專利名稱:制造噴墨打印頭的方法
技術領域:
本發(fā)明涉及一種制造噴墨打印頭的方法,尤其涉及一種通過使用濕法蝕 刻制造具有供墨通道的噴墨打印頭的方法。
背景技術:
噴墨打印頭是通過向打印介質(zhì)上的指定位置噴射墨滴以形成圖像的設 備。根據(jù)墨滴噴封機制,噴墨打印頭大體上分為電熱型和壓電型兩類。電熱 型打印頭使用加熱源在墨水中產(chǎn)生氣泡,并借助氣泡的膨脹力噴出墨滴。圖1是表示相關技術中電熱型噴墨打印頭的截面圖。如圖l所示,電熱型打印頭通常包括硅晶片基板l;形成于基板1上用以供墨的供墨通道; 設置在基板1上,具有流動通道3a和墨腔3b的流動通道層3;以及設置在 流動通道層3上,具有與墨腔3b相對應的噴嘴4a的噴嘴層4。在所述噴墨打印頭中,供墨通道2通過干法蝕刻或者濕法蝕刻形成。因 為一般不能進行批量處理,干法蝕刻耗費更高的制造成本和更多的制造時 間。而由于大量晶片可以同時浸入蝕刻溶液并蝕刻,濕法蝕刻在產(chǎn)率上具有 優(yōu)勢。濕法蝕刻具有工藝控制難度,因為不能容易地獲得所期望的蝕刻形狀。 在圖1中,基板1有(100)晶格取向(在下文中,稱為"(100)晶片")。 供墨通道2通過濕法蝕刻形成。如果供墨通道2在(100)晶片上通過濕法 蝕刻形成,則由于硅的晶體結構的原因,供墨通道2的內(nèi)壁2a以約54.7度 傾斜。在這種供墨通道2中,在基板1后表面的開口 2b比在基板1前表面 的開口2c大許多。因為多種原因,在噴墨打印頭中這一結構是不期望的。詳細地,如圖1所示,如果后表面開口 2b較大,則后表面具有更小的 安裝區(qū)域,在該安裝區(qū)域噴墨打印頭安裝到墨盒(cartridge),因此墨水可能 泄露。如果為了獲得足夠的安裝區(qū)域而增加基板1的尺寸,則打印頭的整個 尺寸也將增加。而且,對基板1后表面增加的蝕刻會降低打印頭的結構剛性, 而且打印頭可能因為受到內(nèi)部殘余應力或外力而輕易變形或損壞。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的一方面提供了 一種制造噴墨打印頭的方法,其通過使用濕法蝕 刻提高了生產(chǎn)率。本發(fā)明的另 一方面提供了 一種制造噴墨打印頭的方法,所述噴墨打印頭 擁有緊湊的結構和增強的剛性。根據(jù)本發(fā)明的方面,提供了一種制造噴墨打印頭的方法,包括在具有 (110)晶面取向(晶格面)的硅晶片基板的前表面形成溝槽;以及通過濕 法蝕刻,從基板后表面到所述溝槽,形成供墨通道。根據(jù)本發(fā)明的方面,所述溝槽可以通過干法蝕刻形成,且當從基板的前 表面看時溝槽的形狀可以是矩形。根據(jù)本發(fā)明的方面,所述供墨通道具有相對于基板的前表面和/或后表面 垂直延伸的壁。才艮據(jù)本發(fā)明的方面,所述濕法蝕刻使用的蝕刻溶液包括從KOH、 NaOH、 TMAH及其混合物所組成的組中選擇出的材料。根據(jù)本發(fā)明的又一方面,提供了一種制造噴墨打印頭的方法,包括在 具有(110)晶面取向的單晶硅基板的前表面形成加熱墨水的加熱器;形成 與加熱器相鄰的溝槽;在基板的前表面上形成限定墨水通路的流動通道層; 在流動通道層上形成具有噴嘴的噴嘴層;以及通過各向異性濕法蝕刻,從基 板后表面到所述溝槽形成供墨通道。根據(jù)本發(fā)明的方面,所述供墨通道具有與所述基板的后表面和/或前表面 基本上垂直的壁。本發(fā)明的其他方面和優(yōu)點將部分在隨后的描述中闡明,并部分地通過該 描述而明顯,或可通過實踐本發(fā)明而得知。
通過下面結合附圖對實施例的描述,本發(fā)明的以上和/或其他方面和優(yōu)點 將變得更明顯且更易于理解,其中圖1是表示相關技術中噴墨打印頭的截面圖;圖2是根據(jù)本發(fā)明所述方法制造的噴墨打印頭的平面圖;圖3是表示沿圖2中的I - I線的截面圖;圖4a-4i是用于解釋根據(jù)本發(fā)明制造噴墨打印頭的示范性方法的示意圖。具體實施方法現(xiàn)在將更詳細地參照本發(fā)明的示范性實施例,在附圖中表示了本發(fā)明的 實例,且全文相同的標號代表相同的元件。以下參照附圖描述這些實施例以 說明本發(fā)明。圖2是根據(jù)本發(fā)明的方法制造的噴墨打印頭200的平面圖,并且圖3是 沿圖2中的I - I線的截面圖。如圖2和3所示,噴墨打印頭200包括基板 10,布置在基板10上的流動通道層20和布置在流動通道層20上的噴嘴層 30。基板10形成有供墨通道40以供墨。供墨通道40通過濕法蝕刻形成, 并沿著噴墨打印^V 200的縱向延伸?;旧吓c基板10的后表面10b和/或前 表面10a相垂直地形成供墨通道40的內(nèi)壁41。如果基本上與前表面10a和/ 或后表面10b相垂直形成供墨通道40,那么供墨通道40占用最小量的基板 10的后表面10b。流動通道層20限定了墨水通路21,該墨水通路21將供墨通道40連接 到噴嘴31。每個墨水通路21都包含其中填充墨水的墨腔21a和將供墨通道 40連接到墨腔21a的限流器21b。噴嘴層30包含噴嘴31,墨水通過噴嘴31 從墨腔21a中噴出?;?0的前表面10a包括在噴墨打印頭200的縱向上延伸的溝槽50(通 道)。所述溝槽50與貫穿基板10的供墨通道40相連通。因此,由供墨通道 40供應的墨水經(jīng)由溝槽50流入到墨水通路21中。加熱器11設置在溝槽50 的兩側,以加熱墨腔21a中的墨水。電4及12鄰近加熱器11,以對加熱器ll 提供電流。圖4a-4i是用于解釋根據(jù)本發(fā)明制造噴墨打印頭200的示范性方法的示 意圖。如圖4a所示,提供了基板IO?;?0是具有(110)晶面取向的單 晶硅晶片(在下文中,稱為"(110)晶片")。供墨通道40 (見圖3)形成在 基板10內(nèi),使得通道40的壁41基本上與基板10的后表面10b和/或前表面 10a相垂直。供墨通道40可以通過蝕刻例如各向異性濕法蝕刻形成。蝕刻工 藝根據(jù)(110)晶片的晶體結構(取向)改變。(110)晶片從基板10的后表面10b向前表面10a進行蝕刻。根據(jù)基板10的晶面取向,與蝕刻溶液相接 觸的表面有著不同的蝕刻速度。如圖4b所示,加熱器11和電極12設置在基板10的前表面10a上。加 熱器11可以通過在基板10上沉積耐熱材料來形成,例如鉭氮化物或鉭-鋁合 金。加熱器11可以通過圖案化的濺射或化學氣相沉積來沉積。電極12可以 通過圖案化的'減射來沉積具有足夠導電性的金屬材料例如鋁而形成??梢栽?加熱器11和電極12上提供保護層(未示出),例如,氧化硅膜或氮化硅膜。如圖2和4c所示,溝槽50形成于基板10的前表面10a上。由于(IIO) 晶片基板10的蝕刻特征,如果基板IO使用矩形蝕刻掩模通過各向異性濕法 蝕刻來蝕刻,那么供墨通道40縱向的兩個末端都形成如圖2所示的"A"部 分。詳細地,供墨通道40縱向上的第一末端通過蝕刻表面42和43形成, 所述蝕刻表面42和43分別與垂直壁41相交成角cc和角(3 。供墨通道40縱 向上的第二末端通過蝕刻表面44和45形成,所述蝕刻表面44和45分別與 垂直壁41相交成角(3和角cx。蝕刻表面42和蝕刻表面43之間形成的邊緣部分46與蝕刻表面44和蝕 刻表面45之間形成的邊緣部分47都相對易于受到噴墨打印頭200內(nèi)殘余應 力的影響,或受到施加在噴墨打印頭200上的外力的影響。因此,溝槽50 的橫截面通常形成為矩形,以便減輕集中在邊緣部分46和47上的負荷。溝 槽50可以包括唇狀結構,以使得在基板10前表面10a處的供墨通道40變 窄(參見圖3)。溝槽50可以通過干法蝕刻形成,例如使用等離子體的反應 離子蝕刻(RIE),或通過工具切割,或通過噴砂法。如圖4d所示,流動通道層20形成在提供了加熱器11和電極12的基板 IO上。流動通道層20可以通過光刻工藝形成。盡管圖中未示出,但所述工 藝包括通過旋涂法在基板10上涂布負性光致抗蝕劑層的搡作,以及使用包 含墨腔圖案和限流器圖案的光掩模對光致抗蝕劑層曝光的操作。如圖4d所 示,光致抗蝕劑層被顯影以選擇性地移除未曝光的光致抗蝕劑,以形成限定 墨水通路20a的流動通道層20。如圖4e所示,形成犧牲層60以覆蓋基板10的前表面10a和流動通道 層20。所述犧牲層60可以例如通過旋涂法,通過涂覆正性光致抗蝕劑的方 法來形成。由于蝕刻基板以形成供墨通道40時,犧牲層60暴露于蝕刻溶液, 所以犧牲層60通常采用對蝕刻溶液具有高抵抗性的材料制成。如圖4f所示,犧牲層60的上表面與流動通道層20的上表面被平坦化 至相同高度。所述平坦化可以通過化學機械拋光(CMP)工藝來實現(xiàn),或采 用類似的方法。如圖4g所示,噴嘴層30形成于平坦化的犧牲層60和流動通道層20之 上。噴嘴層30通過光刻工藝而形成,類似于流動通道層20。換句話說,在 光致抗蝕劑涂覆到流動通道層20上之后,光致抗蝕劑通過有噴嘴圖案的光 掩膜被曝光,并被顯影以選擇地移除其中未曝光的部分。如此形成具有噴嘴 31的噴嘴層30,如圖4g所示。由于形成于流動通道層20上的噴嘴層30可 以被流動通道層20緊密接觸,所以打印頭的耐久力因此增加,并且墨水通 路的形狀和尺寸也被精確控制,因而提高了打印頭的墨水噴射性能。如圖4h所示,蝕刻掩模70提供于基板10的后表面10b上,以形成供 墨通道40 (見圖3 )。所述蝕刻掩模70可以通過在基板10的后表面10b上 涂覆正性或負性光致抗蝕劑并對其圖案化來獲得。在形成蝕刻掩模70之后,圖4h中所示的工作件210被浸入到蝕刻溶液 中,從而蝕刻基板10的后表面10b由蝕刻掩模70暴露的地方。如圖4i所示, 進行所述蝕刻搡作直到暴露溝槽50,以形成供墨通道40。由于(110)晶片 基板10的蝕刻特性,在供墨通道40縱向上的壁41垂直地形成。氫氧化鉀 (KOH)、氫氧化鈉(NaOH)或者四曱基氫氧化銨(TMAH)都可以作為蝕 刻溶液來使用。移除如圖4i所示的蝕刻掩才莫70和犧牲層60,以形成如圖3所示出的噴 墨打印頭200。從上述描述中顯然可以看出,根據(jù)本發(fā)明所述制造方法,由于在供墨通 道縱向上的壁可以通過濕法蝕刻而垂直地形成,從而可以高生產(chǎn)率地生產(chǎn)具 有增強的剛性的緊湊型噴墨打印頭。盡管已經(jīng)示出和描述了本發(fā)明的一些實施例,但本領域技術人員將會理 解到,在這些實施例內(nèi)可以作出改變,而沒有背離本發(fā)明的原則和精神,本 發(fā)明的范圍限定在權利要求及其等同物中。
權利要求
1、一種制造噴墨打印頭的方法,包括準備具有(110)晶面取向的硅晶片作為基板;在所述基板的前表面上形成溝槽;以及從所述基板的后表面到所述溝槽,濕法蝕刻供墨通道。
2、 如權利要求1所述的方法,其中所述溝槽的形成包括干法蝕刻所述 基^反的前表面。
3、 如權利要求l所述的方法,其中所述溝槽具有基本上矩形的橫截面。
4、 如權利要求1所述的方法,其中所述供墨通道具有基本上垂直于所 述基板的前表面和后表面延伸的壁。
5、 如權利要求1所述的方法,其中所述供墨通道的濕法蝕刻包括使用 蝕刻溶液,所述蝕刻溶液包括從KOH、 NaOH、 TMAH及其混合物所組成的 組中選擇出的材料。
6、 一種制造噴墨打印頭的方法,包括 準備具有(110)晶面取向的硅晶片作為基板; 在所述基板的前表面上形成加熱墨水的加熱器;在所述基板的前表面上形成與所述加熱器相鄰的溝槽; 在所述基板的前表面上形成具有墨水通路的流動通道層; 在所述流動通道層上形成具有噴嘴的噴嘴層;以及 從所述基板后表面到所述溝槽,各向異性濕法蝕刻供墨通道。
7、 如權利要求6所述的方法,其中所述供墨通道具有基本上垂直于所 述基板的前表面和后表面延伸的壁。
8、 如權利要求6所述的方法,其中所述溝槽具有基本上矩形的橫截面。
9、 如權利要求6所述的方法,其中所述溝槽的形成包括干法蝕刻所述 基板的前表面。
10、 如權利要求6所述的方法,其中所述溝槽的形成包括對所述基板的 前表面進行反應離子蝕刻、工具切割、或噴砂。
11、 如權利要求l所述的方法,其中所述溝槽的寬度窄于所述供墨通道 相應的寬度。
12、 如權利要求l所述的方法,其中所述濕法蝕刻包括蝕刻所述供墨通 道,使得所述溝槽限制來自所述供墨通道的墨水流動。
13、 如權利要求l所述的方法,其中所述基板是單晶硅基板。
全文摘要
一種制造噴墨打印頭的方法,包括準備具有(110)晶面取向的單晶硅晶片作為基板;在硅基板的前表面形成加熱墨水的加熱器;在加熱器以內(nèi)形成溝槽;在基板的前表面形成限定墨水通路的流動通道層;在流動通道層上形成具有噴嘴的噴嘴層;以及通過各向異性濕法蝕刻,從基板的后表面到溝槽形成供墨通道。
文檔編號B41J2/16GK101269576SQ2007101691
公開日2008年9月24日 申請日期2007年12月28日 優(yōu)先權日2007年3月22日
發(fā)明者樸性俊, 李鎮(zhèn)郁, 金一宇, 金敬鎰 申請人:三星電子株式會社