專利名稱：具有上下反射式標(biāo)簽探測(cè)器的標(biāo)簽打印機(jī)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及探測(cè)器領(lǐng)域，更具體地說，涉及一種具有上下反射式標(biāo)簽探測(cè)器的標(biāo)簽打印機(jī)。
背景技術(shù)：
在辦公室、工廠、倉庫以及商場(chǎng)等許多地方都需要使用各種類型的標(biāo)簽。比如購買服裝時(shí)，服裝上的吊牌，火車票、登機(jī)牌、行李牌，在商店中商品的標(biāo)簽等等。由于標(biāo)簽一般都較小，使用普通的打印機(jī)打印并不合適。針對(duì)這一情況，一些打印機(jī)廠商設(shè)計(jì)出了標(biāo)簽打印機(jī)，專門用于打印標(biāo)簽。由于這些標(biāo)簽的信息內(nèi)容排列緊湊，在打印的時(shí)候必須實(shí)現(xiàn)打印位置的準(zhǔn)確。標(biāo)簽打印機(jī)是通過探測(cè)器對(duì)標(biāo)簽進(jìn)行探測(cè)來實(shí)現(xiàn)打印位置的準(zhǔn)確。 在現(xiàn)有技術(shù)中，均是采用在標(biāo)簽的其中一面安裝有探測(cè)器，探測(cè)器必須安裝在探測(cè)標(biāo)記所在面。而且只能探測(cè)到探測(cè)器同側(cè)的“探測(cè)標(biāo)記”，也就是說，現(xiàn)有技術(shù)只能實(shí)現(xiàn)探測(cè)標(biāo)記在某一面的探測(cè)。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的在于，提供一種具有上下反射式標(biāo)簽探測(cè)器的標(biāo)簽打印機(jī)，以克服現(xiàn)有標(biāo)簽探測(cè)器只能探測(cè)一面標(biāo)簽的缺陷。本實(shí)用新型解決上述問題的方案是構(gòu)造具有上下反射式標(biāo)簽探測(cè)器的標(biāo)簽打印機(jī)，該上下反射式標(biāo)簽探測(cè)器包括分別設(shè)置于標(biāo)簽上側(cè)和下側(cè)的第一探測(cè)模塊和第二探測(cè)模塊，第一探測(cè)模塊用于探測(cè)在標(biāo)簽正面設(shè)置探測(cè)標(biāo)記的標(biāo)簽；第二探測(cè)模塊用于探測(cè)在標(biāo)簽反面設(shè)置探測(cè)標(biāo)記的標(biāo)簽。本實(shí)用新型的具有上下反射式標(biāo)簽探測(cè)器的標(biāo)簽打印機(jī)，第一探測(cè)模塊包括第一探測(cè)器和用于固定第一探測(cè)器的第一探測(cè)器支架；第二探測(cè)模塊包括第二探測(cè)器和用于固定第二探測(cè)器的第二探測(cè)器支架。本實(shí)用新型的具有上下反射式標(biāo)簽探測(cè)器的標(biāo)簽打印機(jī)，第一探測(cè)器和第二探測(cè)器設(shè)置于第一探測(cè)器支架和第二探測(cè)器支架的同一側(cè)，第一探測(cè)器和第二探測(cè)器正對(duì)于探測(cè)標(biāo)記。實(shí)施本實(shí)用新型的具有上下反射式標(biāo)簽探測(cè)器的標(biāo)簽打印機(jī)帶來以下的有益效果上下反射式標(biāo)簽探測(cè)器能夠探測(cè)設(shè)置于標(biāo)簽上側(cè)或者下側(cè)的探測(cè)記號(hào)，使得標(biāo)簽打印機(jī)能夠適用多種標(biāo)簽，為標(biāo)簽打印提供了便捷。
以下結(jié)合附圖
對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行說明，其中圖I. a為現(xiàn)有標(biāo)簽探測(cè)器探測(cè)位于標(biāo)簽正面的探測(cè)標(biāo)記的示意圖；圖I. b為現(xiàn)有標(biāo)簽探測(cè)器探測(cè)位于標(biāo)簽反面的探測(cè)標(biāo)記的示意圖；圖2. a為本實(shí)用新型第一實(shí)施例探測(cè)位于標(biāo)簽正面的探測(cè)標(biāo)記的示意圖；[0013]圖2. b為本實(shí)用新型第一實(shí)施例探測(cè)位于標(biāo)簽反面的探測(cè)標(biāo)記的示意圖。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖與具體實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行詳細(xì)說明。為了更好地說明本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題，現(xiàn)首先結(jié)合圖La和圖l.b現(xiàn)有技術(shù)的標(biāo)簽探測(cè)器說明現(xiàn)有技術(shù)的缺陷。圖I. a為現(xiàn)有標(biāo)簽探測(cè)器探測(cè)位于標(biāo)簽正面的探測(cè)標(biāo)記的示意圖，標(biāo)簽3的正面設(shè)有探測(cè)標(biāo)記31，標(biāo)簽3上側(cè)設(shè)置第一探測(cè)模塊1，第一探測(cè)模塊I具體包括第一探測(cè)器12和用于固定第一探測(cè)器12的第一探測(cè)器支架11。第一探測(cè)器12與探測(cè)標(biāo)記31的位置相對(duì)應(yīng)，使得第一探測(cè)器12能夠探測(cè)標(biāo)簽3上的探測(cè)標(biāo)記31的位置。通過探測(cè)出探測(cè)標(biāo)記31的位置，實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確在標(biāo)簽上打印。 圖I. b為現(xiàn)有標(biāo)簽探測(cè)器探測(cè)位于標(biāo)簽反面的探測(cè)標(biāo)記的示意圖，標(biāo)簽3的反面設(shè)有探測(cè)標(biāo)記31，標(biāo)簽3下側(cè)設(shè)置第二探測(cè)模塊2，第二探測(cè)模塊2具體包括第二探測(cè)器22和用于固定第二探測(cè)器22的第二探測(cè)器支架21。第二探測(cè)器22與探測(cè)標(biāo)記31的位置相對(duì)應(yīng)，使得第二探測(cè)器22能夠探測(cè)標(biāo)簽3背面的探測(cè)標(biāo)記31的位置。通過探測(cè)出探測(cè)標(biāo)記31的位置，實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確在標(biāo)簽上打印。圖La和圖l.b的缺陷在于，當(dāng)標(biāo)簽上的探測(cè)標(biāo)記31不在探測(cè)器的同一側(cè)時(shí)，將無法實(shí)現(xiàn)對(duì)標(biāo)簽的準(zhǔn)確定位，無法進(jìn)行標(biāo)簽的打印。為解決上述的缺陷，本實(shí)用新型提供了如圖2. a和圖2. b的第一實(shí)施例。圖2. a和圖2. b為本實(shí)用新型的第一實(shí)施例，其中圖2. a為本實(shí)用新型第一實(shí)施例探測(cè)位于標(biāo)簽正面的探測(cè)標(biāo)記的示意圖；圖2. b為本實(shí)用新型第一實(shí)施例探測(cè)位于標(biāo)簽反面的探測(cè)標(biāo)記的示意圖。如圖2.a和圖2. b所示的上下反射式標(biāo)簽探測(cè)器，包括分別設(shè)置于標(biāo)簽3上側(cè)和下側(cè)的第一探測(cè)模塊I和第二探測(cè)模塊2，第一探測(cè)模塊I用于探測(cè)在標(biāo)簽3正面設(shè)置探測(cè)標(biāo)記31的標(biāo)簽3 ;第二探測(cè)模塊2用于探測(cè)在標(biāo)簽3反面設(shè)置探測(cè)標(biāo)記31的標(biāo)簽3。第一探測(cè)器12和第二探測(cè)器22設(shè)置于第一探測(cè)器支架11和第二探測(cè)器支架21的同一側(cè)，第一探測(cè)器12和第二探測(cè)器22位于探測(cè)標(biāo)記31的相對(duì)位置。當(dāng)探測(cè)標(biāo)記31設(shè)置在標(biāo)簽3的正面時(shí)，就由第一探測(cè)器12實(shí)現(xiàn)探測(cè)標(biāo)簽3上的探測(cè)標(biāo)記31 ;當(dāng)探測(cè)標(biāo)記31設(shè)置在標(biāo)簽3的背面時(shí)，就由第二探測(cè)器22實(shí)現(xiàn)探測(cè)標(biāo)簽3上的探測(cè)標(biāo)記31。即，無論在標(biāo)簽3的正面還是背面設(shè)置探測(cè)標(biāo)記31，都能使標(biāo)簽3得到準(zhǔn)確定位的打印。以上僅為本實(shí)用新型的較優(yōu)的實(shí)施方式，并不用于限定本實(shí)用新型。對(duì)于本領(lǐng)域技術(shù)人員來說，本實(shí)用新型可以具有各種修改、替換等。凡在本實(shí)用新型的創(chuàng)作原則之內(nèi)所作的任何修改、替換等，均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的權(quán)利要求范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種具有上下反射式標(biāo)簽探測(cè)器的標(biāo)簽打印機(jī)，所述上下反射式標(biāo)簽探測(cè)器用于探測(cè)標(biāo)簽(3)上的探測(cè)標(biāo)記(31)，其特征在于，所述上下反射式標(biāo)簽探測(cè)器包括設(shè)置于所述標(biāo)簽(3)上側(cè)，用于探測(cè)在標(biāo)簽正面設(shè)置的探測(cè)標(biāo)記(31)的第一探測(cè)模塊(I);所述上下反射式標(biāo)簽探測(cè)器還包括設(shè)置于所述標(biāo)簽(3)下側(cè)，用于探測(cè)在標(biāo)簽(3)反面設(shè)置的探測(cè)標(biāo)記(31)的第二探測(cè)模塊(2)。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的具有上下反射式標(biāo)簽探測(cè)器的標(biāo)簽打印機(jī)，其特征在于，所述第一探測(cè)模塊(I)包括第一探測(cè)器(12)和用于固定所述第一探測(cè)器的第一探測(cè)器支架(11);所述第二探測(cè)模塊(2)包括第二探測(cè)器(22)和用于固定所述第二探測(cè)器的第二探測(cè)器支架(21)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的具有上下反射式標(biāo)簽探測(cè)器的標(biāo)簽打印機(jī)，其特征在于，所述第一探測(cè)器(12 )和第二探測(cè)器(22 )設(shè)置于所述第一探測(cè)器支架(11)和第二探測(cè)器支架(21)的同一側(cè)，所述第一探測(cè)器(12)和第二探測(cè)器(22 )正對(duì)于所述探測(cè)標(biāo)記(31)。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種具有上下反射式標(biāo)簽探測(cè)器的標(biāo)簽打印機(jī)，所述的上下反射式標(biāo)簽探測(cè)器包括分別設(shè)置于標(biāo)簽上側(cè)和下側(cè)的第一探測(cè)模塊和第二探測(cè)模塊，第一探測(cè)模塊用于探測(cè)在標(biāo)簽正面設(shè)置探測(cè)標(biāo)記的標(biāo)簽；第二探測(cè)模塊用于探測(cè)在標(biāo)簽反面設(shè)置探測(cè)標(biāo)記的標(biāo)簽；第一探測(cè)模塊包括第一探測(cè)器和用于固定第一探測(cè)器的第一探測(cè)器支架；第二探測(cè)器包括第二探測(cè)器和用于固定第二探測(cè)器的第二探測(cè)器支架。實(shí)施本實(shí)用新型的上下反射式標(biāo)簽探測(cè)器使得標(biāo)簽打印機(jī)能夠適用多種標(biāo)簽，為標(biāo)簽打印提供了便捷。
文檔編號(hào)B41J29/00GK202656625SQ20122028647
公開日2013年1月9日 申請(qǐng)日期2012年6月18日 優(yōu)先權(quán)日2012年6月18日
發(fā)明者高鵬程, 呂高仁, 謝榮, 陳亮, 趙森兵 申請(qǐng)人:深圳市博思得科技發(fā)展有限公司