專利名稱：打印裝置中對于打印陣列和基片的調(diào)整的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于相對于彼此調(diào)整一種記錄基片和至少一個陣列的方法，所述 記錄基片和所述至少一個陣列具有朝向彼此的相對位置，所述至少一個陣列是具有一種用 于安裝所述陣列的攜載結(jié)構(gòu)的打印裝置的一部分、并具有呈基本上與第一方向平行的行而 排列的用以在記錄基片上形成第二測試標(biāo)記的噴嘴，其中記錄基片包括一種包含第一測試 標(biāo)記的預(yù)打印圖案，該方法包括形成一種包含第一測試標(biāo)記和第二測試標(biāo)記的測試圖案 (每個第一測試標(biāo)記和第二測試標(biāo)記具有在基片上的位置)，并檢測出第一標(biāo)記和第二標(biāo) 記的位置。
背景技術(shù)：
在一種從現(xiàn)有技術(shù)中已知、并具有至少一個打印頭的噴墨打印機中，一種安裝了 打印頭的托架通常沿平行于y軸線的主掃描方向在記錄基片上方移動以便記錄圖像的長 條或長列(swath)。打印頭具有沿基本上平行于χ軸線的方向(該方向是副掃描方向)延 伸的至少一個噴嘴陣列。副掃描方向χ垂直于主掃描方向y。因此在托架沿主掃描方向的 行程期間記錄下由與打印頭的工作狀態(tài)噴嘴的數(shù)量對應(yīng)的一定數(shù)量的像素行構(gòu)成的圖像 長條。在給定的沿χ軸線的基片與陣列的相對位置，陣列和記錄基片至少部分地在彼此的 側(cè)翼、并布置為用于把第二測試標(biāo)記(也稱為點)應(yīng)用在由第一測試標(biāo)記預(yù)打印的基片上。 一些像素行因而由與陣列的噴嘴相對應(yīng)的第二測試標(biāo)記構(gòu)成，而其它像素行由預(yù)打印在記 錄基片上的第一測試標(biāo)記構(gòu)成。第一測試標(biāo)記形成了一種在打印第二測試標(biāo)記之前已經(jīng)存 在于記錄基片上的預(yù)打印圖案?？衫猛淮蛴⊙b置或另一打印裝置把預(yù)打印圖案打印在 基片上。因而用第一測試標(biāo)記在記錄基片上構(gòu)成預(yù)打印像素行，所述第一測試標(biāo)記與經(jīng)打 印的第二測試標(biāo)記一起形成一種測試圖案。通常，希望實現(xiàn)由第一測試標(biāo)記構(gòu)成的像素行 和由第二測試標(biāo)記構(gòu)成的像素行的交錯來獲得記錄圖像的高分辨率，并且像素行之間的間 隔應(yīng)當(dāng)是盡可能規(guī)則的。在托架在預(yù)打印的記錄基片上方的一個單行程期間，可以實現(xiàn)單 一陣列的分辨率的兩倍的打印分辨率。因此，應(yīng)該比較并分析第一測試標(biāo)記和第二測試標(biāo) 記的位置以便確定沿χ軸線的陣列與基片的相對位置?？赡懿坏貌徽{(diào)整所確定的相對位置 以在所希望的基片與陣列的相對定位方面達到高精確度。測試圖案中的偏差可以被檢測并 且可被用來調(diào)整陣列和基片的相對位置。另外，像素的定位的常見誤差由偏離理想噴射角 度的噴射角度引起。這種缺陷可能由存在于噴嘴中的雜質(zhì)引起。這種缺陷可導(dǎo)致第一標(biāo)記 和第二標(biāo)記的定位之間的偏差。在把第一測試標(biāo)記預(yù)打印在基片上期間，可引起第一測試 標(biāo)記的定位的偏差；并且在由陣列把第二測試標(biāo)記打印在預(yù)打印的基片上期間，可引起第 二測試標(biāo)記的定位的偏差。對于圖形應(yīng)用，這種缺陷可導(dǎo)致在圖像中出現(xiàn)白條紋或亮條紋， 稱為“條帶”效應(yīng)。當(dāng)應(yīng)用噴墨技術(shù)作為一種制造技術(shù)(例如，打印電子學(xué))時，必須在最 大程度上朝著零使定位誤差的數(shù)量最小化。根據(jù)DE 19^^80A1，已知一種用于確定第一成像裝置和第二成像裝置的相對位 置的方法，包括在記錄基片上設(shè)置第一成像裝置的參考圖案的圖像、在記錄基片的同一部分上設(shè)置第二成像裝置的參考圖案的圖像，導(dǎo)致一種組合圖案，根據(jù)該方法，能夠確定第一 圖像裝置和第二圖像裝置的相對位置。根據(jù)US 2003/0144815，已知另一方法，其中借助于在由第一圖像裝置和第二圖像 裝置設(shè)置圖像之前已存在于記錄基片上的基本圖案，確定出由第一圖像裝置和第二圖像裝 置打印的兩個圖案的相對位置。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于改進一種用于在打印裝置中相對于彼此調(diào)整至少一個陣列和 記錄基片的方法，從而使得能夠獲得交錯的像素行、并且在像素行之間存在著規(guī)則的間隔。 利用像素行之間的規(guī)則間隔，顯著減小了 “條帶”的現(xiàn)象。通過一種用于在打印裝置中相對于彼此調(diào)整至少一個陣列和記錄基片的方法實 現(xiàn)這個目的，還包括基于所述檢測的位置針對多個可獲得的相對位置而確定多個偏差因 子，其中所述偏差因子中的每個偏差因子是截然不同的可獲得相對位置的屬性、并指示出 了介于毗鄰的第一與第二測試標(biāo)記之間的距離相對于名義距離而偏離的量；并且選擇出在 所述多個可獲得的相對位置之中滿足一種適用于所述多個偏差因子的選擇準(zhǔn)則的一種可 獲得相對位置。由于確定了作為可獲得相對位置的屬性的一種偏差因子，所以能夠針對相應(yīng)的可 獲得相對位置來量化介于包括第一測試標(biāo)記的像素行與包括第二測試標(biāo)記的像素行之間 的間隔中將會出現(xiàn)的缺陷。偏差因子是像素行之間的距離相對于名義距離偏離的量的特 性。針對多個可獲得相對位置而確定偏差因子。因此，對于每個所述可獲得位置，量化出打 印圖像中將會出現(xiàn)的缺陷。這使得能夠選擇作為陣列和記錄基片的最佳可獲得相對位置的 一種可獲得相對位置。為了選擇最佳可獲得相對位置，把一種選擇準(zhǔn)則應(yīng)用到歸因于所述 多個可獲得相對位置的所述多個偏差因子。在根據(jù)本發(fā)明的方法的一個實施例中，所選擇的可獲得相對位置是一個具有所述 多個偏差因子之中的最小偏差因子的可獲得相對位置。利用這種選擇準(zhǔn)則，所選擇的可獲 得相對位置導(dǎo)致這樣的印刷圖像在該圖像中，使諸如由偏離的噴射角度引起的缺陷的出 現(xiàn)為最小化的。在根據(jù)本發(fā)明的方法的另一實施例中，最大值函數(shù)約束著歸因于一種獨特的可獲 得相對位置的偏差因子，以取用在名義距離與毗鄰著的第一和第二測試標(biāo)記之間距離這二 者之間經(jīng)計算得到的差的集合之中絕對值最大的差值。為了設(shè)置偏差因子而使用這個最大 值函數(shù)會導(dǎo)致選擇這樣一種可獲得相對位置在該可獲得相對位置，避免了打印圖像中的 像素行之間的大間隔。對于諸如抗蝕印刷這樣的涉及印刷電子學(xué)的應(yīng)用(其中，打印圖案 中的最大偏差必須被最小化并且在墨滴定位中比均勻分布更重要)，這個實施例特別引人 關(guān)注。當(dāng)應(yīng)用這個方法時，獲得可靠的印刷電路板。在根據(jù)本發(fā)明的方法的另一實施例中，平均值函數(shù)約束著歸因于一種獨特的可獲 得相對位置的偏差因子，以取用在名義距離與毗鄰著的第一和第二測試標(biāo)記之間距離這二 者之間按照絕對值計算得到的平均的差值。為了設(shè)置偏差因子而使用這個平均值函數(shù)會導(dǎo) 致選擇這樣的一種可獲得相對位置在該可獲得相對位置，像素行之間的平均間隔盡可能 接近于名義值。這對于圖形應(yīng)用特別重要，并導(dǎo)致具有像素分布的良好均勻性的打印圖像。
在根據(jù)本發(fā)明的方法的另一實施例中，最大值函數(shù)約束著歸因于一種獨特的可獲 得相對位置的偏差因子以取用在名義距離與毗鄰著的第一和第二測試標(biāo)記之間距離這二 者之間的最大的差值。利用這個最大值函數(shù)，可以選擇導(dǎo)致大量地減小圖像條帶的打印圖 像的一種可獲得相對位置。在優(yōu)選實施例中，根據(jù)本發(fā)明的方法還包括下述步驟移動記錄基片和陣列中的 至少一個以使陣列和記錄基片進入所選擇的相對可獲得位置。一旦執(zhí)行了這個步驟，陣列 和記錄基片相對于彼此定位，從而使得可以開始在最佳條件下的打印?？梢詴r常地應(yīng)用這 個方法，以便對包括了一種具備有記錄基片的陣列的打印裝置進行校準(zhǔn)。另一方面，可在打 印裝置上使用新基片之前、或者甚至在每次打印操作之前應(yīng)用該方法。本發(fā)明還涉及一種打印裝置，包括安裝在攜載結(jié)構(gòu)上的陣列、移動裝置和控制裝 置，所述陣列具有呈基本上平行于一個方向的行而排列的、用以在記錄基片上形成第一標(biāo) 記的噴嘴，記錄基片上包括一種包含第一測試標(biāo)記的預(yù)打印圖案，其中在一種可獲得相對 位置，陣列沿記錄基片移動；移動裝置用于移動記錄基片和陣列中的至少一個，由此引起可 獲得相對位置的變化；控制裝置適于控制所述陣列把第二測試標(biāo)記應(yīng)用于記錄基片上從而 形成一種測試圖案，并適于控制檢測裝置檢測第一和第二標(biāo)記的位置，每個第一和第二測 試標(biāo)記具有在記錄基片上的位置。所闡述類型的打印裝置可用于本質(zhì)上需要在記錄基片上以高精度放置標(biāo)記的特 殊應(yīng)用，諸如印刷電子技術(shù)。實際上，印刷的像素行的相對位置的誤差導(dǎo)致出現(xiàn)具有分隔寬 度的誤差的導(dǎo)電軌道。這可能引起相鄰軌道之間不充分的電氣分離。作為參考圖案已打印 在基片上的第二標(biāo)記可以準(zhǔn)確地由陣列所打印的第二標(biāo)記交疊。此外，在這種應(yīng)用中，可提供這樣的結(jié)構(gòu)其中除所述陣列之外，至少部分地在側(cè) 翼上的第二陣列安裝在同一打印頭上，從而使得第一陣列正常地用于打印目的、而第二陣 列在檢測到第一陣列的一些噴嘴發(fā)生故障的情況下用于備用目的。當(dāng)發(fā)生這種情況時，能 夠把第一陣列的故障噴嘴設(shè)置為不工作狀態(tài)，而第二陣列的噴嘴接替它們的功能。在這種 應(yīng)用中，有必要的或本質(zhì)性的是由第二陣列形成的標(biāo)記必須在與在若第一陣列正常工作 的情況下由第一陣列形成的第一標(biāo)記基本上相同的位置處位于記錄基片上?，F(xiàn)有技術(shù)的打 印裝置具有這樣的問題由第二陣列形成的標(biāo)記未相對于所希望的位置正確定位。本發(fā)明的目的在于改進所闡述類型的打印裝置從而使這些問題最小化。在這樣的打印裝置這種實現(xiàn)這個目的，該打印裝置具有控制裝置，控制裝置適于 控制計算模塊執(zhí)行下述步驟基于所述檢測的位置針對多個可獲得相對位置確定多個偏差 因子，其中所述偏差因子中的每個偏差因子是不同的可獲得相對位置的屬性、并指示出介 于毗鄰的第一與第二測試標(biāo)記之間的距離相對于名義距離偏離的量；并且選擇所述多個可 獲得相對位置之中滿足應(yīng)用于所述多個偏差因子的選擇準(zhǔn)則的可獲得相對位置。由于確定了作為可獲得相對位置的屬性的偏差因子，所以能夠針對相應(yīng)的可獲得 相對位置而量化介于包括第一測試標(biāo)記的像素行和包括第二測試標(biāo)記的像素行之間的間 隔中將會出現(xiàn)的缺陷。偏差因子是像素行之間的距離相對于名義距離偏離的量的特性。針 對多個可獲得相對位置確定偏差因子。因此，對于每個所述可獲得位置，量化了打印圖像中 將會出現(xiàn)的缺陷。這使得能夠選擇作為陣列和記錄基片的最佳可獲得相對位置的一種可獲 得相對位置。為了選擇最佳可獲得相對位置，把一種選擇準(zhǔn)則應(yīng)用到歸因于所述多個可獲得相對位置的所述多個偏差因子。在根據(jù)本發(fā)明的打印裝置的一個實施例中，控制裝置適于控制移動裝置用以使陣 列和記錄基片具有所選擇的可獲得相對位置。這使得能夠例如在每次打印圖像之前實現(xiàn)可 以容易地自動執(zhí)行的相對于彼此調(diào)整陣列和記錄基片的校準(zhǔn)過程。在根據(jù)本發(fā)明的打印裝置的另一實施例中，檢測裝置是安裝在托架上并被布置用 于對測試圖案進行掃描的CCD照相機。優(yōu)選地，CCD照相機被布置用于確定測試圖案中的 第一測試標(biāo)記和第二測試標(biāo)記中的每個測試標(biāo)記的幾何重心，并提取沿一種軸線的所述第 一測試標(biāo)記和第二測試標(biāo)記的坐標(biāo)。利用這種CCD照相機，能夠準(zhǔn)確確定測試圖案中的測 試標(biāo)記的位置。此外，利用提取的坐標(biāo)，還能夠準(zhǔn)確提取介于毗鄰著的第一和第二測試標(biāo)記 之間的距離。這導(dǎo)致準(zhǔn)確地代表著取決于可獲得相對位置的圖像中的缺陷的經(jīng)確定的偏差 因子。在根據(jù)本發(fā)明的打印裝置的另一實施例中，陣列的噴嘴根據(jù)間距規(guī)則地分隔，并 且由第一測試標(biāo)記構(gòu)成的像素行根據(jù)相同的間距規(guī)則地分隔。這可用于很多應(yīng)用，諸如高 分辨率圖形應(yīng)用或印刷電子應(yīng)用。當(dāng)名義距離等于間距的一半時，可以用良好品質(zhì)實現(xiàn)具 有雙倍分辨率的打印。當(dāng)名義距離等于零時，由于在第一陣列中的一些噴嘴由于它們的故 障而必須被設(shè)置為不工作的情況下第二陣列能夠用作備用陣列，所以能夠?qū)崿F(xiàn)具有高可靠 性的用于印刷電子的打印裝置。在另一實施例中，所述至少一個陣列的噴嘴根據(jù)間距規(guī)則地分隔，并且為了獲得 所選擇的可獲得相對位置而進行的所述至少一個陣列的移動不僅包括沿第一方向(X)的 打印頭的平移，還包括在一定角度上的打印頭的旋轉(zhuǎn)從而使得間距乘以所述角度的余弦的 結(jié)果等于沿第一方向(X)的記錄基片上的毗鄰著的第一測試標(biāo)記之間的距離。所述多個可 獲得相對位置甚至可以包括所述至少一個陣列的可獲得旋轉(zhuǎn)和可獲得平移的每個組合。在 所述多個可獲得相對位置之中，作為滿足應(yīng)用于所述多個偏差因子的選擇準(zhǔn)則的旋轉(zhuǎn)和平 移的特定組合的結(jié)果而選擇一個可獲得相對位置。在需要所述至少一個陣列的旋轉(zhuǎn)以獲得 沿第一方向(X)的毗鄰著的第二測試標(biāo)記之間的最佳距離的情況下，這給出了較大的靈活 性。當(dāng)毗鄰著的第一測試標(biāo)記之間的名義距離不等于所述至少一個陣列的噴嘴的間距時， 這特別有利。本發(fā)明還涉及一種駐留在計算機可讀介質(zhì)上的計算機程序產(chǎn)品，該計算機程序產(chǎn) 品包括用于使至少一個處理單元執(zhí)行根據(jù)權(quán)利要求1至10之中任一項所述的方法的指令。


以下參照

根據(jù)本發(fā)明的方法和打印裝置的實施例。圖1是具有有著一個陣列的打印頭的打印裝置的基本部分/以及預(yù)打印在記錄基 片上的理想標(biāo)記圖案的示意圖；圖2A是顯示預(yù)打印在記錄基片上的第一測試標(biāo)記的偏差的記錄基片的截面圖；圖2B是顯示與陣列的每個噴嘴相關(guān)聯(lián)的噴射角度的偏差的陣列的截面圖；圖3是當(dāng)陣列尚未與記錄基片對齊時打印圖案的示意圖；圖4是包括測試標(biāo)記的打印測試圖案、以及標(biāo)記在χ軸線上的法向投影的示意 圖5A至5F表示在記錄基片和陣列的六個不同的可獲得相對位置獲得的標(biāo)記圖 案；

圖6是使χ坐標(biāo)與圖4示出的測試圖案的每個所記錄的標(biāo)記相關(guān)聯(lián)的表；圖7A和7B列出當(dāng)陣列和記錄基片分別處于相對位置1 (圖5A)和處于相對位置 3(圖5C)時將會出現(xiàn)的介于相鄰著的第一點和第二點之間的距離；圖8A是記錄基片的截面圖并且圖8B是處于相對位置3的陣列的截面圖；圖9是當(dāng)陣列和記錄基片根據(jù)本發(fā)明的方法對齊時打印圖案的示意圖；圖10是表示根據(jù)本發(fā)明實施例的方法的步驟的流程圖；圖11顯示處于適合打印交疊的像素行的相對位置的記錄基片和陣列的截面圖；圖12A表示對于圖形應(yīng)用的標(biāo)記的布置；圖12B表示對于特征應(yīng)用(諸如，為了印刷電路板制造的打印抗蝕油墨和/或?qū)?電材料)的標(biāo)記的布置；圖13是具有有著一個旋轉(zhuǎn)的陣列的打印頭的打印裝置的基本部分以及包含理想 的預(yù)打印測試標(biāo)記圖案和打印圖像的記錄基片的示意圖。
具體實施例方式圖1示意性地顯示噴墨打印機的托架10，該噴墨打印機具有安裝在托架10上的打 印頭。打印頭具有呈行而對齊的噴嘴18的陣列12。雖然在圖中僅示出一個陣列12，但可 以在托架10上安裝另外的陣列。陣列12可以適合記錄相同標(biāo)記物質(zhì)的標(biāo)記，諸如黑油墨 或適用于印刷電子應(yīng)用的抗蝕油墨。陣列12也可以適合記錄不同標(biāo)記物質(zhì)的標(biāo)記，諸如導(dǎo) 電材料和抗蝕材料。利用甚至更多陣列，可以獲得全彩色打印機，由此所述多個另外的陣列 用于打印顏色黃、青和品紅。諸如下文描述的用于調(diào)整一個陣列和記錄基片的方法容易轉(zhuǎn) 變?yōu)槌^一個陣列。陣列12可具有適合根據(jù)記錄信號噴射墨滴的任何類型。已知的具有噴嘴陣列的 噴墨打印頭具有多個壓力室，每個壓力室一方面經(jīng)油墨供給路徑以流體連通的方式連接到 油墨罐并且另一方面連接到噴嘴，其中為每個壓力室提供用于對壓力室中所包含的油墨加 壓的致動器以根據(jù)由控制單元提供的記錄信號通過噴嘴噴射墨滴。噴嘴按照行排列，從而 能夠同時記錄圖像的多個像素行。致動器可由沿每個油墨通道布置的壓電或熱元件形成。 當(dāng)將要從特定噴嘴噴出墨滴時，為關(guān)聯(lián)的致動器提供能量，從而對油墨通道中所包含的液 體油墨加壓并通過噴嘴噴射墨滴。陣列12具有一行噴嘴18，所述一行噴嘴18沿平行于χ軸線的所謂副掃描方向延 伸。副掃描方向是記錄基片26(諸如，紙張)逐步前進的方向。為了打印圖像的長條，托架 10沿平行于y軸線、垂直于χ軸線的主掃描方向橫跨基片26移動。控制單元11連接到具 有陣列12的打印頭并用于把記錄信號提供給打印頭以按圖像操作噴嘴。托架10具有用于沿χ軸線調(diào)整陣列12和基片26的相對位置的元件16。元件16 以機械方式連接到打印頭以便沿X軸線移動陣列，從而改變陣列12和基片26的相對位置。 元件16可以是響應(yīng)于由控制單元11提供的電信號沿χ軸線擴大和收縮的壓電元件。經(jīng)基 片臺(未示出)引導(dǎo)所述基片?；_也可以具有用于沿χ軸線調(diào)整基片26和陣列12的 相對位置的元件。基片臺可以按照選擇的相對位置相對于打印頭定位。
在圖1示 出的例子中，陣列12的噴嘴18根據(jù)基本上恒定的間距P彼此分隔。包 含第一測試標(biāo)記24的第一像素行預(yù)打印在記錄基片上并且根據(jù)相同間距P規(guī)則地分隔。 陣列12適合以基本上等于1/p的沿χ軸線的分辨率(通常，以每英寸點數(shù)表示)打印通過 從噴嘴18噴射墨滴獲得的測試標(biāo)記(或點)22。在圖1中可以看出，具有第二測試標(biāo)記22 的第二像素行形成在記錄基片26上并沿y軸線延伸。在記錄基片26上，第一測試標(biāo)記24 具有相同的分辨率。在開始利用陣列12進行打印之前，具有第二標(biāo)記24并沿y軸線延伸 的第二像素行已存在于基片26上。當(dāng)陣列12和基片26相對對齊從而噴嘴18處于縱向交 錯排列時，可以獲得諸如圖1中示出的具有交替的第一像素行和第二像素行的圖案，并且 打印分辨率基本上等于2/p。為了利用由箭頭S表示的托架10的一個行程在圖像長條中實 現(xiàn)這個打印分辨率，在一個托架行程內(nèi)按圖像操作陣列12。在圖1中，表示了沿y軸線延伸 的圖案，由此操作陣列12的所有可能的噴嘴。然而，實際上，陣列12由控制單元11驅(qū)動以 便按圖像操作噴嘴。對于諸如印刷電子的應(yīng)用，最初在打印之前，可使用特殊抗蝕油墨在基 片26上記錄像素行以便稍后通過由陣列12的噴嘴執(zhí)行的蝕刻過程產(chǎn)生導(dǎo)電材料的軌道。然而，諸如圖1中示出的具有測試標(biāo)記22和24的記錄圖案是不現(xiàn)實的，實際上， 記錄圖案是不完美的。缺陷的原因在于這樣的事實X-z平面中考慮的噴射角度偏離90度 的理想噴射角度。在圖2B中針對陣列12的噴嘴18示意性地表示噴射角度相對于理想噴 射角度的偏差。另一方面，在打印之前已存在于記錄基片26上的測試標(biāo)記24可能例如由 于噴射偏差的相同原因具有偏差。第一測試標(biāo)記20a-20u可定位在記錄基片26上，如圖2A 中所示。在圖中，根據(jù)橫截面表示陣列12，并且陣列12和基片26的相對位置假設(shè)為與如圖 1中所示的情況相同。在描述的其余部分，描述陣列具有21個噴嘴(18a. . . 18u)的情況，但 實際上陣列可包括更多的噴嘴。一些噴嘴(例如，18b、18c、18g等)根據(jù)具有向左的中等偏 差的軌道噴射墨滴。第一測試標(biāo)記(例如，20e)具有向左的大偏差。而其它噴嘴具有向右 的小偏差(例如，18a、18d、18e等)。而其它第一測試標(biāo)記具有向右的小偏差(例如，20b、 20d、20f)。噴射角度偏離理想噴射角度的事實可在記錄點圖案中引起條帶，如圖3中所示。 在該圖案的一些位置出現(xiàn)不需要的空白(或“白色”)線，而在一些其它位置由于交疊出現(xiàn) 不需要的黑色。這些缺點在區(qū)域23中特別明顯，其中可看見垂直線之間的強烈的交疊以及 較大間隔。條帶的現(xiàn)象在視覺上令人不適。對于印刷電子應(yīng)用，這導(dǎo)致導(dǎo)電軌道之間的分 離問題?，F(xiàn)在參照圖10的流程圖描述根據(jù)本發(fā)明實施例相對于彼此調(diào)整陣列和基片的方 法?？梢允乖摲椒ǖ牟襟E自動化。為此，控制單元11向諸如以下描述的不同模塊發(fā)出指令。 為了執(zhí)行它的任務(wù)，控制單元11包括例如處理器；第一存儲裝置，在調(diào)整過程期間可對其 寫數(shù)據(jù)，諸如RAM ；和第二存儲裝置，用于存儲由處理器執(zhí)行的指令，諸如EPR0M。另一方面， 該過程可以以半自動方式或者以手工方式執(zhí)行。在第一步驟S2中，由用戶開始調(diào)整過程以便啟動可以安裝在控制單元11上的用 于調(diào)整陣列和基片的相對位置的程序。在步驟S4中，控制單元11向打印裝置發(fā)出指令以在記錄基片上記錄測試圖案，該 記錄基片已具有預(yù)打印圖案。在步驟S4中，根據(jù)初始相對位置布置陣列和記錄基片，諸如 圖2A和2B中所示。適合的測試圖案的例子顯示在圖4中。通過操作陣列的所有噴嘴從而 每個噴嘴噴出用于在記錄基片上形成第二測試標(biāo)記的至少一個墨滴來獲得該測試圖案。以這樣的方式對記錄基片進行預(yù)打印每個位置20a-20u(見圖2A)包含在記錄基片上形成第 一測試標(biāo)記的至少一個墨滴。當(dāng)形成圖4中示出的測試圖案時，陣列12和基片26處于初 始位置并且托架10不移動。記錄的測試圖案包括一組第二測試標(biāo)記22a. . . 22h. . . 22j等 和一組第一測試標(biāo)記24a. . . 24h. . . 24j等，由此兩組測試標(biāo)記都沿平行于χ軸線的方向延 伸。另一方面，為了記錄測試圖案，陣列12和基片26處于初始位置并且托架10沿y軸線 移動以便形成圖像的長條。在這種情況下，當(dāng)在托架10移動的同時操作所有噴嘴時，像素 行將會形成在記錄基片上。
在步驟S6中，控制單元11向光電傳感器(諸如，CCD照相機(未示出))發(fā)出指 令以便產(chǎn)生適合檢測測試圖案的第一測試標(biāo)記和第二測試標(biāo)記在基片上的位置的數(shù)據(jù)。 CCD照相機(未示出)可以安裝在打印裝置的托架10上并適合以光學(xué)方式掃描測試圖 案。掃描的測試圖案可隨后以適合的圖像格式保存在第一存儲裝置上以由控制單元11進 行進一步分析。基于掃描的圖案(該掃描的圖案是包括代表第一測試標(biāo)記和第二測試標(biāo) 記的數(shù)據(jù)的圖像)，由運行在控制單元11上的圖像分析軟件模塊確定第一測試標(biāo)記和第 二測試標(biāo)記的位置。如圖4中所示，記錄的第二測試標(biāo)記的法向投影定義具有X坐標(biāo)的點 (x22a. . . x22h. . . x22i等)。類似地，記錄的第一測試標(biāo)記的法向投影定義具有χ坐標(biāo)的點 (x24a. . . x24h. . . x24i等)。基于確定的第一測試標(biāo)記和第二測試標(biāo)記的位置，控制單元11 的分析模塊提取這些點的χ坐標(biāo)并產(chǎn)生與記錄的第一測試標(biāo)記和第二測試標(biāo)記對應(yīng)的χ坐 標(biāo)的列表。這種列表的例子表示在圖6中。另一方面，CCD照相機可具有用于執(zhí)行確定第一 測試標(biāo)記和第二測試標(biāo)記的位置并提取χ坐標(biāo)的任務(wù)的微處理器。在這種情況下，C⑶照 相機優(yōu)選地用于確定每個記錄的測試標(biāo)記的幾何重心。重心的確定直接導(dǎo)致χ坐標(biāo)(諸如 圖6中舉例說明的χ坐標(biāo))，這些χ坐標(biāo)由CXD照相機經(jīng)連接裝置發(fā)送給控制單元11?，F(xiàn)在說明“可獲得相對位置”的概念?？色@得相對位置是陣列和記錄基片上的預(yù) 打印圖案至少部分地在彼此的側(cè)面的位置，由此定義沿X軸線的縱向交疊的程度。相對于 記錄基片處于可獲得相對位置的陣列能夠記錄可與圖3的初始圖案相比的具有交替的像 素行的圖案，除了以下事實之外該記錄的圖案在χ方向上較窄，因為落在交疊區(qū)域外面的 噴嘴將不再是可用的。所述噴嘴不再是可用的，因為與所希望的分辨率相比分辨率將不再 是可接受的。實際上，落在交疊區(qū)域外面的噴嘴將會產(chǎn)生等于1/p的分辨率，而落在交疊區(qū) 域內(nèi)的噴嘴將會導(dǎo)致等于2/p的分辨率(在例子中，2/p的分辨率是所希望的分辨率)。如 果陣列12和記錄基底26處于某一可獲得相對位置并且陣列12的所有噴嘴工作并且所有 第一測試標(biāo)記存在于預(yù)打印的記錄基片上，則記錄的標(biāo)記圖案將會針對位置Pl如圖5A中 所示、針對位置P2如圖5B中所示、針對位置P3如圖5C中所示、針對位置P4如圖5D中所 示、針對位置P5如圖5E中所示以及針對位置P6如圖5F中所示。位置Pl簡單對應(yīng)于初始 位置，并且縱向交疊的程度是100%。所有噴嘴可用于記錄圖案。位置P2對應(yīng)于陣列和記 錄基底沿χ軸線相對移動等于一個間距P的距離的位置?？v向交疊的程度是大約95%。預(yù) 打印記錄基底上最左側(cè)的測試標(biāo)記(即，在位置20a的測試標(biāo)記)在進一步的計算中不再 可用。陣列12的最右側(cè)噴嘴(即，噴嘴18u)也不再可用并且不需要該噴嘴打印測試標(biāo)記。 位置P3對應(yīng)于陣列沿χ軸線相對移動等于兩個間距(2P)的距離的位置?？v向交疊的程度 是大約90%。預(yù)打印記錄基底上最左側(cè)的兩個測試標(biāo)記(即，在位置20a和20b的測試標(biāo) 記)在進一步的計算中不再可用。陣列12的最右側(cè)兩個噴嘴(即，噴嘴18u和18t)也不再可用。在位置P4(見圖5D)，噴嘴18u、18t和18s以及位置20a、20b、20c不再可用。在位 置P4，縱向交疊的程度是大約85%。在位置P5(見圖5E)，噴嘴18u、18t、18s和18r以及 位置20a、20b、20c、20d不再可用。在位置P5，縱向交疊的程度是大約80%。最后，在位置 P6(見圖 5D)，噴嘴 18u、18t、18s、18r 和 18q 以及位置 20a、20b、20c、20d、20e 不再可用。在 位置P6，縱向交疊的程度是大約75%?？色@得位置的數(shù)量可自由選擇，并主要取決于陣列 的設(shè)計以及針對可接受的最小打印寬度進行的選擇。在理想情況下，相鄰第一標(biāo)記和第二標(biāo)記之間在χ軸線上的投影距離應(yīng)該等于名 義距離。在本例子中，名義距離等于間距ρ的一半。這里，間距P假設(shè)為等于80個任意單 位(a. U.)。因此，相鄰第一標(biāo)記和第二標(biāo)記之間的投影距離應(yīng)該在理想情況下等于40a. u.(名義距離)。在步驟S8中，由控制單元11針對陣列和基片的可獲得相對位置中的每一 個可獲得相對位置計算第一和第二毗鄰標(biāo)記之間的距離的列表。術(shù)語“Btt鄰標(biāo)記”是指彼此 挨著的第一標(biāo)記和第二標(biāo)記。第一和第二毗鄰標(biāo)記之間的距離可以是當(dāng)陣列和基片處于可 獲得相對位置之一時將會出現(xiàn)的相鄰第一點和第二點之間在χ軸線上的投影距離。在圖5A 至5F中，表示了很多第一和第二毗鄰標(biāo)記之間的距離。例如，對于圖5A中示出的位置P1， dn是第一標(biāo)記24a和第二標(biāo)記22a之間的投影距離。通過關(guān)系dn = x22a-x24a簡單地獲 得距離dn。在這個位置P1，關(guān)系的其它例子如下:d115 = x22h-x24h ；d116 = x24i-x22h等。 因此，基于圖6的表中表示的χ坐標(biāo)，針對相對位置Pl計算第一和第二毗鄰標(biāo)記之間的距 離的列表L1并且該列表L1表示在圖7A中。在步驟S8中，還針對位置P2(見圖5B)計算第一和第二毗鄰標(biāo)記之間的距離的列 表。由于位置20a不再可用并且由于相對位置移動等于一個間距P的距離，所以針對位置P2 的列表的第一距離是d23( S卩，第二標(biāo)記22a和第一標(biāo)記24b之間的投影距離)。由于移動一 個間距，所以通過下面關(guān)系獲得d23 :d23 = x22a+p-x24b0其它例子是d215 = x22g+p-x24h ； d216 = x24i-x22g-p 等。在步驟S8中，類似地，還針對位置P3計算第一和第二毗鄰標(biāo)記之間的距離的列 表?，F(xiàn)在，由于陣列和記錄基片的相對位置與初始位置相比移動等于兩個間距(2p)的距 離，所以測試標(biāo)記24a和24b不再可用。然后，與位置P3對應(yīng)的列表的第一距離是d35，d35 由下面關(guān)系給出d35 = x22a+2p-x24c。在位置P3的其它例子是d315 = x22f+2p-x24h ；d316 =x24i-x22f-2p等?；趫D6的表中表示的χ坐標(biāo)，針對相對位置Ρ3計算第一和第二毗 鄰標(biāo)記之間的距離的列表L3并且該列表L3表示在圖7Β中。一旦已針對可獲得位置Ρ1、Ρ2、Ρ3、Ρ4、Ρ5和Ρ6中的每一個可獲得位置計算了第 一和第二毗鄰標(biāo)記之間的距離的列表，運行在控制單元11上的程序前進至步驟S10。在步驟SlO中，由控制單元11針對每個距離的列表提取所謂的偏差因子F。偏差 因子F是相對位置(Pl或Ρ2或Ρ3等)的屬性并指示第一和第二毗鄰標(biāo)記之間的距離相對 于名義距離偏離的量。偏差因子實際上指示列表中(例如,L1或L3中)的距離相對于名義 距離偏離的量。如以上所解釋，名義距離可以是在理想情況下相鄰第一標(biāo)記和第二標(biāo)記之 間在χ軸線上的投影距離。名義值在本例子中等于一行中的噴嘴的間距的一半，即40a. u.。 在圖7A的列表L1中看出，一些第一和第二毗鄰標(biāo)記之間的距離顯著偏離40a. u的名義值。 在L1和L3的第二部分舉例說明了在名義距離和毗鄰第一和第二標(biāo)記之間的距離之間計算 的差Δη。例如，通過下面關(guān)系A(chǔ)11 = ^-Cl11獲得差Δη，其中40是名義距離。
最大值函數(shù)可約束著歸因于不同的可獲得相對位置的偏差因子以按照絕對值采 用在名義距離和毗鄰第一和第二標(biāo)記之間的距離之間計算的差Δη的集合之中最大差的 值。給定列表的偏差因子(與可獲得相對位置對應(yīng))可由此等于列表中找到的最大Δη。 實際上，所述最大值越大，缺點越容易看見。當(dāng)列表的偏差因子設(shè)置為在名義距離和毗鄰第 一和第二標(biāo)記之間的距離之間計算的差Δη的集合之中按照絕對值的最大差時，偏差因子 清楚地指示偏離理想位置的程度。列表L1的偏差因子F1 (見圖7Α的列表L1的灰色區(qū)域) 是與Δ 19對應(yīng)的30a. U.。對于與每個可獲得位置對應(yīng)的每個列表，提取偏差因子。例如，列 表L3的偏差因子F3(見圖7B的列表L3的灰色區(qū)域)是與多個差Δη(Δ35、Δ310, Δ 319等) 對應(yīng)的20a. u.。在下一步驟(S12)中，控制單元11的選擇模塊在所述多個相對可獲得位置之中選 擇相對可獲得位置。選擇的相對位置必須滿足應(yīng)用到歸因于所述多個相對可獲得位置的偏 差因子的選擇準(zhǔn)則。因此，基于提取的多個偏差因子F1... F3等選擇最佳可獲得位置。例 如，當(dāng)歸因于相對位置的偏差因子是歸因于多個相對可獲得位置的偏差因子之中的最小偏 差因子時，該相對可獲得位置滿足選擇準(zhǔn)則。在這里描述的例子中，未示出所有列表。然而， 所有列表由控制單元11的分析模塊計算，并且情況表明列表L3具有最小的偏差因子，即如 前所述等于20a. u.的F3。因此，位置P3 (圖5C)看起來是陣列12和記錄基片26的最有利 的相對位置。由控制單元11的選擇模塊選擇位置P3。在步驟S14中，由控制單元11向用于移動陣列12的移動裝置16發(fā)送信號，由此 使陣列和記錄基片處于選擇的相對位置(即，位置P3)。陣列和基片由此從初始位置Pl移 動等于兩個間距(2p)的距離。在步驟S16中，程序結(jié)束。陣列和記錄基片現(xiàn)在處于最佳相對位置，并且打印裝置 能夠用于記錄的圖案。在某一時間段之后或者在某一記錄的量之后，與噴嘴關(guān)聯(lián)的偏差角 度可能變化。因此，必須再次執(zhí)行如圖10的流程圖所示的方法?？赡軐x擇另一相對位置。圖8A和8B表示位置P3，其中在圖8B中以截面圖表示陣列12并且在圖8A中以截 面圖表示基片26。還顯示了交疊區(qū)域28。按照示出的配置可由陣列在預(yù)打印基片上記錄 的圖案的例子顯示在圖9中。如以上所解釋，第一測試標(biāo)記20a和20b的位置以及噴嘴18t 和18u不再可用，因為它們發(fā)現(xiàn)自身在交疊區(qū)域28外面。因此，由控制單元11把噴嘴18t 和18u設(shè)置為不工作并且第一測試標(biāo)記20a和20b的位置不用于由控制單元11進行的進 一步計算中。另一方面，噴嘴18a和18s發(fā)現(xiàn)自身在交疊區(qū)域內(nèi)并且可由控制單元按圖像 操作。在操作發(fā)現(xiàn)自身在交疊區(qū)域內(nèi)的所有所述噴嘴以形成圖9中示出的圖案的情況下， 獲得完全記錄的表面。與調(diào)整相對位置之前的圖3中示出的圖案相比，不容易看見條帶的 現(xiàn)象。缺點仍然存在(未填充的區(qū)域、標(biāo)記交疊的區(qū)域)，但是與圖3中獲得的圖案相比抑 制了至少一個大的缺點。實際上，在圖9的圖案中具有大的空白條帶的圖3中的區(qū)域23已 消失。 在以上討論的例子中，位置P3看起來是陣列12和基片26的最有利的相對位置。 在由圖8A和8B表示的例子中，記錄基片上的第一測試標(biāo)記的18個位置和陣列的18個噴嘴 發(fā)現(xiàn)自身在交疊區(qū)域中。按圖像操作這18個噴嘴以便記錄圖案。如果發(fā)現(xiàn)另一位置是最 佳的，則不同數(shù)量的噴嘴將會發(fā)現(xiàn)自身在交疊區(qū)域中。對于位置P6 (見圖5F)，記錄基片上的第一測試標(biāo)記的16個位置和陣列的16個噴嘴發(fā)現(xiàn)自身在交疊區(qū)域中?？赡懿幌Ｍ鶕?jù)最佳相對位置提供將要按圖像操作的噴嘴的數(shù)量。作為替代，可選擇預(yù)設(shè)數(shù)量的用于按圖 像操作的噴嘴。這個數(shù)量可以等于當(dāng)陣列處于最大移動的可能位置時發(fā)現(xiàn)自身在交疊區(qū)域 中的噴嘴的數(shù)量。在以上例子中，這意味著獨立于針對相對位置找到的最佳相對位置，將 要按圖像操作的噴嘴的數(shù)量將會是16，即當(dāng)陣列處于位置P6時交疊區(qū)域中的噴嘴的數(shù)量。 如果進行了這種選擇，則在最佳相對位置P3將會僅選擇交疊區(qū)域中的16個噴嘴以用于按 圖像操作。該選擇可再次基于交疊區(qū)域內(nèi)第一標(biāo)記和第二標(biāo)記的最好的可能相對定位。根據(jù)本發(fā)明的方法的另一實施例表示在圖13中。陣列12的噴嘴18根據(jù)間距ρ 規(guī)則地分隔，為了獲得可獲得相對位置而進行的陣列12的移動不僅可包括沿第一方向(χ) 的陣列的平移，還可包括角度Rz的陣列的旋轉(zhuǎn)?？蛇x擇角度Rz從而乘以角度Rz的余弦的 間距P等于距離d，該距離d基本上等于計算的沿第一方向(χ)的記錄基片26上的毗鄰第 一測試標(biāo)記24的距離ps并且也基本上等于計算的記錄基片26上的毗鄰第二測試標(biāo)記22 的距離pmay。通過對記錄基片26上的毗鄰第一測試標(biāo)記24的所有距離求平均值可計算 距離ps，并且通過對記錄基片26上的毗鄰第二測試標(biāo)記22的所有距離求平均值可計算距 離？ _。所述多個可獲得相對位置可包括陣列12的可獲得旋轉(zhuǎn)和可獲得平移的每個組合。 在所述多個可獲得相對位置之中，作為滿足應(yīng)用于所述多個偏差因子的選擇準(zhǔn)則的旋轉(zhuǎn)和 平移的特定組合的結(jié)果選擇可獲得相對位置。在需要陣列12的旋轉(zhuǎn)以獲得沿第一方向(χ) 的毗鄰第二測試標(biāo)記22之間的最佳距離的情況下，這給出了更大的靈活性。當(dāng)記錄基片26 上的毗鄰第一測試標(biāo)記24之間的目標(biāo)距離不等于陣列12的噴嘴的間距ρ時，這特別有利。 圖13表示包含黑色基片圖像8和第一測試標(biāo)記24的預(yù)打印圖案的記錄基片26。以與基片 圖像8對齊的方式打印灰色打印圖像9。為了實現(xiàn)陣列12與記錄基片26的對齊，第二測試 標(biāo)記22的圖案已被打印在記錄基片26上。利用掃描器2測量第一測試標(biāo)記和第二測試標(biāo) 記的位置。打印頭3具有用于調(diào)整陣列12的角度Rz的元件6和擁有沿第一方向(χ)調(diào)整陣 列12的位置的元件7。元件6、7可以以機械方式連接到陣列12以便沿第一方向(χ)移動 陣列12以及沿另一方向(ζ)旋轉(zhuǎn)陣列12。元件6、7可以是響應(yīng)于電信號沿旋轉(zhuǎn)軸(y’， χ’ )擴大和收縮的壓電元件。根據(jù)圖13，陣列12的噴嘴18已打印第二測試標(biāo)記22和打印圖像9。在打印第二 測試標(biāo)記22和打印圖像9之間，能夠執(zhí)行第一測試標(biāo)記和第二測試標(biāo)記的位置的確定和進 一步的計算，其后執(zhí)行陣列12的可能的移動。根據(jù)圖13，陣列12的移動包括具有角度Rz 的陣列12的旋轉(zhuǎn)。打印圖像9可以是在超過一個打印行程之后實現(xiàn)的更大打印圖像的一 部分。在這種情況下，例如可以在第一打印行程期間對于該更大圖像僅打印測試圖案一次。在根據(jù)本發(fā)明的方法的另一實施例中，分別相對于彼此調(diào)整陣列和記錄基片從而 名義距離是零。例如，利用等于零的名義距離進行調(diào)整對于這樣的應(yīng)用很重要其中，必須 在與由第二類型的油墨形成的標(biāo)記相同的記錄基片上的位置打印由第一類型的油墨形成 的標(biāo)記。在根據(jù)本發(fā)明實施例的打印裝置中，陣列的噴嘴根據(jù)間距規(guī)則地分隔，并且記錄基 片上的預(yù)打印圖案的像素行根據(jù)相同的間距規(guī)則地分隔。當(dāng)諸如圖11中所示分別相對于 彼此調(diào)整陣列和記錄基片從而名義距離是零時，預(yù)打印在記錄基片上的像素行與由陣列的 噴嘴形成的像素行交疊。
利用等于零的名義距離進行的調(diào)整對于圖形應(yīng)用很重要?？赡艿慕Y(jié)果圖案的橫截 面部分顯示在圖12A中。在記錄基片30上，由第一著色劑的墨滴預(yù)打印標(biāo)記32。在形成標(biāo) 記32之后不久，使用噴嘴的陣列在標(biāo)記32上打印由第二著色劑的墨滴形成的標(biāo)記34。當(dāng) 然，對于圖形應(yīng)用，可使用更多著色劑。對于圖形應(yīng)用，優(yōu)選地通過平均值函數(shù)獲得偏差因 子，所述平均值函數(shù)約束著歸因于不同的可獲得相對位置的偏差因子以采用在名義距離和 毗鄰第一和第二標(biāo)記之間的距離之間按照絕對值計算的平均差的值。選擇的可獲得相對位 置是具有所述多個偏差因子之中最小偏差因子的可獲得相對位置。因此，盡可能使第一標(biāo) 記和第二標(biāo)記之間的交疊平均化。 利用等于零的名義距離進行的調(diào)整也可以對于特殊應(yīng)用很重要，諸如與印刷電路 板的制造相關(guān)的那些應(yīng)用?？赡艿臉?biāo)記的布置的橫截面部分顯示在圖12B中。在足夠的記 錄基片36上，預(yù)打印第一標(biāo)記38。優(yōu)選地，用于形成第一標(biāo)記38的材料是導(dǎo)電油墨或金 屬。如果在打印形成第一標(biāo)記38的預(yù)打印圖案期間已噴射液體金屬，則打印頭必須用于噴 出液體金屬滴。在第一標(biāo)記38上，形成第二標(biāo)記40。用于形成標(biāo)記40的材料可以是電絕 緣油墨。對于印刷電路板應(yīng)用，優(yōu)選地通過最大值函數(shù)獲得偏差因子，所述最大值函數(shù)約束 著歸因于不同的可獲得相對位置的偏差因子以按照絕對值采用在名義距離和毗鄰第一和 第二標(biāo)記之間的距離之間計算的差的集合之中最大差的值。選擇的可獲得相對位置是具有 所述多個偏差因子之中最小偏差因子的可獲得相對位置。因此，盡可能避免第一標(biāo)記和第 二標(biāo)記之間的交疊的最大誤差。對于印刷電路板應(yīng)用，這對于在需要在板上實現(xiàn)導(dǎo)電軌道 之間的良好電絕緣的情況下確保導(dǎo)電軌道之間的良好電絕緣很重要。
權(quán)利要求
1.一種用于相對于彼此調(diào)整一種記錄基片06)和至少一個陣列(12)的方法，記錄基 片06)和所述至少一個陣列(12)具有朝向彼此的相對位置，所述陣列是具有用于安裝所 述陣列的攜載結(jié)構(gòu)(10)的打印裝置的一部分、并具有呈基本上平行于第一方向(X)的行而 布置的用以在記錄基片06)上形成第二測試標(biāo)記0 的噴嘴(18)，其中記錄基片06)包 括一種包含第一測試標(biāo)記04)的預(yù)打印圖案，該方法包括a)通過在記錄基片06)上應(yīng)用第二測試標(biāo)記0 而形成測試圖案(S4)，每個第一測 試標(biāo)記和第二測試標(biāo)記具有在基片上的位置，b)檢測(S6)第一測試標(biāo)記和第二測試標(biāo)記的位置，其特征在于，該方法還包括c)基于所述檢測的位置來針對多個可獲得相對位置(P1，P;3)確定(SlO)多個偏差因子 (F1, F3),其中所述偏差因子(FpF3)中的每個偏差因子是一種獨特的可獲得相對位置(P1， P3)的屬性、并指示出介于毗鄰著的第一和第二標(biāo)記之間的距離相對于名義距離偏離的量， 并且選擇所述多個可獲得相對位置(P1，P;3)之中滿足適用于所述多個偏差因子(F1;F3)的 一種選擇準(zhǔn)則的可獲得相對位置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于相對于至少一個陣列調(diào)整記錄基片的方法，其中選擇的 可獲得相對位置是具有所述多個偏差因子(FnF3)之中的最小偏差因子的一個可獲得相對 位置。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于相對于至少一個陣列調(diào)整記錄基片的方法，其中最大值 函數(shù)約束著歸因于一種獨特的可獲得相對位置的偏差因子，以取用在名義距離與介于毗鄰 著的第一和第二測試標(biāo)記之間距離這二者之間經(jīng)計算得到的差的集合之中絕對值最大的差值。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于相對于至少一個陣列調(diào)整記錄基片的方法，其中平均值 函數(shù)約束著歸因于一種獨特的可獲得相對位置的偏差因子，以取用在名義距離和介于毗鄰 著的第一和第二測試標(biāo)記之間距離這二者之間的按照絕對值計算的平均的差值。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于相對于至少一個陣列調(diào)整記錄基片的方法，其中最大值 函數(shù)約束著歸因于一種獨特的可獲得相對位置的偏差因子，以取用在名義距離和介于毗鄰 著的第一和第二測試標(biāo)記之間距離這二者之間的最大的差值。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于相對于至少一個陣列調(diào)整記錄基片的方法，其中最大值 函數(shù)約束著歸因于一種獨特的可獲得相對位置的偏差因子以取用在介于毗鄰著的第一和 第二測試標(biāo)記之間距離和名義距離這二者之間的最大的差值。
7.根據(jù)前面權(quán)利要求中任一項所述的用于相對于至少一個陣列調(diào)整記錄基片的方法， 其中所述至少一個陣列的噴嘴根據(jù)間距(P)規(guī)則地分隔開。
8.根據(jù)前面權(quán)利要求中任一項所述的用于相對于至少一個陣列調(diào)整記錄基片的方法， 其中所述名義距離等于所述間距的一半。
9.根據(jù)前面權(quán)利要求中任一項所述的相對于至少一個陣列調(diào)整記錄基片的方法，其中 所述名義距離等于零。
10.根據(jù)前面權(quán)利要求中任一項所述的用于相對于至少一個陣列調(diào)整記錄基片的方 法，還包括移動(S14)所述記錄基片06)和所述至少一個陣列(12)的群組中的至少一 個，用以使打印頭處于經(jīng)選擇的相對可獲得位置。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的方法，其中所述移動(S14)包括所述至少一個陣列(12) 的平移、所述至少一個陣列(1 的旋轉(zhuǎn)、和所述至少一個陣列(1 的旋轉(zhuǎn)和平移的組合所 構(gòu)成的群組中的一項。
12.根據(jù)權(quán)利要求10所述的方法，其中所述至少一個陣列(12)的噴嘴根據(jù)間距(ρ)規(guī) 則地分隔，并且所述移動(S14)包括所述至少一個陣列(12)在角度(Rz)上的旋轉(zhuǎn)從而使 得間距(P)乘以角度OU的余弦的結(jié)果基本上等于計算出的沿第一方向(χ)的毗鄰著的 第一測試標(biāo)記的距離。
13.一種打印裝置，包括安裝在一種攜載結(jié)構(gòu)(10)上的至少一個陣列(12)、移動裝置 (16)和控制裝置(11)；所述至少一個陣列(1 具有呈基本上平行于第一方向(X)的行而 布置的、用以在記錄基片06)上形成第二測試標(biāo)記04)的噴嘴(18)，所述基片包括一種 包含第一測試標(biāo)記0 的預(yù)打印圖案，其中所述至少一個陣列(1 和記錄基片06)處于 一種可獲得相對位置；移動裝置(16)用于移動記錄基片06)和所述至少一個陣列(12)中 的至少一個；控制裝置(11)適于控制所述至少一個陣列(12)以把第二測試標(biāo)記應(yīng)用于記 錄基片上、從而形成測試圖案，并適于控制用于檢測第一測試標(biāo)記和第二測試標(biāo)記的位置 的檢測裝置，每個第一測試標(biāo)記和第二測試標(biāo)記具有在基片上的位置，其特征在于，控制裝 置(11)適于控制計算模塊執(zhí)行下述步驟基于所述檢測的位置針對多個可獲得相對位置 (P1, P3)確定多個偏差因子(F1, F3),其中所述偏差因子(F1, F3)中的每個偏差因子是一種 獨特的可獲得相對位置(Pl，P3)的屬性、并指示出介于毗鄰著的第一和第二測試標(biāo)記之間 的距離相對于名義距離偏離的量；并且選擇所述多個可獲得相對位置(P1，P3)之中滿足適 用于所述多個偏差因子(FnF3)的一種選擇準(zhǔn)則的可獲得相對位置。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的打印裝置，其中控制裝置(11)適合于控制移動裝置(16) 以使所述至少一個陣列和所述基片具有經(jīng)選擇的可獲得相對位置。
15.根據(jù)權(quán)利要求13或14所述的打印裝置，其中所述檢測裝置是安裝在托架上的照相 機，并被布置用于掃描測試圖案。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的打印裝置，其中所述照相機是一種用于確定測試圖案中的 第一測試標(biāo)記和第二測試標(biāo)記中的每個的幾何重心、并提取沿一種軸線的所述第一測試標(biāo) 記和第二測試標(biāo)記的坐標(biāo)的CXD照相機。
17.根據(jù)權(quán)利要求13至16中任一項所述的打印裝置，其中所述至少一個陣列(12)的 噴嘴(18)根據(jù)間距(ρ)規(guī)則地分隔。
18.根據(jù)權(quán)利要求17所述的打印裝置，其中所述名義距離等于所述間距的一半。
19.根據(jù)權(quán)利要求17所述的打印裝置，其中所述名義距離等于零。
20.根據(jù)權(quán)利要求13至19中任一項所述的打印裝置，其中所述至少一個陣列(12)安 裝在托架(10)上，托架(10)和記錄基片06)沿垂直于第一方向(X)的第二方向(Y)相對 于彼此可移動。
21.根據(jù)權(quán)利要求13至20中任一項所述的打印裝置，其中所述移動裝置(16)包括一 種壓電致動器。
22.—種噴墨打印機，包括根據(jù)權(quán)利要求13至21中任一項所述的打印裝置。
23.一種駐留在計算機可讀介質(zhì)上的計算機程序產(chǎn)品，包括用于使至少一個處理單元 執(zhí)行根據(jù)權(quán)利要求1至12中任一項所述的方法的指令。
全文摘要
一種相對于彼此調(diào)整記錄基片和至少一個陣列的方法，所述陣列是具有用于安裝該陣列的攜載結(jié)構(gòu)的打印裝置的一部分。該陣列具有呈基本上平行于一個方向的行而布置的用以在記錄基片上形成第二測試標(biāo)記的噴嘴，基片上預(yù)打印有第一測試標(biāo)記。該陣列和記錄基片處于可獲得相對位置。該方法包括形成具有第一和第二測試標(biāo)記的測試圖案并檢測第一和第二測試標(biāo)記的位置；基于所述檢測的位置針對多個可獲得相對位置確定多個偏差因子，其中所述偏差因子中的每一個是一種獨特的可獲得相對位置的屬性、并指示出介于毗鄰著的第一和第二標(biāo)記之間的距離相對于名義距離偏離的量；并選擇所述多個可獲得相對位置之中滿足適合于所述多個偏差因子的一種選擇準(zhǔn)則的可獲得相對位置。
文檔編號B41J2/21GK102105307SQ200980128976
公開日2011年6月22日 申請日期2009年5月25日 優(yōu)先權(quán)日2008年5月23日
發(fā)明者H·維恩斯特拉 申請人:奧西-技術(shù)有限公司, 穆特拉克斯公司