專利名稱：顯示裝置的驅(qū)動裝置、顯示裝置、驅(qū)動裝置或顯示裝置的檢查方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及如驅(qū)動顯示裝置的LSI等那樣，具有多個模擬輸出端子的驅(qū)動裝置，使用該驅(qū)動裝置的顯示裝置及驅(qū)動裝置或顯示裝置的檢查方法。
背景技術(shù)：
在液晶顯示裝置、有機EL顯示裝置、等離子顯示器、表面電場顯示裝置等的顯示裝置中，圖像數(shù)據(jù)由驅(qū)動電路等的電子電路處理，從該驅(qū)動電路所具備的多個輸出端子向顯示元件輸出。對應驅(qū)動電路的各輸出端子、配置的驅(qū)動晶體管不少存在電氣特性上的差異，所以從各輸出端子輸出的信號值也會產(chǎn)生差異。
例如，驅(qū)動晶體管的差異表現(xiàn)為晶體管特性的不匹配時，則會出現(xiàn)偏置誤差、增益誤差。另外，由于制造工藝規(guī)程的變動，也會出現(xiàn)電路特性的系統(tǒng)誤差。為修正這些差異，提出了種種的技術(shù)方案(例如，參照專利文獻1～3)。
專利文獻1特開2000-307424號公報；專利文獻2特開2002-366119號公報；專利文獻4專利第3199827號公報。
專利文獻1中記載的技術(shù)，是關(guān)于將數(shù)字輸入信號變換為模擬輸出信號、向顯示元件側(cè)輸出的電子電路。此電子電路具備與多個輸出端子分別對應的、存儲輸入的數(shù)字信號的鎖存電路；存儲偏置修正數(shù)據(jù)的存儲器電路；在數(shù)字輸入信號上加上偏置修正數(shù)據(jù)的加法電路；將從加法電路來的輸出信號變換為模擬信號的D/A變換器。
另外，在此專利文獻1中，測量各D/A變換器的偏置量、將其偏置量變換為偏置修正數(shù)據(jù)的修正電路，還被設有其他用途。此修正電路的構(gòu)成具備將對應各輸出端子的D/A變換器的模擬輸出信號和修正電路所具備的D/A變換器的模擬輸出信號相比較的比較器；通過比較器的輸出數(shù)據(jù)，產(chǎn)生數(shù)字偏置修正數(shù)據(jù)的編碼電路。這樣，在各存儲器電路中，對應各輸出端子的從D/A變換器來的輸出信號和作為基準的從D/A變換器來的輸出信號的差值，作為偏置修正數(shù)據(jù)被存儲，所以通過此修正數(shù)據(jù)修正的數(shù)字信號，在各輸出端子中，電平變得相同。
在專利文獻2中，記載了根據(jù)對于多個模擬電路設計的對照表，修正差異的電路。此專利文獻2中記載的技術(shù)是關(guān)于液晶顯示裝置的技術(shù)，顯示控制裝置內(nèi)的圖像信號控制電路具備將向顯示控制裝置的模擬輸入信號變換為數(shù)字信號的A/D變換器；實現(xiàn)數(shù)字信號的信號處理的信號處理電路；存儲修正數(shù)據(jù)的參照表；將由參照表修正的數(shù)字信號變換為模擬信號的D/A變換器。還有，參照表及D/A變換器對每相中都進行了設計。由于這樣的構(gòu)成，可通過參照表，修正每相的差異。
在專利文獻3中，提出了利用檢查端子輸出的信號，修正向驅(qū)動電路的輸入信號的技術(shù)。通過這種技術(shù)，預先將各種測試曲線的顯示圖像信號輸入到驅(qū)動電路中，順次選擇與其相對應的輸出信號。而且，將順次選擇的信號從檢查端子輸出到A/D變換器中，并將以A/D變換器輸出的數(shù)字信號為基礎(chǔ)而求得的修正數(shù)據(jù)，存儲到存儲器元件中。通過這個修正數(shù)據(jù)，可修正向驅(qū)動電路內(nèi)的輸入信號。
然而，一般晶體管的電氣特性的差異，是由在半導體工藝規(guī)程中被注入的雜質(zhì)的數(shù)量的差異、或是由蝕刻的不均一性而引起的晶體管尺寸的差異，通過減小晶體管的尺寸，會強烈地受到溝道長度調(diào)制效應所產(chǎn)生的影響。
根據(jù)圖19及圖20，針對溝道長L的大小的變化而引起的對晶體管特性的影響，進行說明。如圖19(A)所示，如果晶體管的溝道長L相當大，則與漏極-源極間電源VDS的大小無關(guān)，漏極電流ID大致一定(實線)。但是，如果晶體管的溝道長L變小，表現(xiàn)為溝道長度調(diào)制效應的影響，和漏極-源極間電壓VDS的大小成比例，漏極電流ID增大(虛線)。此效應隨著柵極-源極間電壓VGS的變大而增大。
圖19(B)是將此特性用柵極-源極間電壓VGS和漏極電流ID之間的關(guān)系表示的曲線。即當溝道長L大時，如果柵極-源極間電壓VGS一定，則與漏極-源極間的電壓VDS的變化無關(guān)，漏極電流ID幾乎一定。與此相對，如果溝道長L變小時，隨著漏極-源極間電壓VDS的變化，漏極電流ID變化很大。因此，在使用溝道長L小的晶體管的運算放大器中，產(chǎn)生非線性效果。例如，在如圖20(A)所示的電壓跟隨電路中，對于理想值，產(chǎn)生如圖20(B)所示的非線性。如圖20(B)所示，當溝道長L大時，輸入電壓和輸出電壓的關(guān)系變成與理想值大致相同那樣的線性，而當溝道長L小時，變成非線性，從理想值偏離。
作為這樣的非線性的原因的溝道長度調(diào)制效應，可通過加大溝道長L而降低。另外，導入到晶體管雜質(zhì)的數(shù)量的差異，由于受統(tǒng)計的波動的影響，所以可通過加大晶體管的面積而減小。還有，蝕刻的差異也可用加長晶體管的周長而減小。因此，為減小晶體管的電氣特性的差異，加大晶體管的尺寸是有效的。
因此，在將一般的顯示裝置的驅(qū)動LSI所代表的那樣的圖像信號，利用多管腳(端子)進行輸出的半導體電路中，為抑制輸出值的差異，使用尺寸大的晶體管。特別地，如果減小溝道長L，由于溝道長度調(diào)制效應等的影響，導致晶體管的特性其變壞，所以在高精度的LCD驅(qū)動電路中，至今還在使用尺寸大的晶體管。例如，即使驅(qū)動電路為0.18μm的工藝規(guī)程，也是使用溝道長L為4μm、溝道寬W為100μm左右尺寸的大的驅(qū)動晶體管。另外，為抑制在驅(qū)動電路的D/A變換器中的特性差異，通常使用溝道長L為3μm左右尺寸的大的驅(qū)動晶體管。
另外，代替源極跟隨器的晶體管，在利用運算放大器使電壓跟隨電路形成在驅(qū)動電路內(nèi)的場合，為抑制特性的差異，也在使用利用了尺寸大的晶體管的放大器、D/A變換器。另外，在利用模擬信號切換器(多路轉(zhuǎn)換器)和灰度電壓形成驅(qū)動電路的場合，為提高灰度電壓的精度，使用溝道長L大的晶體管。還有，此時，為使電壓的下降(阻抗)相等，多路轉(zhuǎn)換器要設計成和電源所使用的晶體管開關(guān)的數(shù)量相同。然而，由和電源的距離成比例的電壓的下降、晶體管的差異而引起的電壓下降的不匹配是不可避免的。
驅(qū)動LSI的超多管腳化、LSI制造工藝規(guī)程的微細化正在進行中，這就要求在LSI中使用的晶體管的尺寸的縮小化，同時也要求模擬信號的精度。但是，如果使晶體管的尺寸縮小化，就會帶來如上所述的由晶體管特性的劣化而引起的電路的非線性化，只利用偏置常數(shù)、增益常數(shù)等的線性修正，不能確保精度。因此，如專利文獻1所記載的那樣、在只假設偏置差異的線性修正中，存在不能充分地修正利用尺寸小的晶體管時所產(chǎn)生的非線性的特性的偏離的問題。
另外，在專利文獻2記載的修正技術(shù)中，修正數(shù)據(jù)的設定要一邊觀察、評價顯示畫面一邊進行，所以存在依賴于人眼或必需攝像裝置那樣的大規(guī)模裝置的不便。
另外，在關(guān)于專利文獻3的技術(shù)中，將從驅(qū)動LSI輸出的模擬信號，通過A/D變換器變換成數(shù)據(jù)信號，輸入到修正電路中。但是，象這樣通過A/D變換器，如果簡單地將模擬值變換成數(shù)字值，需要非常多的信號線，產(chǎn)生電路規(guī)模變大的問題。另外，由于A/D變換器及修正電路都在驅(qū)動LSI的外部，所以從驅(qū)動LSI輸出、到輸入到A/D變換器之間，在模擬信號上極易混入噪聲成分，也存在實現(xiàn)高精度的修正很困難的問題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是為解決如上所述的問題而形成的，其目的在于，在超多管腳輸出的顯示驅(qū)動LSI中，即使使用尺寸小的晶體管的場合，也能充分的修正各輸出端子間產(chǎn)生的非線性的電氣特性的差異。
另外，本發(fā)明的目的在于，能夠高精度的修正超多管腳輸出的顯示驅(qū)動LSI中的各輸出端子間所產(chǎn)生的非線性的電氣特性的差異。
另外，本發(fā)明的目的在于，盡量的減小用于修正超多管腳輸出的顯示驅(qū)動LSI中的各輸出端子間產(chǎn)生的非線性的電氣特性的差異的電路的構(gòu)成。
為解決如上所述的問題，由本發(fā)明組成的顯示裝置的驅(qū)動裝置，具備輸入對應多個輸出端子的數(shù)字信號，根據(jù)對應信號大小的修正數(shù)據(jù)，輸出修正后的各數(shù)字信號的數(shù)字修正信號的信號處理部；根據(jù)從信號處理部輸出的數(shù)字修正信號，生成模擬信號，分別輸出到多個輸出端子的模擬信號輸出部；和多個輸出端子相接、順次選擇從模擬信號輸出部來的模擬信號的信號切換部；δ-∑調(diào)制由信號切換部選擇的模擬信號，將被δ-∑調(diào)制過的1位數(shù)字調(diào)制信號輸出到信號處理部的δ-∑調(diào)制部，信號處理部，將多個等級大小的基準數(shù)字信號，順次輸出到模擬信號輸出部；從δ-∑調(diào)制部，輸入與基準數(shù)字信號相對應的1位數(shù)字調(diào)制信號，進行解調(diào)的同時，具有根據(jù)該解調(diào)信號和基準數(shù)字信號，計算修正數(shù)據(jù)的功能和根據(jù)該修正數(shù)據(jù)進行修正的功能。
這樣，在本發(fā)明中，根據(jù)多個等級的基準數(shù)字信號和由此生成的模擬信號數(shù)字化后的多個等級的數(shù)字信號，計算修正數(shù)據(jù)，所以和單單的利用偏置常數(shù)、增益常數(shù)的線性修正不同，能夠計算取得的非線性輸出特性的修正數(shù)據(jù)。因此，即使在超多管腳輸出的顯示驅(qū)動LSI中使用尺寸小的晶體管時，也能根據(jù)輸入數(shù)字信號的大小，充分的修正由此起因而產(chǎn)生的非線性的電氣特性的差異。
另外，在本發(fā)明中，通過利用δ-∑調(diào)制部，能夠抑制量子化噪聲、以非常高的精度進行輸出信號的測量，可以生成精度高的修正數(shù)據(jù)。另外，δ-∑調(diào)制部的輸出，是從1個輸出端子來的1位的δ-∑調(diào)制信號，所以可減少布線數(shù)，使裝置小型化。
另外，信號處理部，其也可以構(gòu)成為根據(jù)對于多個等級的大小的基準數(shù)字信號的解調(diào)信號的變化，計算近似曲線，根據(jù)該近似曲線，計算修正數(shù)據(jù)。如果是這樣的構(gòu)成，可得到對輸入數(shù)字信號的大小的分辨率高、且正確的修正數(shù)據(jù)，所以能夠?qū)崿F(xiàn)更高精度的修正。
另外，信號處理部，其構(gòu)成也可采用利用將多個等級大小的基準數(shù)字信號，進行多次輸出、而產(chǎn)生的多個解調(diào)信號的平均值，計算修正數(shù)據(jù)。如果是這樣的構(gòu)成，可減少輸入基準數(shù)字信號時、測量的輸出信號中所含的隨機噪聲，還有能夠計算誤差小的修正數(shù)據(jù)。
另外，修正數(shù)據(jù)，也可對應多個輸出端子、分別生成。通常，在對應各輸出端子的電路之間，存在電氣特性的差異，所以可通過分別計算對應各輸出端子的修正數(shù)據(jù)，實現(xiàn)更高精度的修正。
另外，δ-∑調(diào)制部，也可采用具有可變更設定時鐘速度的構(gòu)成。如果是這樣的構(gòu)成，可根據(jù)要求的修正精度，變更時鐘速度。例如，通過加大時鐘速度，可提高信號的S/N比。由此，和單單的通過A/D變換器，將從輸出端子來的模擬輸出信號，反饋回修正信號處理電路的場合相比，在生成的修正數(shù)據(jù)的精度上會產(chǎn)生自由度，計算適當?shù)木鹊男拚龜?shù)據(jù)。
另外，也可具備能輸出從δ-∑調(diào)制部來的1位數(shù)字調(diào)制信號的δ-∑調(diào)制輸出端子。如果是這樣的構(gòu)成，可通過δ-∑調(diào)制輸出端子，在外部檢測應該從輸出端子輸出的模擬信號，進行驅(qū)動裝置的檢查、評價。從此δ-∑調(diào)制輸出端子輸出的信號，是1位的數(shù)字調(diào)制信號，所以和輸出模擬信號的場合相比，由噪聲引起的信號精度下降的程度被降低。另外，1個δ-∑調(diào)制部的輸出用1根布線完成，所以即使在輸出端子的數(shù)量非常多的場合，也可通過連接1個δ-∑調(diào)制輸出端子，檢查、評價輸出信號的特性，不需要對應超多管腳的復雜、高價的測試系統(tǒng)。另外，接收1位數(shù)字調(diào)制信號的檢查裝置側(cè)，也可作為進行數(shù)字信號處理的簡易的數(shù)字型測試器，不需要模擬型測試器。
另外，如上構(gòu)成的驅(qū)動裝置也可形成在同一半導體IC上。如果是這樣的構(gòu)成，通過在驅(qū)動裝置的內(nèi)部插入計算及存儲修正數(shù)據(jù)的信號處理部，可利用噪聲難以干擾的高精度的數(shù)據(jù)，計算修正數(shù)據(jù)，從而提高修正的精度。即從輸出端子來的輸出信號，是只通過被單片化的驅(qū)動裝置的內(nèi)部、不通過外部布線的構(gòu)成，所以在輸出信號上噪聲很難進入。另外，即使對于驅(qū)動裝置的檢查、評價，也可用包含具有修正功能的信號處理部實現(xiàn)，不需要具有其他用途的修正功能的電路的檢查等，所以可降低作為全體的制造成本。
另外，使用上述的驅(qū)動裝置構(gòu)成顯示裝置是最合適的。如果是這樣的構(gòu)成，象上述那樣，通過高精度的修正數(shù)據(jù)修正的輸出信號，實現(xiàn)了顯現(xiàn)驅(qū)動，提高了顯示圖像的品質(zhì)。另外，可在插入驅(qū)動裝置的狀態(tài)下進行高精度的檢查、評價。還有，因為在顯示裝置中組裝了驅(qū)動裝置的狀態(tài)下進行修正，所以可進行包含顯示裝置的全體制造差異、環(huán)境差異、年限差異等的修正。
如上所述，通過本發(fā)明，通過使用尺寸小的晶體管，即使在超多管腳輸出的顯示驅(qū)動LSI的各輸出端子間產(chǎn)生非線性的電氣特性的差異，也能夠進行充分且精度很好的非線性誤差的修正，得到差異小的圖像輸出。同時也可通過從少數(shù)輸出端子來的數(shù)字信號，進行電氣特性等的高精度的檢查及評價。另外，也能盡量的減小其電路的構(gòu)成。


圖1是表示由本實施方式組成的液晶顯示裝置的構(gòu)成的方框圖。
圖2是表示本實施方式的驅(qū)動裝置具備的端子的構(gòu)成的圖。
圖3是表示由本實施方式組成的驅(qū)動裝置的電路構(gòu)成例的方框圖。
圖4是表示到本實施方式的δ-∑(Δ-∑調(diào)制)調(diào)制器的輸入信號和輸出信號的關(guān)系圖。
圖5是表示修正數(shù)據(jù)生成時、由修正信號處理電路設定的初期輸出數(shù)據(jù)的構(gòu)成例的圖。
圖6是表示修正數(shù)據(jù)生成時、由δ-∑調(diào)制器測量的測量數(shù)據(jù)的構(gòu)成例的圖。
圖7是表示存儲在修正數(shù)據(jù)存儲電路中的修正數(shù)據(jù)的構(gòu)成例的圖。
圖8是表示存儲在修正數(shù)據(jù)存儲電路中的修正數(shù)據(jù)的其他構(gòu)成例的圖。
圖9是表示內(nèi)置在本實施方式的修正信號處理電路及簡易測試器中的十抽一濾波器的構(gòu)成例的圖。
圖10是表示對于從δ-∑調(diào)制器輸出的1位數(shù)字調(diào)制信號，通過修正信號處理電路，進行十抽一處理及平均化處理的結(jié)果的例子的圖。
圖11是表示存儲在修正數(shù)據(jù)存儲電路中的近似曲線系數(shù)數(shù)據(jù)的構(gòu)成例的圖。
圖12是表示進行具有本實施方式的驅(qū)動裝置的晶片的檢查、評價時的測試系統(tǒng)的構(gòu)成例的圖。
圖13是表示進行安裝了本實施方式的驅(qū)動裝置的液晶顯示裝置的檢查、評價時的測試系統(tǒng)構(gòu)成例的圖。
圖14是表示由本實施方式組成的驅(qū)動裝置的其他的電路構(gòu)成例的方框圖。
圖15是表示由本實施方式組成的驅(qū)動裝置的另外其他的電路構(gòu)成例的方框圖。
圖16是表示在利用灰度電壓的驅(qū)動裝置中的修正數(shù)據(jù)生成時、由δ-∑調(diào)制器測量的測量數(shù)據(jù)的構(gòu)成例的圖。
圖17是表示存儲在利用灰度電壓的驅(qū)動裝置中的修正數(shù)據(jù)存儲電路中的所有修正用的修正數(shù)據(jù)的構(gòu)成例的圖。
圖18是表示以往的測試系統(tǒng)的構(gòu)成的圖。
圖19是用于說明由溝道長度的大小變化而引起的對晶體管特性的影響的圖。
圖20是用于說明由溝道長的大小變化而引起的對晶體管特性的影響的圖。
具體實施例方式
以下，根據(jù)圖面，說明本發(fā)明的一實施方式。圖1是表示由本實施方式組成的液晶顯示裝置S的構(gòu)成的方框圖。如圖1所示，本實施方式的液晶顯示裝置S，其構(gòu)成具備液晶面板(液晶顯示元件)50、控制由液晶面板50所進行的圖像顯示的控制器60。
液晶面板50，具備設計成矩陣狀的像素部的顯示部51，掃描信號線用的驅(qū)動裝置(柵極驅(qū)動LSI)52，圖像信號線用的驅(qū)動裝置(源極驅(qū)動LSI)53。驅(qū)動裝置52、53，配置成和顯示部51在同一基板上。顯示部51上設置多個掃描信號線54，和此掃描信號線54直交的多個圖像信號線55，在這些交點處，分別設計像素部。另外，掃描信號線54、圖像信號線55的端部，分別連接驅(qū)動裝置52、53的輸出端子。
控制器60，接收從個人計算機等的外部裝置來的顯示信號(圖像信號)、時鐘信號、定時信號、水平同步信號、垂直同步信號等，輸出控制信號到驅(qū)動裝置52、53中。同時，輸出顯示信號到驅(qū)動裝置53中。驅(qū)動裝置52、53根據(jù)這些信號而動作，與驅(qū)動裝置52組成的掃描電極的驅(qū)動周期相配合，從驅(qū)動裝置53，向液晶面板50的各像素部(面板像素組)供給模擬圖像信號。
圖2是驅(qū)動裝置53所具備的端子的說明圖。如圖2所示，驅(qū)動裝置53，具備用于向外部的面板像素組供給模擬圖像信號的多個圖像輸出端子1(1-1～1-n)調(diào)制模擬圖像信號；和用于向驅(qū)動裝置53的外部輸出進行了δ-∑調(diào)制(即Δ-∑調(diào)制)模擬圖像信號所生成的1位數(shù)字調(diào)制信號的δ-∑調(diào)制輸出端子(檢查端子)2。
圖3表示驅(qū)動裝置53的電路構(gòu)成例的方框圖。如圖3所示，驅(qū)動裝置53，其構(gòu)成具備輸入鎖存電路8、δ-∑調(diào)制器9、信號處理部20、模擬信號輸出部30、信號切換部40。具有這樣構(gòu)成的驅(qū)動裝置53，可封裝為單片IC。
輸入鎖存電路8，輸入在液晶面板50顯示的數(shù)字圖像信號、時鐘信號。信號處理部20，對于從輸入鎖存電路8輸入的數(shù)字圖像信號，進行修正處理。此信號處理部20，由存儲修正數(shù)據(jù)的修正數(shù)據(jù)存儲電路10；和通過修正數(shù)據(jù)、修正由輸入鎖存電路8供給的數(shù)字圖像信號，輸出數(shù)字修正信號的修正信號處理電路11構(gòu)成。
模擬信號輸出部30，接收信號處理部20生成的數(shù)字修正信號，將此數(shù)字修正信號變換為模擬信號，輸出到圖像輸出端子1。此模擬信號輸出部30，其構(gòu)成具備對應多個圖像輸出端子1-1～1-n，存儲從修正信號處理電路11輸出的數(shù)字修正信號的鎖存電路6；移位寄存器電路7；將從鎖存電路6來的輸出信號進行D/A變換的多個D/A變換器5(5-1～5-n)；和根據(jù)此D/A變換的模擬圖像信號，驅(qū)動液晶面板元件的數(shù)據(jù)電極的多個驅(qū)動晶體管4(4-1～4-n)。還有，代替驅(qū)動晶體管4，也可使用電壓跟隨電路。
存儲在上述修正數(shù)據(jù)存儲電路10中的修正數(shù)據(jù)，是用于修正驅(qū)動裝置53中內(nèi)置的各晶體管(驅(qū)動晶體管4-1～4-n、D/A變換器5-1～5-n的晶體管等)的電氣特性的差異、顯示部51的電氣特性的差異的。在進行驅(qū)動裝置53本身的修正、檢查時所用的修正數(shù)據(jù)，是用于修正驅(qū)動電路53內(nèi)部的各晶體管的電氣特性的差異引起的誤差的數(shù)據(jù)。另一方面，在驅(qū)動裝置53安裝在液晶顯示裝置S的狀態(tài)下，進行修正、檢查時所用的修正數(shù)據(jù)，不僅用于修正在驅(qū)動裝置53內(nèi)的的各晶體管的電氣特性的差異，還在顯示部51內(nèi)的TFT晶體管、容量的電氣特性的差異引起的誤差的數(shù)據(jù)。這樣的修正數(shù)據(jù)，由與輸入到輸入鎖存電路8的數(shù)字圖像信號相對的、應該修正的修正量等構(gòu)成。在修正信號處理電路11中，將和從輸入鎖存電路8供給的數(shù)字圖像信號的大小(相當于將圖像信號的電壓值進行數(shù)字化后的值)相對應分配的修正量的數(shù)據(jù)，從修正數(shù)據(jù)存儲電路10讀出，通過從數(shù)字圖像信號中減去修正量，生成數(shù)字修正信號。
在模擬信號輸出部30和圖像輸出端子1之間，連接信號切換部40。信號切換器40，由和各圖像輸出端子1-1～1-n分別對應配置的由多個晶體管等組成的模擬開關(guān)3(3-1～3-n)構(gòu)成。而且，各模擬開關(guān)3-1～3-n，和到數(shù)字修正信號的鎖存電路6的存儲動作同步、順次動作，從模擬信號輸出部30順次選擇輸出到各圖像輸出端子1-1～-n的模擬圖像信號(各圖像輸出端子1-1～1-n的電位)，輸出到δ-∑調(diào)制器9中。
δ-∑調(diào)制器9，具有積分器、比較器、1位D/A變換器等的構(gòu)成。而且，利用規(guī)定的時鐘速度，δ-∑調(diào)制由信號切換部40順次供給的模擬圖像信號，將得到的1位數(shù)字調(diào)制信號從1個輸出端子，輸出到信號處理部20及δ-∑調(diào)制輸出端子2中。
δ-∑調(diào)制器9的時鐘間隔比耐奎斯特間隔還充分的窄，和通常的A/D變換器相比，信號頻帶變得非常寬。另外，本實施方式的δ-∑調(diào)制器9，具有根據(jù)從外部控制端子12輸入的控制信號，使時鐘速度在高速到低速(即可比耐奎斯特間隔充分的大)的范圍內(nèi)可變更設定。還有，δ-∑調(diào)制器9的時鐘速度，在驅(qū)動裝置53通常動作時，使用被設定的和預先的精度相配合的任意值。
圖4是表示到δ-∑調(diào)制器9的輸入信號和輸出信號的關(guān)系的圖。在圖4(A)中，輸入信號是和時間成大略直線狀變化的模擬電壓。此輸入信號表示了所使用的晶體管的尺寸大、驅(qū)動裝置53、顯示部51內(nèi)存在的電氣特性的差異小的情況，或驅(qū)動裝置53、顯示部51內(nèi)存在的電氣特性的差異被充分修正的情況下，輸入到δ-∑調(diào)制器9中的信號。另一方面，在圖4(B)中所示的輸入信號，表示了使用的晶體管的尺寸小、在驅(qū)動裝置53、顯示部51上產(chǎn)生電氣特性的差異，由此具有非線性特性的情況。
這樣，在δ-∑調(diào)制器9上輸入不失真的理想的信號的情況和輸入具有非線性的失真的信號的情況下，從δ-∑調(diào)制器9輸出的1位的數(shù)字調(diào)制信號是完全不同的。即通過δ-∑調(diào)制器9，可得到對應非線性的失真的1位數(shù)字調(diào)制信號。因此，通過利用δ-∑調(diào)制器9，δ-∑調(diào)制從多個圖像輸出端子1-1～1-n輸出的模擬圖像信號，將得到的1位數(shù)字調(diào)制信號供給信號處理部20，可生成如后所述的對應各圖像輸出端子1-1～1-n的輸出值的修正數(shù)據(jù)。另外，通過從δ-∑調(diào)制輸出端子2取出1位數(shù)字調(diào)制信號到外部，可進行驅(qū)動裝置53、顯示部51的檢查、評價。
還有，驅(qū)動裝置53，也可以將涉及驅(qū)動裝置53本身、驅(qū)動晶體管4、D/A變換器5等的電氣特性差異、異常(超過修正可能的范圍的場合)的數(shù)據(jù)，送到控制器60中。也就是說，修正信號處理電路11的輸出，輸入到鎖存電路6中，而鎖存電路6也連接到控制器60的數(shù)據(jù)總線上?？刂破?0，使用此鎖存電路6供給的數(shù)據(jù)，可測量圖像輸出端子1的電壓值。如果在圖像輸出端子1上連接顯示部51，則控制器60也能測量出顯示部51中的電氣特性的差異、異常。
其次，針對如上述構(gòu)成的由本實施方式組成的驅(qū)動裝置53的全體動作，進行說明。首先，由控制器60供給的數(shù)字圖像信號及時鐘信號輸入到輸入鎖存電路8中，被存儲。而且，存儲在輸入鎖存電路8中的數(shù)字圖像信號，和時鐘信號同步，被轉(zhuǎn)送到修正信號處理電路11中。
在修正信號處理電路11中，根據(jù)存儲在修正數(shù)據(jù)存儲電路10中的修正數(shù)據(jù)(關(guān)于此計算方法，在后面闡述)，對應各圖像輸出端子1-1～1-n，進行數(shù)字圖像信號的修正，生成數(shù)字修正信號。移位寄存器電路7，根據(jù)時鐘信號和未圖示的移位開始信號，順次向鎖存電路6輸出脈沖。根據(jù)此脈沖輸出、數(shù)字修正信號被順次存儲在鎖存電路6中，分別對應分配給各圖像輸出端子1-1～1-n。
而且，從鎖存電路6輸出的數(shù)字修正信號，通過D/A變換器5-1～5-n、驅(qū)動晶體管4-1～4-n，變?yōu)槟M圖像信號，從圖像輸出端子1-1～1-n輸出到顯示部51的各像素部。通常動作時，δ-∑調(diào)制器9不動作，信號切換部40的模擬開關(guān)3-1～3-n也全都處于非選擇狀態(tài)。
另一方面，生成修正數(shù)據(jù)時及進行驅(qū)動裝置53、顯示部51的檢查、評價時，輸出到圖像輸出端子1-1～1-n的模擬圖像信號，被信號切換部40的模擬開關(guān)3-1～3-n順次選擇，輸出到δ-∑調(diào)制器9中。在δ-∑調(diào)制器9中。δ-∑調(diào)制從信號切換部40順次供給的模擬圖像信號，所得到的1位的數(shù)字調(diào)制信號，被輸出到信號處理部20及δ-∑調(diào)制輸出端子2中。
接著，針對修正數(shù)據(jù)的生成方法，進行說明。電源投入時、修正數(shù)據(jù)還沒有被全部存儲在修正數(shù)據(jù)存儲電路10中。修正信號處理電路11，在電源投入時的初期化過程中，設定如圖5所示的一定的初期輸出數(shù)據(jù)Vinit(Vinit0～Vintm)。
圖5是表示初期輸出數(shù)據(jù)Vinit0～Vinitm的構(gòu)成例的圖。如圖5所示，作為基準數(shù)字信號的初期輸出數(shù)據(jù)Vinit0～Vinitm，在輸入到驅(qū)動裝置53的數(shù)字圖像信號的大(電壓值)范圍內(nèi)設定。此初期輸出數(shù)據(jù)Vinit0～Vinitm，每隔適宜的大小，都被設定了多個等級值。還有，此初期輸出數(shù)據(jù)Vinit0～Vinitm，也可預先存儲在修正數(shù)據(jù)存儲電路10中。另外，也可將初期輸出數(shù)據(jù)Vinit0～Vinitm的數(shù)量及值的間隔等，根據(jù)所求的精度，從未圖示的外部控制端子，進行任意的設定。
接著，修正信號處理電路11，將作為基準數(shù)字信號設定的初期輸出數(shù)據(jù)Vinit0～Vinim，順次輸出到模擬信號輸出部30中。此時，其基準數(shù)字信號，在模擬信號輸出部30中被變換為模擬信號，從各驅(qū)動晶體管4-1～4-n輸出到各圖像輸出端子1-1～1-n中。從各驅(qū)動晶體管4-1～4-n輸出的模擬信號，被信號切換部40順次選擇，輸入到δ-∑調(diào)制器9中進行δ-∑調(diào)制。而且，生成的1位的數(shù)字調(diào)制信號，被輸入到修正信號處理電路11中。
修正信號處理電路11，具備十抽一濾波器，通過對輸入的1位數(shù)字調(diào)制信號進行十抽一處理，對規(guī)定位數(shù)的數(shù)字信號(相當于將圖像輸出端子1的輸出電壓進行數(shù)字化)進行解調(diào)。通過進行十抽一，可消除量子化誤差，得到非常高精度的數(shù)字電壓值。還有，此十抽一濾波器，例如可由圖9所示的FIR濾波器構(gòu)成。用于進行十抽一的構(gòu)成不限于此，也可采用DSP(Digital Signal Processor)或其他的構(gòu)成。
這樣，修正信號處理電路11，通過從δ-∑調(diào)制器9接收1位數(shù)字調(diào)制信號，進行解調(diào)，測量出對應初期輸出數(shù)據(jù)Vinit0～Vinitm的各值的各圖像輸出端子1-1～1-n的輸出電壓值D(D10～Dnm)。
圖6是表示測量數(shù)據(jù)D(D10～Dnm)的構(gòu)成例的圖。如圖6所示，測量數(shù)據(jù)D10～Dnm，將從修正信號處理電路11來的初期輸出數(shù)據(jù)Vinit0～Vinitm，逐次輸出到模擬信號輸出部30時，通過δ-∑調(diào)制器9，測出與各圖像輸出端子1-1～1-n相對的數(shù)字電壓值。例如，當初期輸出數(shù)據(jù)Vinit0輸出到模擬信號輸出部30時，由δ-∑調(diào)制器9，測出與各圖像輸出端子1-1～1-n相對應的數(shù)字電壓值為D10～Dn0，當初期輸出數(shù)據(jù)Vinitm輸出到模擬信號輸出部30時，由δ-∑調(diào)制器9，測出與各圖像輸出端子1-1～1-n相對的數(shù)字電壓值為D1m～Dnm。
還有，也可從修正信號處理電路11、通過多回向模擬信號輸出部30輸出初期輸出數(shù)據(jù)Vinit0～Vinitm，由δ-∑調(diào)制器9測出與各圖像輸出端子1-1～1-n相對的數(shù)字電壓值分別平均化后的結(jié)果作為測量數(shù)據(jù)D10～Dnm。例如，關(guān)于測量數(shù)據(jù)D10，通過多回輸出初期輸出數(shù)據(jù)Vinit0，圖像輸出端子1-1的電壓值被測量了多回，所以可將其平均值作為測量數(shù)據(jù)D10。這樣，通過進行平均化處理，能夠抑制在測量數(shù)據(jù)D10～Dnm上附加驅(qū)動裝置53內(nèi)的隨機噪聲的不良情況。
接著，修正信號處理電路11，根據(jù)取得的初期輸出數(shù)據(jù)Vinit0～Vinitm和與此相對應的測量數(shù)據(jù)D10～Dnm的差值，生成修正數(shù)據(jù)C(C10～Cnm)，并將此存儲在修正數(shù)據(jù)存儲電路10中。圖7是表示修正數(shù)據(jù)C10～Cnm的構(gòu)成例的圖。如圖7所示，修正數(shù)據(jù)C10～Cnm，相當于是從各測量數(shù)據(jù)D10～Dnm上減去相對應的初期輸出數(shù)據(jù)Vinit0～Vinitm的數(shù)字電壓值。例如，從測量數(shù)據(jù)D10上減去初期輸出數(shù)據(jù)Vinit0，在驅(qū)動電路53上，會變?yōu)檩斎牒统跗谳敵鰯?shù)據(jù)Vinit0相同的電壓的數(shù)字信號時的與圖像輸出端子1-1相對的修正量C10。同樣，從測量數(shù)據(jù)Dnm減去初期輸出數(shù)據(jù)Vinitm，在驅(qū)動電路53中，會變?yōu)檩斎牒统跗谳敵鰯?shù)據(jù)Vinitm相同的電壓的數(shù)字信號時的與圖像輸出端子1-n相對的修正量Cnm。
修正數(shù)據(jù)C，對于初期輸出數(shù)據(jù)Vinit0～Vinitm的變化的測量數(shù)據(jù)D10～Dnm的變化，也可用k次曲線(k為1以上、(m+1)以下的任意的整數(shù))近似，從該近似曲線上求得。例如，考慮用2次曲線(y＝ax2+bx+c)近似時，此時，例如，對于圖像輸出端子1-1中的初期輸出數(shù)據(jù)Vinit0～Vinitm的變化的測量數(shù)據(jù)D10～Dnm的變化，可用下式表示。
D10＝aVinit02+bVinit0+cD11＝aVinit12+bVinit1+c…D1m＝aVinitm2+bVinitm+c修正信號處理電路11，從這些多個式子，求得3個系數(shù)a、b、c。還有，當對于初期輸出數(shù)據(jù)Vinit0～Vinitm的變化的測量數(shù)據(jù)D10～D1m的變化不能用2次曲線近似時，用3次曲線或其以上的k次曲線近似，求出其系數(shù)。
對于其他圖像輸出端子1-2～1-n中的初期輸出數(shù)據(jù)Vinit0～Vinitm的變化的測量數(shù)據(jù)D20～Dnm的變化，同樣地用k次曲線近似，求出其系數(shù)。近似曲線的次數(shù)k，可能會每個各圖像輸出端子1-1～1-n都不同。
修正信號處理電路11，如果要求得每個各圖像輸出端子1-1～1-n的近似曲線，就要在其近似的曲線式上代入多個等級的電壓值V0～VM，通過運算從得到的近似值上減去該電壓值V0～VM，生成修正數(shù)據(jù)C(C10～CnM)。
圖8是表示象上述那樣從近似曲線上求得修正數(shù)據(jù)C10～CnM的構(gòu)成例的圖。如圖8所示，修正數(shù)據(jù)C10～CnM相當于以測量數(shù)據(jù)D10～Dnm為基礎(chǔ)、從近似曲線求得的近似值上減去輸入電壓值V0～VM后的數(shù)字電壓值。例如，從m個測量數(shù)據(jù)D10～D1m求得的M個近似值上，分別減去對應的輸入電壓值V0～VM，在驅(qū)動電路53上，就變成了輸入和電壓值V0～VM相同電壓的數(shù)字信號時的與圖像輸出端子1-1相對的修正量C10～C1M。同樣的，從m個測量數(shù)據(jù)Dn0～Dnm求得的M個近似值上，分別減去對應的輸入電壓值V0～VM，在驅(qū)動電路53上，就變成了輸入和電壓值V0～VM相同電壓的數(shù)字信號時的與圖像輸出端子1-n相對的修正量Cn0～CnM。
還有，此時的輸入電壓值V0～VM也可在輸入到驅(qū)動裝置53的數(shù)字圖像信號的大(電壓值)的范圍內(nèi)設定，其數(shù)量及其間隔等，可根據(jù)求得的精度，從未圖示的外部控制端子上進行任意的設定。通過使m＜M，可使修正數(shù)據(jù)的分辨率更大，變成更高精度的修正。另外，如果增多從最初來的初期輸出數(shù)據(jù)Vinit0～Vinitm的數(shù)量，測量時需要很多的時間，但減少初期輸出數(shù)據(jù)Vinit0～Vinitm的數(shù)量，通過運算求得比其多的M個的近似值，可縮短測量時間。
圖10是表示對于從δ-∑調(diào)制器9輸出的1位數(shù)字調(diào)制信號，通過修正信號處理電路11實行十抽一及平均化處理的結(jié)果例的圖。在圖10中，十抽一前1位數(shù)字調(diào)制信號的采樣點，是時間軸方向的虛線上表示的各時間點，十抽一后的采樣點是用箭頭表示的各時間點。
圖中[×]表示的點是對于如圖4(A)所示的理想的線性輸入信號的δ-∑調(diào)制信號，進行十抽一處理及平均化處理后的結(jié)果的電壓值，這是相當于初期輸出數(shù)據(jù)Vinit0～Vinitm的值。另外，圖中[○]表示的點，是對于如圖4(B)所示的理想的線性輸入信號的δ-∑調(diào)制信號，進行十抽一處理及平均化處理后的結(jié)果的電壓值，這是相當于例如關(guān)于圖像輸出端子1-1的測量數(shù)據(jù)D10～D1m的值。圖10中，線a及線b是分別近似了[×]、[○]所示的電壓值的變化的近似曲線。另外，線c的長度相當于十抽一后的1個采樣點的修正量。使用近似曲線時，獲取修正量的采樣點，未必需要和[×]點一致，可在任意的位置上獲取(如上所述，對于比m個多的M個采樣點，可求得修正數(shù)據(jù)C10～C1M)。
線a相當于無電氣特性的差異的場合的輸出電壓值的變化，所以修正量對于所有的輸入電壓值都是“0”。與此相對，線b包含非線性的差異。因此，通過線c表示的修正量進行修正，可減少由差異引起的輸出電壓值的誤差。
如上所述，減小晶體管的尺寸，在各圖像輸出端子1-1～1-n的輸出電壓值上就會產(chǎn)生非線性，象本實施方式那樣，輸入多個等級的初期輸出數(shù)據(jù)Vinit0～Vinitm，通過求得修正數(shù)據(jù)C(C10～Cnm或C10～C1M)，可實現(xiàn)比只由偏置和增益進行的線性修正精度更好的修正。
如上的修正數(shù)據(jù)的生成，也可在液晶顯示裝置S中安裝驅(qū)動裝置53的狀態(tài)下進行。此時，由連接驅(qū)動裝置53的圖像輸出端子1的顯示部51所具備的TFT晶體管、容量的電氣特性的差異而引起的誤差，也都被到反映圖像輸出端子1的模擬信號中，所以可用含有由此顯示部51的差異引起的誤差的形狀，生成修正數(shù)據(jù)。
還有，這里針對在修正數(shù)據(jù)存儲電路10上存儲的修正數(shù)據(jù)C的例子進行了說明，也可如圖11所示，存儲k次近似曲線的系數(shù)數(shù)據(jù)A，在數(shù)字圖像信號修正時、用此系數(shù)數(shù)據(jù)A，從k次近似曲線上計算其適合的修正數(shù)據(jù)C。此時，如上所述，近似曲線的次數(shù)k，會使每個各圖像輸出端子1-1～1-n不同。另外，近似曲線的次數(shù)k，也可能使圖10中每個[○]所示的采樣點間不同(每個采樣點間采用不同的近似曲線)。還有，作為近似曲線，也可使用指數(shù)函數(shù)、對數(shù)函數(shù)。
另外，利用存儲在修正數(shù)據(jù)存儲電路10中的修正數(shù)據(jù)C、進行反復的修正，也可驗證修正的程度。當誤差不收斂在規(guī)定范圍內(nèi)時，可能會在可收斂的范圍內(nèi)失去了精度、或輸出了異常的信號。
在此種情況的驗證處理中，輸入初期輸出數(shù)據(jù)Vinit時，根據(jù)利用修正數(shù)據(jù)C求得的測量數(shù)據(jù)D，還可計算對于初期輸出數(shù)據(jù)Vinit的修正量，既在生成的修正數(shù)據(jù)C上加進新計算的修正量，進行修正。這樣，當由求得的新的修正數(shù)據(jù)C組成的修正程度還不收斂在規(guī)定的收斂范圍內(nèi)時，可以再進行修正數(shù)據(jù)C的修正。
如上所述，通常電源投入時、自動的進行修正數(shù)據(jù)C的生成。修正數(shù)據(jù)生成后的通常動作時，以δ-∑調(diào)制器9不動作的方式進行控制。另外，信號切換部40的模擬開關(guān)3-1～3-n也全都處于非選擇狀態(tài)。此時，輸入到輸入鎖存電路8中的數(shù)字圖像信號，根據(jù)存儲在修正數(shù)據(jù)存儲電路10中的修正數(shù)據(jù)，由修正信號處理電路11修正，此數(shù)字修正信號被輸出到鎖存電路6中。而且，從鎖存電路6輸出的數(shù)字修正信號，變成了到D/A變換器5-1～5-n的輸入數(shù)據(jù)，使到各圖像輸出端子1-1～1-n的模擬圖像信號的電壓值被控制成最佳值。
其次，針對驅(qū)動裝置53及顯示部54的檢查、評價方法進行說明。在進行驅(qū)動裝置53本身的檢查及評價時，在驅(qū)動裝置53不安裝在液晶顯示裝置S的狀態(tài)(圖像輸出端子1處于打開的狀態(tài))下進行。例如，驅(qū)動裝置53的LSI，在構(gòu)成于晶片上的狀態(tài)下，進行該晶片的檢查及評價。
圖12是表示進行晶片的檢查、評價時的測試系統(tǒng)構(gòu)成例的圖。圖12所示的測試系統(tǒng)，其構(gòu)成具備實行數(shù)據(jù)處理的個人計算機90、數(shù)字式的簡易測試器91、探測卡92、探測器93。簡易測試器91，例如由比δ-∑調(diào)制器9的時鐘周期的測量波動小的數(shù)字示波器或邏輯分析器構(gòu)成。
這種簡易的測試器91具備十抽一濾波器，對于從δ-∑調(diào)制器9來的、通過δ-∑調(diào)制輸出端子2輸入的1位數(shù)字調(diào)制信號，通過實行十抽一處理，對規(guī)定位數(shù)的數(shù)字信號(相當于將圖像輸出端子1的輸出電壓進行數(shù)字化)進行解調(diào)。通過實行十抽一處理，可消除量子化誤差，得到非常高精度的數(shù)字電壓值。還有，此十抽一濾波器，例如可由圖9所示的FIR濾波器構(gòu)成。用于進行十抽一的構(gòu)成并不限于此，也可由DSP或其他構(gòu)成。
利用這樣構(gòu)成的測試系統(tǒng)，進行驅(qū)動裝置53的檢查、評價時，探測卡92的針92a連接包含δ-∑調(diào)制輸出端子2的數(shù)根端子。另外，用于修正驅(qū)動電路53內(nèi)部的各晶體管的電氣特性的差異引起的誤差的修正數(shù)據(jù)要預先生成，在修正數(shù)據(jù)存儲電路10中，處于寫入的狀態(tài)。
首先，通過驅(qū)動裝置53的輸入鎖存電路8，輸入規(guī)定的測試曲線。被輸入到鎖存電路8中的測試曲線的數(shù)字圖像信號，在信號處理部10中被修正數(shù)據(jù)修正后，通過D/A變換器5變成模擬圖像信號。此模擬圖像信號，通過驅(qū)動晶體管4及信號切換部40，輸入到δ-∑調(diào)制器9中。而且，在此生成的1位δ-∑調(diào)制信號，從δ-∑調(diào)制輸出端子2輸出到簡易測試器91中。還有，從δ-∑調(diào)制輸出端子2輸出的數(shù)字信號，根據(jù)驅(qū)動裝置53的規(guī)格，由串行或并行方式輸入到簡易測試器91而構(gòu)成。
在簡易測試器91中，通過探測卡92接收從δ-∑調(diào)制輸出端子2輸出的1位的δ-∑調(diào)制信號。在此簡易測試器91中，從δ-∑調(diào)制輸出端子2，通過探測卡92輸入的1位數(shù)字調(diào)制信號的脈沖波形，以能在顯示器上觀察那樣顯示。另外，在該脈沖波形上實施解調(diào)處理等的數(shù)字信號處理，測量被解調(diào)的數(shù)字電壓值。
此時，當測量電壓值從本來應該輸出的電壓值(測試曲線的電壓值)上偏離到規(guī)定值以上(通過修正數(shù)據(jù)，不能進行充分的修正的情況)時，其驅(qū)動裝置53將被判定為不良品。另外，即使測量電壓值偏離，但如果是在可修正的范圍內(nèi)的偏離，則被判定為具有利用的可能。δ-∑調(diào)制器9，其動作也存在不良的情況，此種情況δ-∑調(diào)制信號不能輸出或波形脈沖異?；靵y，所以可通過觀測的結(jié)果，作為不良品進行處理。
這里，為了和以上那樣的由本實施方式組成的測試系統(tǒng)相比較，針對以往的測試系統(tǒng)進行說明。圖18是簡略的表示以往的測試系統(tǒng)的模式圖。此圖18表示了用于進行構(gòu)成于晶片上的驅(qū)動LSI的檢查、評價的測試系統(tǒng)的構(gòu)成例。此測試系統(tǒng)其構(gòu)成大致分為工作站100、測試器本身101、測試頭102、探測卡103、探測器104。在探測卡103上配置了多個針103a。
在多管腳輸出像顯示裝置的驅(qū)動LSI代表的那樣的圖像信號的半導體電路中，可同時測量輸出值的個數(shù)被探測卡103的針103a的個數(shù)限制。測試價格相當于和1個LSI的測試時間成比例，所以在針103a的數(shù)量以上、如果管腳數(shù)增大則測試價格也增大。因此，為抑制測試價格，同時測量多管腳的輸出值的對應多管腳的測試系統(tǒng)就變得很必需。
在如圖18所示的測試系統(tǒng)中，通過在測試卡103上配置對應驅(qū)動LSI的輸出端子(管腳)數(shù)的針103a，在驅(qū)動LSI的每1個管腳，都使用測量電路、信號輸出電路。即最近探測卡103的針103a已超過了100管腳。如果是1000管腳，則1000個管腳的信號在測試器本身101、測試頭102、探測卡103之間獲得。因此，這樣的對應多管腳的測試系統(tǒng)將變成非常大型規(guī)模的構(gòu)成。
另外，驅(qū)動LSI的多管腳化及微細化進展，輸出端子間的間距將更加狹窄。此時，具有對應其間距的針103a的探測卡103的制作變得很困難，同時檢查本身也變得很難，導致檢查的可靠性的下降。另外，如果不能作出對應驅(qū)動LSI的超微細管腳間距的探測卡103，則對于1個驅(qū)動LSI，就必需進行多回的測試，會增大測試的價格。
在上述專利文獻3中記載的技術(shù)中，也記載了使從驅(qū)動LSI的多個輸出端子輸出的信號，與規(guī)定個的輸出端子相對，從用1個比例設計的檢查端子向外部別處輸出的情況。根據(jù)此專利文獻3，在1個檢查端子和規(guī)定個輸出端子之間配置各個開關(guān)，將在出端子出現(xiàn)的圖像信號，通過開關(guān)電路順次選擇，輸出到檢查端子中。通過這樣的構(gòu)成，不必對多個端子的全部都接觸器管腳，可通過檢查端子輸出的圖像信號進行檢查。因此，也能適應驅(qū)動LSI的多管腳化。
然而，在專利文獻3中記載的技術(shù)，由于從檢查端子輸出的信號是模擬信號，作為檢查裝置，必須使用模擬測試器。因此，存在測試系統(tǒng)大規(guī)模的問題。另外，輸出信號上易進入噪聲成分，還存在很難實現(xiàn)高精度的檢查、評價的問題。
與此相對，在如圖12所示的本實施方式的例子中，沒有使用以往的測試系統(tǒng)中所用的那樣的具有多數(shù)針的探測卡，每1個驅(qū)動LSI，都使用具有的非常少數(shù)量的針(此例的情況為10針)的探測卡92，進行檢查、評價。這是因為電氣布線的短路/開路、阻抗值、容量值、晶體管特性等的檢查，不是利用從多數(shù)的圖像輸出端子1來的輸出實現(xiàn)的、而是利用從1個δ-∑調(diào)制輸出端子2來的輸出實現(xiàn)的。
這樣，通過本實施方式，用1位的數(shù)字信號線能夠進行超多管腳的模擬圖像信號的檢查、評價。另外，因為處理的信號是數(shù)字信號，所以不需要模擬型的測試器，可用非常簡略化的簡易測試器91和個人計算器90來進行檢查、評價。另外，輸入到簡單測試器91中的檢查信號是數(shù)字信號，所以很難受噪聲的影響，從而可進行高精度的檢查、評價。
驅(qū)動裝置53的檢查、評價，在該驅(qū)動裝置53安裝在液晶顯示裝置S的狀態(tài)下也能進行。如果驅(qū)動裝置53安裝在液晶顯示裝置S上，則連接驅(qū)動裝置53的圖像輸出端子的顯示部51具備的TFT晶體管、容量電氣特性的差異引起的誤差，也被反映到模擬圖像信號中。因此，通過將此模擬圖像信號用δ-∑調(diào)制器9進行δ-∑調(diào)制后的1位的數(shù)字調(diào)制信號，作為檢查信號讀出，也可同時進行顯示部51的檢查、評價。
圖13是表示安裝了驅(qū)動裝置53的液晶顯示裝置S的檢查、評價時的測試系統(tǒng)的構(gòu)成例的圖。在進行液晶顯示裝置S的檢查、評價時，在驅(qū)動電路53的修正數(shù)據(jù)存儲電路10中，用于修正驅(qū)動電路53內(nèi)的各晶體管的電氣特性的差異、加上顯示部51內(nèi)的TFT晶體管、容量的電氣特性的差異而引起的誤差的修正數(shù)據(jù)要預先生成，并存儲。
如圖13所示，液晶顯示裝置S的檢查、評價也可用簡單測試器91和個人計算機90實現(xiàn)。向簡易測試器9上，輸入測試曲線到輸入鎖存電路8時，由δ-∑調(diào)制器9生成的1位數(shù)字調(diào)制信號，可只從δ-∑調(diào)制輸出端子2輸入。此時，在簡易測試器91上，根據(jù)1位δ-∑調(diào)制信號測量出的電壓值，從本來應該輸出的電壓值上偏離到規(guī)定值以上時，其液晶顯示裝置將被判別為不良品。另外，即使測量電壓值偏離，如果是在可修正的范圍內(nèi)的偏離，將被判別為具有利用的可能。
還有，如圖13那樣，在驅(qū)動裝置53安裝在液晶顯示裝置S的狀態(tài)下，例如，也可由信號處理部20產(chǎn)生脈沖信號，使其通過鎖存電路6、D/A變換器5、驅(qū)動晶體管4，輸出到圖像輸出端子1中，測量顯示部51的像素容量。給圖像輸出端子1施加脈沖信號，通過δ-∑調(diào)制器9測量其過渡特性，可測量連接各圖像輸出端子1-1～1-n的顯示部51內(nèi)的容量和阻抗的積(時間常數(shù))的差異。此種情況，當要測量的時間間隔短時，變化δ-∑調(diào)制器9的時鐘速度。
如以上詳細說明所述，在本實施方式的驅(qū)動裝置53中，將從多數(shù)的圖像輸出端子1-1～1-n輸出的模擬圖像信號，通過δ-∑調(diào)制器9，變換成1位的數(shù)字調(diào)制信號，并將其通過1根布線，輸出到修正信號處理電路11及δ-∑調(diào)制輸出端子2中。因此，在減少布線數(shù)、降低制造價格的同時，也使驅(qū)動裝置53可小型化。
另外，通過本實施方式，也能提高數(shù)字圖像信號的修正精度。也就是說，由于δ-∑調(diào)制器9和驅(qū)動裝置53安裝在同一半導體芯片內(nèi)，所以和模擬信號被輸出到半導體芯片的外部、進行A/D變換的場合相比，能夠減少噪聲所引起的信號精度劣化的不良情況。
另外，作為驅(qū)動裝置53的構(gòu)成，代替δ-∑調(diào)制器9，簡單配置A/D變換器，在將其數(shù)字輸出供給修正信號處理電路11那樣的構(gòu)成的情況下，被反饋輸入到修正信號處理電路11中的數(shù)字圖像信號的精度，通過A/D變換器的精度而定。與此相對，在本實施方式的驅(qū)動裝置53中，由于使用了δ-∑調(diào)制器9，所以并不被A/D變換器的位數(shù)所限定，可提高修正數(shù)據(jù)的計算的自由度。另外，由于構(gòu)成δ-∑調(diào)制器9的時鐘速度可變更地設定，所以可通過設定δ-∑調(diào)制器9的時鐘速度為高速，提高時間分辨率，提高1位數(shù)字調(diào)制信號的S/N比。由此，可得到高精度的修正數(shù)據(jù)。
另外，通過本實施方式，也能提高檢查精度。即探測卡的針可只有對應包含δ-∑調(diào)制輸出端子2的數(shù)個左右的輸出管腳的數(shù)量。由此，既能加大探測器管腳的間距，也能確實連接到δ-∑調(diào)制輸出端子2上。另外，從δ-∑調(diào)制輸出信號端子2輸出的信號是數(shù)字信號，所以和輸出模擬信號的情況相比，可減少由噪聲引起的信號精度下降的不良情況，實現(xiàn)高精度的檢查、評價。
另外，作為驅(qū)動裝置53的構(gòu)成，利用了δ-∑調(diào)制器9，且其構(gòu)成的時鐘速度可進行設定變更，所以和單單利用A/D變換器的場合不同，不受位數(shù)限定，可得到高精度的檢查信號。也就是說，通過變更δ-∑調(diào)制器9的時鐘速度，可用外部的檢查裝置檢測出對應檢查精度的1位的數(shù)字調(diào)制信號。通過高速設定δ-∑調(diào)制器9的時鐘速度，提高時間分辨率，提高檢查信號的S/N比。
還有，通過本實施方式，也可使檢查裝置的構(gòu)成更簡單。即如上所述，探測卡的針可只有對應包含δ-∑調(diào)制輸出端子2的數(shù)個左右的輸出管腳的數(shù)量。另外，從δ-∑調(diào)制輸出端子2輸出的信號是數(shù)字信號，容易實現(xiàn)對于信號的劣化、噪聲的處理，不需要通過高價的模擬型的測試器構(gòu)成的大規(guī)模的檢查裝置。
還有，在上述實施方式中，作為信號切換部40，針對利用晶體管等的模擬開關(guān)的例子進行了說明，但不限于此例。例如，如圖14所示，信號切換部40上也可使用模擬存儲器41(41-1～41-n)。即使是這樣的構(gòu)成，也可將從各圖像輸出端子1-1～1-n來的輸出模擬圖像信號，有選擇的輸入到δ-∑調(diào)制器9中。另外，此時也可代替驅(qū)動晶體管4(4-1～4-n)，利用電壓跟隨電路。
另外，在上述實施方式中，從鎖存電路6來的輸出，通過D/A變換器5及驅(qū)動晶體管4，輸出到圖像輸出端子1中，但并不限定于此例。例如，如圖15所示，也可通過連接灰度電壓源31的多個模擬信號切換器(多路轉(zhuǎn)換器)32(32-1～32-n)，構(gòu)成向圖像輸出端子輸出模擬圖像信號。
這樣，在構(gòu)成了驅(qū)動裝置53的情況下，利用灰度電壓源31及模擬信號切換器32的D/A變換，象如下那樣實行。也就是說，輸入到鎖存電路8中的數(shù)字圖像信號，被轉(zhuǎn)送到修正信號處理電路22中，這里根據(jù)存儲在修正數(shù)據(jù)存儲電路21內(nèi)的修正數(shù)據(jù)C、實施修正后，其數(shù)字修正信號被輸出到鎖存電路6中。從鎖存電路6，對應各圖像輸出端子1-1～1-n的數(shù)字修正信號被輸出到模擬信號切換器32-1～32-n中。而且，對應其數(shù)字修正信號值的灰度電壓，從灰度電壓源31供給模擬信號切換器32-1～32-n，輸出到圖像輸出端子1-1～1-n中。
在此圖15所示的例子的情況下，修正信號處理電路22，生成用于修正灰度電壓源31的各灰度電壓V1～Vi的差異所引起的誤差的修正數(shù)據(jù)，和用于修正各模擬信號切換器32-1～32-n的差異引起的誤差的修正數(shù)據(jù)，存儲到修正數(shù)據(jù)存儲電路21中。修正信號處理電路22，在進行灰度電壓V1～Vi的差異的修正(所有修正)的同時，對于從輸入鎖存電路8供給的數(shù)字圖像信號，進行圖像輸出端子1-1～1-n間的差異的修正(不匹配修正)。通過進行灰度電壓源31的修正，可修正作為多個圖像輸出端子1-1～1-n間的共同的偏離的灰度電壓V1～Vi的差異。
圖16是表示驅(qū)動裝置53如圖15那樣構(gòu)成的情況下，在生成修正數(shù)據(jù)時求得的測量數(shù)據(jù)的構(gòu)成例的圖。圖16(A)表示在生成用于不匹配修正的修正數(shù)據(jù)時，通過δ-∑調(diào)制器9測量的測量數(shù)據(jù)D10～Dnm。此測量數(shù)據(jù)和圖6所示的測量數(shù)據(jù)D10～Dnm用同樣的方法求得。
另一方面，圖16(B)表示在生成用于所有修正的修正數(shù)據(jù)時，通過δ-∑調(diào)制器9測量的測量數(shù)據(jù)D11’～Dli’。如圖16(B)所示，所有修正用的測量數(shù)據(jù)D11’～Dli’，從修正信號處理電路22，作為基準數(shù)字信號，逐次輸出多個等級的初期輸出數(shù)據(jù)Vgradl～Vgradi(灰度電壓的理想值)到模擬信號輸出部30時，例如輸出到圖像輸出端子1-1的模擬信號是通過δ-∑調(diào)制器9進行δ-∑調(diào)制后的測量的數(shù)字電壓值。還有，這里使用了圖像輸出端子1-1，也可使用其他的圖像輸出端子1-2～1-n。另外，也可利用多個圖像輸出端子1-1～1-n測量的各個電壓值進行平均化。
修正信號處理電路22，根據(jù)圖16(A)所示的不匹配修正用的測量數(shù)據(jù)D10～Dnm，求得近似曲線或不必求近似曲線，計算圖7或圖8那樣的修正數(shù)據(jù)C。另外，可根據(jù)獲取如圖16(B)所示的所有修正用的測量數(shù)據(jù)D11’～D1i’和初期輸出數(shù)據(jù)Vgradl～Vgradi的差值，計算如圖7那樣的修正數(shù)據(jù)C’。對于所有修正用的修正數(shù)據(jù)C’，也可和不匹配修正用的修正數(shù)據(jù)C相同，從測量數(shù)據(jù)D11’～D1i’求得近似曲線，根據(jù)近似曲線，計算修正數(shù)據(jù)C’。
這樣的修正數(shù)據(jù)C、C’，最佳方式是先求得所有修正用的修正數(shù)據(jù)C’，利用修正后的灰度電壓V1～Vi，從后面求得不匹配用的修正數(shù)據(jù)C。另外，也可反復進行所有修正用的修正數(shù)據(jù)C’的計算和不匹配用修正數(shù)據(jù)C的計算。這樣，可提高兩修正數(shù)據(jù)C、C’的精度。修正信號處理電路22，將這樣求得的修正數(shù)據(jù)C、C’存儲到修正數(shù)據(jù)存儲電路21中。而且，根據(jù)修正數(shù)據(jù)C，進行不匹配修正。
另外，在上述實施方式中，通過δ-∑調(diào)制器9輸出的信號是應該從輸出圖像輸出端子1輸出的模擬圖像信號，但并不限于此。也就是說，也可是將連接驅(qū)動裝置53的其他的模擬電路供給的模擬信號、應該輸出到其他模擬電路的模擬信號，通過δ-∑調(diào)制器9，作為數(shù)字信號進行輸出的那樣構(gòu)成。
另外，在上述實施方式中，針對適用于電壓驅(qū)動型的液晶顯示裝置S的例子進行了說明，但也可能是適用于電流驅(qū)動型的有機EL顯示裝置。其他，也可能是適用于等離子顯示裝置、表面電場顯示裝置等的其他的顯示裝置。
其他，上述實施方式，只不過表示了對應任何實施本發(fā)明的具體化的一例，因此，本發(fā)明的技術(shù)范圍不被限定的解釋。也就是說，本發(fā)明只要不從其精神或其主要的特征脫離，可用各種各樣的形態(tài)實施。
(產(chǎn)業(yè)上的可用性)本發(fā)明對像驅(qū)動液晶顯示裝置、有機EL顯示裝置、等離子顯示裝置、表面電場顯示裝置等的顯示裝置的LSI等那樣的，具有多個模擬輸出端子的驅(qū)動裝置、利用該驅(qū)動裝置的顯示裝置、及驅(qū)動裝置或顯示裝置的檢查方法有效。
權(quán)利要求
1.一種顯示裝置的驅(qū)動裝置，具有多個輸出端子，從該多個輸出端子輸出模擬信號，其特征在于，具備輸入對應上述多個輸出端子的數(shù)字信號，根據(jù)對應信號大小的修正數(shù)據(jù)，輸出修正后的數(shù)字修正信號的信號處理部；根據(jù)從上述信號處理部輸出的數(shù)字修正信號，產(chǎn)生模擬信號，分別輸出到上述多個輸出端子的模擬信號輸出部；與上述多個輸出端子相連接、順次選擇從上述模擬信號輸出部來的模擬信號的信號切換部；和δ-∑調(diào)制由上述信號切換部選擇的模擬信號，將被δ-∑調(diào)制過的1位數(shù)字調(diào)制信號輸出到上述信號處理部的δ-∑調(diào)制調(diào)制部，上述信號處理部，將多個等級大小的基準數(shù)字信號，順次輸出到上述模擬信號輸出部，從上述δ-∑調(diào)制部輸入與上述基準數(shù)字信號相對應的1位數(shù)字調(diào)制信號，進行解調(diào)的同時，具有根據(jù)該解調(diào)信號和上述基準數(shù)字信號，計算上述修正數(shù)據(jù)的功能和根據(jù)上述修正數(shù)據(jù)進行修正的功能。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示裝置的驅(qū)動裝置，其特征在于，上述模擬信號輸出部，其具備將與上述多個輸出端子相對應的的數(shù)字信號，分別變換為模擬信號的多個D/A變換器。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示裝置的驅(qū)動裝置，其特征在于，上述模擬信號輸出部，其具備根據(jù)與上述多個輸出端子相對應的數(shù)字信號，分別輸出灰度電壓的多個模擬信號切換部；和向上述多個模擬信號切換部供給灰度電壓的灰度電壓源。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的顯示裝置的驅(qū)動裝置，其特征在于，上述信號處理部，按照根據(jù)與上述多個等級的大小的基準數(shù)字信號相對的上述解調(diào)信號，計算灰度電壓修正用的修正數(shù)據(jù)的方式構(gòu)成。上述灰度電壓源，根據(jù)由上述信號處理部計算的上述灰度電壓修正用的修正數(shù)據(jù)，可調(diào)整上述灰度電壓而構(gòu)成。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示裝置的驅(qū)動裝置，其特征在于，上述信號處理部，根據(jù)對于上述多個等級的大小的基準數(shù)字信號的上述解調(diào)信號的變化，計算近似曲線，根據(jù)該近似曲線，計算上述修正數(shù)據(jù)。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的顯示裝置的驅(qū)動裝置，其特征在于，上述信號處理部，根據(jù)對于上述多個等級的大小的基準數(shù)字信號的上述解調(diào)信號的變化，計算近似曲線，根據(jù)該近似曲線，計算上述灰度電壓修正用的修正數(shù)據(jù)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示裝置的驅(qū)動裝置，其特征在于，上述信號處理部，利用多次輸出上述多個等級大小的基準數(shù)字信號所生成的多次解調(diào)信號的平均值，計算上述修正數(shù)據(jù)。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示裝置的驅(qū)動裝置，其特征在于，上述修正數(shù)據(jù)，對應上述多的輸出端子進行分別計算。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示裝置的驅(qū)動裝置，其特征在于，上述信號切換部，由晶體管組成的開關(guān)或模擬存儲器構(gòu)成。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示裝置的驅(qū)動裝置，其特征在于，上述δ-∑調(diào)制部，使時鐘速度可變更地而構(gòu)成。
11.根據(jù)權(quán)利要求1～10中的任一項所述的顯示裝置的驅(qū)動裝置，其特征在于，具備可輸出從上述δ-∑調(diào)制部來的1位數(shù)字調(diào)制信號的δ-∑調(diào)制輸出端子。
12.根據(jù)權(quán)利要求1～11中的任一項所述的顯示裝置的驅(qū)動裝置，其特征在于，上述信號處理部、上述模擬信號輸出部、上述信號切換部及上述δ-∑調(diào)制部，可構(gòu)成在同一個半導體IC上。
13.一種顯示裝置，是具備權(quán)利要求1～12中的任一項所述的驅(qū)動裝置的顯示裝置。
14.一種驅(qū)動裝置或顯示裝置的檢查方法，是從多個輸出端子輸出模擬信號的驅(qū)動裝置或具備該驅(qū)動裝置的顯示裝置的檢查方法，其特征在于，具備上述驅(qū)動裝置上，輸入測試曲線的測試曲線輸入步驟；順次切換連接在上述驅(qū)動裝置的多個輸出端子的信號切換器，根據(jù)上述測試曲線，順次獲取生成的模擬信號的模擬信號獲取步驟；將在上述模擬信號獲取步驟中取得的模擬信號，進行δ-∑調(diào)制的δ-∑調(diào)制步驟；將上述δ-∑調(diào)制步驟中生成的1位數(shù)字δ-∑調(diào)制信號，從檢查端子輸出到外部的δ-∑調(diào)制信號輸出步驟；獲取從上述檢查端子輸出的1位δ-∑調(diào)制信號，進行檢查或評價的檢查步驟。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的驅(qū)動裝置或顯示裝置的檢查方法，其特征在于，在上述測試曲線輸入步驟之后，包含根據(jù)修正數(shù)據(jù)修正上述測試曲線的步驟；在上述模擬信號獲取步驟中，根據(jù)由上述修正數(shù)據(jù)修正的測試曲線，獲取生成的模擬信號。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的驅(qū)動裝置或顯示裝置的檢查方法，其特征在于，在上述測試曲線輸入步驟之前，包含順次輸入多個等級大小的基準數(shù)字信號到上述驅(qū)動裝置中，由上述信號切換部依次獲得根據(jù)輸入的基準數(shù)字信號而生成的模擬信號，對上述的模擬信號進行δ-∑調(diào)制，獲取1位數(shù)字調(diào)制信號，根據(jù)上述多個等級的基準數(shù)字信號和上述1位數(shù)字調(diào)制信號的解調(diào)信號，計算上述修正數(shù)據(jù)的步驟。
全文摘要
具備修正輸入的數(shù)字圖像信號，輸出數(shù)字修正信號的信號處理部(20)；在多個圖像輸出端子(1)上，分別輸出模擬圖像信號的模擬信號輸出部(30)；順次選擇從模擬信號輸出部(30)來的模擬圖像信號的信號切換部(40)；δ－∑調(diào)制由信號切換部(40)選擇的模擬圖像信號，將生成的1位δ－∑調(diào)制信號，反饋輸入到信號處理部(20)的δ－∑調(diào)制器(9)。信號處理部(20)順次輸出初期輸出數(shù)據(jù)V
文檔編號G09G3/00GK1781136SQ200380110329
公開日2006年5月31日 申請日期2003年12月25日 優(yōu)先權(quán)日2003年12月25日
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