專利名稱：液晶顯示器件及其測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種液晶顯示器件，尤其涉及一種液晶顯示器件及其測試方法。盡管本發(fā)明適于更廣范圍的應(yīng)用，但是尤其適用于通過防止不必要的部件浪費而提高產(chǎn)率。
背景技術(shù)：
隨著信息社會的發(fā)展，作為視覺信息轉(zhuǎn)輸媒介的顯示器件的重要性日益增加。陰極射線管(CRT)或布勞恩管是目前常用的顯示器件。然而，CRT具有重量和體積大的問題。與CRT不同，各種平板顯示器件已經(jīng)發(fā)展到重量輕和外形薄。這些類型的平板顯示器件包括市場中實際使用的液晶顯示器件(LCD)、場發(fā)射顯示器FED、等離子體顯示面板PDP、電致發(fā)光EL和其它類型的平板顯示器件。
液晶顯示器件可以滿足目前電子器件外形薄、重量輕和體積小的趨勢。隨著LCD器件產(chǎn)率的提高，LCD器件在許多應(yīng)用中已經(jīng)代替陰極射線管。
通常，有兩類LCD。第一類是有源矩陣型LCD，而第二類是無源矩陣型LCD。在無源矩陣型LCD中，各單元在外部切換。在有源矩陣型LCD中，各單元通過薄膜晶體管(TFT)在內(nèi)部切換。有源矩陣型LCD具有圖像質(zhì)量好和功耗低的優(yōu)點。此外，由于近來研發(fā)所帶來的在大規(guī)模生產(chǎn)技術(shù)上的發(fā)展，可以制造具有大尺寸和高分辨率的有源矩陣型LCD。制造有源矩陣型LCD的工序可以分為基板清洗、基板構(gòu)圖、形成/摩擦定向膜、基板粘接/液晶注入、安裝、檢查和修復(fù)。在基板清洗工序中，用清洗液去除污染基板表面的雜質(zhì)。
基板構(gòu)圖工序分為構(gòu)圖上基板(濾色片陣列基板)和構(gòu)圖下基板(或TFT陣列基板)。在構(gòu)圖上基板時形成濾色片、公共電極和黑矩陣。在構(gòu)圖下基板時在下基板上形成諸如數(shù)據(jù)線和柵線的信號線以及在靠近數(shù)據(jù)線和柵線交叉處形成薄膜晶體管(以下，稱為“單元TFT”)。并且，在柵線和連接到單元TFT的源極的數(shù)據(jù)線之間的像素區(qū)處形成像素電極。
在定向膜形成/摩擦工序中，在上基板和下基板至少其中之一上形成定向膜。然后，用橡皮布摩擦定向膜。如果在兩基板上都形成定向膜，那么沿相同方向摩擦該定向膜。
在基板粘接/液晶注入工序中，上基板和下基板通過密封劑粘接在一起。然后，通過密封劑中的液晶注入孔注入液晶和襯墊料。接著，對該液晶注入孔執(zhí)行密封工序。
在液晶顯示面板的安裝工序中，其上裝有諸如柵驅(qū)動集成電路和數(shù)據(jù)驅(qū)動集成電路的集成電路的載帶封裝(以下，稱為“TCP”)連接到下基板的焊盤部分。驅(qū)動集成電路也可以通過玻上芯片(以下，稱為“COG”)法代替載帶自動粘接法而直接安裝在下基板上。
檢查工序包括在下基板上形成各種信號線和像素電極之后進行的電檢查；在基板粘接/液晶注入工序之后進行的電檢查；以及肉眼檢查。
修復(fù)工序執(zhí)行對在檢查工序中認為可修復(fù)的基板或面板的修補。另一方面，在檢查工序中認為不可修復(fù)的缺陷基板作為廢品處理。
在基板粘接/液晶注入工序之后的電檢查主要包括圖像質(zhì)量檢查，該圖像質(zhì)量檢查包括串擾檢查和各灰度級的亮度檢查。如圖1和圖2所示，當數(shù)據(jù)驅(qū)動電路和柵驅(qū)動電路連接到TFT陣列基板的信號線之后進行電檢查。
如圖1所示，現(xiàn)有技術(shù)的檢查方法將數(shù)據(jù)開關(guān)TFT(以下稱為“Tdata”)連接到數(shù)據(jù)線DL的下端。此外，現(xiàn)有技術(shù)的檢查方法同時在柵線GL上粘接用于向柵線提供檢查柵脈沖的柵開關(guān)TFT(以下稱為“Tgate”)。此外，另一開關(guān)(以下，稱為“Tmux”)連接到像素矩陣陣列中數(shù)據(jù)線DL的上端以提供由TCP或COG的數(shù)據(jù)驅(qū)動電路10的輸出端子提供的數(shù)據(jù)電壓，其中在像素矩陣陣列中形成有液晶單元Clc和單元TFT。一組外部接觸焊盤11包括用于控制Tmux的MUX1焊盤、MUX2焊盤和MUX3焊盤；用于向Tgate的柵端提供電壓的VEGATE焊盤；用于向Tgate的源端提供柵高壓和柵低壓的VGATE焊盤；用于向Tdata的柵端提供電壓的VEDATA焊盤；以及用于向Tdata的源端提供測試數(shù)據(jù)電壓的VDATA焊盤。
如果該組外部接觸焊盤11連接到測試夾具的輸出端，測試數(shù)據(jù)電壓通過VDATA焊盤經(jīng)過Tdata施加到數(shù)據(jù)線DL，而柵高壓通過VGATE焊盤經(jīng)過Tgate施加到柵線GL。因此，像素陣列的TFT導通以將測試數(shù)據(jù)電壓施加到液晶單元，從而能夠檢查在任一液晶單元中是否存在灰度級表示缺陷。
在這種檢查方法中，如圖2所示，柵驅(qū)動電路13通過柵焊盤組12接收高電勢電壓VDD、低電勢電壓VSS、時鐘信號GCLKS和起始脈沖GVST以向柵線GL提供柵高壓的掃描脈沖，從而導通連接到柵線GL的單元TFT以選擇要顯示數(shù)據(jù)的一條水平線上的液晶單元Clc。此外，如圖3所示，為了檢查串擾，現(xiàn)有技術(shù)的檢查方法在液晶顯示面板的像素矩陣陣列中在外周圍顯示中間灰色調(diào)而在內(nèi)部顯示黑色接著再顯示白色。這樣，向數(shù)據(jù)線DL施加至少兩種不同的測試數(shù)據(jù)，但是由VDATA經(jīng)過在圖1和圖2所述的液晶顯示面板中形成的Tdata不能向數(shù)據(jù)線施加相同的數(shù)據(jù)。因此，數(shù)據(jù)驅(qū)動電路10連接到COG或TCP形式的液晶顯示面板的Tmux。換句話說，根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)的檢查方法，當執(zhí)行串擾檢查時，數(shù)據(jù)驅(qū)動電路必須以COG或TCP形式連接到液晶顯示面板以判斷是否存在串擾缺陷。然而，無法避免的是那些粘接到通過串擾檢查判斷為有缺陷的液晶顯示面板的TCP或COG由于已經(jīng)粘接到該有缺陷的液晶顯示面板上而不得不被丟棄。從而浪費數(shù)據(jù)驅(qū)動電路，并且除低了數(shù)據(jù)驅(qū)動電路的整個產(chǎn)量。
發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明涉及一種液晶顯示器件及其測試方法，其基本上克服了由于現(xiàn)有技術(shù)的限制和缺點而產(chǎn)生的一個或者多個問題。
本發(fā)明的目的是提供一種通過防止用于串擾檢查的部件的不必要浪費來增加產(chǎn)率的液晶顯示器件。
本發(fā)明的附加優(yōu)點、目的和特征將在后面的描述中得以闡明，通過以下描述，將使其對本領(lǐng)域技術(shù)人員來說顯而易見，或者可通過實踐本發(fā)明來認識。本發(fā)明的這些目的和其它優(yōu)點可通過說明書及其權(quán)利要求以及附圖中具體指出的結(jié)構(gòu)來實現(xiàn)和得到。
為了實現(xiàn)這些目的和其它優(yōu)點，按照本發(fā)明的目的，作為具體和廣義的描述，一種液晶顯示器件，包括其中多條柵線和多條數(shù)據(jù)線彼此交叉并且設(shè)置有多個液晶單元的像素矩陣、分別連接到第一組數(shù)據(jù)線中的數(shù)據(jù)線的多個第一數(shù)據(jù)開關(guān)薄膜晶體管；以及分別連接到第二組數(shù)據(jù)線中的數(shù)據(jù)線的多個第二數(shù)據(jù)開關(guān)薄膜晶體管。
按照另一方面，一種液晶顯示器件，包括其中多條柵線和多條數(shù)據(jù)線彼此交叉并且設(shè)置有多個液晶單元的像素矩陣、用于向所述柵線提供掃描脈沖的柵驅(qū)動電路、分別連接到第一組數(shù)據(jù)線中的數(shù)據(jù)線的多個第一數(shù)據(jù)開關(guān)薄膜晶體管、分別連接到第二組數(shù)據(jù)線中的數(shù)據(jù)線的多個第二數(shù)據(jù)開關(guān)薄膜晶體管、連接到所述第一數(shù)據(jù)開關(guān)薄膜晶體管的數(shù)據(jù)輸入端的第一外部引線、連接到所述第二數(shù)據(jù)開關(guān)薄膜晶體管的數(shù)據(jù)輸入端的第二外部引線、連接到所述第一和第二數(shù)據(jù)開關(guān)薄膜晶體管的控制端的第三外部引線、用于向所述第一外部引線提供第一數(shù)據(jù)的第一外部焊盤、用于向所述第二外部引線提供第二數(shù)據(jù)的第二外部焊盤、以及用于向所述第三外部引線提供控制數(shù)據(jù)的第三外部焊盤。
根據(jù)本發(fā)明的又一方面，一種液晶顯示器件的檢查方法，包括步驟形成像素矩陣、分別連接到第一組數(shù)據(jù)線中的數(shù)據(jù)線的多個第一數(shù)據(jù)開關(guān)薄膜晶體管、分別連接到第二組數(shù)據(jù)線中的數(shù)據(jù)線的多個第二數(shù)據(jù)開關(guān)薄膜晶體管、連接到所述第一數(shù)據(jù)開關(guān)薄膜晶體管的數(shù)據(jù)輸入端的第一外部引線、連接到所述第二數(shù)據(jù)開關(guān)薄膜晶體管的數(shù)據(jù)輸入端的第二外部引線、連接到所述第一和第二數(shù)據(jù)開關(guān)薄膜晶體管的控制端的第三外部引線、用于向所述第一外部引線提供第一數(shù)據(jù)的第一外部焊盤、用于向所述第二外部引線提供第二數(shù)據(jù)的第二外部焊盤、以及用于向所述第三外部引線提供控制數(shù)據(jù)的第三外部焊盤，其中在所述像素矩陣中多條柵線和多條數(shù)據(jù)線彼此交叉并且設(shè)置有多個液晶單元；將用于向所述柵線提供掃描脈沖的柵驅(qū)動電路連接到所述柵線；以及向所述外部焊盤提供所述第一數(shù)據(jù)和第二數(shù)據(jù)以在像素矩陣上顯示窗口圖案并且判斷是否存在串擾缺陷。
應(yīng)該理解，本發(fā)明上面的概述和下面的詳細說明都是示例性和解釋性的，意欲對所要求保護的本發(fā)明提供進一步解釋。
所包括的用于提供對本發(fā)明進一步解釋并引入構(gòu)成本申請一部分的
了本發(fā)明的實施方式，并與說明書一起用于說明本發(fā)明的原理。在附圖中
圖1所示為按照現(xiàn)有技術(shù)的液晶顯示面板的平面圖；圖2所示為按照另一現(xiàn)有技術(shù)的液晶顯示面板的平面圖；圖3所示為用于串擾檢查的測試窗圖案；圖4所示為根據(jù)本發(fā)明實施方式的液晶顯示面板的平面圖；圖5所示為根據(jù)本發(fā)明實施方式的測試窗圖案；圖6所示為用于實現(xiàn)圖5所示的測試窗圖案的線反轉(zhuǎn)驅(qū)動波形圖； 以及圖7所示為用于實現(xiàn)圖5所示測試窗圖案的點反轉(zhuǎn)驅(qū)動波形圖。
具體實施例方式
以下將參照附圖中所示的實施例來詳細描述本發(fā)明的優(yōu)選實施方式。下面參照圖4到圖7說明本發(fā)明的實施方式。
如圖4所示，根據(jù)本發(fā)明實施方式的液晶顯示面板包括像素矩陣陣列；連接到各數(shù)據(jù)線DL下端的數(shù)據(jù)開關(guān)TFT Tdata；連接到柵線GL一端的柵TFTTgate；以TCP或COG形式連接到柵線GL另一端的柵驅(qū)動電路7；以及用于從測試夾具接收測試信號的一組外部接觸焊盤1，在該像素矩陣陣列中多條數(shù)據(jù)線DL和多條柵線GL彼此交叉，多個單元TFT設(shè)置在交叉處附近，并且液晶單元以矩陣型排列。
該組外部接觸焊盤1包括用于控制Tmux的MUX1焊盤、MUX2焊盤和MUX3焊盤；用于向Tgate的柵端提供電壓的VEGATE焊盤；用于向Tgate的源端提供柵高壓和柵低壓的VGATE焊盤；用于向Tdata的柵端提供電壓的VEDATA焊盤；以及用于向Tdata的源端提供測試數(shù)據(jù)電壓的分為兩部分的VDATA1焊盤和VDATA2焊盤。
柵驅(qū)動電路7包括具有用于將掃描脈沖的擺幅寬度轉(zhuǎn)換到適于驅(qū)動液晶單元Clc的電平的電平移位器和輸出緩沖器的移位寄存器。柵驅(qū)動電路7通過柵焊盤組8接收高電勢電壓VDD、低電勢電壓VSS、時鐘信號GCLKS和起始脈沖GVST以向柵線GL提供柵高壓的掃描脈沖，從而導通連接到柵線GL的單元TFT以選擇要顯示數(shù)據(jù)的一條水平線上的液晶單元Clc。
液晶顯示面板的基板包括用于將MUX1焊盤、MUX2焊盤和MUX3焊盤連接到Tmux的柵端的第一外部引線6；用于將VEGATE焊盤連接到Tgate的柵端的第二外部引線5；用于將VGATE焊盤連接到Tgate的源端的第三控制引線4；用于將VEDATA焊盤連接到Tdata的柵端的第三外部引線3；用于將VDATA1焊盤連接到液晶顯示面板側(cè)面的Tdata的源端的第四外部引線2a，其中該Tdata的源端連接到液晶顯示面板側(cè)面的數(shù)據(jù)線DL；以及用于將VDATA2焊盤連接到液晶顯示面板中部的Tdata的源端的第五外部引線2b，其中該Tdata的源端連接到像素矩陣的中部數(shù)據(jù)線DL。
為了檢查各灰度級的表現(xiàn)能力，測試夾具向VDATA1焊盤和VDATA2焊盤提供相同的測試灰度級數(shù)據(jù)。并且，為了選擇要向其提供測試灰度級數(shù)據(jù)的水平線，Tgate由測試夾具產(chǎn)生的柵高壓和柵控制電壓導通或者由柵驅(qū)動電路將柵高壓順序提供給柵線GL。然后，像素矩陣中的液晶單元顯示測試灰度級數(shù)據(jù)，并且由圖像獲取器件自動檢測或肉眼檢查輸出光的表現(xiàn)能力。
對于串擾檢查，產(chǎn)生如圖5所示的窗口圖案的測試串擾數(shù)據(jù)。圖5中“V”表示垂直方向，并且“H”表示水平方向。在線反轉(zhuǎn)驅(qū)動中，圖5中測試串擾數(shù)據(jù)的驅(qū)動波形如圖6所示。線反轉(zhuǎn)驅(qū)動向同一水平線上的液晶單元提供相同極性的數(shù)據(jù)，但是另一方面，向相鄰水平線上的液晶單元提供彼此極性不同的數(shù)據(jù)。在線反轉(zhuǎn)驅(qū)動中，AC公共電壓VCOM施加到與液晶單元中像素電極相對的公共電極。在點反轉(zhuǎn)驅(qū)動下，圖5中測試串擾數(shù)據(jù)的驅(qū)動波形如圖7所示。在點反轉(zhuǎn)驅(qū)動下，向相鄰垂直線上的液晶單元提供彼此不同極性的數(shù)據(jù)，并且向相鄰水平線上的液晶單元提供彼此不同極性的數(shù)據(jù)。在點反轉(zhuǎn)驅(qū)動下，公共電壓VCOM是直流電流。
對于串擾檢查，測試夾具向在像素矩陣邊緣的液晶單元Clc種的VDTA1焊盤和VDATA2焊盤提供相同的中間灰色調(diào)(A和C區(qū)域的中間灰度級)，同時測試夾具向像素矩陣中中間部分的液晶單元Clc的VDATA2焊盤提供白色峰值或黑色峰值數(shù)據(jù)(B區(qū)域)。為了選擇要向其提供測試灰度級數(shù)據(jù)的水平線，通過柵驅(qū)動電路向柵線GL順序施加柵高壓。然后，像素矩陣中的液晶單元顯示圖5所示的窗口圖案，并且通過圖像獲取裝置自動檢測輸出光或者用肉眼檢查各灰度級的表現(xiàn)能力。
最后，根據(jù)本發(fā)明的實施方式，即使在檢查串擾以及在評估各灰度級的表現(xiàn)能力時也可以在不用數(shù)據(jù)驅(qū)動電路的情況下實現(xiàn)檢查。在檢查之后，通過劃線(scribing)去除該組外部接觸焊盤1和外部引線2a到6。如上所述，根據(jù)本發(fā)明實施方式的液晶顯示器件及其檢查方法通過獨立的外部焊盤和引線向像素矩陣顯示的中間部分的像素矩陣陣列提供彼此不同的數(shù)據(jù)電壓，從而可以防止浪費數(shù)據(jù)驅(qū)動電路。
雖然通過上述附圖所示的實施方式說明了本發(fā)明，但是可以理解本領(lǐng)域的熟練技術(shù)人員并不限于這些實施方式，而是可以在不脫離本發(fā)明的精神或者范圍內(nèi)對本發(fā)明進行各種的修改和改進。因此，本發(fā)明的范圍僅有所附權(quán)利要求及其等同物限定。
權(quán)利要求
1.一種液晶顯示器件，包括像素矩陣，其中多條柵線和多條數(shù)據(jù)線彼此交叉并且設(shè)置有多個液晶單元；多個第一數(shù)據(jù)開關(guān)薄膜晶體管，分別連接到第一組數(shù)據(jù)線中的數(shù)據(jù)線；以及多個第二數(shù)據(jù)開關(guān)薄膜晶體管，分別連接到第二組數(shù)據(jù)線中的數(shù)據(jù)線。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶顯示器件，其特征在于，還包括多個柵線驅(qū)動薄膜晶體管，分別連接到所述柵線。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的液晶顯示器件，其特征在于，所述柵線驅(qū)動薄膜晶體管與所述第一和第二數(shù)據(jù)開關(guān)薄膜晶體管形成在同一基板上。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶顯示器件，其特征在于，所述第一組數(shù)據(jù)線連接在一起以接收第一數(shù)據(jù)，并且所述第二組數(shù)據(jù)線連接在一起以接收第二數(shù)據(jù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶顯示器件，其特征在于，所述第一組數(shù)據(jù)線位于所述像素矩陣的中間，而所述第二組數(shù)據(jù)線沿著所述像素矩陣的側(cè)面。
6.一種液晶顯示器件，包括像素矩陣，其中多條柵線和多條數(shù)據(jù)線彼此交叉并且設(shè)置有多個液晶單元；柵驅(qū)動電路，用于向所述柵線提供掃描脈沖；多個第一數(shù)據(jù)開關(guān)薄膜晶體管，分別連接到第一組數(shù)據(jù)線中的數(shù)據(jù)線；多個第二數(shù)據(jù)開關(guān)薄膜晶體管，分別連接到第二組數(shù)據(jù)線中的數(shù)據(jù)線；第一外部引線，連接到所述第一數(shù)據(jù)開關(guān)薄膜晶體管的數(shù)據(jù)輸入端；第二外部引線，連接到所述第二數(shù)據(jù)開關(guān)薄膜晶體管的數(shù)據(jù)輸入端；第三外部引線，連接到所述第一和第二數(shù)據(jù)開關(guān)薄膜晶體管的控制端；第一外部焊盤，用于向所述第一外部引線提供第一數(shù)據(jù)；第二外部焊盤，用于向所述第二外部引線提供第二數(shù)據(jù)；以及第三外部焊盤，用于向所述第三外部引線提供控制數(shù)據(jù)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的液晶顯示器件，其特征在于，還包括多個柵線驅(qū)動薄膜晶體管，分別連接到所述柵線；第四外部引線，連接到所述柵線驅(qū)動薄膜晶體管的輸入端；第五外部引線，連接到所述柵線驅(qū)動薄膜晶體管的控制端；第四外部焊盤，用于向所述第四外部引線提供柵電壓；以及第五外部焊盤，用于向所述第五外部引線提供控制信號。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的液晶顯示器件，其特征在于，所述數(shù)據(jù)開關(guān)薄膜晶體管、柵線驅(qū)動薄膜晶體管、外部引線和外部焊盤形成在同一基板上。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的液晶顯示器件，其特征在于，所述第一組數(shù)據(jù)線連接在一起以接收第一數(shù)據(jù)，并且所述第二組數(shù)據(jù)線連接在一起以接收第二數(shù)據(jù)。
10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的液晶顯示器件，其特征在于，所述第一組數(shù)據(jù)線位于所述像素矩陣的中間，而所述第二組數(shù)據(jù)線沿著所述像素矩陣的側(cè)面。
11.一種液晶顯示器件的檢查方法，包括如下步驟形成像素矩陣、分別連接到第一組數(shù)據(jù)線的多個第一數(shù)據(jù)開關(guān)薄膜晶體管、分別連接到第二組數(shù)據(jù)線的多個第二數(shù)據(jù)開關(guān)薄膜晶體管、連接到所述第一數(shù)據(jù)開關(guān)薄膜晶體管的數(shù)據(jù)輸入端的第一外部引線、連接到所述第二數(shù)據(jù)開關(guān)薄膜晶體管的數(shù)據(jù)輸入端的第二外部引線、連接到所述第一和第二數(shù)據(jù)開關(guān)薄膜晶體管的控制端的第三外部引線、用于向所述第一外部引線提供第一數(shù)據(jù)的第一外部焊盤、用于向所述第二外部引線提供第二數(shù)據(jù)的第二外部焊盤、用于向所述第三外部引線提供控制數(shù)據(jù)的第三外部焊盤，其中在所述像素矩陣中多條柵線和多條數(shù)據(jù)線彼此交叉并且設(shè)置有多個液晶單元；將用于向所述柵線提供掃描脈沖的柵驅(qū)動電路連接到所述柵線；以及向所述外部焊盤提供所述第一數(shù)據(jù)和第二數(shù)據(jù)以在像素矩陣上顯示窗口圖案并且判斷是否存在串擾缺陷。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的檢查方法，其特征在于，還包括步驟在所述液晶顯示面板上形成分別連接到所述柵線的多個柵線驅(qū)動薄膜晶體管、連接到所述柵線驅(qū)動薄膜晶體管的柵電壓輸入端的第四外部引線、連接到所述柵線驅(qū)動薄膜晶體管的控制端的第五外部引線，用于向所述第四外部引線提供柵電壓的第四外部焊盤、以及用于向所述第五外部引線提供控制信號的第五外部焊盤。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的檢查方法，其特征在于，所述數(shù)據(jù)開關(guān)薄膜晶體管、柵線驅(qū)動薄膜晶體管、外部引線和外部焊盤形成在同一基板上。
14.根本權(quán)利要求11所述的檢查方法，其特征在于，所述第一組數(shù)據(jù)線連接在一起以接收第一數(shù)據(jù)，并且所述第二組數(shù)據(jù)線連接在一起以接收第二數(shù)據(jù)。
15.根據(jù)權(quán)利要求12所述的檢查方法，其特征在于，所述第一組數(shù)據(jù)線位于所述像素矩陣的中間，而所述第二組數(shù)據(jù)線沿著所述像素矩陣的側(cè)面。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種液晶顯示器件，其包括其中多條柵線和多條數(shù)據(jù)線彼此交叉并且設(shè)置有多個液晶單元的像素矩陣、分別連接到第一組數(shù)據(jù)線中的數(shù)據(jù)線的多個第一數(shù)據(jù)開關(guān)薄膜晶體管；以及分別連接到第二組數(shù)據(jù)線中的數(shù)據(jù)線的多個第二數(shù)據(jù)開關(guān)薄膜晶體管。
文檔編號G09G3/36GK1881060SQ200510132
公開日2006年12月20日 申請日期2005年12月22日 優(yōu)先權(quán)日2005年6月15日
發(fā)明者鄭塤, 金相浩 申請人:Lg.菲利浦Lcd株式會社