本技術(shù)涉及慣性導(dǎo)航器件制備，具體涉及一種用于微半球諧振子q值測試的夾持裝置。

背景技術(shù)：

1、半球諧振陀螺是一種新型的測量進動角的固態(tài)導(dǎo)航陀螺儀，且核心部件為熔融石英精加工而成的半球諧振子，微半球品質(zhì)因數(shù)是衡量其加工精度以及性能的常用參數(shù)，對稱性高的半球諧振子具備穩(wěn)定的物理特性，即具備高的品質(zhì)因素(q值)，但受限于當(dāng)前技術(shù)加工條件，半球諧振子存在不同程度的質(zhì)量均勻性誤差，導(dǎo)致半球諧振子的品質(zhì)因素降低，從而影響了半球諧振陀螺的實時和長期測量精度，因此加工后的半球諧振子需要進行q值測試，通常通過多普勒激光干涉儀進行測試。具體為在高真空條件下，通過物理敲擊、壓電激勵、電容靜電激勵等方法使半球諧振子共振，并通過多普勒激光干涉儀對其固有頻率、幅值及衰減時間進行檢測，再根據(jù)固有頻率和幅值計算得到其品質(zhì)因素。

2、由于微半球諧振子由熔融石英材料制成，具有質(zhì)脆、壁薄、易碎等特點，且微半球的尺寸較小，通常情況下直徑一般在5-10mm，高度在3-5mm，特別是微半球球殼的厚度僅為幾十個微米，而測試需要將半球諧振子固定在真空腔內(nèi)的轉(zhuǎn)臺或其他固定位上，且測試過程中半球諧振子需要起振和轉(zhuǎn)動，經(jīng)常會存在由于人為不當(dāng)操作或不良的夾持方式造成半球諧振子破裂損壞而報廢的現(xiàn)象，導(dǎo)致材料和加工成本大大增加。q值測試時，當(dāng)夾持結(jié)構(gòu)與半球中軸線不重合或夾持不牢靠時，根據(jù)振動理論，振子的振動能極易通過支撐點向基底損耗，極易導(dǎo)致q值測試結(jié)果誤差。

3、除此之外，為了避免水汽或表面雜質(zhì)對q值的影響(會大幅度降低測試結(jié)果)，半球測試之前通常需要夾持以進行專業(yè)的清洗及熱烘處理，不同工藝間的轉(zhuǎn)運過程也會加大微半球破碎的風(fēng)險。且在微半球工序間轉(zhuǎn)運或工藝處理中，同樣也需要通過夾持工裝將半球的錨柱位置牢牢固定以避免損壞。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本實用新型要解決的技術(shù)問題是克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種用于微半球諧振子q值測試的夾持裝置，能夠提高諧振子q值測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

2、為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用以下技術(shù)方案：

3、一種用于微半球諧振子q值測試的夾持裝置，包括夾持組件和旋蓋，

4、所述夾持組件從上至下包括夾持部、螺紋部和安裝部，所述安裝部用于與微半球諧振子q值測試裝置相連，所述夾持部頂面開設(shè)有與微半球諧振子的錨柱配合的定位孔，所述夾持部的側(cè)壁頂端部為從下至上外徑逐漸減小的錐形面，夾持部的上部側(cè)壁周向間隔開設(shè)有多個與定位孔連通的側(cè)槽，以將夾持部的上部分為多個夾持塊，

5、所述旋蓋的頂面開設(shè)有供微半球諧振子的錨柱穿過的通孔，所述旋蓋套設(shè)在夾持組件上，其上部與夾持部配合，其下部與螺紋部螺紋連接；所述旋蓋在旋至其下部與螺紋部螺紋連接的過程中，其上部驅(qū)動夾持塊沿旋轉(zhuǎn)方向朝向相鄰的夾持塊靠近，以使定位孔縮小至鎖緊所述微半球諧振子的錨柱。

6、作為上述技術(shù)方案的進一步改進：

7、所述夾持部與螺紋部可拆卸相連。

8、所述螺紋部的頂面開設(shè)有與夾持部的下部配合的中心孔，所述夾持部的下部插入中心孔以使所述夾持部與螺紋部可拆卸相連。

9、所述中心孔和定位孔同軸布置。

10、所述夾持部的上部和下部交界的位置具有限位部，以限制夾持部的上部伸入所述中心孔內(nèi)。

11、所述夾持部的上部外徑大于其下部，所述限位部為所述夾持部的上部和下部之間形成的臺階。

12、所述夾持部的上部外徑大于其下部，所述限位部為所述夾持部的上部下端部開設(shè)的倒角面。

13、所述旋蓋的上部外表面為與所述微半球諧振子配合的半球面。

14、所述旋蓋的上部外表面具有便于人工旋轉(zhuǎn)旋蓋的防滑部。

15、所述螺紋部和安裝部一體成型。

16、所述旋蓋的下部內(nèi)表面具有內(nèi)螺紋，所述螺紋部的外表面具有與所述內(nèi)螺紋配合的外螺紋，通過所述內(nèi)螺紋和外螺紋的配合以使所述旋蓋的下部與螺紋部螺紋連接。

17、與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型的優(yōu)點在于：

18、1、本實用新型的微半球諧振子夾持裝置，通過夾持組件和旋蓋的巧妙設(shè)計和配合，具體地，旋蓋的上部與夾持組件的夾持部配合，其下部能與夾持組件的螺紋部螺紋連接，應(yīng)用時，將旋蓋罩于夾持組件上，再將微半球諧振子的錨柱穿過旋蓋上端的通孔后伸入夾持部的定位孔中，由于夾持部的側(cè)壁頂端部為從下至上外徑逐漸減小的錐形面，且夾持部的上部側(cè)壁周向間隔開設(shè)有多個與定位孔連通的側(cè)槽，以將夾持部的上部分為多個夾持塊，而旋蓋的上部為與夾持部配合的錐形面，具有內(nèi)收趨勢，從而通過向下旋轉(zhuǎn)旋蓋，使得旋蓋在旋至其下部與螺紋部螺紋連接的過程中，其上部會驅(qū)動夾持塊沿旋轉(zhuǎn)方向朝向相鄰的夾持塊靠近，以使定位孔縮小至鎖緊微半球諧振子的錨柱。從而在微半球諧振子測試過程中錨柱被牢牢夾緊，微半球諧振子不會存在滑移或晃動現(xiàn)象，保證了諧振子q值測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

19、2、本實用新型的微半球諧振子夾持裝置，整體結(jié)構(gòu)簡單，連接少，材料楊氏模量高，微半球諧振子q值測試過程中壓電陶瓷傳遞的能量損耗少，測試結(jié)果更精確。

20、3、本實用新型的微半球諧振子夾持裝置，無需使用瀝青、蜂蠟等易污染半球的膠粘材料，能夠保持半球諧振子清潔，減少清洗流程，降低損耗風(fēng)險。

技術(shù)特征：

1.一種用于微半球諧振子q值測試的夾持裝置，其特征在于，包括夾持組件和旋蓋(2)，

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于微半球諧振子q值測試的夾持裝置，其特征在于，所述夾持部(3)與螺紋部(4)可拆卸相連。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于微半球諧振子q值測試的夾持裝置，其特征在于，所述螺紋部(4)的頂面開設(shè)有與夾持部(3)的下部配合的中心孔(41)，所述夾持部(3)的下部插入中心孔(41)以使所述夾持部(3)與螺紋部(4)可拆卸相連。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的用于微半球諧振子q值測試的夾持裝置，其特征在于，所述中心孔(41)和定位孔(32)同軸布置。

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的用于微半球諧振子q值測試的夾持裝置，其特征在于，所述夾持部(3)的上部和下部交界的位置具有限位部(34)，以限制夾持部(3)的上部伸入所述中心孔(41)內(nèi)。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的用于微半球諧振子q值測試的夾持裝置，其特征在于，所述夾持部(3)的上部外徑大于其下部，所述限位部(34)為所述夾持部(3)的上部和下部之間形成的臺階。

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的用于微半球諧振子q值測試的夾持裝置，其特征在于，所述夾持部(3)的上部外徑大于其下部，所述限位部(34)為所述夾持部(3)的上部下端部開設(shè)的倒角面。

8.根據(jù)權(quán)利要求1-7任一項所述的用于微半球諧振子q值測試的夾持裝置，其特征在于，所述旋蓋(2)的上部外表面為與所述微半球諧振子配合的半球面。

9.根據(jù)權(quán)利要求1-7任一項所述的用于微半球諧振子q值測試的夾持裝置，其特征在于，所述旋蓋(2)的上部外表面具有便于人工旋轉(zhuǎn)旋蓋(2)的防滑部(21)。

10.根據(jù)權(quán)利要求1-7任一項所述的用于微半球諧振子q值測試的夾持裝置，其特征在于，所述螺紋部(4)和安裝部(5)一體成型。

技術(shù)總結(jié)
本技術(shù)公開了一種用于微半球諧振子Q值測試的夾持裝置，其包括夾持組件和旋蓋，夾持組件從上至下包括夾持部、螺紋部和安裝部，夾持部頂面開設(shè)有與微半球諧振子的錨柱配合的定位孔，其側(cè)壁頂端部為從下至上外徑逐漸減小的錐形面，夾持部的上部分為多個夾持塊，旋蓋的頂面開設(shè)有供微半球諧振子的錨柱穿過的通孔，旋蓋套設(shè)在夾持組件上，其上部與夾持部配合，其下部與螺紋部螺紋連接；旋蓋在旋至其下部與螺紋部螺紋連接的過程中，其上部驅(qū)動夾持塊沿旋轉(zhuǎn)方向朝向相鄰的夾持塊靠近，以使定位孔縮小至鎖緊所述微半球諧振子的錨柱。本技術(shù)能夠確保微半球諧振子在Q值測試過程中不存在滑移或晃動現(xiàn)象，從而保證諧振子Q值測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

技術(shù)研發(fā)人員：王飛,盧廣鋒,王凡,龔朝輝,張捷
受保護的技術(shù)使用者：湖南二零八先進科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日：20240511
技術(shù)公布日：2024/12/23