專利名稱：磁力探傷缺陷顯示膜的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于磁力探傷范圍，可用于磁力探傷中缺陷的顯示。
目前磁力探傷顯示缺陷基本上都使用干磁粉和磁懸液，在美國(guó)的專利(3243876、3786346)專利技術(shù)中介紹一種在磁橡膠中加入磁粉的技術(shù)，但硫化處理需要很長(zhǎng)時(shí)間，成本很高，只能使用一次，工藝比較復(fù)雜。另外還有磁性涂料顯示方法，都因使用復(fù)雜，沒有得到推廣。本人以前發(fā)明的缺陷顯示膜(中國(guó)專利90205090.7)缺點(diǎn)是像素單元面積大，顯示不清楚，靈敏度低，而且不柔軟，液體容易泄漏。
本實(shí)用新型的目的是提供一種磁力探傷缺陷顯示膜，可代替現(xiàn)有的磁粉和磁懸液，靈敏度高于干磁粉，接近磁懸液，A型試塊能清晰顯示。
本實(shí)用新型的目的是這樣實(shí)現(xiàn)的將0.1-1um磁粉加入水溶凝膠中攪拌，然后將阿拉伯水溶樹脂膠加入形成聚合膜，然后硬化形成微型膠囊，尺寸約為0.08-0.4mm，將微型膠囊注入水狀透明粘附液中形成分散介質(zhì)，并在塑料模上涂抹其厚度約為0.2mm。微膠囊內(nèi)的分散劑為高熔點(diǎn)醇基化合物，白色粉末是一種經(jīng)過親合處理的白色氧化物，如SiO2和AL2O3。磁粉是鐵磁性材料，如Fe2O3塑料膜采用聚脂膜或其它強(qiáng)度比較高的透明膜其厚度為0.02mm。顯示膜的寬度為0.5m，長(zhǎng)度不限，厚度0.3mm。因?yàn)榇艖乙好芊庠谀z粒內(nèi)，一個(gè)膠粒破碎后不影響其它膠粒，所以顯示膜可以象布一樣任意剪小，只有被剪的一部分破碎，而大量的液體不會(huì)泄露出來。顯示膜由無數(shù)個(gè)小膠粒單元組成，膠囊與膠囊之間靠粘性和兩面塑料膜固定，所以顯示膜象布一樣柔軟。顯示膜顯示缺陷的原理是磁性膠囊中的磁懸液在受到磁力時(shí)，內(nèi)部的鐵粉便懸浮到上面，顯示膜的正面出現(xiàn)磁痕，黑色磁痕的形狀大小與缺陷的形狀大小一樣。當(dāng)沒有磁力時(shí)，因鐵粉的比重和白色液體的比重相同，以及利用液體的表面張力原理，黑色鐵粉永遠(yuǎn)停留在某個(gè)位置，使用時(shí)可將顯示膜粘在工件上，然后給工件加磁場(chǎng)，磁場(chǎng)可以是直流電流、交流電流，脈沖電流等。加磁方法可以給工件直接通電產(chǎn)生磁場(chǎng)，或給工件兩端加磁，也可以用電纜繞在工件上，還可以用小型磁軛探頭給工件加磁。當(dāng)工件有缺陷時(shí)，必然產(chǎn)生漏磁場(chǎng)，漏磁場(chǎng)的磁力吸引顯示膜里膠囊中的磁粉，使它形成一條明顯的黑色磁痕，直接可用眼睛觀察磁痕的大小和形態(tài)，從而確定缺陷的形狀和大小。
顯示膜和磁粉比較有以下優(yōu)點(diǎn)a、顯示膜有固定的形狀，可粘到工件的任何部位，比如一個(gè)容器的立面和頂部，用干磁粉很難撒上去；b、在顯示膜上顯示的缺陷磁痕，如果沒有外部磁場(chǎng)的干擾，可以永久保存；c、因?yàn)榇艖乙涸谀z囊內(nèi)部，所以探傷環(huán)境干凈衛(wèi)生，探傷完工件不用清洗；d、顯示膜可多次重復(fù)使用，使用次數(shù)達(dá)幾千次，所以探傷的成本很低；e、探傷的效率高，對(duì)某些工件可將顯示膜一次全部粘滿，然后加磁場(chǎng)，整個(gè)工件的缺陷可全部顯示出來；f、使用方便，因?yàn)轱@示膜象布一樣柔軟，所以可以粘到任何形狀的工件上，顯示膜可任意裁剪。
g、最重要的是其探傷的靈敏度很高，A型試片可清晰顯示；h、可以使用各種磁力探傷儀器，如直流、交流、脈沖電流等，固定式和便攜式磁力探傷機(jī)都可以使用顯示膜。


圖1是由①塑料模和②膠囊組成的缺陷顯示膜；
圖2是①由磁粉、②分散劑、③白色粉末等組成的微膠囊。
在
圖1中，無數(shù)個(gè)微膠囊②粘接在一層0.02mm厚的聚脂塑料膜①上，其厚度為0.2-0.3mm，上面覆蓋一層同樣的塑料膜，顯示膜可以任意載剪、任意彎曲，顯示膜用雙面膠帶固定在被測(cè)的工件上，然后給工件加磁場(chǎng)，即可在顯示膜上顯示缺陷磁痕。
在圖2中，將0.1-1umFe2O3粉末和醇基化合物的分散劑以及經(jīng)過親合處理的白色粉末AL2O3加入水溶凝膠中攪拌，然后將阿拉伯水溶樹脂膠加入形成聚合膜，然后硬化形成微膠囊，尺寸0.08-0.3mm。
權(quán)利要求1.一種磁力探傷缺陷顯示膜，由兩層塑料膜和密封在里面的顯示小單元組成，其特征在于顯示單元是一種由磁粉、分散劑和白色粉末組成的磁懸液制作的微膠囊，無數(shù)個(gè)微膠囊粘接在兩層透明的塑料膜之中。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁力探傷缺陷顯示膜，其特征在于微膠囊的平均粒徑在0.08-0.4mm。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁力探傷缺陷顯示膜，其特征在于微膠囊的磁粉粒度為0.1-1um的鐵磁性粉末。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁力探傷缺陷顯示膜，其特征在于微膠囊內(nèi)的分散劑為高熔點(diǎn)醇基化合物。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁力探傷缺陷顯示膜，其特征在于微膠囊內(nèi)的白色粉末是一種經(jīng)過親合處理的白色氧化物如SiO2和AL2O3。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁力探傷缺陷顯示膜，其特征在于透明塑料膜的厚度不超過0.02mm，并且強(qiáng)度很高，如聚脂膜。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁力探傷缺陷顯示膜，其特征在于缺陷顯示膜的厚度不超過0.3mm。
專利摘要一種磁力探傷缺陷顯示膜,應(yīng)用于無損檢測(cè)領(lǐng)域,可以代替目前使用的磁粉和磁懸液,其特征由微膠囊②和塑料膜①組成,膠囊粘結(jié)在兩層透明的塑料膜之中能粘在任何工件上顯示缺陷磁痕,可以多次使用,留檔保存,干凈衛(wèi)生,可以任意裁剪、彎曲,探傷靈敏度高,A型試片能清晰顯示。
文檔編號(hào)G09G3/02GK2439705SQ0023872
公開日2001年7月18日 申請(qǐng)日期2000年6月16日 優(yōu)先權(quán)日2000年6月16日
發(fā)明者劉彬 申請(qǐng)人:劉彬