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制造平板顯示器的方法和設備的制作方法

文檔序號:2612446閱讀:238來源:國知局
專利名稱:制造平板顯示器的方法和設備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種平板顯示器,更具體地,涉及一種制造平板顯示器的方法和設備,其適合于在制造過程中利用電數(shù)據(jù)補償面板缺陷。
背景技術(shù)
在現(xiàn)今信息社會,顯示器作為可視信息交流媒體,其重要性比以往任何時候都需要強調(diào)。目前主流的陰極射線管CRT或Braun管存在的問題在于其重量和尺寸大。已經(jīng)研制的許多類型的平板顯示器,可以克服上述陰極射線管的局限。
平板顯示器包括液晶顯示器LCD,場致發(fā)射顯示器FED,等離子體顯示板PDP,有機發(fā)光二極管OLED等。這些顯示器的大多數(shù)已經(jīng)投入實際應用并銷售。
平板顯示器包括顯示圖像的顯示面板,而且面板缺陷(或云紋缺陷)已經(jīng)在這種顯示面板的測試過程中發(fā)現(xiàn)。在此,將面板缺陷定義為顯示屏幕上伴隨有亮度差別的顯示點。面板缺陷主要在制造過程中產(chǎn)生,并且根據(jù)它們產(chǎn)生的原因可能具有固定的形式,如點狀、線狀、帶狀、圓狀、多邊形等或不確定的形式。在圖1至3中示出具有上述多種形式面板缺陷的例子。
圖1表示不確定形式的面板缺陷,圖2表示垂直帶狀(或水平帶狀)的面板缺陷,以及圖3表示固定形式的面板缺陷。它們中垂直帶狀的面板缺陷主要由于重疊曝光、透鏡數(shù)量差等而產(chǎn)生,點狀的面板缺陷主要通過雜質(zhì)而產(chǎn)生。在這種面板缺陷位置處顯示的圖像比周圍的無缺陷區(qū)域看上去更暗或更亮。同樣,當與無缺陷區(qū)域相比時產(chǎn)生色差。
根據(jù)程度,面板缺陷與產(chǎn)品的缺陷密切相關(guān),并且這種產(chǎn)品的缺陷導致產(chǎn)量下降。此外,即使被發(fā)現(xiàn)面板缺陷的產(chǎn)品作為好的產(chǎn)品已出貨(ship),而由于面板缺陷使產(chǎn)品的可靠性下降,因此圖像質(zhì)量下降。
因此,已經(jīng)提出多種方法以便改進面板缺陷。為了減小面板缺陷,主要打算提高至今為止的處理技術(shù)。然而,即使處理技術(shù)提高,面板缺陷可以減輕,但是面板缺陷不能完全去除。

發(fā)明內(nèi)容
因此,本發(fā)明的一個目的是提供一種制造平板顯示器的方法和設備,其適合于在制造過程中利用電數(shù)據(jù)補償面板缺陷。
為了實現(xiàn)本發(fā)明的這些和其他目的,根據(jù)本發(fā)明一個方面的制造平板顯示器的方法,包括在平板顯示器的檢查過程中,通過給平板顯示器的數(shù)據(jù)電極提供測試數(shù)據(jù)和測試掃描信號檢查平板顯示器;在平板顯示器的面板缺陷判斷過程中,根據(jù)檢查裝置的檢查結(jié)果判斷平板顯示器的面板缺陷位置以及在面板缺陷位置處的面板缺陷的程度,并確定用于補償面板缺陷程度的補償數(shù)據(jù);以及在平板顯示器的面板缺陷補償數(shù)據(jù)記錄過程中,在平板顯示器的數(shù)據(jù)調(diào)制存儲器中存儲用于補償面板缺陷程度的補償數(shù)據(jù)。
在制造方法中,補償數(shù)據(jù)包括表示面板缺陷位置的定位的位置數(shù)據(jù);和每個灰度級的補償數(shù)據(jù),其對于將在面板缺陷位置處顯示的數(shù)據(jù)的每個灰度級設置為不同。
在制造方法中,補償數(shù)據(jù)包括補償紅色數(shù)據(jù)的R補償數(shù)據(jù);補償綠色數(shù)據(jù)的G補償數(shù)據(jù);和補償藍色數(shù)據(jù)的B補償數(shù)據(jù),其中R補償數(shù)據(jù)、G補償數(shù)據(jù)和B補償數(shù)據(jù)在相同象素位置的相同灰度級中設置為相同的值。
在制造方法中,補償數(shù)據(jù)包括補償紅色數(shù)據(jù)的R補償數(shù)據(jù);補償綠色數(shù)據(jù)的G補償數(shù)據(jù);和補償藍色數(shù)據(jù)的B補償數(shù)據(jù),以及R補償數(shù)據(jù)、G補償數(shù)據(jù)和B補償數(shù)據(jù)的至少一個的補償值在相同象素位置的相同灰度級中與其他補償數(shù)據(jù)不同。
在制造方法中,存儲器包括其中數(shù)據(jù)可以被更新的非易失性存儲器。
在制造方法中,存儲器包括EEPROM和EDID ROM其中任一種。
在制造方法中,平板顯示器包括連接到存儲器、利用補償數(shù)據(jù)調(diào)制數(shù)據(jù)的補償電路,所述數(shù)據(jù)將在面板缺陷位置處顯示。
在制造方法中,平板顯示器包括液晶顯示面板,其中多個數(shù)據(jù)線與多個柵極線相交以及多個液晶盒布置在其中;通過使用利用補償數(shù)據(jù)調(diào)制的數(shù)據(jù)驅(qū)動數(shù)據(jù)線的數(shù)據(jù)驅(qū)動電路;將掃描脈沖提供給柵極線的柵極驅(qū)動電路;和控制驅(qū)動電路并將補償數(shù)據(jù)提供給數(shù)據(jù)驅(qū)動電路的時序控制器,以及補償電路嵌入在時序控制器中。
在制造方法中,補償電路利用補償數(shù)據(jù)增加或減少將在面板缺陷位置處顯示的數(shù)據(jù)。
在制造方法中,補償電路在m位的紅色、m位的綠色和m位的藍色的數(shù)據(jù)中提取顏色差信息和n(n是大于m的整數(shù))位的亮度信息,所述數(shù)據(jù)將在面板缺陷位置處顯示;產(chǎn)生n位的亮度信息,其通過利用補償數(shù)據(jù)增加或減少n位的亮度信息來調(diào)制;以及通過使用n位的已調(diào)制亮度信息和未調(diào)制的顏色差信息來產(chǎn)生m位的已調(diào)制紅色數(shù)據(jù)、m位的已調(diào)制綠色數(shù)據(jù)和m位的已調(diào)制藍色數(shù)據(jù)。
在制造方法中,補償數(shù)據(jù)對于面板缺陷位置的每個位置,以及對于數(shù)據(jù)的每個灰度級設置為不同,所述數(shù)據(jù)在面板缺陷位置處顯示。
在制造方法中,補償電路暫時分散補償數(shù)據(jù);并利用該暫時分散的補償數(shù)據(jù)而增加或減少將在面板缺陷位置處顯示的數(shù)據(jù)。
在制造方法中,補償數(shù)據(jù)通過幀周期的單位進行分散。
在制造方法中,補償電路空間分散補償數(shù)據(jù);并利用該空間分散的補償數(shù)據(jù)增加或減少將在面板缺陷位置處顯示的數(shù)據(jù)。
在制造方法中,補償數(shù)據(jù)分散到相鄰象素。
在制造方法中,補償電路暫時和空間分散補償數(shù)據(jù);并利用該暫時和空間分散的補償數(shù)據(jù)而增加或減少將在面板缺陷位置處顯示的數(shù)據(jù)。
在制造方法中,補償數(shù)據(jù)分散到多個幀周期和相鄰象素。
根據(jù)本發(fā)明另一個方面的制造平板顯示器的設備包括檢查裝置,在平板顯示器的檢查過程中,通過給平板顯示器的數(shù)據(jù)電極提供測試數(shù)據(jù)和測試掃描信號檢查平板顯示器;面板缺陷判斷裝置,在平板顯示器的面板缺陷判斷過程中,根據(jù)檢查裝置的檢查結(jié)果判斷平板顯示器的面板缺陷位置以及在面板缺陷位置處的面板缺陷的程度,并確定用于補償面板缺陷程度的補償數(shù)據(jù);和存儲器記錄裝置,在平板顯示器的面板缺陷補償數(shù)據(jù)記錄過程中,在平板顯示器的數(shù)據(jù)調(diào)制存儲器中存儲補償面板缺陷程度的補償數(shù)據(jù)。
在制造設備中,補償數(shù)據(jù)包括表示面板缺陷位置的定位的位置數(shù)據(jù);和每個灰度級的補償數(shù)據(jù),其對于將在面板缺陷位置處顯示的數(shù)據(jù)的每個灰度級設置為不同。
在制造設備中,補償數(shù)據(jù)包括補償紅色數(shù)據(jù)的R補償數(shù)據(jù);補償綠色數(shù)據(jù)的G補償數(shù)據(jù);和補償藍色數(shù)據(jù)的B補償數(shù)據(jù),其中R補償數(shù)據(jù)、G補償數(shù)據(jù)和B補償數(shù)據(jù)在相同象素位置的相同灰度級中設置為相同的值。
在制造設備中,補償數(shù)據(jù)包括補償紅色數(shù)據(jù)的R補償數(shù)據(jù);補償綠色數(shù)據(jù)的G補償數(shù)據(jù);和補償藍色數(shù)據(jù)的B補償數(shù)據(jù),以及R補償數(shù)據(jù)、G補償數(shù)據(jù)和B補償數(shù)據(jù)的至少一個的補償值在相同象素位置的相同灰度級中與其他補償數(shù)據(jù)不同。
在制造設備中,存儲器包括其中數(shù)據(jù)可以被更新的非易失性存儲器。
在制造設備中,存儲器包括EEPROM和EDID ROM其中任一種。
在制造設備中,平板顯示器包括連接到存儲器、利用補償數(shù)據(jù)調(diào)制數(shù)據(jù)的補償電路,所述數(shù)據(jù)將在面板缺陷位置處顯示。
在制造設備中,平板顯示器包括液晶顯示面板,其中多個數(shù)據(jù)線與多個柵極線相交以及多個液晶盒布置在其中;通過使用利用補償數(shù)據(jù)調(diào)制的數(shù)據(jù)驅(qū)動數(shù)據(jù)線的數(shù)據(jù)驅(qū)動電路;將掃描脈沖提供給柵極線的柵極驅(qū)動電路;和控制驅(qū)動電路并將補償數(shù)據(jù)提供給數(shù)據(jù)驅(qū)動電路的時序控制器,以及補償電路嵌入在時序控制器中。
在制造設備中,補償電路利用補償數(shù)據(jù)增加或減少將在面板缺陷位置處顯示的數(shù)據(jù)。
在制造設備中,補償電路在m位的紅色、m位的綠色和m位的藍色的數(shù)據(jù)中提取顏色差信息和n(n是大于m的整數(shù))位的亮度信息,所述數(shù)據(jù)將在面板缺陷位置處顯示;產(chǎn)生n位的亮度信息,其通過利用補償數(shù)據(jù)增加或減少n位的亮度信息來調(diào)制;以及通過使用n位的已調(diào)制亮度信息和未調(diào)制的顏色差信息來產(chǎn)生m位的已調(diào)制紅色數(shù)據(jù)、m位的已調(diào)制綠色數(shù)據(jù)和m位的已調(diào)制藍色數(shù)據(jù)。
在制造設備中,補償數(shù)據(jù)對于面板缺陷位置的每個位置以及對于數(shù)據(jù)的每個灰度級設置為不同,所述數(shù)據(jù)在面板缺陷位置處顯示。
在制造設備中,補償電路暫時分散補償數(shù)據(jù);并利用該暫時分散的補償數(shù)據(jù)而增加或減少將在面板缺陷位置處顯示的數(shù)據(jù)。
在制造設備中,補償數(shù)據(jù)通過幀周期的單位進行分散。
在制造設備中,補償電路空間分散補償數(shù)據(jù);并利用該空間分散的補償數(shù)據(jù)而增加或減少將在面板缺陷位置處顯示的數(shù)據(jù)。
在制造設備中,補償數(shù)據(jù)分散到相鄰象素。
在制造設備中,補償電路暫時和空間分散補償數(shù)據(jù);并利用該暫時和空間分散的補償數(shù)據(jù)增加或減少將在面板缺陷位置處顯示的數(shù)據(jù)。
在制造設備中,補償數(shù)據(jù)分散到多個幀周期和相鄰象素。


本發(fā)明的這些和其他目的將從參考所附附圖的本發(fā)明實施例的詳細描述中顯而易見,在附圖中圖1是表示不確定形式的面板缺陷的圖;圖2是表示垂直帶狀的面板缺陷的圖;圖3是表示點狀的面板缺陷的圖;圖4是表示根據(jù)本發(fā)明實施例的逐步制造平板顯示器的方法的流程圖;圖5是表示根據(jù)本發(fā)明實施例的平板顯示器,檢查裝置和面板缺陷補償裝置的框圖;圖6是表示伽瑪校正曲線的例子的視圖,其中面板缺陷補償數(shù)據(jù)對于每個灰度級以及將被設置的每個灰度級部分進行劃分;圖7是表示根據(jù)本發(fā)明第一實施例的面板缺陷補償電路的框圖;圖8和9是表示圖7所示的面板缺陷補償電路的面板缺陷補償結(jié)果的例子;圖10A和10B是表示象素排列的兩個例子的視圖;圖11是表示根據(jù)本發(fā)明第二實施例的面板缺陷補償電路的框圖;圖12是表示根據(jù)本發(fā)明第三實施例的面板缺陷補償電路的框圖;圖13是表示幀頻控制的例子的視圖;圖14是表示抖動的例子的視圖;圖15是表示幀頻控制和抖動的例子的視圖;圖16是表示根據(jù)本發(fā)明第四實施例的面板缺陷補償電路的框圖;圖17是詳細表示圖16的第一FRC控制器的框圖;圖18是表示根據(jù)本發(fā)明第五實施例的面板缺陷補償電路的框圖;圖19是詳細表示圖18所示的第一抖動控制器的框圖;圖20是表示根據(jù)本發(fā)明第六實施例的面板缺陷補償電路的框圖;和圖21是表示圖20所示的第一FRC和抖動控制器的框圖。
具體實施例方式
現(xiàn)在將詳細描述本發(fā)明的優(yōu)選實施例,這些例子在所附附圖中說明。
參考圖4至21,本發(fā)明的實施例將如下解釋。
參考圖4,根據(jù)本發(fā)明實施例的制造平板顯示器的方法在分別得到上板和下板后利用密封劑或熔合玻璃粘合上/下板。(S1,S2,S3)隨后,平板顯示器的制造方法在平板顯示器的檢查過程中,通過將每個灰度級的測試數(shù)據(jù)施加到上/下板粘合的平板顯示器來顯示測試圖像,并通過圖像上的電檢查和/或宏觀檢查(macrography)來檢查面板缺陷(defect)即顯示點。(S4)以及,如果在檢查過程中,在平板顯示器上發(fā)現(xiàn)面板缺陷(S5),則根據(jù)本發(fā)明的制造平板顯示器的方法,分析面板缺陷出現(xiàn)的位置以及面板缺陷的程度。(S6)而且,根據(jù)本發(fā)明的制造平板顯示器的方法,在步驟S7和S8中,在平板顯示器的面板缺陷判斷過程中,確定每個灰度級區(qū)域的面板缺陷補償數(shù)據(jù)和面板缺陷位置數(shù)據(jù),然后,在半板顯示器的面板缺陷補償數(shù)據(jù)記錄過程中,將每個灰度級區(qū)域的面板缺陷補償數(shù)據(jù)和面板缺陷位置數(shù)據(jù)存儲在非易失性存儲器如EEPROM(電可擦除只讀存儲器)和EDID ROM(擴展顯示標識數(shù)據(jù)ROM)中,這里的EEPROM和EDID ROM可進行數(shù)據(jù)更新或擦除。面板缺陷位置數(shù)據(jù)和每個灰度級區(qū)域的面板缺陷補償數(shù)據(jù),根據(jù)面板缺陷的位置和程度改變。
根據(jù)本發(fā)明的制造平板顯示器的方法,調(diào)制在EEPROM中存儲的面板缺陷位置數(shù)據(jù)和面板缺陷補償數(shù)據(jù),并將已調(diào)制的數(shù)據(jù)提供給平板顯示器。
另一方面,如果在步驟S5中發(fā)現(xiàn)面板缺陷的尺寸、數(shù)量和程度不大于好的產(chǎn)品可允許標準值,則平板顯示器被判斷為可以出貨的好產(chǎn)品。(S9)下面將以有效矩陣型液晶顯示器為中心詳細描述根據(jù)本發(fā)明的制造平板顯示器的方法。
根據(jù)本發(fā)明的制造液晶顯示器的方法劃分為基板清洗過程、基板圖案化過程、取向膜形成/摩擦過程、基板粘合/液晶注入過程、安裝過程、檢查過程、檢修過程等。
在基板清洗過程中,利用清洗溶液將雜質(zhì)去除,具有該雜質(zhì),液晶顯示器的基板表面被污染。
基板圖案化過程劃分為上板(濾色片基板)的圖案化過程和下板(TFT陣列基板)的圖案化過程。濾色片,公共電極,黑色矩陣等形成在上板的基板中。在下板的基板中,信號線如數(shù)據(jù)線,柵極線等形成,TFT形成在數(shù)據(jù)線和柵極線的每個相交部分處,以及象素電極形成在柵極線和連接到TFT的源極的數(shù)據(jù)線之間的象素區(qū)域處。
在取向膜形成/摩擦過程中,取向膜展開在上和下板的每個的上方,以及取向膜利用摩擦布等進行摩擦。
在基板粘合/液晶注入過程中,上基板和下基板通過使用密封劑粘合在一起,液晶和襯墊料通過液晶注入孔注入,然后液晶注入孔被密封。
在安裝過程中,帶式封裝(在下文中,稱為“TCP”)連接到基板上的焊盤部分,集成電路(在下文中,稱為“IC”)如柵極驅(qū)動IC和數(shù)據(jù)驅(qū)動IC安裝在該帶式封裝上。驅(qū)動IC可以通過芯片固定在玻璃上(COG)的方法直接安裝在基板上,該方法不同于利用前述TCP的帶式自動焊接(TAB)方法。
檢查過程包括在多種信號線和象素電極形成在下基板中以后進行的電檢查,以及在基板粘合/液晶注入過程之后進行的電檢查和宏觀檢查。作為在基板粘合/液晶注入過程之后進行的檢查過程的結(jié)果,如果發(fā)現(xiàn)面板缺陷,則確定面板缺陷的位置數(shù)據(jù)和補償數(shù)據(jù),以及將位置數(shù)據(jù)和補償數(shù)據(jù)存儲在EEPROM中。在這里,EEPROM安裝在液晶顯示器的印刷電路板PCB上。面板缺陷補償電路和時序控制器一起安裝在印刷電路板上,其中面板缺陷補償電路通過使用EEPROM的數(shù)據(jù)調(diào)制輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù),時序控制器將來自面板缺陷補償電路的數(shù)據(jù)提供給數(shù)據(jù)驅(qū)動電路并控制數(shù)據(jù)驅(qū)動電路和掃描驅(qū)動電路的操作時序。面板缺陷補償電路可以嵌入在時序控制器中。被判斷為可以出貨的最終的好產(chǎn)品的液晶顯示器的驅(qū)動電路,包括EEPROM和與時序控制器一起的面板缺陷補償電路,數(shù)據(jù)驅(qū)動電路和掃描驅(qū)動電路。
圖5表示根據(jù)本發(fā)明實施例的制造平板顯示器的設備。
參考圖5,根據(jù)本發(fā)明實施例的制造平板顯示器的設備包括ROM記錄器54,其可以訪問平板顯示器100的EEPROM 53;連接到ROM記錄器54的計算機55;和連接到計算機55的檢查裝置61。
平板顯示器100包括平板顯示面板60,其中數(shù)據(jù)線58與掃描線59相交,象素以矩陣形式排列;提供數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Rc/Gc/Bc的數(shù)據(jù)驅(qū)動電路56,其中面板缺陷被補償?shù)綌?shù)據(jù)線58;順序?qū)呙杳}沖提供給掃描線59的掃描驅(qū)動電路57;和控制驅(qū)動電路56,57的時序控制器52。平板顯示器100可為液晶顯示器LCD,場致顯示器FED,等離子體顯示板PDP,有機發(fā)光二極管OLED等。
面板缺陷補償電路51嵌入在時序控制器52中。面板缺陷補償電路51使相應于面板缺陷位置的輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi增加和減小補償數(shù)據(jù)以調(diào)制數(shù)字視頻數(shù)據(jù)。下文將詳細描述面板缺陷補償電路51。時序控制器52將由面板缺陷補償電路51調(diào)制的數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi和相應于無缺陷區(qū)域的未被調(diào)制過的數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi提供給數(shù)據(jù)驅(qū)動電路56。時序控制器52通過使用垂直和水平同步信號Vsync,Hsync,點時鐘DCLK和數(shù)據(jù)使能信號DE產(chǎn)生控制數(shù)據(jù)驅(qū)動電路56的操作時序的數(shù)據(jù)驅(qū)動控制信號DDC和控制柵極驅(qū)動電路57的操作時序的柵極驅(qū)動控制信號GDC。
數(shù)據(jù)驅(qū)動電路56將來自時序控制器52的補償?shù)臄?shù)字視頻數(shù)據(jù)Rc/Gc/Bc轉(zhuǎn)換為可以表示灰度級的模擬電壓或電流,并提供給數(shù)據(jù)線58。
在時序控制器52的控制下,掃描驅(qū)動電路57將掃描脈沖順序提供給掃描線,以選擇將被顯示的象素的水平行。
檢查裝置61將測試數(shù)據(jù)提供給數(shù)據(jù)線58,以及將測試掃描脈沖提供給掃描線59,并在驅(qū)動電路沒有連接到平板顯示面板60的狀態(tài)下,利用圖像測量裝置或肉眼檢查在平板顯示器上顯示的圖像。檢查裝置61在計算機55的控制下檢查在平板顯示面板60上顯示的測試圖像,同時通過從最低的灰度級(或峰值黑色灰度級)到最高的灰度級(或峰值白色灰度級)的灰度級來增加測試數(shù)據(jù)的灰度級。測試數(shù)據(jù)應當具有至少不小于8位的分辨率。
計算機55接收對于每個灰度級的通過檢查裝置61測量的象素的亮度測量值,以計算象素之間的亮度差,并將與其他象素相比時存在亮度差的象素的位置判斷為面板缺陷區(qū)域。計算機55計算面板缺陷區(qū)域的位置數(shù)據(jù)和用于補償面板缺陷區(qū)域的亮度差的補償數(shù)據(jù)。計算機55將已計算的面板缺陷位置信息和面板缺陷補償數(shù)據(jù)提供給ROM記錄器54。由于處理條件的改變和應用模式之間的差別,或如果面板缺陷位置數(shù)據(jù)和面板缺陷補償數(shù)據(jù)的更新數(shù)據(jù)由操作者輸入,因此需要面板缺陷位置數(shù)據(jù)和面板缺陷補償數(shù)據(jù)更新的情況下,計算機55通過使用通信標準協(xié)議如I2C等將更新數(shù)據(jù)傳輸?shù)絉OM記錄器54,使ROM記錄器54更新存儲在EEPROM 53中的面板缺陷位置數(shù)據(jù)和面板缺陷補償數(shù)據(jù)。
ROM記錄器54將來自計算機55的面板缺陷位置數(shù)據(jù)PD和面板缺陷補償數(shù)據(jù)CD提供給EEPROM。在這里,ROM記錄器可以通過用戶連接器將面板缺陷補償數(shù)據(jù)傳輸?shù)紼EPROM 53。面板缺陷補償數(shù)據(jù)通過用戶連接器連續(xù)傳輸,以及串行時鐘,接地電源等也通過用戶連接器傳輸?shù)紼EPROM 53。
另一方面,將面板缺陷補償數(shù)據(jù)傳輸?shù)紼DID ROM而不是EEPROM 53,EDIDROM可以將面板缺陷補償數(shù)據(jù)存儲到單獨的存儲空間。EDID ROM存儲銷售商/制造商標識信息ID和基本顯示器的變量和特征作為不同于面板缺陷補償數(shù)據(jù)的監(jiān)視器信息數(shù)據(jù)。在面板缺陷補償數(shù)據(jù)存儲在EDID ROM而不是EEPROM 53中的情況下,ROM記錄器54通過DDC(數(shù)據(jù)顯示通道)傳輸面板缺陷補償數(shù)據(jù)。因此,在使用EDID ROM的情況下,EEPROM 53和用戶連接器可以被去除,從而存在減少附加研發(fā)成本的效果。在下文中,描述將假定面板缺陷補償數(shù)據(jù)存儲在其中的存儲器是EEPROM 53。當然,在下面實施例的解釋中,EEPROM 53和用戶連接器可以用EDID ROM和DDC取代。
在EEPROM 53中存儲的補償數(shù)據(jù)具有它們的根據(jù)面板缺陷的位置改變的顏色差或亮度的非均勻性,從而補償數(shù)據(jù)應當對于每個位置最佳化。此外,考慮到如圖6中的伽瑪特性,補償數(shù)據(jù)應當對于每個灰度級最佳化。因此,補償數(shù)據(jù)可以對于R、G和B的每個中的每個灰度級設置,或者可以對于包括圖6中的多個灰度級的每個灰度級部分(A,B,C,D)設置。例如,補償數(shù)據(jù)可以對于每個位置設置為最佳值,即在‘面板缺陷1’位置為‘+1’,在‘面板缺陷2’位置為‘-1’以及在‘面板缺陷3’位置為‘0’,以及此外可以對于每個灰度級部分設置為最佳值,即在‘灰度級部分A’中為‘0’,在‘灰度級部分B’中為‘0’,在‘灰度級部分C’中為‘1’以及在‘灰度級部分D’中為‘1’。因此,補償數(shù)據(jù)可以在相同面板缺陷位置中對于每個灰度級不同,并且可以在相同的灰度級中對于每個面板缺陷位置不同。根據(jù)通過包括R、G、B子象素的一個象素單位設置的亮度校正,補償數(shù)據(jù)在一個象素的R、G、B數(shù)據(jù)的每個中設置為相同值。此外,當校正顏色差時,在每個R、G、B數(shù)據(jù)中設置不同補償數(shù)據(jù)。例如,如果紅色在特定面板缺陷位置比在無缺陷位置中更顯著地顯現(xiàn),則R補償數(shù)據(jù)低于G、B補償值。
EEPROM 53以查找表的形式存儲面板缺陷位置數(shù)據(jù)PD和面板缺陷補償數(shù)據(jù)CD和灰度級區(qū)域信息(圖6中的部分A,B,C,D),并響應來自嵌入在時序控制器52中的面板缺陷補償電路51的地址控制信號,將來自相應地址的面板缺陷位置數(shù)據(jù)PD和補償數(shù)據(jù)CD提供給面板缺陷補償電路。
圖7至9為解釋面板缺陷補償電路51及其操作的第一實施例的圖。
參考圖7,面板缺陷補償電路51包括位置判斷部分71,灰度級判斷部分72R,72G,72B,地址產(chǎn)生器73R,73G,73B,和計算器74R,74G,74B。EEPROM 53包括第一至第三EEPROM 53R,53G,53B,其每一個對于紅R、綠G和藍B的每一個存儲面板缺陷補償數(shù)據(jù)CD及其面板缺陷位置數(shù)據(jù)PD。
在面板缺陷通過子象素單位進行補償?shù)那闆r下,或在顏色校正的情況下,存儲在第一至第三EEPROM 53中的數(shù)據(jù)對于在相同位置和相同灰度級中的每個EEPROM設置為不同,但是另一方面,在面板缺陷通過包括紅、綠和藍三個子象素的象素單位進行補償?shù)那闆r下,或在亮度校正的情況下,數(shù)據(jù)對于在相同位置和相同灰度級中的每個EEPROM中設置為相同。
位置判斷部分71通過使用垂直/水平同步信號Vsync,Hsync,數(shù)據(jù)使能信號DE和點時鐘DCLK,判斷輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi的顯示位置。
灰度級判斷部分72R,72G,72B分析紅R、綠G、藍B的輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi的灰度級。
通過參考EEPROM 53R,53G,53B的面板缺陷位置數(shù)據(jù)PD,如果輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi的顯示位置相應于面板缺陷位置,則地址產(chǎn)生器73R,73G,73B產(chǎn)生讀取面板缺陷位置的面板缺陷補償數(shù)據(jù)CD的讀取地址,以提供給EEPROM53R,53G,53B。
從EEPROM 53R,53G,53B輸出的面板缺陷補償數(shù)據(jù)CD根據(jù)地址被提供給計算器74R,74G,74B。
計算器74R,74G,74B使輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi加上或減去面板缺陷補償數(shù)據(jù)CD,以調(diào)制將在面板缺陷位置中顯示的輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi。在這里,計算器74R,74G,74B可以包括乘法器或除法器,其不同于加法器或減法器,可以使輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi乘以或除以面板缺陷補償數(shù)據(jù)CD。
由面板缺陷補償電路51產(chǎn)生的面板缺陷補償?shù)囊粋€例子為R補償數(shù)據(jù),G補償數(shù)據(jù)和B補償數(shù)據(jù)相同地設置為‘1’,將在面板缺陷位置處顯示的、比無缺陷位置低一個灰度級的輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi的灰度級在每個顏色中相同地增加一個灰度級,從而面板缺陷位置的亮度可以被補償,如圖8所示。此外,由面板缺陷補償電路51產(chǎn)生的面板缺陷補償?shù)牧硪粋€例子為R補償數(shù)據(jù)設置為‘1’,G補償數(shù)據(jù)和B補償數(shù)據(jù)設置為‘0’,從而將在面板缺陷位置處顯示的、紅色的純度比無缺陷位置低的輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi的顏色差可以被補償,如圖9所示。
平板顯示面板60的一個象素可以包括三個子象素紅R、綠G、藍B,如圖10A所示,但是它可以包括四個子象素紅R、綠G、藍B和白W,如圖10B所示。
為了調(diào)制如圖10B所示的象素排列中的面板缺陷位置的白色數(shù)據(jù)W,根據(jù)本發(fā)明第二實施例的面板缺陷補償電路51進一步包括灰度級判斷部分72W,地址產(chǎn)生器73W和計算器74W,如圖11所示。EEPROM 53進一步包括第三EEPROM 53W,面板缺陷位置中的白色數(shù)據(jù)的補償數(shù)據(jù)以查找表的形式存儲在其中。如果白色數(shù)據(jù)Wi以該方式補償,則面板缺陷位置中的亮度補償可以更容易地實現(xiàn)。另一方面,白色數(shù)據(jù)Wi從亮度信息Y確定,該亮度信號通過使紅,綠和藍的輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi作為變量來計算。
圖12表示根據(jù)本發(fā)明第三實施例的面板缺陷補償電路51和EEPROM 53Y。
參考圖12,根據(jù)本發(fā)明的面板缺陷補償電路51包括RGB至YUV轉(zhuǎn)換器120,位置判斷部分121,灰度級判斷部分122,地址產(chǎn)生器123,計算器124和YUV至RGB轉(zhuǎn)換器125。EEPROM 53Y存儲對于每個位置和對于每個灰度級的面板缺陷亮度補償數(shù)據(jù),其用于精密地調(diào)制輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi的亮度信息Yi,這些數(shù)據(jù)將在面板缺陷位置處顯示。
RGB至YUV轉(zhuǎn)換器120通過使用具有m/m/m位的R/G/B數(shù)據(jù)的輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi的下述數(shù)學公式1至3,計算顏色差信息UiVi和n/n/n(n是大于m的整數(shù))位的亮度信息Yi。
Yi=0.299Ri+0.587Gi+0.114Bi[數(shù)學公式2]Ui=-0.147Ri-0.289Gi+0.436Bi=0.492(Bi-Y)[數(shù)學公式3]Vi=0.615Ri-0.515Gi-0.100Bi=0.877(Ri-Y)位置判斷部分121通過使用垂直/水平同步信號Vsync,Hsync,數(shù)據(jù)使能信號DE和點時鐘DCLK,判斷輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)(Ri/Gi/Bi)的顯示位置。
灰度級判斷部分122基于來自RGB至YUV轉(zhuǎn)換器120的亮度信息,分析輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi的灰度級。
通過參考EEPROM 53Y的面板缺陷位置數(shù)據(jù),如果輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi的顯示位置相應于面板缺陷位置,則地址產(chǎn)生器127產(chǎn)生讀取面板缺陷位置的面板缺陷亮度補償數(shù)據(jù)的讀取地址,以提供給EEPROM 53Y。
從EEPROM 53Y輸出的面板缺陷亮度補償數(shù)據(jù)根據(jù)地址被提供給計算器124。
計算器124使來自RGB至YUV轉(zhuǎn)換器120的n位亮度信息Yi加上或減去EEPROM53Y的面板缺陷亮度補償數(shù)據(jù)。在這里,計算器124可以包括乘法器或除法器,其不同于加法器或減法器,可以使n位的亮度信息Yi乘以或除以面板缺陷亮度補償數(shù)據(jù)。
由計算器124調(diào)制的亮度信息Yc增加或減少n位擴展的亮度信息Yi,從而將輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi的亮度精密地調(diào)節(jié)到小部分是可能的。
YUV至RGB轉(zhuǎn)換器125通過使用由計算器124調(diào)制的亮度信息Yc和來自RGB至YUV轉(zhuǎn)換器120的顏色差信息UiVi作為變量的下述數(shù)學公式4至6,計算m/m/m位的調(diào)制數(shù)據(jù)Rc/Gc/Bc。
R=Y(jié)c+1.140Vi[數(shù)學公式5]G=Y(jié)c-0.395Ui-0.581Vi[數(shù)學公式6]B=Y(jié)c+2.032Ui以該方式,根據(jù)本發(fā)明第三實施例的面板缺陷補償電路通過注意到人眼對亮度差比對顏色差更敏感,將在面板缺陷位置中顯示的R/G/B視頻數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為亮度成分和顏色差成分,以及通過擴展包括亮度信息的Y數(shù)據(jù)的位數(shù),調(diào)節(jié)面板缺陷位置的亮度,由此能夠精密地控制在平板顯示器的面板缺陷位置處的亮度。
根據(jù)本發(fā)明第四至第六實施例的面板缺陷補償電路51通過使用幀頻控制(在下文中,稱為‘FRC’)和抖動,其已知為精密地調(diào)節(jié)圖像質(zhì)量的方法,調(diào)節(jié)將在面板缺陷位置處顯示的數(shù)據(jù)。
幀頻控制和抖動將參考圖13至15進行解釋。
在幀頻控制中,假定存在一個象素,其中‘0’灰度級和‘1’灰度級順序?qū)τ谒膸@示,如果象素對于三幀顯示‘0’灰度級,對于剩余的一幀顯示‘1’灰度級,如圖13的(A)中所示,則觀察者由于其視網(wǎng)膜的整體效果,對于該四幀感覺到‘1/4’灰度級。與此不同,如果相同的象素對于兩幀顯示‘0’灰度級,對于剩余的兩幀顯示‘1’灰度級,如圖13的(B)中所示,則觀察者由于其視網(wǎng)膜的整體效果,對于該四幀感覺到‘1/2’灰度級。以及,如果相同的象素對于一幀顯示‘0’灰度級,對于剩余的三幀顯示‘1’灰度級,如圖13的(C)中所示,則觀察者由于其視網(wǎng)膜的整體效果,對于該四幀感覺到‘3/4’灰度級。
在抖動中,假定存在包括四個象素P1、P2、P3和P4的單位象素窗,如果該單位象素窗中的三個象素P1、P3和P4顯示‘0’灰度級,剩余的一個象素P2顯示‘1’灰度級,如圖14的(A)中所示,則觀察者在單位象素窗中對于相應的周期感覺到‘1/4’灰度級。與此不同,如果該單位象素窗中的兩個象素P1和P4顯示‘0’灰度級,剩余的兩個象素P2和P3顯示‘1’灰度級,如圖14的(B)中所示,則觀察者在單位象素窗中對于相應的周期感覺到‘1/2’灰度級。以及,如果該單位象素窗中的一個象素P1顯示‘0’灰度級,剩余的三個象素P2、P3和P4顯示‘1’灰度級,如圖14的(C)中所示,則觀察者在單位象素窗中對于相應的周期感覺到‘3/4’灰度級。
本發(fā)明不僅使用幀頻控制和抖動的每一個,而且通過混合幀頻控制和抖動,如圖15所示,精密地調(diào)節(jié)面板缺陷位置處的數(shù)據(jù),以便減小在抖動中顯現(xiàn)的分辨率的下降和在幀頻控制中產(chǎn)生的閃爍現(xiàn)象。
參考圖15,假定包括四個象素P1、P2、P3和P4的單位象素窗對于四個幀順序顯示,如果單位象素窗顯示‘1/4’灰度級,同時其中顯示‘1’灰度級的一個象素對于四個幀的每一幀不同,如圖15的(A)所示,則觀察者感覺到單位象素窗的灰度級對于四個幀是‘1/4’灰度級,而幾乎感覺不到閃爍和分辨率下降。
與此不同,如果單位象素窗顯示‘1/2’灰度級或‘3/4’灰度級,同時其中顯示‘1’灰度級的兩個或三個象素對于四個幀的每一幀不同,如圖15的(B)、(C)所示,則觀察者感覺到單位象素窗的灰度級對于四個幀是‘1/2’或‘3/4’灰度級,而幾乎感覺不到閃爍和分辨率下降。
在本發(fā)明中,幀頻控制的幀數(shù)或在抖動中在單位象素窗中包括的象素數(shù)可以根據(jù)需要不同地調(diào)節(jié)。
圖16表示根據(jù)本發(fā)明第四實施例的面板缺陷補償電路51和EEPROM 53。
參考圖16,面板缺陷補償電路51包括位置判斷部分161,灰度級判斷部分162R,162G,162B,地址產(chǎn)生器163R,163G,163B,和FRC控制器164R,164G,164B。EEPROM 53包括第一至第三EEPROM 53FR,53FG,53FB,其每一個對于紅R、綠G和藍B的每一個存儲面板缺陷補償數(shù)據(jù)CD及其面板缺陷位置數(shù)據(jù)PD。
位置判斷部分161通過使用垂直/水平同步信號Vsync,Hsync,數(shù)據(jù)使能信號DE和點時鐘DCLK,判斷輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi的顯示位置。
灰度級判斷部分162R,162G,162B分析紅R、綠G、藍B的輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi的灰度級。
通過參考EEPROM 53R,53G,53B的面板缺陷位置數(shù)據(jù)PD,如果輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi的顯示位置相應于面板缺陷位置,則地址產(chǎn)生器163R,163G,163B產(chǎn)生讀取面板缺陷位置的面板缺陷補償數(shù)據(jù)CD的讀取地址,以提供給EEPROM 53FR,53FG,53FB。
從EEPROM 53FR,53FG,53FB輸出的面板缺陷補償數(shù)據(jù)CD根據(jù)地址被提供給FRC控制器164R,164G,164B。
FRC控制器164R,164G,164B通過使輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi增加或減少來自EEPROM 53FR,53FG,53FB的面板缺陷補償數(shù)據(jù)CD,調(diào)制將在面板缺陷位置處顯示的數(shù)據(jù),但是其中面板缺陷補償數(shù)據(jù)CD增加或減少的幀的數(shù)量和順序根據(jù)面板缺陷補償值而不同,由此將面板缺陷補償數(shù)據(jù)CD分散(disperse)到多個幀。例如,如果被設置為補償值的將在面板缺陷位置中進行補償?shù)拿姘迦毕菅a償數(shù)據(jù)CD為‘0.5’灰度級,則FRC控制器164R,164G,164B通過使相應的面板缺陷位置象素的數(shù)據(jù)對于四個幀中的兩個幀周期增加‘1’灰度級,補償關(guān)于數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi的面板缺陷的‘0.5’灰度級,這些數(shù)據(jù)將在面板缺陷位置處被顯示。FRC控制器164R,164G,164B具有與圖17相同的電路結(jié)構(gòu)。
圖17詳細表示了校正紅色數(shù)據(jù)的第一FRC控制器164R。另一方面,第二和第三控制器164G,164B基本上具有與第一FRC控制器164R相同的電路結(jié)構(gòu)。
參考圖17,第一FRC控制器164R包括補償值判斷部分171,幀數(shù)量檢測部分172和計算器173。
補償值判斷部分171判斷R補償值并利用由補償值除以幀數(shù)計算的值產(chǎn)生FRC數(shù)據(jù)FD。例如,在將四個幀作為一個幀組的情況下,如果預設置將R面板缺陷補償數(shù)據(jù)‘00’識別為‘0’灰度級,將R面板缺陷補償數(shù)據(jù)‘01’識別為‘1/4’灰度級,將R面板缺陷補償數(shù)據(jù)‘10’識別為‘1/2’灰度級,以及將R面板缺陷補償數(shù)據(jù)‘11’識別為‘3/4’灰度級,則補償值判斷部分171判斷R面板缺陷補償數(shù)據(jù)‘01’作為‘1/4’灰度級被添加到相應面板缺陷位置的數(shù)據(jù)的顯示灰度級的數(shù)據(jù)。以該方式,如果R面板缺陷補償數(shù)據(jù)的灰度級被判斷,以便給輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi補償‘1/4’灰度級,這些數(shù)據(jù)將被提供給相應的面板缺陷位置,則補償值判斷部分171對于將被添加到第一至第四幀中任一幀的‘1’灰度級在一個幀周期中產(chǎn)生FRC數(shù)據(jù)FD‘1’,并對于剩余的三個幀周期產(chǎn)生FRC數(shù)據(jù)FD‘0’。
幀數(shù)量檢測部分172通過使用垂直/水平同步信號Vsync,Hsync,點時鐘DCLK和數(shù)據(jù)使能信號DE中的至少任何一個,檢測幀的數(shù)量。例如,幀數(shù)量檢測部分172計算垂直同步信號Vsync,從而檢測幀的數(shù)量成為可能。
計算器173使輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi增加和減少FRC數(shù)據(jù)FD,以產(chǎn)生校正的數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Rc。
通過使輸入R.G.B.數(shù)字視頻數(shù)據(jù)為每個8位以及使四個幀周期為一個幀組,假定面板缺陷補償電路51和EEPROM 53暫時分散補償值,根據(jù)本發(fā)明第三實施例的面板缺陷補償電路51和EEPROM 53細分為1021灰度級,以能夠精密地校正將在面板缺陷位置處顯示的數(shù)據(jù)。
圖18表示根據(jù)本發(fā)明第五實施例的面板缺陷補償電路51和EEPROM 53。
參考圖18,面板缺陷補償電路51包括位置判斷部分181,灰度級判斷部分182R,182G,182B,地址產(chǎn)生器183R,183G,183B,和抖動控制器184R,184G,184B。EEPROM 53包括第一至第三EEPROM 53DR,53DG,53DB,其每一個對于紅R、綠G和藍B的每一個存儲面板缺陷補償數(shù)據(jù)CD及其面板缺陷位置數(shù)據(jù)PD。
位置判斷部分181通過使用垂直/水平同步信號Vsync,Hsync,數(shù)據(jù)使能信號DE和點時鐘DCLK,判斷輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi的顯示位置。
灰度級判斷部分182R,182G,182B分析紅R、綠G、藍B的輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi的灰度級。
通過參考EEPROM 53DR,53DG,53DB的面板缺陷位置數(shù)據(jù)PD,如果輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi的顯示位置相應于面板缺陷位置,則地址產(chǎn)生器183R,183G,183B產(chǎn)生讀取面板缺陷位置的面板缺陷補償數(shù)據(jù)CD的讀取地址,以提供給EEPROM 53DR,53DG,53DB。
從EEPROM 53DR,53DG,53DB輸出的面板缺陷補償數(shù)據(jù)CD根據(jù)地址被提供給抖動控制器184R,184G,184B。
抖動控制器184R,184G,184B將來自EEPROM 53DR,53DG,53DB的面板缺陷補償數(shù)據(jù)CD分散到包括多個象素的單位象素窗的每個象素,以調(diào)制將在面板缺陷位置處顯示的輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi。
圖19詳細地表示了校正紅色數(shù)據(jù)的第一抖動控制器。另一方面,第二和第三抖動控制器184G,184B基本上具有與第一抖動控制器184R相同的電路結(jié)構(gòu)。
參考圖19,第一抖動控制器184R包括補償值判斷部分191,象素位置檢測部分192和計算器193。
補償值判斷部分191判斷R補償值,并通過使補償值作為將被分散到在單位象素窗中包括的象素的值而產(chǎn)生抖動數(shù)據(jù)DD。補償值判斷部分191被編程以根據(jù)R補償值自動輸出抖動數(shù)據(jù)。
例如,補償值判斷部分191被預編程,如果以二進制數(shù)據(jù)表示的R補償值是‘00’,則將單位象素窗的抖動補償值識別為‘1/4’灰度級,如果R補償值是‘10’則識別為‘1/2’灰度級,以及如果R補償值是‘11’則識別為‘3/4’灰度級。因此,如果四個象素包括在單位象素窗中并且R補償值是‘01’,補償值判斷部分191產(chǎn)生‘1’作為單位象素窗中的象素位置中的抖動數(shù)據(jù)DD,但是另一方面,它產(chǎn)生‘0’作為剩余三個象素位置中的抖動數(shù)據(jù)DD。對于如圖14所示的單位象素窗中的每個象素位置,由計算器132使輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)增加或減少抖動數(shù)據(jù)DD。
象素位置檢測部分192通過使用垂直/水平同步信號Vsync,Hsync,點時鐘DCLK和數(shù)據(jù)使能信號DE的至少任何一個,檢測象素位置。例如,象素位置檢測部分192計算水平同步信號Hsync和點時鐘DCLK,從而檢測象素位置成為可能。
計算器193使輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi增加和減少抖動數(shù)據(jù)DD,以產(chǎn)生校正的數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Rc。
假定單位象素窗由四個象素構(gòu)成,根據(jù)本發(fā)明第四實施例的面板缺陷補償電路51和EEPROM 53可以精密地利用補償值調(diào)節(jié)將在面板缺陷位置處顯示的數(shù)據(jù),該補償值對于R、G、B的每個被細分為1021灰度級。
圖20表示根據(jù)本發(fā)明第六實施例的面板缺陷補償電路51和EEPROM 53。
參考圖20,面板缺陷補償電路51包括位置判斷部分201,灰度級判斷部分202R,202G,202B,地址產(chǎn)生器203R,203G,203B,和FRC&抖動控制器204R,204G,204B。EEPROM 53包括第一至第三EEPROM 53FDR,53FDG,53FDB,其每一個對于紅R、綠G和藍B的每一個存儲面板缺陷補償數(shù)據(jù)CD及其面板缺陷位置數(shù)據(jù)PD。
位置判斷部分201通過使用垂直/水平同步信號Vsync,Hsync,數(shù)據(jù)使能信號DE和點時鐘DCLK,判斷輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi的顯示位置。
灰度級判斷部分202R,202G,202B分析紅R、綠G、藍B的輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi的灰度級。
通過參考EEPROM 53FDR,53FDG,53FDB的面板缺陷位置數(shù)據(jù)PD,如果輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi的顯示位置相應于面板缺陷位置,則地址產(chǎn)生器203R,203G,203B產(chǎn)生讀取面板缺陷位置的面板缺陷補償數(shù)據(jù)CD的讀取地址,以提供給EEPROM 53FDR,53FDG,53FDB。
FRC&抖動控制器204R,204G,204B將來自EEPROM 53FDR,53FDG,53FDB的面板缺陷補償數(shù)據(jù)CD分散到包括多個象素的單位象素窗的每個象素以及將面板缺陷補償數(shù)據(jù)CD分散到多個幀周期,以調(diào)制將在面板缺陷位置處顯示的輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi。
圖21詳細地表示了校正紅色數(shù)據(jù)的第一FRC&抖動控制器204R。另一方面,第二和第三FRC&抖動控制器204G,204B基本上具有與第一FRC&抖動控制器204R相同的電路結(jié)構(gòu)。
參考圖21,第一FRC&抖動控制器204R包括補償值判斷部分211,幀數(shù)量檢測部分223,象素位置檢測部分224和計算器222。
補償值判斷部分221判斷R補償值,并通過對于幀周期使補償值作為將被分散到在單位象素窗中包括的象素的值,產(chǎn)生FRC&抖動數(shù)據(jù)FDD。補償值判斷部分221被編程以根據(jù)R補償值自動輸出FRC&抖動數(shù)據(jù)。
例如,補償值判斷部分221被預編程,如果R補償數(shù)據(jù)是‘00’,則將補償值識別為‘0’灰度級,如果R補償數(shù)據(jù)是‘01’,則識別為‘1/4’灰度級,如果R補償數(shù)據(jù)是‘10’,則識別為‘1/2’灰度級,以及如果R補償數(shù)據(jù)是‘11’,則識別為‘3/4’灰度級。假定R面板缺陷補償數(shù)據(jù)是‘01’,四個幀周期是一個FRC幀組以及四個象素構(gòu)成抖動的一個單位象素窗,則補償值判斷部分221對于四個幀周期產(chǎn)生‘1’作為單位位置中一個象素位置中的FRC&抖動數(shù)據(jù)FDD,并在剩余的三個象素位置中產(chǎn)生‘0’作為FRC&抖動數(shù)據(jù)FDD,但是每幀改變其中產(chǎn)生‘1’的象素的位置。
幀數(shù)量檢測部分223通過使用垂直/水平同步信號Vsync,Hsync,點時鐘DCLK和數(shù)據(jù)使能信號DE的至少任何一個,檢測幀的數(shù)量。例如,幀數(shù)量檢測部分223可以通過計算垂直同步信號Vsync檢測幀的數(shù)量。
象素位置檢測部分224通過使用垂直/水平同步信號Vsync,Hsync,點時鐘DCLK和數(shù)據(jù)使能信號DE的至少任何一個,檢測象素位置。例如,象素位置檢測部分224計算水平同步信號Hsync和點時鐘DCLK,從而檢測象素位置成為可能。
計算器222使輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi增加和減少FRC&抖動數(shù)據(jù)FDD,以產(chǎn)生校正的數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Rc。
假定單位象素窗由四個象素構(gòu)成以及四個幀周期是一個FEC幀組,根據(jù)本發(fā)明第五實施例的面板缺陷補償電路51和EEPROM 53可以精密地利用補償值調(diào)節(jié)將在面板缺陷位置處顯示的數(shù)據(jù),該補償值對于R、G、B的每個被細分為1021灰度級,同時幾乎沒有閃爍和分辨率下降。
如上所述,根據(jù)本發(fā)明的制造平板顯示器的方法和設備可以精密地補償面板缺陷的亮度和色度,以及可以利用電補償數(shù)據(jù)補償面板缺陷,而不管制造過程中面板缺陷的尺寸或形狀。
盡管本發(fā)明已經(jīng)通過在上述附圖中所示的實施例進行了解釋,但是本領(lǐng)域技術(shù)人員應當理解,本發(fā)明不限于這些實施例,多種改變或變形是可能的,只要不偏離本發(fā)明的精神。因此,本發(fā)明的范圍由所附權(quán)利要求及其等同物來確定。
權(quán)利要求
1.一種制造平板顯示器的方法,包括在平板顯示器的檢查過程中,通過給平板顯示器的數(shù)據(jù)電極提供測試數(shù)據(jù)和測試掃描信號檢查平板顯示器;在平板顯示器的面板缺陷判斷過程中,根據(jù)檢查裝置的檢查結(jié)果,判斷平板顯示器的面板缺陷位置以及在面板缺陷位置處的面板缺陷的程度,并確定用于補償面板缺陷程度的補償數(shù)據(jù);以及在平板顯示器的面板缺陷補償數(shù)據(jù)記錄過程中,在平板顯示器的數(shù)據(jù)調(diào)制存儲器中存儲用于補償面板缺陷程度的補償數(shù)據(jù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的制造方法,其特征在于,該補償數(shù)據(jù)包括表示面板缺陷位置的定位的位置數(shù)據(jù);和每個灰度級的補償數(shù)據(jù),其對于將在面板缺陷位置處顯示的數(shù)據(jù)的每個灰度級設置為不同。
3.根據(jù)權(quán)利要求1的制造方法,其特征在于,該補償數(shù)據(jù)包括補償紅色數(shù)據(jù)的R補償數(shù)據(jù);補償綠色數(shù)據(jù)的G補償數(shù)據(jù);和補償藍色數(shù)據(jù)的B補償數(shù)據(jù),其中R補償數(shù)據(jù)、G補償數(shù)據(jù)和B補償數(shù)據(jù)在相同象素位置的相同灰度級中設置為相同的值。
4.根據(jù)權(quán)利要求1的制造方法,其特征在于,該補償數(shù)據(jù)包括補償紅色數(shù)據(jù)的R補償數(shù)據(jù);補償綠色數(shù)據(jù)的G補償數(shù)據(jù);和補償藍色數(shù)據(jù)的B補償數(shù)據(jù),以及其中R補償數(shù)據(jù)、G補償數(shù)據(jù)和B補償數(shù)據(jù)的至少一個的補償值在相同象素位置的相同灰度級中與其他補償數(shù)據(jù)不同。
5.根據(jù)權(quán)利要求1的制造方法,其特征在于,該存儲器包括其中數(shù)據(jù)可以被更新的非易失性存儲器。
6.根據(jù)權(quán)利要求5的制造方法,其特征在于,該存儲器包括EEPROM和EDIDROM其中任一種。
7.根據(jù)權(quán)利要求5的制造方法,其特征在于,該平板顯示器包括連接到存儲器、利用補償數(shù)據(jù)調(diào)制數(shù)據(jù)的補償電路,所述數(shù)據(jù)將在面板缺陷位置處顯示。
8.根據(jù)權(quán)利要求7的制造方法,其特征在于,該平板顯示器包括液晶顯示面板,其中多個數(shù)據(jù)線與多個柵極線相交以及多個液晶盒布置在其中;通過使用利用補償數(shù)據(jù)調(diào)制的數(shù)據(jù)驅(qū)動數(shù)據(jù)線的數(shù)據(jù)驅(qū)動電路;將掃描脈沖提供給柵極線的柵極驅(qū)動電路;和控制驅(qū)動電路并將補償數(shù)據(jù)提供給數(shù)據(jù)驅(qū)動電路的時序控制器,以及其中補償電路嵌入在時序控制器中。
9.根據(jù)權(quán)利要求8的制造方法,其特征在于,該補償電路利用補償數(shù)據(jù)增加或減少將在面板缺陷位置處顯示的數(shù)據(jù)。
10.根據(jù)權(quán)利要求8的制造方法中,其特征在于,該補償電路在m位的紅色、m位的綠色和m位的藍色的數(shù)據(jù)中提取顏色差信息和n(n是大于m的整數(shù))位的亮度信息,所述數(shù)據(jù)將在面板缺陷位置處顯示;產(chǎn)生n位的亮度信息,其通過利用補償數(shù)據(jù)增加或減少n位的亮度信息來調(diào)制;以及通過使用n位的已調(diào)制亮度信息和未調(diào)制的顏色差信息來產(chǎn)生m位的已調(diào)制紅色數(shù)據(jù)、m位的已調(diào)制綠色數(shù)據(jù)和m位的已調(diào)制藍色數(shù)據(jù)。
11.根據(jù)權(quán)利要求10的制造方法,其特征在于,該補償數(shù)據(jù)對于面板缺陷位置的每個位置以及對于數(shù)據(jù)的每個灰度級設置為不同,所述數(shù)據(jù)在面板缺陷位置處顯示。
12.根據(jù)權(quán)利要求8的制造方法,其特征在于,該補償電路暫時分散補償數(shù)據(jù);并利用該暫時分散的補償數(shù)據(jù)而增加或減少將在面板缺陷位置處顯示的數(shù)據(jù)。
13.根據(jù)權(quán)利要求12的制造方法,其特征在于,該補償數(shù)據(jù)通過幀周期的單位進行分散。
14.根據(jù)權(quán)利要求8的制造方法,其特征在于,該補償電路空間分散該補償數(shù)據(jù);并利用該空間分散的補償數(shù)據(jù)增加或減少將在面板缺陷位置處顯示的數(shù)據(jù)。
15.根據(jù)權(quán)利要求14的制造方法,其特征在于,該補償數(shù)據(jù)分散到相鄰象素。
16.根據(jù)權(quán)利要求8的制造方法,其特征在于,該補償電路暫時和空間分散補償數(shù)據(jù);并利用該暫時和空間分散的補償數(shù)據(jù)增加或減少將在面板缺陷位置處顯示的數(shù)據(jù)。
17.根據(jù)權(quán)利要求16的制造方法,其特征在于,該補償數(shù)據(jù)分散到多個幀周期和相鄰象素。
18.一種制造平板顯示器的設備,包括檢查裝置,在平板顯示器的檢查過程中,通過給平板顯示器的數(shù)據(jù)電極提供測試數(shù)據(jù)和測試掃描信號檢查平板顯示器;面板缺陷判斷裝置,在平板顯示器的面板缺陷判斷過程中,根據(jù)檢查裝置的檢查結(jié)果判斷平板顯示器的面板缺陷位置以及在面板缺陷位置處的面板缺陷的程度,并確定用于補償面板缺陷程度的補償數(shù)據(jù);和存儲器記錄裝置,在平板顯示器的面板缺陷補償數(shù)據(jù)記錄過程中,在平板顯示器的數(shù)據(jù)調(diào)制存儲器中存儲補償面板缺陷程度的補償數(shù)據(jù)。
19.根據(jù)權(quán)利要求18的制造設備,其特征在于,該補償數(shù)據(jù)包括表示面板缺陷位置的定位的位置數(shù)據(jù);和每個灰度級的補償數(shù)據(jù),其對于將在面板缺陷位置處顯示的數(shù)據(jù)的每個灰度級設置為不同。
20.根據(jù)權(quán)利要求18的制造設備,其特征在于,該補償數(shù)據(jù)包括補償紅色數(shù)據(jù)的R補償數(shù)據(jù);補償綠色數(shù)據(jù)的G補償數(shù)據(jù);和補償藍色數(shù)據(jù)的B補償數(shù)據(jù),其中R補償數(shù)據(jù)、G補償數(shù)據(jù)和B補償數(shù)據(jù)在相同象素位置的相同灰度級中設置為相同的值。
21.根據(jù)權(quán)利要求18的制造設備,其特征在于,該補償數(shù)據(jù)包括補償紅色數(shù)據(jù)的R補償數(shù)據(jù);補償綠色數(shù)據(jù)的G補償數(shù)據(jù);和補償藍色數(shù)據(jù)的B補償數(shù)據(jù),以及其中R補償數(shù)據(jù)、G補償數(shù)據(jù)和B補償數(shù)據(jù)的至少一個的補償值在相同象素位置的相同灰度級中與其他補償數(shù)據(jù)不同。
22.根據(jù)權(quán)利要求18的制造設備,其特征在于,該存儲器包括其中數(shù)據(jù)可被更新的非易失性存儲器。
23.根據(jù)權(quán)利要求22的制造設備,其特征在于,該存儲器包括EEPROM和EDID ROM其中任一種。
24.根據(jù)權(quán)利要求22的制造設備,其特征在于,該平板顯示器包括連接到存儲器、利用補償數(shù)據(jù)調(diào)制數(shù)據(jù)的補償電路,所述數(shù)據(jù)將在面板缺陷位置處顯示。
25.根據(jù)權(quán)利要求24的制造設備,其特征在于,該平板顯示器包括液晶顯示面板,其中多個數(shù)據(jù)線與多個柵極線相交以及多個液晶盒布置在其中;通過使用利用補償數(shù)據(jù)調(diào)制的數(shù)據(jù)驅(qū)動數(shù)據(jù)線的數(shù)據(jù)驅(qū)動電路;將掃描脈沖提供給柵極線的柵極驅(qū)動電路;和控制驅(qū)動電路并將補償數(shù)據(jù)提供給數(shù)據(jù)驅(qū)動電路的時序控制器,以及其中補償電路嵌入在時序控制器中。
26.根據(jù)權(quán)利要求25的制造設備,其特征在于,該補償電路利用補償數(shù)據(jù)而增加或減少將在面板缺陷位置處顯示的數(shù)據(jù)。
27.根據(jù)權(quán)利要求26的制造設備,其特征在于,該補償電路在m位的紅色、m位的綠色和m位的藍色的數(shù)據(jù)中提取顏色差信息和n(n是大于m的整數(shù))位的亮度信息,所述數(shù)據(jù)將在面板缺陷位置處顯示;產(chǎn)生n位的亮度信息,其通過利用補償數(shù)據(jù)增加或減少n位的亮度信息來調(diào)制;以及通過使用n位的已調(diào)制亮度信息和未調(diào)制的顏色差信息來產(chǎn)生m位的已調(diào)制紅色數(shù)據(jù)、m位的已調(diào)制綠色數(shù)據(jù)和m位的已調(diào)制藍色數(shù)據(jù)。
28.根據(jù)權(quán)利要求27的制造設備,其特征在于,該補償數(shù)據(jù)對于面板缺陷位置的每個位置以及對于數(shù)據(jù)的每個灰度級設置為不同,所述數(shù)據(jù)在面板缺陷位置處顯示。
29.根據(jù)權(quán)利要求25的制造設備,其特征在于,該補償電路暫時分散補償數(shù)據(jù);并利用該暫時分散的補償數(shù)據(jù)增加或減少將在面板缺陷位置處顯示的數(shù)據(jù)。
30.根據(jù)權(quán)利要求29的制造設備,其特征在于,該補償數(shù)據(jù)通過幀周期的單位進行分散。
31.根據(jù)權(quán)利要求25的制造設備,其特征在于,該補償電路空間分散補償數(shù)據(jù);并利用該空間分散的補償數(shù)據(jù)增加或減少將在面板缺陷位置處顯示的數(shù)據(jù)。
32.根據(jù)權(quán)利要求31的制造設備,其特征在于,該補償數(shù)據(jù)分散到相鄰象素。
33.根據(jù)權(quán)利要求25的制造設備,其特征在于,該補償電路暫時和空間分散補償數(shù)據(jù);并利用該暫時和空間分散的補償數(shù)據(jù)增加或減少將在面板缺陷位置處顯示的數(shù)據(jù)。
34.根據(jù)權(quán)利要求33的制造設備,其特征在于,該補償數(shù)據(jù)分散到多個幀周期和相鄰象素。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種制造平板顯示器的方法和設備,其適合于在制造過程中利用電數(shù)據(jù)補償面板缺陷。根據(jù)本發(fā)明實施例的制造平板顯示器的方法包括在平板顯示器的檢查過程中通過給平板顯示器的數(shù)據(jù)電極提供測試數(shù)據(jù)和測試掃描信號檢查平板顯示器;在平板顯示器的面板缺陷判斷過程中根據(jù)檢查裝置的檢查結(jié)果判斷平板顯示器的面板缺陷位置以及在面板缺陷位置處的面板缺陷的程度,并確定用于補償面板缺陷程度的補償數(shù)據(jù);以及在平板顯示器的面板缺陷補償數(shù)據(jù)記錄過程中在平板顯示器的數(shù)據(jù)調(diào)制存儲器中存儲用于補償面板缺陷程度的補償數(shù)據(jù)。
文檔編號G09G5/00GK1967636SQ20061008747
公開日2007年5月23日 申請日期2006年6月8日 優(yōu)先權(quán)日2005年11月16日
發(fā)明者黃琮喜 申請人:Lg.菲利浦Lcd株式會社
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