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復(fù)位電路及包括該復(fù)位電路的等離子體顯示裝置的制作方法

文檔序號:2523106閱讀:220來源:國知局
專利名稱:復(fù)位電路及包括該復(fù)位電路的等離子體顯示裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及等離子體顯示面板(PDP)裝置,具體涉及在集成電路(IC) 中包括復(fù)位電路的PDP裝置。
背景技術(shù)
近來,諸如液晶顯示器(LCD)、場效應(yīng)顯示器(FED)和等離子體顯 示面板(PDP)之類的平板顯示器得到積極地發(fā)展。在這些平板顯示器中, PDP較之其它平板顯示器,具有亮度和發(fā)光效率高以及視角寬的優(yōu)點(diǎn)。因此, PDP作為在超過40英寸的大顯示器中代替常規(guī)陰極射線管(CRT)的顯示 技術(shù),已經(jīng)成為焦點(diǎn)。PDP是一種使用由氣體放電產(chǎn)生的等離子體來顯示字母或圖像的平板 顯示器,其中,根據(jù)尺寸的不同,幾十萬到成百萬的像素以矩陣形式排列在 PDP上。PDP根據(jù)所施加的驅(qū)動電壓波形和放電單元的結(jié)構(gòu),可以分成直流 (DC )型PDP和交流(AC )型PDP。由于電極被不加絕緣地暴露在放電空間中,所以DC型PDP使電流在 施加電壓期間流向放電空間。結(jié)果,DC型PDP的缺點(diǎn)在于它應(yīng)該被提供以 用于限制電流的電阻。而AC型PDP的優(yōu)點(diǎn)在于使電極覆蓋有介電層,從而 在其中自然地形成電容部件以限制電流,而且電極在放電時(shí)能免受離子的撞 擊。因此,AC型PDP電極的壽命比DC型PDP電極的壽命長。AC型PDP的一個(gè)表面上形成有彼此平行的掃描電極和維持電極,而另 一表面上沿著與掃描和維持電極垂直的方向形成有尋址電極。維持電極對應(yīng) 于掃描電極形成,其中維持電極共同地連接于一端。一般而言,AC型PDP的驅(qū)動方法在整個(gè)顯示驅(qū)動時(shí)間間隔內(nèi)包括復(fù)位時(shí)段、尋址時(shí)段、維持時(shí)段和擦除時(shí)段。復(fù)位時(shí)段是用于初始化每個(gè)單元的狀態(tài)以便平穩(wěn)地執(zhí)行對單元的尋址 操作的時(shí)段,而尋址時(shí)段是用于通過對導(dǎo)通單元(被尋址的單元)施加尋址 電壓來對累積壁電荷進(jìn)行操作以便選擇面板上的導(dǎo)通單元和截止單元的時(shí) 段。維持時(shí)段是用于通過施加維持放電電壓脈沖來執(zhí)行放電以便在被尋址的 單元上實(shí)際顯示圖像的時(shí)段,而擦除時(shí)段是用于通過減小單元中的壁電荷來 終止維持放電的時(shí)段。而且,為了向掃描電一及、維持電極和尋址電極施加預(yù)定的電壓,PDP具有IC。隨著PDP的價(jià)才各日益下降,包括在PDP中的IC不斷地增加通道 數(shù)。IC接收操作電能和輸入信號,以向掃描電極、維持電極和尋址電極提 供預(yù)定的輸出電壓。在常規(guī)情況下,當(dāng)輸出到IC的、處于浮動狀態(tài)的操作 電能的電壓突然改變,或輸入信號的電平上下波動時(shí),IC就有發(fā)生故障的 風(fēng)險(xiǎn)。然而,在常規(guī)情況下,由于通過使用現(xiàn)有的CLR信號或鎖存使能信號 來控制IC的輸出信號,所以當(dāng)輸入信號或操作電能發(fā)生不希望的波動時(shí), IC不能控制它們,于是,它的缺點(diǎn)在于位于IC內(nèi)部的電路會接收到發(fā)生波 動的輸入信號或操作電能。作為示例,當(dāng)IC輸入有比基準(zhǔn)值低的浮動操作電能的電壓電平時(shí),施 加到IC的信號電平等效地被降低。當(dāng)操作電能的電壓電平和輸入信號下降 到特定電壓或更低時(shí),IC內(nèi)部的控制操作會變得不穩(wěn)定,從而使IC內(nèi)部的 開關(guān)發(fā)生故障。進(jìn)一步地,開關(guān)的故障可能導(dǎo)致IC自身的故障和損壞。發(fā)明內(nèi)容在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,復(fù)位電路避免或減少包含在等離子體顯示裝 置中的IC以及包括該IC的等離子體顯示裝置的故障和損壞,其中,復(fù)位電 路監(jiān)測施加到等離子體顯示裝置的IC的輸入電壓,以控制IC的復(fù)位或非復(fù)位操作。在本發(fā)明的另一實(shí)施例中,提供有一種等離子體顯示裝置,包括等離子體裝置面板,包括多個(gè)沿列方向延伸的尋址電極,還包括沿行方向延伸的掃描電極和維持電極;尋址電極驅(qū)動器,用于將顯示數(shù)據(jù)信號施加于所述尋 址電極,以便在所述等離子體顯示面板上選擇待顯示的放電單元;維持電極 驅(qū)動器和掃描電極驅(qū)動器,用于分別向維持電極和掃描電極施加驅(qū)動電壓; 控制器,用于從外部源接收圖像信號,并用于輸出尋址電極驅(qū)動控制信號、 維持電極驅(qū)動控制信號和掃描電極驅(qū)動控制信號;供電單元,用于將輸入電 壓提供給所述尋址電極驅(qū)動器、所述掃描電極驅(qū)動器和所述維持電極驅(qū)動 器;以及復(fù)位電路,其用于檢測所述輸入電壓,以便輸出復(fù)位控制信號,從 而控制所述述尋址電極驅(qū)動器、所述掃描電極驅(qū)動器和所述維持電極驅(qū)動器 的復(fù)位或非復(fù)位。在又一個(gè)實(shí)施例中,提供有一種等離子體顯示裝置的復(fù)位電路,該復(fù)位 電路用于控制多個(gè)尋址電極、多個(gè)掃描電極和多個(gè)維持電極的相應(yīng)驅(qū)動器的 復(fù)位操作。所述尋址電極沿列方向延伸,所述掃描電極和所述維持電極沿行 方向延伸。該復(fù)位電路包括具有第一輸入端子和第二輸入端子的比較器; 連接在用于接收輸入電壓的第 一節(jié)點(diǎn)與所述比較器的第二輸入端子之間的 齊納二極管;和連接在所述第一節(jié)點(diǎn)和所述輸出端子之間、用于接收所述比 較器的輸出的晶體管。所述第 一輸入端子接收比所述預(yù)設(shè)電壓低的第 一端子 電壓,所述第二輸入端子接收對應(yīng)于差Vdd-Vz的第二端子電壓,其中Vdd 為所述輸入電壓的電壓電平,Vz為齊納二極管的擊穿電壓。在再一個(gè)實(shí)施例中,提供一種用于操作等離子體顯示裝置的驅(qū)動器的方 法,其中所述驅(qū)動器從外部源接收輸入電壓。監(jiān)測由所述驅(qū)動器接收的輸入 電壓。比較所述輸入電壓和閾值電壓。在所述輸入電壓小于所述閾值電壓時(shí) 產(chǎn)生第一控制信號,以便控制所述驅(qū)動器不被驅(qū)動;并且在所述輸入電壓等 于或大于所述閾值電壓時(shí)產(chǎn)生第二控制信號,以便控制所述驅(qū)動器被驅(qū)動,時(shí)使所述驅(qū)動器不被驅(qū)動,從而避免所述驅(qū)動器不期望地操作。所述輸入電 壓是施加到所述驅(qū)動器的輸入電能電壓??梢酝ㄟ^使用齊納二極管的擊穿電 壓來產(chǎn)生所述閾值電壓??梢圆捎帽容^器電路來比較所述輸入電壓與所述闞 值電壓。在對所述輸入電壓與所述闊值電壓進(jìn)行比較之前,可以對所述輸入 電壓進(jìn)4于分壓。


從以下結(jié)合附圖對示范性實(shí)施例的描述中,本發(fā)明的這些和/或其它方面和特征將變得清楚和更容易理解,其中圖1是示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的等離子體顯示裝置的框圖; 圖2是圖1所示的根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的復(fù)位電路的電路圖;并且 圖3是用于解釋圖2所示的復(fù)位電路的操作的時(shí)序圖。
具體實(shí)施方式
以下,參照附圖描述根據(jù)本發(fā)明的特定的示范性實(shí)施例。此處,當(dāng)?shù)谝?元件被描述為與第二元件相連時(shí),第一元件不僅可以直接與第二元件相連, 而且還可以借助第三元件間接地與第二元件相連。進(jìn)一步地,為了清楚,省 略了對完全理解本發(fā)明不必要的一些元件。而且,在全文中,相同的附圖標(biāo) 記指代相同的元件。圖1是示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的等離子體顯示裝置的框圖。如圖1所示,根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的等離子體顯示裝置包括等離子體顯示 面板IOO、控制器200、尋址電極驅(qū)動器300、維持電極驅(qū)動器400、掃描電 極驅(qū)動器500和供電單元600。等離子體顯示裝置也包括用于監(jiān)測施加到均 由集成電路(IC)實(shí)現(xiàn)的尋址電極驅(qū)動器300、維持電極驅(qū)動器400和掃描 電極驅(qū)動器500的輸入電壓Vdd以控制IC的復(fù)位或非復(fù)位操作(例如,操 作或非操作)的復(fù)位電路700。進(jìn)一步地,實(shí)施例包括第一緩沖器310、第二緩沖器410和第三緩沖器510,用于將控制信號從控制器200和復(fù)位電路700分別傳送至尋址電極驅(qū) 動器300、維持電極驅(qū)動器400和掃描電極驅(qū)動器500。等離子體顯示面板100包括沿列方向延伸的多個(gè)尋址電極Al-Am,以 及沿行方向延伸的多個(gè)維持電極Xl-Xn和多個(gè)掃描電才及Yl-Yn。維持電極 和掃描電極彼此成對形成,維持電極Xl-Xn對應(yīng)于掃描電極Yl-Yn形成。 維持電極X1 -Xn在 一 端彼此相連。等離子體顯示面板IOO包括第一基板(未示出)和第二基板(未示出), 第一基板上排列有維持電極Xl-Xn和掃描電極Yl-Yn,而第二基板上排列 有尋址電極Al-Am。兩個(gè)基板彼此相對地設(shè)置成在二者之間產(chǎn)生》文電空間, 從而使得掃描電極Yl-Yn與尋址電極Al-Am垂直,維持電極Xl-Xn與尋址 電極Al-Am垂直。此外,在尋址電極Al-Am與維持電極Xl-Xn和掃描電 極Yl-Yn的交叉部分處的放電空間形成放電單元。等離子體顯示面板100 的結(jié)果僅是一 個(gè)示范性實(shí)施例,而具有采用下述驅(qū)動波形的其它結(jié)構(gòu)的面板 可以應(yīng)用于本發(fā)明??刂破?00從外部源接收圖像信號,并輸出尋址電極驅(qū)動控制信號、維 持電極(X)驅(qū)動控制信號和掃描電極(Y)驅(qū)動控制信號。通過將一幀分 成多個(gè)子域來驅(qū)動控制器200,其中每個(gè)子域在操作時(shí)間間隔期間都包括復(fù) 位時(shí)段、尋址時(shí)段和維持時(shí)段。尋址電極驅(qū)動器300接收尋址電極驅(qū)動信號,并將用于選擇待顯示放電 單元的顯示數(shù)據(jù)信號施加給每個(gè)尋址電極。維持電極驅(qū)動器400從控制器200接收維持電極(X)驅(qū)動控制信號, 并將驅(qū)動電壓施加給維持電極(X)。掃描電極驅(qū)動器500從控制器200接收掃描電極(Y)驅(qū)動控制信號, 并將驅(qū)動電壓施加給維持電極(Y)。供電單元600向控制器200以及各個(gè)驅(qū)動器300、 400和500提供驅(qū)動 等離子體顯示裝置所需的電能。尋址電極驅(qū)動器300、維持電極驅(qū)動器400和掃描電極驅(qū)動器500的每個(gè)都由包含在等離子體顯示器中的IC實(shí)現(xiàn)。IC從供電單元600接收輸入電壓Vdd,并從控制器200接收控制信號 和輸入信號,以分別將驅(qū)動電壓(例如,該電壓可以是預(yù)定的)提供給掃描 電極、維持電極和尋址電極。如上所述,在常規(guī)情況下,當(dāng)輸入到IC的浮動狀態(tài)的輸入電壓Vdd突 然改變,或輸入信號的電平上下波動時(shí),存在IC發(fā)生故障的風(fēng)險(xiǎn)。不過, 由于通過使用CLR信號或鎖存使能信號來控制IC的輸出信號,所以當(dāng)輸入 信號或輸入電壓發(fā)生不期望的波動時(shí),IC不能控制它們。于是,IC就接收 波動的輸入^f言號或l命/、電壓Vdd。本發(fā)明的實(shí)施例包括復(fù)位電路700,以克服上述的問題。復(fù)位電路700監(jiān)測施加到尋址電極驅(qū)動器300、維持電極驅(qū)動器400和 掃描電極驅(qū)動器500的輸入電壓Vdd,其中所有的驅(qū)動器都是由相應(yīng)的IC 實(shí)現(xiàn)的。復(fù)位電路700向IC提供復(fù)位信號,從而使得只有當(dāng)施加的輸入電 壓在用于正常操作IC的特定電壓范圍內(nèi)時(shí)所述IC才被操作。作為示例,復(fù)位電路700從供電單元600接收一也纟皮施加到各個(gè)IC的 輸入電壓Vdd。復(fù)位電路700產(chǎn)生第一控制信號(去使能),以使IC不會 在復(fù)位電路700中的比較器所確定的輸入電壓Vdd小于預(yù)設(shè)電壓的第一時(shí) 段內(nèi)被驅(qū)動,并且復(fù)位電路700將該第一控制信號(去使能)施加給各個(gè)IC。 復(fù)位電路700還產(chǎn)生第二控制信號(使能),以使IC在輸入電壓Vdd等于 或大于預(yù)設(shè)電壓的第二時(shí)段內(nèi)被驅(qū)動,并且復(fù)位電路700將該第二控制信號 (使能)施加給各個(gè)相應(yīng)的IC。如圖l所示,第一和第二控制信號被施加給連接到各相應(yīng)IC前端的第 一緩沖器310、第二緩沖器410和第三緩沖器510。當(dāng)?shù)谝?、第二和第三?沖器由第二控制信號(使能)使能時(shí),尋址電極驅(qū)動器300、維持電極驅(qū)動 器400和掃描電極驅(qū)動器500被驅(qū)動。結(jié)果,可以避免或減少由施加到IC的輸入信號和輸入電壓Vdd的不穩(wěn) 定狀態(tài)所引起的故障以及由故障造成的IC損壞,從而使得有可能減少最終產(chǎn)品的出錯(cuò)率,并提高等離子體顯示器的可靠性和產(chǎn)量。圖2是圖1所示的根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的復(fù)位電路的電路圖,而圖3是解釋圖2所示的復(fù)位電路的操作的時(shí)序圖。參見圖2,復(fù)位電路700包括具有第一輸入端子V-和第二輸入端子V+ 的比較器702;連接在比較器的第一輸入端子V-與接收輸入電壓Vdd的第 一節(jié)點(diǎn)Nl之間的第一電阻Rl;連接在比較器的第一輸入端子V-與地電勢 GND之間的第二電阻R2;連接在第 一節(jié)點(diǎn)Nl與比較器的第二輸入端子V+ 之間的齊納二極管ZD;以及連接在第 一節(jié)點(diǎn)Nl與輸出端子OUT之間的晶 體管Tl。比較器702將輸入到第一輸入端子V-的電壓幅值與輸入到第二輸入端 子V+的電壓幅值進(jìn)行比較,并在輸入到第一輸入端子V-的電壓幅值大于輸 入到第二輸入端子V+的電壓幅值時(shí)輸出低電平信號,而在輸入到第二輸入 端子V+的電壓幅值大于輸入到第一輸入端子V-的電壓幅值時(shí)輸出高電平信 號。換句話說,第一輸入端子V-是反向(-)輸入端子,而第二輸入端子V十 是非反向(+ )輸入端子。在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,輸入到第一輸入端子V-的電壓等于輸入電 壓Vdd或者比該輸入電壓Vdd小特定值(例如,該值可以是預(yù)定的)。輸 入到第二輸入端子V+的電壓被相對于輸入電壓Vdd延遲以齊納二極管的擊 穿電壓Vz。于是,輸入電壓Vdd與擊穿電壓Vz的差Vdd-Vz確定了第二輸 入端子V+的,命入電壓電平。而且,晶體管T1執(zhí)行開關(guān)功能。盡管本發(fā)明的實(shí)施例將PNP型雙極性 晶體管(BJT)描述為示例,但是這僅僅是一個(gè)實(shí)施例,本發(fā)明不局限于此。結(jié)果,晶體管Tl的基極接收比較器的輸出信號,并且晶體管Tl根據(jù)比較器702的輸出信號的電壓電平導(dǎo)通/截止。如果晶體管T1導(dǎo)通,那么連接到第一節(jié)點(diǎn)N1的晶體管的發(fā)射極與連接到輸出端子OUT的晶體管Tl的集電極被電導(dǎo)通,以允許電 流流 過。而且,第一節(jié)點(diǎn)Nl從供電單元600接收輸入電壓Vdd。因此,在圖2所示的實(shí)施例中,比較器的第一輸入端子V-接收與(R2/ (Rl+R2))承Vdd—致的電壓,該電壓通過由第一電阻Rl和第二電阻R2 對輸入電壓Vdd進(jìn)行分壓所產(chǎn)生,而當(dāng)以超過齊納二極管的擊穿電壓Vz的 幅值提供輸入電壓Vdd時(shí),第二輸入端子V+接收與Vdd-Vz—致的電壓。當(dāng)比較器的第一輸入端子V-和第二輸入端子V+中的每個(gè)被施加以相應(yīng) 的電壓輸入時(shí),比較器對輸入到第一和第二輸入端子的電壓幅值進(jìn)行比較, 并輸出低電平信號或高電平信號。當(dāng)比較器的輸出是低電平信號時(shí),低電平信號耦合到晶體管Tl的基極, 從而使得晶體管導(dǎo)通,以便向與晶體管Tl的集電極相連的輸出端子OUT 輸出施加到與晶體管Tl的發(fā)射極相連的第一節(jié)點(diǎn)Nl的輸入電壓Vdd。另一方面,當(dāng)比較器的輸出是高電平信號時(shí),高電平信號輸入到晶體管 Tl的基極,從而使得晶體管T1截止,以便向與晶體管Tl的集電極相連的 輸出端子OUT輸出對應(yīng)于接地電壓的低電平電壓。本發(fā)明的實(shí)施例使用從輸出端子OUT輸出的低電平電壓作為控制各個(gè) IC的復(fù)位或非復(fù)位操作的使能信號。復(fù)位電路700接收施加到IC的輸入電壓Vdd。復(fù)位電路700產(chǎn)生第一 控制信號(去使能)并且將第一控制信號施加給連接到相應(yīng)IC的緩沖器310、 410和510,該第一控制信號使得在由復(fù)位電路700中的比較器所確定的輸 入電壓Vdd小于預(yù)設(shè)電壓的第一時(shí)段內(nèi)IC不會被驅(qū)動。復(fù)位電路700也產(chǎn) 生第二控制控制信號(使能)并將第二控制信號施加給連接到相應(yīng)IC的緩 沖器310、 410和510,該第二控制信號使得在由復(fù)位電路700中的比較器 所確定的輸入電壓Vdd等于或大于預(yù)設(shè)電壓的第二時(shí)段內(nèi)所述IC被驅(qū)動。以下,參照圖2和圖3描述根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的復(fù)位電路700的示范性 操作。為了描述方便,我們在IC的操作電壓Vcc為5V且預(yù)設(shè)電壓為3.9V的 假定條件下進(jìn)行描述。當(dāng)操作電壓Vcc施加給IC時(shí),IC能正常操作。操作電壓Vcc由輸入電壓Vdd從供電單元600提供。不過,輸入電壓Vdd不能立即達(dá)到5V的操作 電壓Vcc。事實(shí)上,存在電壓上升時(shí)段和電壓下降時(shí)段,它們分別對應(yīng)于在 典型的通電/斷電周期中從供電單元600首先施加電能的時(shí)段和最后施加電 能的時(shí)段。于是,當(dāng)IC在升壓時(shí)段或降壓時(shí)段中操作時(shí),IC可能具有如上所述的 發(fā)生故障的風(fēng)險(xiǎn)。因此,為了克服問題,本發(fā)明的實(shí)施例允許IC僅在輸入 電壓Vdd超過至少預(yù)設(shè)電壓時(shí)操作。參見圖3,輸入電壓Vdd在升壓時(shí)段上升,在降壓時(shí)段下降,而在保持 時(shí)段保持或基本保持其電壓電平,如上所述。而且,對應(yīng)于公式(R2/ (Rl+R2) ) *Vdd,輸入到第一輸入端子V-的電壓隨著輸入電壓Vdd升高或降低。在一個(gè)實(shí)施例中,選擇電阻Rl和 R2,以便當(dāng)輸入電壓Vdd達(dá)到預(yù)設(shè)電壓(例如,3.9V)時(shí),輸入電壓V-處 的電壓達(dá)到期望的電壓。此外,輸入到第二輸入端子V+的電壓被相對于輸入電壓Vdd延遲齊納 二極管ZD的擊穿電壓Vz,以便輸入到第二輸入端子V+的電壓與差Vdd-Vz 一致,其中Vdd是輸入電壓,而Vz是齊納二極管ZD的擊穿電壓。當(dāng)向比較器702的第一輸入端子V-和第二輸入端子V+中的每個(gè)施加以 相應(yīng)的電壓輸入時(shí),比較器702比較輸入到第一和第二輸入端子的電壓幅 值,并輸出低電平信號或高電平信號。當(dāng)輸入到第一輸入端子V-的電壓大于輸入到第二輸入端子V+的電壓 時(shí),低電平信號從比較器702輸出;而當(dāng)輸入到第二輸入端子V+的電壓大 于輸入到第一輸入端子V-的電壓時(shí),高電平信號從比較器702輸出。如圖3所示,當(dāng)在輸入電壓Vdd等于或大于預(yù)設(shè)電壓(例如3.9V)的 時(shí)段內(nèi),輸入到第二輸入端子V+的電壓大于輸入到第一輸入端子V-的電壓 時(shí),高電平信號從比較器702輸出;而當(dāng)在其余時(shí)段內(nèi)輸入到第一輸入端子 V-的電壓大于輸入到第二輸入端子V+的電壓時(shí),低電平信號從比較器702 輸出。低電平信號在輸入電壓Vdd小于預(yù)設(shè)電壓的時(shí)段內(nèi)由比較器702輸出,輸出。當(dāng)比較器的輸出是低電平信號時(shí),晶體管T1導(dǎo)通,從而向與晶體管T1 的集電極相連的輸出端子0UT輸出施加到與晶體管T1的發(fā)射極相連的第一 節(jié)點(diǎn)Nl的輸入電壓Vdd。參見圖2和圖3,在輸入電壓Vdd小于預(yù)設(shè)電壓的時(shí)段期間,比較器 702的輸出為低電平信號,在此期間,輸入電壓Vdd從復(fù)位電路700的輸出 端子OUT輸出。這用作第一控制信號(去使能),以使IC不會被驅(qū)動。當(dāng)比較器702的輸出是高電平信號時(shí),晶體管T1截止,以便向與晶體 管Tl的集電極相連的輸出端子OUT輸出對應(yīng)于接地電壓的低電平電壓。參見圖2和圖3,在輸入電壓Vdd等于或大于預(yù)設(shè)電壓的時(shí)段期間,比 較器702的輸出為高電平信號,在此期間,低電平電壓從復(fù)位電路700的輸 出端子OUT輸出。這用作第二控制信號(使能),以使IC被驅(qū)動。復(fù)位電路700監(jiān)測從供電單元600施加到IC的輸入電壓Vdd。復(fù)位電 路700產(chǎn)生第一控制信號(去使能)來使IC不會在由比較器702所確定的 輸入電壓Vdd小于預(yù)設(shè)電壓的時(shí)段期間被驅(qū)動,并將該第一控制信號施加 給連接到相應(yīng)IC的緩沖器。復(fù)位電路700也產(chǎn)生第二控制信號(使能)來 使IC在輸入電壓Vdd為預(yù)設(shè)電壓或大于預(yù)設(shè)電壓的時(shí)段期間被驅(qū)動,并將 該第二控制信號施加給連接到相應(yīng)IC的緩沖器。結(jié)果,由施加到IC的輸入信號和輸入電壓的不穩(wěn)定狀態(tài)所引起的IC故 障以及由于該故障所造成的IC損壞可以得到避免或降低,從而使得有可能 降低等離子體顯示裝置的出錯(cuò)率,并提高等離子體顯示裝置的可靠性和產(chǎn) 量。盡管已經(jīng)示出和描述了本發(fā)明的若千實(shí)施例,但是本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng) 該理解,可以在不偏離本發(fā)明的原理和精神的情況下對這些實(shí)施例做出改 變,本發(fā)明的范圍限定在權(quán)利要求書及其等效替換中。
權(quán)利要求
1、一種等離子體顯示裝置,包括等離子體顯示面板,包括多個(gè)沿列方向延伸的尋址電極,還包括沿行方向延伸的多個(gè)掃描電極和多個(gè)維持電極;尋址電極驅(qū)動器,用于將顯示數(shù)據(jù)信號施加于所述尋址電極,以便在所述等離子體顯示面板上選擇多個(gè)待顯示的放電單元;維持電極驅(qū)動器和掃描電極驅(qū)動器,用于分別向維持電極和掃描電極施加驅(qū)動電壓;控制器,用于從外部源接收圖像信號,并用于輸出尋址電極驅(qū)動控制信號、維持電極驅(qū)動控制信號和掃描電極驅(qū)動控制信號;供電單元,用于將輸入電壓提供給所述尋址電極驅(qū)動器、所述掃描電極驅(qū)動器和所述維持電極驅(qū)動器;以及復(fù)位電路,其用于檢測所述輸入電壓,并用于輸出復(fù)位控制信號,以控制所述述尋址電極驅(qū)動器、所述掃描電極驅(qū)動器和所述維持電極驅(qū)動器的復(fù)位或非復(fù)位。
2、 如權(quán)利要求1所述的等離子體顯示裝置,其中,所述述尋址電極驅(qū)動器、 所述掃描電極驅(qū)動器和所述維持電極驅(qū)動器由至少一個(gè)集成電路(IC)實(shí)現(xiàn)。
3、 如權(quán)利要求1所述的等離子體顯示裝置,進(jìn)一步包括第一緩沖器、第二 緩沖器和第三緩沖器,它們用于將來自所述控制器和所述復(fù)位電路的控制信號 分別耦合到所述尋址電極驅(qū)動器、所述維持電極驅(qū)動器和所述掃描電極驅(qū)動器。
4、 如權(quán)利要求1所述的等離子體顯示裝置,其中,所述復(fù)位電路適于從所 述供電單元接收施加給各驅(qū)動器的輸入電壓以產(chǎn)生第 一控制信號和第二控制信 號,該第 一控制信號使得在由所述復(fù)位電路中的比較器所確定的所述輸入電壓 小于預(yù)設(shè)電壓的第一時(shí)段期間所述驅(qū)動器不會被驅(qū)動,該第二控制信號使得在所輸入電壓圍所述預(yù)設(shè)電壓或大于所述預(yù)設(shè)電壓的第二時(shí)段期間所述驅(qū)動器被驅(qū)動。
5、 如權(quán)利要求4所述的等離子體顯示裝置,其中,所述第一控制信號和第 二控制信號被傳送到連接于相應(yīng)驅(qū)動器的所述第一、第二和第三緩沖器。
6、 一種等離子體顯示裝置的復(fù)位電路,該復(fù)位電路用于控制多個(gè)尋址電極、 多個(gè)掃描電極和多個(gè)維持電極的相應(yīng)驅(qū)動器的復(fù)位操作,所述尋址電極沿列方向延伸,所述掃描電極和所述維持電極沿行方向延伸,該復(fù)位電路包括 具有第 一輸入端子和第二輸入端子的比較器;連接在用于接收輸入電壓的第 一節(jié)點(diǎn)與所述第二輸入端子之間的齊納二極 管;和連接在所迷第一節(jié)點(diǎn)和所述復(fù)位電路的輸出端子之間、用于接收所述比較 器的輸出的晶體管,其中,所述第一輸入端子接收比所述輸入電壓低的第一端子電壓,所述第二輸入端子接收對應(yīng)于差Vdd-Vz的第二端子電壓,其中Vdd為所述輸入電壓 的電壓電平,Vz為齊納二^l管的擊穿電壓。
7、 如權(quán)利要求6所述的復(fù)位電路,進(jìn)一步包括連接在所述第一輸入端子 與所述第 一節(jié)點(diǎn)之間的第 一 電阻器;和連接在所述第 一輸入端子和地電勢之間 的第二電阻器。
8、 如權(quán)利要求7所述的復(fù)位電路,其中,所述第一端子電壓對應(yīng)于通過對 所述輸入電壓進(jìn)行分壓而產(chǎn)生的(R2/(Rl+R2)yVdd,其中Vdd為所述輸入電壓 的電壓電平,Rl為所述第一電阻器的電阻,而R2為所述第二電阻器的電阻。
9、 如權(quán)利要求6所述的復(fù)位電路,其中,所述第二端子電壓相對于所述輸 入電壓延遲所述齊納二極管的擊穿電壓Vz。
10、 如權(quán)利要求6所述的復(fù)位電路,其中,所述比較器比較所述第一端子 電壓的幅值和所述第二端子電壓的幅值,其中所述比較器在所述第一端子電壓 的幅值大于所述第二端子電壓的幅值時(shí)輸出低電平信號,并在所述第二端子電 壓的幅值大于所述第 一端子電壓的幅值時(shí)輸出高電平信號。
11、 如權(quán)利要求6所述的復(fù)位電路,其中,所迷晶體管由比較器的輸出確 定導(dǎo)通或截止,以向所述輸出端子輸出輸入電壓作為第一控制信號或輸出低電平信號作為第二控制信號。
12、 如權(quán)利要求11所述的復(fù)位電路,其中,所述第一控制信號在所述輸入 電壓小于所述預(yù)設(shè)電壓的第一時(shí)段期間輸出,所述第二控制信號在所述輸入電
13、 一種用于操作等離子體顯示裝置的驅(qū)動器的方法,其中所述驅(qū)動器從外部源接收輸入電壓,該方法包括 監(jiān)測由所述驅(qū)動器接收的輸入電壓; 比較所述輸入電壓和閾值電壓;在所述輸入電壓小于所述閾值電壓時(shí)產(chǎn)生第 一控制信號,以便控制所述驅(qū) 動器不被驅(qū)動;并且在所述輸入電壓等于或大于所述閾值電壓時(shí)產(chǎn)生第二控制信號,以便控制 所述驅(qū)動器被驅(qū)動,其中,所述閾值電壓被適當(dāng)?shù)剡x擇以便在輸入電壓下降到所述閾值電壓之 下時(shí)使所述驅(qū)動器不被驅(qū)動,從而避免所述驅(qū)動器不期望地操作。
14、 如權(quán)利要求13所述的方法,其中,所述輸入電壓是施加到所述驅(qū)動器 的輸入電能電壓。
15、 如權(quán)利要求13所述的方法,其中,通過使用齊納二極管的擊穿電壓來 產(chǎn)生所述閾值電壓。
16、 如權(quán)利要求13所述的方法,其中,采用比較器電路來比較所述輸入電 壓與所述閾值電壓。
17、 如權(quán)利要求16所述的方法,其中,在對所述輸入電壓與所述閾值電壓 進(jìn)行比較之前,對所述輸入電壓進(jìn)行分壓。
全文摘要
一種避免包含在等離子體顯示裝置中的集成電路故障和損壞的復(fù)位電路,以及一種包括該復(fù)位電路的等離子體顯示器,其中,復(fù)位電路監(jiān)測施加到等離子體顯示裝置的集成電路的輸入電壓,以控制所述集成電路的復(fù)位或非復(fù)位操作。
文檔編號G09G3/20GK101251973SQ20081000780
公開日2008年8月27日 申請日期2008年2月19日 優(yōu)先權(quán)日2007年2月23日
發(fā)明者宋裕真 申請人:三星Sdi株式會社
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