專利名稱：具有介質缺陷檢測系統的印片設備的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種印片設備以及一種印片方法，其中，該印片設備包括一種介質缺陷檢測系統，該檢測系統用于檢測介質的缺陷并且控制隨后在該介質上的印片。
背景技術：
在諸如相紙之類的介質的制造中，介質上可能產生缺陷。在制造現場，在制造完成的介質被切割成制成的卷以前可以在母片卷上檢查，并且可以在照片沖洗場所或者印片場所進行手工檢查。
通常，在制造現場，檢測到的具有滿足某個尺寸標準的缺陷的介質(諸如彩色相紙卷)被丟棄，且不傳遞到膠卷沖印裝置。大規(guī)模的膠卷沖洗可以利用4英寸×1800英尺的卷，且在卷的長度的變化不可改變。該組合的效果意味著，當在特制卷中出現單個缺陷時，整個特制卷都要作為廢料丟棄，因為該介質中的缺陷將在制成的印片中出現，導致殘缺的圖像。該卷的所有其它印片是可以接受的。此外，某些介質的缺陷可能具有這樣的特征，即，其在制成的印片中不明顯，可能使該卷的所有印片都可接受。因此，由于某些缺陷而丟棄整個特制卷會導致介質的浪費。
如果在制造現場沒有檢測缺陷，則必須在沖洗膠卷的場所檢測缺陷。通常，在沖洗膠卷的場所進行手動的檢查。這樣的檢查浪費時間、效率低，且依賴于操作者的技能。

發(fā)明內容
通過精確地定位介質缺陷并且不在與這些缺陷相關的介質幀上印片或者識別在報廢的幀上的印片并在清潔的介質上進行替代印片，由此本發(fā)明的系統和設備降低了不必要的浪費。這在制造過程中避免了當在該卷中發(fā)現單個缺陷時整個特制卷被丟棄。此后，通過避免在該缺陷上進行印片或者通過重新印制該有缺陷的印片來控制印片。
本發(fā)明提供一種印片機或者印片設備，其與缺陷檢測系統通過接口連接，該缺陷檢測系統能夠精確地識別缺陷及該缺陷在介質上的位置。使用本發(fā)明的印片機，制成的介質可以被傳送到沖洗膠卷的場所，而不需要丟棄其上具有缺陷的介質。本發(fā)明的印片機可以掃描該介質，以檢測具體特征的缺陷，且在介質上鄰近該缺陷處設置物理標記或者以電子方式報告該缺陷的精確位置。由此，命令該印片機跳過該缺陷幀或者重新印制具有缺陷的圖像幀。在本發(fā)明的上述實施例中，該印片機與該缺陷掃描系統以及缺陷標記器或者信號發(fā)出裝置通過接口連接。在本發(fā)明的另一變型中，該掃描系統可以在獨立的傳送系統(即，復卷機)上獨立工作，并且標記出缺陷的位置，以便該印片機可以檢測它。
在介質上標記該缺陷的位置的優(yōu)選方法涉及通過打孔從而在剛好位于缺陷位置之前的介質的中心處形成一個孔來進行標記。使用該方法，該印片機會跳過該孔和缺陷幀，類似于其跳過標記有孔的接合幀的方法。該中心孔不會與介質上的其它位置上的穿孔相混淆。
因此，本發(fā)明提供一種印片設備，其包括缺陷掃描部分，其用于在所述印片設備內的介質通道中掃描未暴光的介質，以便在所述介質上檢測預定特征的缺陷；缺陷標記器，其相對于所述介質在所述印片設備中的行進方向定位在所述掃描部分的下游，所述缺陷標記器接收來自所述缺陷掃描部分的表示所述介質中的缺陷的信號，并且在所述介質上在檢測到的缺陷附近設置一物理標記，以使所述物理標記與包括所述缺陷的圖像幀相關聯；以及印片部分，其用于在所述介質上印制圖像，所述印片部分適于檢查該介質的所述物理標記，并且跳過包括該物理標記及其相關的缺陷的介質的幀，以使所述印片部分只在其上沒有物理標記或者缺陷的幀上印制圖像。
本發(fā)明還提供一種印片設備，其包括缺陷掃描部分，其用于在所述印片設備內的介質通道中掃描未暴光的介質，以便在所述介質上檢測預定特征的缺陷；缺陷標記器，其相對于所述介質在所述印片設備中的行進方向定位在所述掃描部分的下游，所述缺陷標記器接收來自所述缺陷掃描部分的表示所述介質中的缺陷的信號，并且在所述介質上在檢測到的缺陷附近設置一物理標記，以使所述物理標記與包括所述缺陷的圖像幀相關聯；以及印片部分，其用于在所述介質上印制圖像，所述印片部分適于檢查該介質的所述物理標記，并且在所述圖像幀上印制圖像，其中在具有所述物理標記及其相關缺陷的幀上印制的圖像在沒有缺陷的介質上重新印片，并且具有缺陷的印片被丟棄。
本發(fā)明還涉及一種在介質上印制圖像的方法，其包括的步驟為掃描介質以便在該介質上檢測具有預定特征的缺陷的精確位置；以及將關于檢測到的缺陷的信息以電子方式傳送到印片機的印片部分，并且使用該信息來控制在所述介質上通過印片機進行隨后的圖像印制，以便跳過具有缺陷的幀并且在沒有缺陷的幀上印制圖像。
本發(fā)明還涉及一種在介質上印制圖像的方法，其包括的步驟為掃描介質以便在該介質上檢測具有預定特征的缺陷的精確位置；以及將關于檢測到的缺陷的信息以電子方式傳送到印片機的印片部分，并且使用該信息來重新印制在具有缺陷的幀上印制的圖像，同時追蹤并丟棄具有缺陷的印片。


圖1A示意性地示出了根據本發(fā)明的印片機或者印片設備；圖1B進一步示出了本發(fā)明的印片機或者印片設備；圖2是顯示介質上鄰近缺陷的缺陷標記的例子的透視圖；圖3是描述使用根據本發(fā)明的印片機或者印片設備的缺陷處理過程的流程圖；圖4示出了另一個實施例的透視圖，其中該缺陷檢測和標記系統與該印片機或者印片設備分離；以及圖5示意性地示出了該印片機或者印片設備的另一個實施例，其中檢查暴光的介質的缺陷。
具體實施例方式
現在參考圖1A和圖1B，其示意性地示出了根據本發(fā)明的印片機或者印片設備2。印片機2包括示意性地由附圖標記14示出的介質通道，其延伸穿過印片機2。介質通道14適于通過印片機2的不同部分來傳送介質。印片機2可以是已知的印片機，其在相紙或者介質上進行暴光并印片。
如圖1A所示，印片機2包括入口30，以用于接收未暴光的相紙或者介質4。相紙或者介質4通過介質通道14傳送到缺陷檢測器或者缺陷檢測部分6，其與印片機2通過接口來連接。缺陷檢測部分6可以是一個已知的掃描器或者攝像機，其掃描整幅的未暴光的介質4。例如，如圖1B所示，缺陷檢測部分6可以包括裝配有鏡頭的視頻攝像機，其對照相介質的幅面的整個幀進行成像，以檢測其中的缺陷。作為另一選擇，缺陷檢測部分6可以包括IR(紅外)光發(fā)射器，其以不改變介質對可見光的敏感度的方式對該照相介質施加紅外光。
相對于缺陷檢測部分6，該掃描器或者攝像機掃描未暴光介質4的所有幀，以便尋找具有具體特征的缺陷。也就是說，允許某些缺陷通過，因為它們在最終的印片中是不顯著的。這些的例子是輕微的表面粗糙度的變化、沒有強烈的顏色對比度的特別小的點缺陷、以及人眼不可見的輕劃傷。多個和重復的缺陷可以在制造現場預先丟棄，這樣該印片系統只需要處理偶然的缺陷。在印片機位置處進行檢查的目的是消除會顯露在最終印片中的隨機單個介質缺陷。
缺陷檢測部分6可以利用算法方法，其中，檢測該照相介質的幅面的邊緣，并且應用數字濾波器來增強任何缺陷。此后，可以產生二元圖像來確定任何亮點缺陷，并且/或者實施微粒分析來確定缺陷的尺寸和位置。如上所述，某些類型的缺陷不會在最終的印片中出現，因此不需要缺陷標記。那些超過允許范圍或者超出允許限度的具體特征的缺陷被認為是不能接受的缺陷，因此，適當地標記該缺陷的包括介質的幀。
如圖1A所示，該介質4的幅面在缺陷檢測部分6處掃描并且檢測出超出具體限度的任何缺陷以后，啟動缺陷標記器8。缺陷標記器8可以是已知的打孔機(如圖1B所示)，從而在介質上鄰近缺陷處形成一個物理標記。該缺陷和標記的例子在圖2中顯示，其中，介質4包含一穿孔120，其鄰近的缺陷由110標記。
在圖2中的例子中，附圖標記100代表展開的卷或者進給卷，而附圖標記130代表纏繞卷或者繞緊卷。缺陷檢測部分6適于檢測介質4上的缺陷110，且向缺陷標記器8提供信號，以在鄰近缺陷110處形成穿孔120。
在缺陷標記器8使用例如一個孔的物理標記標記了介質的包括缺陷的幀以后，介質4沿著介質通道14繼續(xù)行進到印片機2中的印片或者暴光部分10。印片或者暴光部分10包括傳感器(例如，圖1B中所示的附圖標記230)，該傳感器在暴光之前掃描介質，以便檢查任何缺陷標記(諸如穿孔120)。在本發(fā)明的一個實施例中，印片部分10跳過那些包括缺陷的幀，并且印片部分10跳過諸如物理孔的缺陷標記，更具體地說，在那些包括缺陷或者缺陷標記的幀上不印制圖像。在本發(fā)明的結構中，因為這些標記只位于那些包括缺陷的幀上，所以缺陷標記在沿著該介質的隨機位置處出現。
對于介質4的給定卷的檢查過程在圖3的流程圖中描述。首先將介質4供給到印片機2(步驟300)，且定位在第一圖像幀之前。然后，該介質前進到下一個圖像幀(步驟310)。然后，測試該介質來看是否已經到達該介質卷的端部(360)。如果已經到達了該介質的端部，該過程停止(步驟370)。如果沒有到達介質的端部，通過缺陷檢測工位6來掃描該幀(步驟320)。然后，分析該被掃描的幀的缺陷(步驟330)。如果檢測到不能接受的缺陷(步驟340)，則啟動缺陷標記器8(步驟341)。如上所述，缺陷標記器8適于在介質上鄰近缺陷處設置物理標記(步驟342)。此后，印片部分10中的傳感器可以檢測到該物理標記，且該印片部分可以通過使介質前進到下一幀來跳過該缺陷區(qū)域(步驟310)。如果沒有檢測到缺陷(步驟340)，則正常使用該介質幀(步驟350)。然后通過前進到下一幀來重復該過程(步驟310)。
在本發(fā)明的另一個實施例中，印片部分10將在介質的所有幀上印制圖像。此后，印片機2可包括檢測器12(圖1A)，該檢測器檢測那些包括缺陷標記的印制后的圖像幀，此外還包括使用每個標記幀來檢測缺陷幀的機器邏輯部分，以便重新印片。在該點，這些圖像將會通過通道18被送回，以在印片部分10處重新印片(圖1A)。
本發(fā)明的又一個特征中，該掃描系統可以在獨立的傳送系統上單獨工作，如圖4所示，而不是使該掃描器和缺陷標記器與印片機2通過接口連接，如圖1A所示。在替代實施例中，掃描和缺陷標記器以如前所述的方式標記出缺陷的位置。當介質4從展開卷100展開時，其通過缺陷檢測工位6掃描。當檢測到缺陷時，缺陷標記器8就在介質上鄰近缺陷位置處設置標記。然后，該介質在繞緊卷130上繞緊，且重復該過程直到到達該卷的端部。此后，該介質卷被供給到印片機，且印片部分可以跳過那些包括缺陷標記及其相關的缺陷的幀。作為又一選擇，圖像可以印制在每一幀上，此后，掃描該介質，以確定被印制在具有缺陷標記和缺陷的幀上的圖像。然后，這些圖像以如上所述的方式被重新印制。
本發(fā)明的另一個實施例在圖5中描述。在該實施例中，介質4通過介質通道14穿過入口30供給到印片機2，然后，該介質由印片部分10暴光。由于該暴光的介質還沒有通過圖片處理器進行顯影，該印制的圖像是不可見的，且該介質可以由缺陷檢測工位6檢查。當發(fā)現缺陷時，該受影響的圖像或者多個圖像可以通過通道18被送回，以便在印片部分10處重新印片。
因此，本發(fā)明的系統和方法的實施例中，缺陷檢測部分6適于掃描介質來檢測缺陷的精確位置。一旦檢測到，相對于檢測到的缺陷的信息可以以電子方式傳送到印片機的印片部分，以隨后控制圖像的印片，(a)通過跳過具有缺陷的幀并在沒有缺陷的幀上印制圖像，或者(b)通過使用該信息來重新印制那些在具有缺陷的幀上印制的圖像，同時追蹤和丟棄具有缺陷的印片。
如上所述，使用本發(fā)明的系統和方法可以在包括在允許限度范圍內的缺陷的介質上進行印片。例如，小的、低對比度的缺陷是可接受的，而大的、高對比度的缺陷是不可接受的。這樣的缺陷可以通過諸如尺寸、形狀或者對比度的特征來區(qū)分。
利用包含少量缺陷的介質卷的能力有助于降低介質浪費。此外，可以通過使用如上所述的印片機2，可以省去在介質制造庫房中的介質檢查步驟或者過程。使用本發(fā)明的印片機2，當由掃描器和缺陷標記器組合的印片機消耗介質時，該介質自動被檢查，隨后考慮到其上具有缺陷標記的幀來控制印片。在制造現場，省去了介質檢查是實際的，然而，要求缺陷出現的頻率低。
關于本發(fā)明的介質，其最好是非磁性的介質，因此，相對于在印片機中形成該標記并檢測該標記來說，使用該物理標記(即穿孔)是優(yōu)選的。該標記可以是介質的中心孔、介質邊緣的凹口、或者是在缺陷標記工位用噴墨或者激光施加的彩色標記。應當注意，這些缺陷標記是預定特征的隨機出現的標記。
權利要求
1.一種印片設備(2)，其包括缺陷掃描部分，其用于在所述印片設備內的介質通道(14)中掃描未暴光的介質(4)，以便在所述介質上檢測預定特征的缺陷；缺陷標記器(8)，其相對于所述介質在所述印片設備中的行進方向定位在所述掃描部分的下游，所述缺陷標記器接收來自所述缺陷掃描部分的表示所述介質中的缺陷的信號，并且在所述介質上在檢測到的缺陷附近設置一物理標記，以使所述物理標記與包括所述缺陷的圖像幀相關聯；以及印片部分(10)，其用于在所述介質上印制圖像，所述印片部分適于檢查該介質的所述物理標記，并且跳過包括該物理標記及其相關的缺陷的介質的幀，以使所述印片部分只在其上沒有物理標記或者相關缺陷的幀上印制圖像。
2.根據權利要求1所述的印片設備，其特征在于所述物理標記是在所述介質中的穿孔。
3.一種印片設備，其包括缺陷掃描部分，其用于在所述印片設備內的介質通道(14)中掃描未暴光的介質(4)，以便在所述介質上檢測預定特征的缺陷；缺陷標記器(8)，其相對于所述介質在所述印片設備中的行進方向定位在所述掃描部分的下游，所述缺陷標記器接收來自所述缺陷掃描部分的表示所述介質中的缺陷的信號，并且在所述介質上在檢測到的缺陷附近設置一物理標記，以使所述物理標記與包括所述缺陷的圖像幀相關聯；以及印片部分(10)，其用于在所述介質上印制圖像，所述印片部分適于檢查該介質的所述物理標記，并且在所述圖像幀上印制圖像，其中在具有所述物理標記及其相關缺陷的幀上印制的圖像在沒有缺陷的介質上重新印片，并且具有缺陷的印片被丟棄。
4.根據權利要求3所述的印片設備，其特征在于所述物理標記是在所述介質中的穿孔。
5.一種在介質上印制圖像的方法，該方法包括的步驟為掃描介質以便在該介質上檢測具有預定特征的缺陷的位置；以及將關于檢測到的缺陷的信息以電子方式傳送到印片機的印片部分，并且使用該信息來控制在所述介質上進行隨后的圖像印制，以便跳過具有缺陷的幀并且在不包括缺陷的幀上印制圖像。
6.一種在介質上印制圖像的方法，該方法包括的步驟為掃描介質以便在該介質上檢測具有預定特征的缺陷的位置；以及將關于檢測到的缺陷的信息以電子方式傳送到印片機的印片部分，并且使用該信息來重新印制在具有缺陷的幀上印制的圖像，同時追蹤并丟棄具有缺陷的印片。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種照相印片機(2)和一種印片的方法，其中該印片機與缺陷檢測或者掃描系統通過接口連接，該缺陷檢測或者掃描系統適于在印片機消耗相紙時檢查相紙的缺陷。在本發(fā)明的系統和方法中，當檢測到缺陷時，該印片機能夠跳過該缺陷區(qū)域或者重新印制該受影響的圖像。當檢測時，對于該缺陷，本發(fā)明提供了諸如打孔機的缺陷標記器(8)，其在相紙上鄰近缺陷處設置物理標記，或者提供能夠將缺陷的精確位置傳送到印片部分的電子裝置。該孔或者電子信號被印片機識別，以使其跳過該有缺陷的幀或者重新印制圖像。
文檔編號B41F33/14GK1503051SQ200310116458
公開日2004年6月9日 申請日期2003年11月21日 優(yōu)先權日2002年11月21日
發(fā)明者T·F·卡藤巴奇, S·C·克洛滋, O·梅杰, T·K·溫克勒, T F 卡藤巴奇, 克洛滋, 溫克勒 申請人:伊斯曼柯達公司