專利名稱：平面顯示器校調(diào)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種平面顯示器校調(diào)方法，且特別涉及一種用于設(shè)定控制電路參數(shù)的平面顯示器校調(diào)方法。
背景技術(shù)：
平面顯示器(flat panel display)，例如薄膜液晶顯示器(thin filmtransistor liquid crystal display，簡稱為TFT LCD)，是由眾多的光學(xué)、化學(xué)與電路零件組成，其中影響亮度、色彩等顯示特性的變因極多。例如在控制電路(controller)方面的變因包括解碼器(decoder)、消除交錯信號(de-interlace)，以及噪聲過濾(noise filtering)。在LCD模塊方面的變因包括背光源(backlight)、薄膜晶體管、彩色濾光片(colorfilters)。如果單獨零件在大量制造時沒有嚴(yán)格控管其性能，最后的產(chǎn)品之間的顯示畫質(zhì)必然差異很大。為了將最終產(chǎn)品的畫質(zhì)差異控制在可接受的范圍內(nèi)，制造的廠商必須進(jìn)行校調(diào)(calibration)。如果沒做校調(diào)或沒有做好，就會發(fā)生明顯的副作用，例如色彩偏差(color-bias)、色溫錯誤(color temperature error)、對比過低(low contrast)、或灰階偏差(gray-bias)等。
傳統(tǒng)的校調(diào)流程如圖1所示。首先，在步驟102顯示測試圖案，然后在步驟104用光學(xué)計量器(optics meter)取得測量數(shù)據(jù)，在步驟106分析測量數(shù)據(jù)。接下來，在步驟108計算控制電路所需的正確參數(shù)，并且以計算結(jié)果調(diào)整控制電路的各項參數(shù)。最后，在步驟110檢查校調(diào)是否已經(jīng)完成。如果需要進(jìn)一步校調(diào)，就回到步驟102重復(fù)整個流程，否則流程至此結(jié)束。
傳統(tǒng)的校調(diào)方法有許多缺點。例如每一個測試圖案只測量一次，容易產(chǎn)生誤差。在步驟102的顯示測試圖案之前，以及步驟104的取得測量數(shù)據(jù)之前都沒有延遲，平面顯示器和光學(xué)計量器的不穩(wěn)定瞬時會造成誤差。除此之外，如果需要多種測試圖案或多次測量，必須多次重復(fù)從顯示測試圖案、測量、分析、以至于調(diào)整參數(shù)的冗長流程，會浪費許多人員與設(shè)備的時間成本。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種平面顯示器校調(diào)方法，其優(yōu)點為先取得多種測試圖案的測量數(shù)據(jù)，然后集中分析，一次調(diào)整所有參數(shù)，以加速校調(diào)流程，節(jié)省時間成本。
本發(fā)明的又一目的是提供一種平面顯示器校調(diào)方法，可針對同一測試圖案進(jìn)行多次測量，然后集中分析測量數(shù)據(jù)，以減少誤差。
本發(fā)明的另一目的是提供一種平面顯示器校調(diào)方法，其優(yōu)點為在顯示測試圖案之前以及取得測量數(shù)據(jù)之前皆有一段延遲時間，以排除平面顯示器和光學(xué)計量器的不穩(wěn)定瞬時所造成的誤差。
本發(fā)明的再一目的是提供一種平面顯示器校調(diào)方法，同時具備以上三種平面顯示器校調(diào)方法的優(yōu)點。
為達(dá)到上述及其它目的，本發(fā)明提出一種平面顯示器校調(diào)方法，包括下列步驟(a)使用平面顯示器顯示多個測試圖案，并取得上述測試圖案的測量數(shù)據(jù)；以及(b)根據(jù)所有測量數(shù)據(jù)，設(shè)定平面顯示器的控制電路的參數(shù)。
為達(dá)到上述及其它目的，本發(fā)明提出一種平面顯示器校調(diào)方法，包括下列步驟(a)使用平面顯示器顯示測試圖案；(b)重復(fù)取得測試圖案的測量數(shù)據(jù)，直到測量數(shù)據(jù)足夠為止；以及(c)根據(jù)所有測量數(shù)據(jù)，設(shè)定平面顯示器的控制電路的參數(shù)。
為達(dá)到上述及其它目的，本發(fā)明提出一種平面顯示器校調(diào)方法，包括下列步驟(a)初始設(shè)定平面顯示器以及光學(xué)計量器。(b)延遲一段預(yù)設(shè)時間。(c)使用平面顯示器顯示測試圖案。(d)延遲另一段預(yù)設(shè)時間。(e)使用光學(xué)計量器取得測試圖案的測量數(shù)據(jù)。最后，(f)根據(jù)所有測量數(shù)據(jù)，設(shè)定平面顯示器的控制電路的參數(shù)。
為達(dá)到上述及其它目的，本發(fā)明提出一種平面顯示器校調(diào)方法，包括下列步驟(a)初始設(shè)定平面顯示器以及光學(xué)計量器。(b)延遲一段預(yù)設(shè)時間。(c)使用平面顯示器顯示測試圖案。(d)延遲另一段預(yù)設(shè)時間。(e)重復(fù)使用光學(xué)計量器取得測試圖案的測量數(shù)據(jù)，直到測量數(shù)據(jù)足夠為止。(f)檢查是否已經(jīng)顯示過所有測試圖案。(g)若尚有測試圖案未顯示，則回到步驟(c)，顯示下一個測試圖案。最后，(h)根據(jù)所有測量數(shù)據(jù)，設(shè)定平面顯示器的控制電路的參數(shù)。
如本發(fā)明的較佳實施例所述，本發(fā)明的平面顯示器校調(diào)方法可針對同一測試圖案進(jìn)行多次測量，然后集中分析測量數(shù)據(jù)，所以能減少誤差。除此之外，本發(fā)明是先取得多種測試圖案的測量數(shù)據(jù)，然后集中分析，一次調(diào)整所有參數(shù)，不需要重復(fù)分析、調(diào)整，所以能加速校調(diào)流程，節(jié)省時間成本。再者，本發(fā)明的流程在顯示測試圖案之前以及取得測量數(shù)據(jù)之前，皆有一段延遲時間以等待平面顯示器和光學(xué)計量器進(jìn)入穩(wěn)定狀態(tài)，所以能排除平面顯示器和光學(xué)計量器的不穩(wěn)定瞬時所造成的誤差。
為讓本發(fā)明的上述和其它目的、特征和優(yōu)點能更明顯易懂，下文特舉本發(fā)明之較佳實施例，并配合附圖，作詳細(xì)說明如下。
圖1為傳統(tǒng)的平面顯示器校調(diào)方法流程圖。
圖2為根據(jù)于本發(fā)明一實施例的平面顯示器校調(diào)方法的硬件流程圖。
圖3為根據(jù)于本發(fā)明一實施例的平面顯示器校調(diào)方法的操作流程圖。
主要元件標(biāo)記說明102～110流程圖步驟
201測試圖案產(chǎn)生器202主機(jī)203平面顯示器204電源模塊205光學(xué)計量器206校調(diào)程序207使用者界面301～320流程圖步驟具體實施方式
圖2為根據(jù)本發(fā)明一實施例的平面顯示器校調(diào)方法的硬件流程圖。在本實施例中，校調(diào)程序206會通過使用者界面207接受使用者操作，掌控整個流程。首先，由測試圖案產(chǎn)生器201產(chǎn)生測試圖案，提供給主機(jī)202。主機(jī)202接受電源模塊204的電源供應(yīng)，并且驅(qū)動平面顯示器203以顯示測試圖案。然后，由光學(xué)計量器205測量平面顯示器203顯示的測試圖案，取得各項數(shù)據(jù)。最后，校調(diào)程序206會收集上述的測量數(shù)據(jù)，進(jìn)行分析，然后將平面顯示器203的控制電路的相關(guān)參數(shù)設(shè)定為正確值。
一般平面顯示器需要校調(diào)的顯示特性有很多種，例如亮度、色彩、條紋顯示等。針對不同的顯示特性，平面顯示器203要顯示不同的測試圖案，光學(xué)計量器205會產(chǎn)生不同的測量數(shù)據(jù)，最后接受調(diào)整、設(shè)定的控制電路參數(shù)也不盡相同。在本實施例中，測試圖案的種類至少包括全黑、全白、灰階全系列、紅色全系列、綠色全系列、藍(lán)色全系列、膚色、天藍(lán)色、草綠色、條紋排列組合、以及動態(tài)圖像等。所謂的“全系列”是指同一色系的全系列色彩，包含了從最低到最高的各種灰階值(gray scale)。
至于本實施例的完整流程，請參照圖3。圖3為根據(jù)本實施例的平面顯示器校調(diào)方法的操作流程圖，流程從步驟301開始。
首先，在步驟301執(zhí)行校調(diào)程序的防拷檢查。這里的防拷檢查可以包含任意數(shù)量的項目，視使用者需求而定，例如檢查使用者輸入的密碼是否正確，檢查防拷裝置(例如俗稱的Key Pro(商品名))是否存在，以及其它檢查。如果校調(diào)程序要搭配特定的硬件才能執(zhí)行，例如必須在嵌入式系統(tǒng)(embedded system)執(zhí)行，上述的防拷檢查還可以包括檢查硬件序號是否正確，以及檢查儲存于硬件的數(shù)據(jù)(例如預(yù)設(shè)的識別文字或數(shù)碼)是否正確。如果步驟301的防拷檢查全數(shù)通過，就執(zhí)行下一個步驟302。反之，如果有任何一項防拷檢查沒通過，流程就直接結(jié)束。
通過防拷檢查之后，在步驟302初始設(shè)定平面顯示器以及光學(xué)計量器，在步驟304延遲一段預(yù)設(shè)時間，在步驟306使用平面顯示器顯示第一個測試圖案，然后在步驟308延遲另一段預(yù)設(shè)時間。接下來，在步驟310使用光學(xué)計量器取得測試圖案的測量數(shù)據(jù)。然后在步驟312檢查目前測試圖案的測量數(shù)據(jù)是否已經(jīng)足夠。如果數(shù)據(jù)還不夠，流程會回到步驟310以取得更多測量數(shù)據(jù)。如果數(shù)據(jù)已經(jīng)足夠，就進(jìn)入步驟314。
接下來，在步驟314檢查是否已經(jīng)顯示過所有測試圖案。如果尚有測試圖案未顯示，就到步驟316選擇下一個圖案，然后回到步驟306顯示下一個測試圖案。反之，如果所有的測試圖案都顯示過了，流程會進(jìn)入步驟318，分析所有測量數(shù)據(jù)，以計算出平面顯示器的控制電路所需的正確參數(shù)。最后，在步驟320將上述控制電路的參數(shù)設(shè)定為步驟318計算出的正確值。
由以上說明可知，本發(fā)明的平面顯示器校調(diào)方法可針對同一測試圖案進(jìn)行多次測量，然后集中分析測量數(shù)據(jù)，所以能減少誤差。除此之外，本發(fā)明是先取得多種測試圖案的測量數(shù)據(jù)，然后集中分析，一次調(diào)整所有參數(shù)，不需要重復(fù)分析、調(diào)整，所以能加速校調(diào)流程，節(jié)省時間成本。再者，本發(fā)明的流程在顯示測試圖案之前以及取得測量數(shù)據(jù)之前，皆有一段延遲時間以等待平面顯示器和光學(xué)計量器進(jìn)入穩(wěn)定狀態(tài)，所以能排除平面顯示器和光學(xué)計量器的不穩(wěn)定瞬時所造成的誤差。
除此之外，本發(fā)明備有多種測試圖案，可用來校調(diào)平面顯示器的多種顯示特性，例如亮度、色彩、條紋顯示等。而且本發(fā)明會針對想校調(diào)的顯示特性收集測量數(shù)據(jù)，并且改變數(shù)據(jù)的分析計算方式，以設(shè)定對應(yīng)的控制電路參數(shù)。所以本發(fā)明除了現(xiàn)有技術(shù)可校調(diào)的增益值(gain)與位移值(offset)以外，還可以校調(diào)控制電路的所有其它參數(shù)，使校調(diào)更加全面。
雖然本發(fā)明已以較佳實施例披露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何所屬技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作些許的更動與改進(jìn)，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)視權(quán)利要求所界定者為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種平面顯示器校調(diào)方法，其特征是包括下列步驟(a)使用平面顯示器顯示多個測試圖案，并取得上述這些測試圖案的測量數(shù)據(jù)；以及(b)根據(jù)所有測量數(shù)據(jù)，設(shè)定該平面顯示器的控制電路的參數(shù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述之平面顯示器校調(diào)方法，其特征是于步驟(a)之前還包括執(zhí)行至少一項防拷檢查；若上述/上述這些防拷檢查未全數(shù)通過，則停止該平面顯示器校調(diào)方法。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述之平面顯示器校調(diào)方法，其特征是上述/上述這些防拷檢查至少包括下列其中之一檢查硬件序號是否正確、檢查儲存于硬件的數(shù)據(jù)是否正確、檢查防拷裝置是否存在、以及檢查使用者輸入的密碼是否正確。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述之平面顯示器校調(diào)方法，其特征是步驟(a)還包括(a1)使用該平面顯示器顯示測試圖案；(a2)取得該測試圖案的測量數(shù)據(jù)；(a3)檢查是否已經(jīng)顯示過所有測試圖案；以及(a4)若尚有測試圖案未顯示，則回到步驟(a1)，顯示下一個測試圖案。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述之平面顯示器校調(diào)方法，其特征是該測試圖案的測量數(shù)據(jù)是使用光學(xué)計量器取得，該平面顯示器校調(diào)方法于步驟(a1)之前還包括初始設(shè)定該平面顯示器以及該光學(xué)計量器；以及延遲第一預(yù)設(shè)時間；而且于步驟(a1)與步驟(a2)之間還包括延遲第二預(yù)設(shè)時間。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述之平面顯示器校調(diào)方法，其特征是步驟(a2)還包括(a21)取得該測試圖案的測量數(shù)據(jù)；(a22)檢查該測試圖案的測量數(shù)據(jù)是否已經(jīng)足夠；以及(a23)若該測試圖案的測量數(shù)據(jù)不足，則回到步驟(a21)，以取得更多測量數(shù)據(jù)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述之平面顯示器校調(diào)方法，其特征是步驟(b)還包括(b1)分析所有測量數(shù)據(jù)，以計算出該控制電路所需的正確參數(shù)；以及(b2)將該控制電路的參數(shù)設(shè)定為步驟(b1)計算出的正確值。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述之平面顯示器校調(diào)方法，其特征是該測試圖案的種類至少包括全黑、全白、灰階全系列、紅色全系列、綠色全系列、藍(lán)色全系列、膚色、天藍(lán)色、草綠色、條紋排列組合、以及動態(tài)圖像。
9.一種平面顯示器校調(diào)方法，其特征是包括下列步驟(a)使用平面顯示器顯示測試圖案；(b)重復(fù)取得該測試圖案的測量數(shù)據(jù)，直到測量數(shù)據(jù)足夠為止；以及(c)根據(jù)所有測量數(shù)據(jù)，設(shè)定該平面顯示器的控制電路的參數(shù)。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述之平面顯示器校調(diào)方法，其特征是于步驟(a)之前還包括執(zhí)行至少一項防拷檢查；若上述/上述這些防拷檢查未全數(shù)通過，則停止該平面顯示器校調(diào)方法。
11.根據(jù)權(quán)利要求9所述之平面顯示器校調(diào)方法，其特征是上述/上述這些防拷檢查至少包括下列其中之一檢查硬件序號是否正確、檢查儲存于硬件的數(shù)據(jù)是否正確、檢查防拷裝置是否存在、以及檢查使用者輸入的密碼是否正確。
12.根據(jù)權(quán)利要求9所述之平面顯示器校調(diào)方法，其特征是該測試圖案的測量數(shù)據(jù)是使用光學(xué)計量器取得，該平面顯示器校調(diào)方法于步驟(a)之前還包括初始設(shè)定該平面顯示器以及該光學(xué)計量器；以及延遲第一預(yù)設(shè)時間；而且于步驟(a)與步驟(b)之間還包括延遲第二預(yù)設(shè)時間。
13.根據(jù)權(quán)利要求9所述之平面顯示器校調(diào)方法，其特征是步驟(b)還包括(b1)取得該測試圖案的測量數(shù)據(jù)；(b2)檢查該測試圖案的測量數(shù)據(jù)是否已經(jīng)足夠；以及(b3)若該測試圖案的測量數(shù)據(jù)不足，則回到步驟(b1)，以取得更多測量數(shù)據(jù)。
14.根據(jù)權(quán)利要求9所述之平面顯示器校調(diào)方法，其特征是于步驟(b)與步驟(c)之間還包括檢查是否已經(jīng)顯示過所有測試圖案；以及若尚有測試圖案未顯示，則回到步驟(a)，顯示下一個測試圖案。
15.根據(jù)權(quán)利要求9所述之平面顯示器校調(diào)方法，其特征是步驟(c)還包括(c1)分析所有測量數(shù)據(jù)，以計算出該控制電路所需的正確參數(shù)；以及(c2)將該控制電路的參數(shù)設(shè)定為步驟(c1)計算出的正確值。
16.根據(jù)權(quán)利要求9所述之平面顯示器校調(diào)方法，其特征是該測試圖案的種類至少包括全黑、全白、灰階全系列、紅色全系列、綠色全系列、藍(lán)色全系列、膚色、天藍(lán)色、草綠色、條紋排列組合、以及動態(tài)圖像。
17.一種平面顯示器校調(diào)方法，其特征是包括下列步驟(a)初始設(shè)定平面顯示器以及光學(xué)計量器；(b)延遲第一預(yù)設(shè)時間；(c)使用該平面顯示器顯示測試圖案；(d)延遲第二預(yù)設(shè)時間；(e)使用該光學(xué)計量器取得該測試圖案的測量數(shù)據(jù)；以及(f)根據(jù)所有測量數(shù)據(jù)，設(shè)定該平面顯示器的控制電路的參數(shù)。
18.根據(jù)權(quán)利要求17所述之平面顯示器校調(diào)方法，其特征是于步驟(a)之前還包括執(zhí)行至少一項防拷檢查；若上述/上述這些防拷檢查未全數(shù)通過，則停止該平面顯示器校調(diào)方法。
19.根據(jù)權(quán)利要求18所述之平面顯示器校調(diào)方法，其特征是上述/上述這些防拷檢查至少包括下列其中之一檢查硬件序號是否正確、檢查儲存于硬件的數(shù)據(jù)是否正確、檢查防拷裝置是否存在、以及檢查使用者輸入的密碼是否正確。
20.根據(jù)權(quán)利要求17所述之平面顯示器校調(diào)方法，其特征是步驟(e)還包括(e1)取得該測試圖案的測量數(shù)據(jù)；(e2)檢查該測試圖案的測量數(shù)據(jù)是否已經(jīng)足夠；以及(e3)若該測試圖案的測量數(shù)據(jù)不足，則回到步驟(e1)，以取得更多測量數(shù)據(jù)。
21.根據(jù)權(quán)利要求17所述之平面顯示器校調(diào)方法，其特征是于步驟(e)與步驟(f)之間還包括檢查是否已經(jīng)顯示過所有測試圖案；以及若尚有測試圖案未顯示，則回到步驟(c)，顯示下一個測試圖案。
22.根據(jù)權(quán)利要求17所述之平面顯示器校調(diào)方法，其特征是步驟(f)還包括(f1)分析所有測量數(shù)據(jù)，以計算出該控制電路所需的正確參數(shù)；以及(f2)將該控制電路的參數(shù)設(shè)定為步驟(f1)計算出的正確值。
23.根據(jù)權(quán)利要求17所述之平面顯示器校調(diào)方法，其特征是該測試圖案的種類至少包括全黑、全白、灰階全系列、紅色全系列、綠色全系列、藍(lán)色全系列、膚色、天藍(lán)色、草綠色、條紋排列組合、以及動態(tài)圖像。
24.一種平面顯示器校調(diào)方法，其特征是包括下列步驟(a)初始設(shè)定平面顯示器以及光學(xué)計量器；(b)延遲第一預(yù)設(shè)時間；(c)使用該平面顯示器顯示測試圖案；(d)延遲第二預(yù)設(shè)時間；(e)重復(fù)使用該光學(xué)計量器取得該測試圖案的測量數(shù)據(jù)，直到測量數(shù)據(jù)足夠為止；(f)檢查是否已經(jīng)顯示過所有測試圖案；(g)若尚有測試圖案未顯示，則回到步驟(c)，顯示下一個測試圖案；以及(h)根據(jù)所有測量數(shù)據(jù)，設(shè)定該平面顯示器的控制電路的參數(shù)。
25.根據(jù)權(quán)利要求24所述之平面顯示器校調(diào)方法，其特征是于步驟(a)之前還包括執(zhí)行至少一項防拷檢查；若上述/上述這些防拷檢查未全數(shù)通過，則停止該平面顯示器校調(diào)方法。
26.根據(jù)權(quán)利要求25所述之平面顯示器校調(diào)方法，其特征是上述/上述這些防拷檢查至少包括下列其中之一檢查硬件序號是否正確、檢查儲存于硬件的數(shù)據(jù)是否正確、檢查防拷裝置是否存在、以及檢查使用者輸入的密碼是否正確。
27.根據(jù)權(quán)利要求24所述之平面顯示器校調(diào)方法，其特征是步驟(e)還包括(e1)使用該光學(xué)計量器取得該測試圖案的測量數(shù)據(jù)；(e2)檢查該測試圖案的測量數(shù)據(jù)是否已經(jīng)足夠；(e3)若該測試圖案的測量數(shù)據(jù)不足，則回到步驟(e1)，以取得更多測量數(shù)據(jù)；
28.根據(jù)權(quán)利要求24所述之平面顯示器校調(diào)方法，其特征是步驟(h)還包括(h1)分析所有測量數(shù)據(jù)，以計算出該控制電路所需的正確參數(shù)；以及(h2)將該控制電路的參數(shù)設(shè)定為步驟(h1)計算出的正確值。
29.根據(jù)權(quán)利要求24所述之平面顯示器校調(diào)方法，其特征是該測試圖案的種類至少包括全黑、全白、灰階全系列、紅色全系列、綠色全系列、藍(lán)色全系列、膚色、天藍(lán)色、草綠色、條紋排列組合、以及動態(tài)圖像。
全文摘要
一種平面顯示器校調(diào)方法，包括下列步驟初始設(shè)定平面顯示器以及光學(xué)計量器。延遲一段預(yù)設(shè)時間。使用平面顯示器顯示測試圖案。延遲另一段預(yù)設(shè)時間。使用光學(xué)計量器重復(fù)取得測試圖案的測量數(shù)據(jù)，直到數(shù)據(jù)足夠為止。然后，重復(fù)顯示測試圖案的步驟，直到已經(jīng)顯示過所有測試圖案為止。最后，分析所有測量數(shù)據(jù)，以計算出平面顯示器的控制電路所需的正確參數(shù)，并且將控制電路的參數(shù)設(shè)定為正確值。
文檔編號G09G5/00GK1924986SQ20061005800
公開日2007年3月7日 申請日期2006年2月24日 優(yōu)先權(quán)日2005年8月29日
發(fā)明者沈毓銓, 黃偉哲 申請人:聯(lián)詠科技股份有限公司