專利名稱：平面顯示裝置及平面顯示裝置的檢驗(yàn)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及平面顯示裝置及平面顯示裝置的檢驗(yàn)方法，例如可應(yīng)用于在絕緣襯底上一體形成驅(qū)動(dòng)電路的液晶顯示裝置。
背景技術(shù)：
近年來，作為例如PDA、移動(dòng)電話等便攜式終端裝置中所應(yīng)用的平面顯示裝置的液晶顯示裝置，是在作為構(gòu)成液晶顯示面板的絕緣襯底的玻璃襯底上，一體地形成液晶顯示面板的驅(qū)動(dòng)電路而成的。
在這樣的液晶顯示裝置中，由液晶晶元、作為該液晶晶元的開關(guān)元件的多晶硅TFT(Thin Film Transistor，薄膜晶體管)、保持電容形成各個(gè)像素。將所述像素呈矩陣狀配置，從而形成顯示部分；由配置在該顯示部分周圍的各種驅(qū)動(dòng)電路來驅(qū)動(dòng)顯示部分，從而顯示各種圖像。
在液晶顯示裝置中，即使這樣呈矩陣狀配置的多個(gè)像素中有一個(gè)產(chǎn)生缺陷，該有缺陷像素也能夠作為明亮的亮點(diǎn)被觀察到，從而顯著破壞顯示圖像的品質(zhì)。因此，在日本專利特開2002-221547號(hào)公報(bào)等中，提出了各種檢測(cè)這種有缺陷像素的方法。
然而，在這些液晶顯示裝置中，即使是通過出廠時(shí)的檢查沒有被檢測(cè)出有缺陷像素的顯示裝置，也可能會(huì)在市場(chǎng)上使用時(shí)產(chǎn)生有缺陷像素。因此，本申請(qǐng)的申請(qǐng)人利用加速檢驗(yàn)進(jìn)行篩除(screening)，從而可以在出廠檢驗(yàn)時(shí)就將這種會(huì)在市場(chǎng)上產(chǎn)生的有缺陷像素檢測(cè)出來。
即，如圖3所示，在液晶顯示裝置中，由液晶晶元2、多晶硅TFT3、保持電容4形成各個(gè)像素；并且該多晶硅TFT 3通過信號(hào)線(列向線)LC及柵線(行向線)LR分別連接到水平驅(qū)動(dòng)電路及垂直驅(qū)動(dòng)電路上。在篩除的檢驗(yàn)中，通過給保持電容4的信號(hào)線一側(cè)的相反側(cè)的電極的布線圖案所成的共用線COM施加如標(biāo)號(hào)A所示的脈沖狀的高電壓，從而可以把會(huì)在市場(chǎng)上成為有缺陷像素的像素，作為有缺陷像素事先檢測(cè)出來。另外，此處該脈沖狀電壓被設(shè)定為是通常的操作電壓的2倍，且峰值被設(shè)定為15V，并被設(shè)定為比無缺陷的、且在市場(chǎng)中也不會(huì)成為有缺陷像素的像素中的晶體管3和電容器4之間的耐壓Va還大。
因此，如圖4所示，在這種液晶顯示裝置1中，從給信號(hào)線LC預(yù)充電到預(yù)先規(guī)定電位的CS驅(qū)動(dòng)電路9而來的布線圖案經(jīng)由外部接線端T1、T2被臨時(shí)引出到外部。這樣，則可以將該布線圖案連接在預(yù)先規(guī)定的檢驗(yàn)裝置上，并執(zhí)行篩除檢驗(yàn)，而且還可以執(zhí)行各種不同的檢驗(yàn)。
即，在該圖4所示的液晶顯示裝置1中，由液晶晶元2、多晶硅TFT3、保持電容4形成的像素被呈矩陣狀配置在玻璃襯底10上，從而形成顯示部分11。并且該顯示部分11的信號(hào)線LC及柵線LR分別連接在水平驅(qū)動(dòng)電路12及垂直驅(qū)動(dòng)電路13上。此處，水平驅(qū)動(dòng)電路12和垂直驅(qū)動(dòng)電路13被形成在顯示部分11的周圍的玻璃襯底10上。水平驅(qū)動(dòng)電路12順次輸入表示各個(gè)像素色調(diào)的色調(diào)數(shù)據(jù)，并將各個(gè)像素的驅(qū)動(dòng)信號(hào)以行為單位順次輸出給顯示部分11，垂直驅(qū)動(dòng)電路13將用于選擇該水平驅(qū)動(dòng)電路12的輸出的選擇信號(hào)輸出給顯示部分11。因此，在液晶顯示裝置1中，由柵線LR選擇，并由信號(hào)線LC進(jìn)行驅(qū)動(dòng)呈矩陣狀配置而成的顯示部分的像素，從而在顯示部分11上顯示所需的圖像。
在液晶顯示裝置1中，通過是有源元件的晶體管所組成的開關(guān)電路15，可以切斷水平驅(qū)動(dòng)電路12和信號(hào)線LC的連接，而且通過類似的開關(guān)電路16可以將信號(hào)線LC連接到共用線COM上。因此，在液晶顯示裝置1中，分別將開關(guān)電路15及16設(shè)定為關(guān)斷狀態(tài)及導(dǎo)通狀態(tài)，并通過CS驅(qū)動(dòng)電路9給信號(hào)線LC預(yù)充電到預(yù)先規(guī)定的電壓，然后，將開關(guān)電路15及16分別切換為導(dǎo)通狀態(tài)及關(guān)斷狀態(tài)，從而可以驅(qū)動(dòng)各個(gè)像素。此外，根據(jù)幀反轉(zhuǎn)、行反轉(zhuǎn)等在液晶顯示裝置1中的驅(qū)動(dòng)形式，按預(yù)先規(guī)定的時(shí)間來執(zhí)行這樣的預(yù)充電。此外，在該圖4所示的結(jié)構(gòu)中，C是外部的電容器，18是墊(pad)電極。
篩除檢驗(yàn)是如下執(zhí)行的在切斷了接線端T1及T2之間的連接的狀態(tài)下，通過分別將用于預(yù)充電的開關(guān)電路15及16設(shè)定為關(guān)斷狀態(tài)及導(dǎo)通狀態(tài)，并像接線端T2上施加預(yù)先規(guī)定電壓，從而將保持電容4的兩端電壓設(shè)定為預(yù)先規(guī)定電壓，之后，將開關(guān)電路16設(shè)定為關(guān)斷狀態(tài)，并通過接線端T2施加如圖3所述的脈沖狀電壓。
但是，在這樣的檢驗(yàn)方法中，不僅保持電容4，而且開關(guān)電路16上也被施加了脈沖狀的高電壓。因此，在使用高耐壓晶體管時(shí)可以沒有任何問題地篩除，相反，在用于由低耐壓晶體管構(gòu)成的液晶顯示裝置1時(shí)，該篩除檢驗(yàn)會(huì)導(dǎo)致液晶顯示裝置的可靠性惡化的問題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是考慮以上問題而完成的，所以提出了一種即使在使用低耐壓晶體管時(shí)，也可以有效地避免可靠性的惡化，并能可靠地執(zhí)行有缺陷像素的篩除的平面顯示裝置及平面顯示裝置的檢驗(yàn)方法。
為解決這些問題，本發(fā)明的第一方案應(yīng)用于將顯示部分和驅(qū)動(dòng)電路一體形成在襯底上而成的平面顯示裝置中，其中所述顯示部分是將像素呈矩陣狀配置而成的，其中所述驅(qū)動(dòng)電路利用柵線選擇顯示部分的像素，并由信號(hào)線驅(qū)動(dòng)，從而在顯示部分顯示所需的圖像。在本發(fā)明的第一方案中，平面顯示裝置具有在預(yù)先規(guī)定的時(shí)間給信號(hào)線預(yù)充電的預(yù)充電電路，其中像素具有通過柵線選擇、由信號(hào)線的電位進(jìn)行充電的電容器，并且，至少電容器的信號(hào)線一側(cè)的相反側(cè)的電極所連接的電極一側(cè)的布線圖案與將信號(hào)線連接到所述預(yù)充電電路的信號(hào)線一側(cè)的布線圖案絕緣，并由襯底的外部連接到預(yù)充電電路上。
本發(fā)明的第二方案，應(yīng)用于將顯示部分和驅(qū)動(dòng)電路一體形成在襯底上而成的平面顯示裝置的檢驗(yàn)方法中，其中所述顯示部分是將像素呈矩陣狀配置而成的，其中所述驅(qū)動(dòng)電路利用柵線選擇顯示部分的像素，并由信號(hào)線驅(qū)動(dòng)，從而在顯示部分顯示所需的圖像。本發(fā)明的第二方案中，該平面顯示裝置具有在預(yù)先規(guī)定的時(shí)間給信號(hào)線預(yù)充電的預(yù)充電電路，所述電容器通過柵線選擇、由信號(hào)線的電位進(jìn)行充電，并且，至少電容器的信號(hào)線一側(cè)的相反側(cè)的電極所連接的電極一側(cè)的布線圖案與將信號(hào)線連接到預(yù)充電電路的信號(hào)線一側(cè)的布線圖案絕緣，并由襯底的外部連接到預(yù)充電電路上；平面顯示裝置的檢驗(yàn)方法是在將電極一側(cè)的布線圖案引出到襯底外部之處和將布線圖案連入預(yù)充電電路之處之間，施加脈沖狀的電壓，從而可檢測(cè)出像素的有缺陷之處。
根據(jù)本發(fā)明第一方案的結(jié)構(gòu)，若應(yīng)用于將顯示部分和驅(qū)動(dòng)電路一體形成在玻璃襯底上而成的平面顯示裝置中，其中所述顯示部分是將像素呈矩陣狀配置而成的，其中所述驅(qū)動(dòng)電路利用柵線選擇顯示部分的像素，并由信號(hào)線驅(qū)動(dòng)，從而在顯示部分顯示所需的圖像，且平面顯示裝置具有在預(yù)先規(guī)定的時(shí)間給信號(hào)線預(yù)充電的預(yù)充電電路，像素具有通過柵線選擇，由信號(hào)線的電位進(jìn)行充電的電容器，并且，至少電容器的信號(hào)線一側(cè)的相反側(cè)的電極所連接的電極一側(cè)的布線圖案與將信號(hào)線連接到所述預(yù)充電電路的信號(hào)線一側(cè)的布線圖案絕緣，并由襯底的外部連接到預(yù)充電電路上；則將信號(hào)線一側(cè)保持在預(yù)先規(guī)定的電位的狀態(tài)下，通過切斷外部連接之處并且在電極一側(cè)的布線圖案上施加脈沖狀的電壓，就可以不需在信號(hào)線一側(cè)施加高電壓而執(zhí)行篩除檢驗(yàn)。因此，對(duì)于信號(hào)線一側(cè)所設(shè)置的TFT等的有源元件，可以避免施加高電壓，從而即使在使用低耐壓有源元件時(shí)，也可以有效地避免可靠性的惡化，并能可靠地執(zhí)行有缺陷像素的篩除。
因此，若根據(jù)本發(fā)明的第二方案的結(jié)構(gòu)，則可以提供即使在使用低耐壓有源元件時(shí)，也可以有效地避免可靠性的惡化，并能可靠地執(zhí)行有缺陷像素的篩除的平面顯示裝置的檢驗(yàn)方法。


圖1是表示本發(fā)明的實(shí)施方式中的液晶顯示裝置的框圖；圖2示出了用于圖1的液晶顯示裝置的檢驗(yàn)的框圖；圖3示出了用于有缺陷像素的篩除的連接圖；圖4是表示以往的液晶顯示裝置的框圖。
具體實(shí)施例方式
下面，參照合適的附圖詳細(xì)說明本發(fā)明的實(shí)施方式。
圖1是通過與圖4的對(duì)比表示本發(fā)明的實(shí)施方式中的液晶顯示裝置的框圖。在液晶顯示裝置21，具有與圖4所述的液晶顯示裝置1相似的結(jié)構(gòu)，并標(biāo)示有相應(yīng)的標(biāo)號(hào)，故省略重復(fù)說明。
該液晶顯示裝置21是將呈矩陣狀配置像素而成的顯示部分11和驅(qū)動(dòng)電路12、13一體地形成在玻璃襯底上而成的，其中所述的驅(qū)動(dòng)電路利用柵線LR選擇該顯示部分11的像素，并由信號(hào)線LC驅(qū)動(dòng)，從而在顯示部分11顯示所需的圖像。此外，CS驅(qū)動(dòng)電路9作為在預(yù)先規(guī)定的時(shí)間給信號(hào)線預(yù)充電的預(yù)充電電路，被設(shè)置在該玻璃襯底10上。
在該液晶顯示裝置21中，用于預(yù)充電處理的信號(hào)線LC一側(cè)的布線圖案LCC在該襯底10上被連接到CS驅(qū)動(dòng)電路9，并經(jīng)由開關(guān)電路16連接到信號(hào)線LC上。此外，保持電容4的信號(hào)線一側(cè)的相反側(cè)的布線圖案所成的共用線COM與該信號(hào)線LC一側(cè)的布線圖案LCC絕緣，并連接在接線端T2上，而信號(hào)線LC一側(cè)的布線圖案LCC被連接在與該接線端T2鄰接的接線端T1上。因此，在該液晶顯示裝置21中，保持電容4信號(hào)線LC一側(cè)的相反側(cè)的電極上所連接的電極一側(cè)的布線圖案COM與連接在給信號(hào)線LC預(yù)充電的電路9上的、信號(hào)線一側(cè)的布線圖案LCC絕緣，并通過襯底10的外部，連接在預(yù)充電電路9上。
因此，在液晶顯示裝置21中，通過與以往結(jié)構(gòu)的液晶顯示裝置1(圖4)不同的路徑給信號(hào)線LC預(yù)充電到保持電容4的電位之后，通過水平驅(qū)動(dòng)電路12、垂直驅(qū)動(dòng)電路13的驅(qū)動(dòng)來驅(qū)動(dòng)各個(gè)像素，從而顯示所需的圖像。
圖2是表示檢驗(yàn)時(shí)該液晶顯示裝置21與檢驗(yàn)裝置22的連接的框圖。在該實(shí)施方式中，在玻璃襯底10上制成了各種驅(qū)動(dòng)電路12、13、顯示部分11等之后，通過該檢驗(yàn)裝置22執(zhí)行各種操作檢驗(yàn)。此處，在該操作檢驗(yàn)中，由控制器23控制檢驗(yàn)裝置22的操作，將用作操作基準(zhǔn)的時(shí)鐘、用于檢驗(yàn)的各種顯示數(shù)據(jù)從檢驗(yàn)裝置22輸出給液晶顯示裝置21，進(jìn)而確認(rèn)液晶顯示裝置21的操作。在該實(shí)施方式中，有缺陷像素的篩除檢驗(yàn)被設(shè)為要執(zhí)行的檢驗(yàn)項(xiàng)目之一。
在該篩除檢驗(yàn)中，檢驗(yàn)裝置22將開關(guān)電路15、16分別設(shè)為關(guān)斷狀態(tài)、導(dǎo)通狀態(tài)，并將接線端T1、T2設(shè)定在預(yù)先規(guī)定電位上。此外，在該實(shí)施方式中，例如通過將該接線端T1、T2連接在檢驗(yàn)裝置22的地線上，可以將該預(yù)先規(guī)定的電位設(shè)定為接地電位。
接下來，檢驗(yàn)裝置22切斷接線端T2的接地電位，并施加如圖3所示的脈沖狀的高電壓。因此，在該實(shí)施方式中，在各個(gè)像素中，在晶體管3和保持電容4之間施加操作電壓以上的電壓，從而在接下來的有缺陷像素的檢測(cè)處理中，可以檢測(cè)出在市場(chǎng)中會(huì)成為有缺陷像素的像素。
但是，在該實(shí)施方式中，將與像素的電容器相關(guān)的布線圖案LCC、COM中的共用線一側(cè)布線圖案COM在外部獨(dú)立地連接到預(yù)充電電路9上，從而不必在開關(guān)電路16上施加高電壓就可以執(zhí)行篩除檢驗(yàn)，因此，即使在使用低耐壓晶體管時(shí)，也可以有效地避免可靠性的惡化，并能可靠地執(zhí)行有缺陷像素的篩除。
根據(jù)以上的結(jié)構(gòu)，通過將與像素電容器相關(guān)的布線圖案中共用線一側(cè)在外部獨(dú)立地連接到預(yù)充電電路上，從而使得即使在使用低耐壓晶體管時(shí)，也可以有效地避免可靠性的惡化，并能可靠地執(zhí)行有缺陷像素的篩除。
此外，在上述實(shí)施方式中，雖然對(duì)于僅將共用線COM外部連接時(shí)進(jìn)行了說明，但本發(fā)明并不局限于此，也可以一并將信號(hào)線一側(cè)的布線圖案LCC在外部連接在CS驅(qū)動(dòng)電路中。
此外，在上述實(shí)施方式中，雖然對(duì)于將本發(fā)明應(yīng)用于在玻璃襯底上制成顯示部分等而成的TFT液晶進(jìn)行了說明，但本發(fā)明并不局限于此，而是可以廣泛應(yīng)用于CGS(Continuous Grain silicon)液晶等各種液晶顯示裝置、還有EL(Electro Luminescence)顯示裝置等各種平面顯示裝置。
發(fā)明效果若如上采用本發(fā)明，通過將與像素的電容器相關(guān)的布線圖案中共用線一側(cè)在外部獨(dú)立地連接到預(yù)充電電路上，那么即使在使用低耐壓晶體管時(shí)，也可以有效地避免可靠性的惡化，并能可靠地執(zhí)行有缺陷像素的篩除。
權(quán)利要求
1.一種平面顯示裝置，所述平面顯示裝置由顯示部分和驅(qū)動(dòng)電路一體形成在襯底上而構(gòu)成，其中所述顯示部分是將像素呈矩陣狀配置而成的，其中所述驅(qū)動(dòng)電路利用柵線選擇所述顯示部分的像素，并由信號(hào)線驅(qū)動(dòng)，從而在所述顯示部分顯示所需的圖像，其特征在于所述平面顯示裝置具有在預(yù)先規(guī)定的時(shí)間給所述信號(hào)線預(yù)充電的預(yù)充電電路，所述像素包括通過所述柵線選擇、由所述信號(hào)線的電位進(jìn)行充電的電容器，并且，至少所述電容器的所述信號(hào)線一側(cè)的相反側(cè)的電極所連接的電極一側(cè)的布線圖案與將所述信號(hào)線連接到所述預(yù)充電電路的信號(hào)線一側(cè)的布線圖案絕緣，并在所述襯底的外部連接到所述預(yù)充電電路上。
2.如權(quán)利要求1所述的平面顯示裝置，其特征在于，所述信號(hào)線一側(cè)的布線圖案通過由有源元件組成的開關(guān)電路連接到所述信號(hào)線上，所述有源元件是由低溫多晶硅或CGS形成的元件。
3.一種平面顯示裝置的檢驗(yàn)方法，所述平面顯示裝置由顯示部分和驅(qū)動(dòng)電路一體形成在襯底上而構(gòu)成，其中所述顯示部分是將像素呈矩陣狀配置而成的，其中所述驅(qū)動(dòng)電路利用柵線選擇所述顯示部分的像素，并由信號(hào)線驅(qū)動(dòng)，從而在所述顯示部分顯示所需的圖像，其特征在于所述平面顯示裝置具有在預(yù)先規(guī)定的時(shí)間給所述信號(hào)線預(yù)充電的預(yù)充電電路，所述像素包括通過所述柵線選擇、由所述信號(hào)線的電位進(jìn)行充電的電容器，并且，至少所述電容器的所述信號(hào)線一側(cè)的相反側(cè)的電極所連接的電極一側(cè)的布線圖案與將所述信號(hào)線連接到所述預(yù)充電電路的信號(hào)線一側(cè)的布線圖案絕緣，并在所述襯底的外部連接到所述預(yù)充電電路上，所述平面顯示裝置的檢驗(yàn)方法在將所述電極一側(cè)的布線圖案引出到所述襯底外部之處和將所述布線圖案連入所述預(yù)充電電路之處之間，施加脈沖狀的電壓，從而可檢測(cè)出所述像素的有缺陷之處。
全文摘要
本發(fā)明涉及平面顯示裝置及平面顯示裝置的檢驗(yàn)方法，例如可應(yīng)用于在絕緣襯底上一體形成驅(qū)動(dòng)電路的液晶顯示裝置。本發(fā)明的方法即使在使用低耐壓晶體管時(shí)，也可以有效地避免可靠性的惡化，并能可靠地執(zhí)行有缺陷像素的篩除。本發(fā)明將與像素電容器相關(guān)的布線圖案LCC、COM中共用線一側(cè)COM在外部獨(dú)立地連接在預(yù)充電電路上。
文檔編號(hào)G09G3/20GK1577469SQ200410062
公開日2005年2月9日 申請(qǐng)日期2004年6月30日 優(yōu)先權(quán)日2003年6月30日
發(fā)明者村瀬正樹, 仲島義晴, 木田芳利, 三井修 申請(qǐng)人:索尼株式會(huì)社