專利名稱：顯示裝置及其測(cè)試電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種顯示裝置及其測(cè)試電路，特別是涉及一種根據(jù)一定電壓以決定是否致能測(cè)試電路，并可在測(cè)試完成后非致能該測(cè)試電路的顯示裝置及其測(cè)試電路。
背景技術(shù)：
近年來(lái)，平面顯示器的發(fā)展越來(lái)越迅速，已經(jīng)逐漸取代傳統(tǒng)的陰極射線管顯示器。現(xiàn)今的平面顯示器主要有下列幾種有機(jī)發(fā)光二極管顯示器(OrganicLight-Emitting Diodes Display；OLED)、等離子體顯示器(Plasma DisplayPanel；PDP)、液晶顯示器(Liquid Crystal Display；LCD)以及場(chǎng)發(fā)射顯示器(Field Emission Display；FED)等。不論是上述何種平面顯示器，制作時(shí)皆須對(duì)其顯示陣列電路進(jìn)行測(cè)試，以確定制作出來(lái)的平面顯示器能夠正常工作。
圖1為公知對(duì)于平面顯示器進(jìn)行測(cè)試的電路圖。平面顯示器包含顯示陣列101以及測(cè)試單元103。顯示陣列101包含了多條電極配線，測(cè)試單元103則通過(guò)致能單元105電性連接至顯示陣列101，致能單元105經(jīng)致能信號(hào)100來(lái)決定是否輸入測(cè)試信號(hào)至這些電極配線用以對(duì)平面顯示器的顯示陣列進(jìn)行測(cè)試。
公知的平面顯示器在進(jìn)行完測(cè)試之后，會(huì)將測(cè)試單元103以及顯示陣列101的電性連接切斷，或者是使致能單元105不連接任何的信號(hào)而呈現(xiàn)浮接(floating)的狀態(tài)。并且以異方性導(dǎo)電膠膜(anisotropic conductive film；ACF)來(lái)連接顯示陣列101以及其它印刷電路板或驅(qū)動(dòng)集成電路(IC)。但是，呈現(xiàn)浮接狀態(tài)的致能單元105仍然置放在平面顯示器中，由于異方性導(dǎo)電膠膜連接其它組件及/或信號(hào)可能會(huì)導(dǎo)致其它信號(hào)耦合(coupling)至致能單元105，此耦合信號(hào)可能會(huì)使致能單元105開(kāi)啟，進(jìn)而造成顯示陣列101所顯示的畫(huà)面異常。因此如何在平面顯示器測(cè)試之后，消除顯示畫(huà)面因原先的測(cè)試單元103以及致能單元105所產(chǎn)生的異常是此領(lǐng)域亟待解決的問(wèn)題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種顯示裝置及其測(cè)試電路，來(lái)解決上述公知技術(shù)中存在的問(wèn)題。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種應(yīng)用于一顯示裝置的測(cè)試電路，該顯示裝置包含一像素陣列及一前端電路。該測(cè)試電路包含一測(cè)試單元及一致能單元，該測(cè)試單元用以測(cè)試該像素陣列，該致能單元根據(jù)一定電壓以決定是否致能該測(cè)試單元。當(dāng)該像素陣列測(cè)試完畢后，該定電壓由該前端電路所提供以非致能該測(cè)試單元。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明還提供了一種顯示裝置，包含一像素陣列、一前端電路、一測(cè)試電路及一致能電路。該測(cè)試電路用以測(cè)試該像素陣列，該致能電路根據(jù)一定電壓以決定是否致能該測(cè)試電路。當(dāng)該像素陣列測(cè)試完畢后，該定電壓由該前端電路所提供以非致能該測(cè)試電路。
本發(fā)明提供一定電壓來(lái)決定致能電路是否致能測(cè)試電路，并在測(cè)試完畢后，定電壓持續(xù)的被提供(但電壓電位改變)使致能電路在顯示裝置運(yùn)行時(shí)呈現(xiàn)非致能狀態(tài)。因此顯示裝置的像素陣列不會(huì)被測(cè)試電路以及致能電路影響而造成顯示異常，進(jìn)而達(dá)到讓顯示裝置正常運(yùn)行的目的。
以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)描述，但不作為對(duì)本發(fā)明的限定。


圖1為公知的平面顯示器的示意圖；圖2為本發(fā)明的較佳實(shí)施例的示意圖；以及圖3為本發(fā)明的較佳實(shí)施例的另一示意圖。
其中，附圖標(biāo)記100致能信號(hào)101顯示陣列103測(cè)試單元105致能單元2顯示裝置 20測(cè)試信號(hào)21像素陣列 22定電壓23測(cè)試電路 25致能電路
27前端電路29測(cè)試機(jī)具30低電壓電位的定電壓具體實(shí)施方式
本發(fā)明的一較佳實(shí)施例如圖2所示，為一種顯示裝置2，其包含一像素陣列21、一測(cè)試電路23、一致能電路25以及一前端電路27。要測(cè)試時(shí)，顯示裝置2連接至一測(cè)試機(jī)具29，測(cè)試機(jī)具29提供一定電壓22來(lái)決定是否致能測(cè)試電路23。例如本較佳實(shí)施例中，當(dāng)定電壓22為高電壓電位時(shí)，致能電路25即被致能，并使得測(cè)試電路23提供的測(cè)試信號(hào)20輸入至像素陣列21，使像素陣列21可以被測(cè)試。而當(dāng)定電壓22為低電壓電位時(shí)，致能電路25即被非致能，使測(cè)試電路23提供的測(cè)試信號(hào)20無(wú)法輸入至像素陣列21，使得像素陣列21無(wú)法被測(cè)試。
當(dāng)要測(cè)試像素陣列21時(shí)，定電壓22是由測(cè)試機(jī)具29所提供，以控制測(cè)試電路23何時(shí)將測(cè)試信號(hào)20送入像素陣列21。當(dāng)像素陣列21測(cè)試完畢之后，其它組件要置入于顯示裝置2中時(shí)，如圖3所示，測(cè)試機(jī)具29會(huì)停止提供定電壓22至致能電路25，前端電路27將會(huì)被連接至致能電路25，并提供一低電壓電位的定電壓30以確保測(cè)試電路23處于非致能狀態(tài)，防止致能電路25或者是測(cè)試電路23因浮接而影響顯示裝置2的像素陣列21的正常運(yùn)行。
本發(fā)明并不限定前端電路27的種類，上述實(shí)施例的前端電路27可以是驅(qū)動(dòng)像素陣列21的一驅(qū)動(dòng)電路、連接像素陣列21與系統(tǒng)端的一柔性印刷電路(Flexible Printed Circuit；FPC)或其它類型可以提供一固定電壓的任何電路，例如位于玻璃上直接壓合集成電路芯片(IC Chip on Glass)上的電路。
由上述可知，本發(fā)明在測(cè)試時(shí)，借助一定電壓來(lái)決定致能電路的開(kāi)啟。在顯示裝置測(cè)試完畢后，定電壓則持續(xù)的被前端電路所提供以使得致能電路在顯示裝置運(yùn)行時(shí)呈現(xiàn)非致能狀態(tài)，因此顯示裝置的像素陣列不會(huì)受致能電路或測(cè)試電路浮接的影響而造成顯示異常，進(jìn)而達(dá)成讓顯示裝置正常運(yùn)行的目的。
當(dāng)然，本發(fā)明還可有其他多種實(shí)施例，在不背離本發(fā)明精神及其實(shí)質(zhì)的情況下，熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員可根據(jù)本發(fā)明作出各種相應(yīng)的改變和變形，但這些相應(yīng)的改變和變形都應(yīng)屬于本發(fā)明所附的權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1.一種測(cè)試電路，應(yīng)用于一顯示裝置，該顯示裝置包含一像素陣列及一前端電路，其特征在于，該測(cè)試電路包含一測(cè)試單元，用以測(cè)試該像素陣列；以及一致能單元，根據(jù)一定電壓以決定是否致能該測(cè)試單元；其中，當(dāng)該像素陣列測(cè)試完畢后，該定電壓由該前端電路所提供以非致能該測(cè)試單元。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試電路，其特征在于，該前端電路為驅(qū)動(dòng)該像素陣列的一驅(qū)動(dòng)電路。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試電路，其特征在于，該前端電路為一柔性印刷電路。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試電路，其特征在于，該前端電路位于玻璃上直接壓合的集成電路芯片上。
5.一種顯示裝置，其特征在于，包含一像素陣列；一前端電路；一測(cè)試電路，用以測(cè)試該像素陣列；以及一致能電路，根據(jù)一定電壓以決定是否致能該測(cè)試電路；其中，當(dāng)該像素陣列測(cè)試完畢后，該定電壓由該前端電路所提供以非致能該測(cè)試電路。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的顯示裝置，其特征在于，該前端電路為驅(qū)動(dòng)該像素陣列的一驅(qū)動(dòng)電路。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的顯示裝置，其特征在于，該前端電路為一柔性印刷電路。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的顯示裝置，其特征在于，該前端電路位于玻璃上直接壓合的集成電路芯片上。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種顯示裝置及其測(cè)試電路，該顯示裝置包含一像素陣列、一前端電路、一測(cè)試電路以及一致能電路，該測(cè)試電路用以測(cè)試該像素陣列，該致能電路根據(jù)一定電壓以決定是否致能該測(cè)試電路。當(dāng)該像素陣列測(cè)試完畢后，該定電壓由該前端電路所提供以非致能該測(cè)試電路。
文檔編號(hào)G09G3/20GK1996443SQ200610140360
公開(kāi)日2007年7月11日 申請(qǐng)日期2006年11月27日 優(yōu)先權(quán)日2006年11月27日
發(fā)明者陳紀(jì)文, 施立偉 申請(qǐng)人:友達(dá)光電股份有限公司