàn)電壓突變點(diǎn)時(shí)鎖舌伸出上述電控鎖的長(zhǎng)度;根據(jù)鎖舌伸出電控鎖的長(zhǎng)度,檢測(cè)電控鎖的鎖舌位置。一般的,在電控鎖開(kāi)啟過(guò)程中,鎖舌會(huì)完全收回電控鎖內(nèi),如果電控鎖的鎖舌被膠紙粘貼壓住、或者被插入薄鋼板等阻擋物,則無(wú)法完全收回電控鎖內(nèi),這時(shí)會(huì)有一部分鎖舌處于電控鎖外面。電控鎖的長(zhǎng)度和電控鎖在收回時(shí)的移動(dòng)的位移之間的差值,就是鎖舌伸出電控鎖的長(zhǎng)度。根據(jù)鎖舌伸出電控鎖的長(zhǎng)度,可以確定出鎖舌的初始位置,如果鎖舌伸出電控鎖的長(zhǎng)度為零,則說(shuō)明鎖舌移動(dòng)的位移與鎖舌的長(zhǎng)度一致,即電控鎖內(nèi)沒(méi)有塞入阻擋物,鎖舌的初始位置正常;如果鎖舌伸出電控鎖的長(zhǎng)度不為零,則說(shuō)明鎖舌移動(dòng)的位移小于鎖舌的長(zhǎng)度,即電控鎖的鎖舌被插入阻擋物,鎖舌的初始位置發(fā)生變化,鎖舌伸出電控鎖的長(zhǎng)度就是當(dāng)前鎖舌的初始位置。本發(fā)明實(shí)施例提供的電控鎖的鎖舌位置檢測(cè)方法,當(dāng)電控鎖開(kāi)啟時(shí),則觸發(fā)采集通過(guò)電控鎖內(nèi)電磁線(xiàn)圈的電壓數(shù)據(jù),根據(jù)該電壓數(shù)據(jù)檢測(cè)電控鎖的鎖舌位置,以此判斷電控鎖的鎖舌的初始位置是否正常,進(jìn)而檢測(cè)是否出現(xiàn)人為干預(yù)鎖舌位置的情況,提高了電控鎖的安全性。實(shí)施例2本發(fā)明實(shí)施例提供了一種電控鎖的鎖舌位置檢測(cè)裝置,用于執(zhí)行上述實(shí)施例1提供的電控鎖的鎖舌位置檢測(cè)方法,該裝置中的電控鎖包括鎖芯、鎖舌和電磁線(xiàn)圈,鎖舌與鎖芯連接,電磁線(xiàn)圈設(shè)置在鎖芯上遠(yuǎn)離鎖舌的一端,另外,上述電控鎖還包括彈簧,彈簧纏繞在鎖芯上,在鎖舌收回的過(guò)程中,彈簧被壓縮,參考圖4所示,本發(fā)明實(shí)施例提供的裝置包括獲取模塊310、第一確定模塊320和檢測(cè)模塊330;上述獲取模塊310,用于采集電控鎖在開(kāi)啟過(guò)程中電磁線(xiàn)圈上的電壓數(shù)據(jù),該電壓數(shù)據(jù)包括多個(gè)采集時(shí)刻點(diǎn)對(duì)應(yīng)的電壓值;上述第一確定模塊320,用于在確定上述電壓數(shù)據(jù)中的電壓突變點(diǎn)后,確定從電控鎖開(kāi)啟到出現(xiàn)電壓突變點(diǎn)所經(jīng)過(guò)的時(shí)間;上述檢測(cè)模塊330,用于根據(jù)上述時(shí)間及預(yù)先設(shè)定的時(shí)間與鎖舌移動(dòng)位移的映射關(guān)系,檢測(cè)電控鎖的鎖舌位置。其中,上述獲取模塊310獲取電控鎖在開(kāi)啟過(guò)程中電磁線(xiàn)圈的電壓數(shù)據(jù)是通過(guò)采集單元、轉(zhuǎn)換單元和第一確定單元實(shí)現(xiàn)的,具體包括:上述采集單元,用于當(dāng)電控鎖開(kāi)啟時(shí),按照預(yù)設(shè)時(shí)間間隔采集流過(guò)電磁線(xiàn)圈的電流值;上述轉(zhuǎn)換單元,用于將采集的電流值轉(zhuǎn)換成電壓值;上述第一確定單元,用于將上述電壓值及電壓值對(duì)應(yīng)的采集時(shí)刻點(diǎn)確定為電控鎖上的電壓數(shù)據(jù)。在本發(fā)明實(shí)施例中,確定電壓數(shù)據(jù)中的電壓突變點(diǎn)是通過(guò)生成模塊、判斷模塊、第二確定模塊和第三確定模塊上述生成模塊,用于根據(jù)上述電壓數(shù)據(jù)擬合生成電磁線(xiàn)圈上的電壓變化曲線(xiàn);上述判斷模塊,用于判斷上述電壓變化曲線(xiàn)上是否存在拐點(diǎn);上述第二確定模塊,用于如果上述電壓變化曲線(xiàn)上存在拐點(diǎn),確定上述電壓變化曲線(xiàn)上的拐點(diǎn);上述第三確定模塊,用于將上述拐點(diǎn)確定為電壓數(shù)據(jù)中的電壓突變點(diǎn)。參考圖5所示,在本發(fā)明實(shí)施例中,上述檢測(cè)模塊330根據(jù)上述時(shí)間和預(yù)先設(shè)定的時(shí)間與鎖舌移動(dòng)位移的映射關(guān)系檢測(cè)電控鎖的鎖舌位置,是通過(guò)第二確定單元331和檢測(cè)單元332實(shí)現(xiàn)的,具體包括:上述第二確定單元331,用于根據(jù)上述時(shí)間和預(yù)先設(shè)定的時(shí)間與鎖舌移動(dòng)位移的映射關(guān)系確定在電控鎖開(kāi)啟過(guò)程中鎖舌移動(dòng)的位移;上述檢測(cè)單元332,用于根據(jù)上述鎖舌移動(dòng)的位移,檢測(cè)電控鎖的鎖舌位置。具體的,上述檢測(cè)單元332根據(jù)鎖舌移動(dòng)的位移檢測(cè)電控鎖的鎖舌位置,是通過(guò)計(jì)算子單元和檢測(cè)子單元實(shí)現(xiàn)的,具體包括:上述計(jì)算子單元,用于根據(jù)鎖舌的長(zhǎng)度和鎖舌移動(dòng)的位移,計(jì)算出現(xiàn)電壓突變點(diǎn)時(shí)鎖舌伸出電控鎖的長(zhǎng)度;上述檢測(cè)子單元,用于根據(jù)鎖舌伸出電控鎖的長(zhǎng)度,檢測(cè)電控鎖的鎖舌位置。本發(fā)明實(shí)施例提供的電控鎖的鎖舌位置檢測(cè)裝置,當(dāng)電控鎖開(kāi)啟時(shí),則觸發(fā)采集通過(guò)電控鎖內(nèi)電磁線(xiàn)圈的電壓數(shù)據(jù),根據(jù)該電壓數(shù)據(jù)檢測(cè)電控鎖的鎖舌位置,以此判斷電控鎖的鎖舌的初始位置是否正常,進(jìn)而檢測(cè)是否出現(xiàn)人為干預(yù)鎖舌位置的情況,提高了電控鎖的安全性。本發(fā)明實(shí)施例所提供的電控鎖的鎖舌位置檢測(cè)裝置可以為設(shè)備上的特定硬件或者安裝于設(shè)備上的軟件或固件等。本發(fā)明實(shí)施例所提供的裝置,其實(shí)現(xiàn)原理及產(chǎn)生的技術(shù)效果和前述方法實(shí)施例相同,為簡(jiǎn)要描述,裝置實(shí)施例部分未提及之處,可參考前述方法實(shí)施例中相應(yīng)內(nèi)容。所屬領(lǐng)域的技術(shù)人員可以清楚地了解到,為描述的方便和簡(jiǎn)潔,前述描述的系統(tǒng)、裝置和單元的具體工作過(guò)程,均可以參考上述方法實(shí)施例中的對(duì)應(yīng)過(guò)程,在此不再贅述。在本發(fā)明所提供的實(shí)施例中,應(yīng)該理解到,所揭露裝置和方法,可以通過(guò)其它的方式實(shí)現(xiàn)。以上所描述的裝置實(shí)施例僅僅是示意性的,例如,所述單元的劃分,僅僅為一種邏輯功能劃分,實(shí)際實(shí)現(xiàn)時(shí)可以有另外的劃分方式,又例如,多個(gè)單元或組件可以結(jié)合或者可以集成到另一個(gè)系統(tǒng),或一些特征可以忽略,或不執(zhí)行。另一點(diǎn),所顯示或討論的相互之間的耦合或直接耦合或通信連接可以是通過(guò)一些通信接口,裝置或單元的間接耦合或通信連接,可以是電性,機(jī)械或其它的形式。所述作為分離部件說(shuō)明的單元可以是或者也可以不是物理上分開(kāi)的,作為單元顯示的部件可以是或者也可以不是物理單元,即可以位于一個(gè)地方,或者也可以分布到多個(gè)網(wǎng)絡(luò)單元上。可以根據(jù)實(shí)際的需要選擇其中的部分或者全部單元來(lái)實(shí)現(xiàn)本實(shí)施例方案的目的。另外,在本發(fā)明提供的實(shí)施例中的各功能單元可以集成在一個(gè)處理單元中,也可以是各個(gè)單元單獨(dú)物理存在,也可以?xún)蓚€(gè)或兩個(gè)以上單元集成在一個(gè)單元中。所述功能如果以軟件功能單元的形式實(shí)現(xiàn)并作為獨(dú)立的產(chǎn)品銷(xiāo)售或使用時(shí),可以存儲(chǔ)在一個(gè)計(jì)算機(jī)可讀取存儲(chǔ)介質(zhì)中?;谶@樣的理解,本發(fā)明的技術(shù)方案本質(zhì)上或者說(shuō)對(duì)現(xiàn)有技術(shù)做出貢獻(xiàn)的部分或者該技術(shù)方案的部分可以以軟件產(chǎn)品的形式體現(xiàn)出來(lái),該計(jì)算機(jī)軟件產(chǎn)品存儲(chǔ)在一個(gè)存儲(chǔ)介質(zhì)中,包括若干指令用以使得一臺(tái)計(jì)算機(jī)設(shè)備(可以是個(gè)人計(jì)算機(jī),服務(wù)器,或者網(wǎng)絡(luò)設(shè)備等)執(zhí)行本發(fā)明各個(gè)實(shí)施例所述方法的全部或部分步驟。而前述的存儲(chǔ)介質(zhì)包括:u盤(pán)、移動(dòng)硬盤(pán)、只讀存儲(chǔ)器(rom,read-onlymemory)、隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(ram,randomaccessmemory)、磁碟或者光盤(pán)等各種可以存儲(chǔ)程序代碼的介質(zhì)。應(yīng)注意到:相似的標(biāo)號(hào)和字母在下面的附圖中表示類(lèi)似項(xiàng),因此,一旦某一項(xiàng)在一個(gè)附圖中被定義,則在隨后的附圖中不需要對(duì)其進(jìn)行進(jìn)一步定義和解釋?zhuān)送?,術(shù)語(yǔ)“第一”、“第二”、“第三”等僅用于區(qū)分描述,而不能理解為指示或暗示相對(duì)重要性。最后應(yīng)說(shuō)明的是:以上所述實(shí)施例,僅為本發(fā)明的具體實(shí)施方式,用以說(shuō)明本發(fā)明的技術(shù)方案,而非對(duì)其限制,本發(fā)明的保護(hù)范圍并不局限于此,盡管參照前述實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)的說(shuō)明,本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解:任何熟悉本
技術(shù)領(lǐng)域
的技術(shù)人員在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi),其依然可以對(duì)前述實(shí)施例所記載的技術(shù)方案進(jìn)行修改或可輕易想到變化,或者對(duì)其中部分技術(shù)特征進(jìn)行等同替換;而這些修改、變化或者替換,并不使相應(yīng)技術(shù)方案的本質(zhì)脫離本發(fā)明實(shí)施例技術(shù)方案的精神和范圍。都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此,本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)所述以權(quán)利要求的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。當(dāng)前第1頁(yè)12
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