專利名稱：：依據(jù)檢測結果來動態(tài)調整輸出信號相位的鎖相回路及方法
技術領域：
：本發(fā)明系有關于視頻顯示裝置中之鎖相回路，尤指一種可依據(jù)一相位/頻率檢測器之檢測結果來動態(tài)地調整一輸出信號的相位之鎖相回路及其方法。
背景技術：
：請參考第1圖，第1圖為公知的視頻顯示裝置(未顯示)中一水平同步信號HS0發(fā)生相位偏移時、對應于一像素驅動頻率CLK0之像素排列的示意圖，其中該視頻顯示裝置中之鎖相回路系依據(jù)水平同步信號HS0來產生像素驅動頻率CLK0。第1圖所示之H1、H2、H3…等分別代表像素驅動頻率CLK0中對應于第一列像素、第二列像素、第三列像素...等的初始周期，而第二列像素中各像素之驅動時間(A2,1)、(A2，2)、(A2,3)、...對初始周期H2之相對時間，分別等于第一列像素中各像素之驅動時間(Al，l)、(Al，2)、(Al,3)、...對初始周期H1之相對時間。若水平同步信號HSO之平均周期為T,且該鎖相回路鎖定對應于平均周期T之頻率，則上述之初始周期H1、H2、H3…等會對齊各列像素之驅動周期的初始位置，如第1圖所示。當水平同步信號HSO于第二列像素之驅動周期的初始位置發(fā)生對應于時間差AT的相位偏移時，該視頻顯示裝置所顯示之第二列像素可能會出現(xiàn)錯誤。例如若水平同步信號HSO之頻率為60kHz,而像素驅動頻率CLKO之頻率約為80MHz,則水平同步信號HSO之周期T約為十幾微秒(microsecond)，且對應于一^象素之水平掃描時間約為十幾納秒(nanosecond),而上述之時間差AT約為幾個納秒(nanosecond)。由于該鎖相回路之反應時間通常遠大于時間差△T,該鎖相回路顯然會來不及反應，只能任由上述之相位偏移不斷地發(fā)生。因此，該視頻顯示裝置所顯示之其它列像素也可能會出現(xiàn)錯誤。
發(fā)明內容5因此本發(fā)明之目的之一在于提供一種可依據(jù)一相位/頻率檢測器之檢測結果來動態(tài)地調整一輸出信號的相位之鎖相回路及其方法，以解決上述之問題。本發(fā)明之另一目的在于提供一種可依據(jù)一相位/頻率檢測器之檢測結果來動態(tài)地調整一輸出信號的相位之鎖相回路及其方法，其中該輸出信號的相位系對應于該鎖相回路之一輸入信號的相位。本發(fā)明之一實施例中提供一種鎖相方法，其包含有依據(jù)一鎖相回路之一相位/頻率檢測器之檢測結果來產生一選擇信號；依據(jù)該鎖相回路所產生之至少一第一振蕩信號來產生多個振蕩信號，其中該多個振蕩信號系分別對應于多個相位；以及依據(jù)該選擇信號，自該多個振蕩信號中選擇一振蕩信號來作為該鎖相回路之一輸出信號。本發(fā)明于提供上述鎖相方法之同時，亦對應地提供一種鎖相回路，其包含有一相位/頻率檢測器，用來依據(jù)一輸入信號來產生一檢測結果；一振蕩器，耦接至該相位/頻率檢測器，用來依據(jù)該檢測結果來產生至少一第一振蕩信號；一振蕩信號產生器，耦接至該振蕩器，用來依據(jù)該第一振蕩信號來產生多個振蕩信號，其中該多個振蕩信號系分別對應于多個相位；以及一選擇信號產生器，耦接至該相位/頻率檢測器與該振蕩信號產生器，用來依據(jù)該檢測結果來產生一選擇信號。該振蕩信號產生器依據(jù)該選擇信號自該多個振蕩信號中選擇一振蕩信號來作為該鎖相回路之一輸出信號。第1圖為公知的視頻顯示裝置中一水平同步信號發(fā)生相位偏移時、對應于一像素驅動頻率之像素排列的示意第2圖為依據(jù)本發(fā)明一實施例之鎖相回路的示意第3圖為依據(jù)本發(fā)明一實施例、對應于一像素驅動頻率之像素排列的示意圖，其中該像素驅動頻率系由第2圖所示之鎖相回路所產生；第4圖為依據(jù)本發(fā)明一實施例之鎖相回路的示意第5圖為依據(jù)本發(fā)明一實施例之鎖相回路的示意第6圖為依據(jù)本發(fā)明一實施例之鎖相回路的示意圖。主要組件符號說明<table>tableseeoriginaldocumentpage7</column></row><table>具體實施例方式請參考第2圖，第.2圖為依據(jù)本發(fā)明一第一實施例之鎖相回路100的示意圖。鎖相回路100包含有一相位/頻率檢測器(phase/frequencydetector,PFD)110、一電荷泵(chargepump)112、一回路濾波器(loopfilter,LF)114、一壓控振蕩器(voltage-controlledoscillator,VCO)116、一振蕩信號產生器120、一選擇信號產生器130、以及一分頻器(frequencydivider)108,其中振蕩信號產生器120包含有一相位內插器(phaseinterpolator,PI)122與一多工器124，而選擇信號產生器130包含有一合成單元132與一量化器(quantizer)134。相位/頻率檢測器110依據(jù)一輸入信號Fi與鎖相回路100中之一反饋(feedback)信號(例如第2圖所示之輸出信號Fo或對應于輸出信號Fo之分頻信號Fd)來產生一^r測結果。如第2圖所示，本實施例之鎖相回路100使用其輸出信號Fo作為該反饋信號，而相位/頻率檢測器110則依據(jù)分頻器108對輸出信號Fo分頻后所產生的分頻信號Fd來運作。依據(jù)本實施例，上述之檢測結果包含有兩檢測信號UP與DN，其中檢測信號UP控制電荷泵112增加位于電荷泵112與壓控振蕩器116之間的節(jié)點之控制電壓，而檢測信號DN則控制電荷泵112減少該控制電壓，所以該控制電壓系對應于該^r測結果。另外，回路濾波器114通常包含有一電阻-電容(R-C)電路。上述這些組件108、110、112、114、與116之架構與原理均為本領域4支術人員所知悉，故不在此贅述其細節(jié)。于本實施例中，壓控振蕩器116依據(jù)該檢測結果來產生J個同頻率之第一振蕩信號，分別由J個輸出端輸出至振蕩信號產生器120，其中該J個第一振蕩信號系分別對應于J個相位。振蕩信號產生器120中之相位內插器122對該J個第一振蕩信號進行相位內插以產生K個振蕩信號，分別由K個輸出端輸出至多工器124，其中該K個振蕩信號系分別對應于K個相位，且K大于J。該K個振蕩信號的頻率均等于該J個第一振蕩信號之共同頻率。依據(jù)本發(fā)明，選擇信號產生器130依據(jù)該檢測結果來產生一選擇信號Sl。于本實施例中，合成單元132合成4企測信號UP與DN以于其輸出端產生一合成信號，而量化器134則量化(quantize)該合成信號以產生選擇信號S1。依據(jù)不同的實施方法，檢測信號UP與DN的格式可以加以變化，在此，合成單元132可采用一加法器或一減法器來實施，以檢測輸入信號Fi中之相位偏移，而該合成信號則代表對應的組件(例如該加法器或該減法器)之運算結果。于本實施例中，多工器124之K個輸入端系依據(jù)預先之理論計算或是試誤性實驗所決定之一預定順序被耦接至相位內插器122以接收該K個振蕩信號，所以當多工器124依據(jù)選擇信號Sl自該K個振蕩信號中選擇一振蕩信號來作為輸出信號Fo時，就可對應地調整輸出信號Fo之相位，解決如第1圖所示之問題。第3圖為依據(jù)第2圖之實施例、對應于一像素驅動頻率CLK1之像素排列的示意圖，其中各項標示系沿用第1圖所示之對應標示以便于說明。在此，鎖相回路100系設置于一視頻顯示裝置中，輸入信號Fi系為該視頻顯示裝置中之一水平同步信號HS1，而輸出信號Fo則為上述之像素驅動頻率CLK1。當多工器124依據(jù)選擇信號Sl自該K個振蕩信號中選擇一振蕩信號來作為輸出信號Fo時，即對應地調整輸出信號Fo之相位，也就是調整像素驅動頻率CLK1之相位。于是，鎖相回路100將對應于第3圖所示之時間差△T的相位偏移補償至H2，在此之一相位偏移補償方法為第二列像素中各像素之驅動時間都被對應地移動AT,意即，由于第二列像素中各像素之驅動時間(A2，1)、(A2，2)、(A2,3)、…對初始周期H2之相對時間，分別等于第一列像素中各像素之驅動時間(Al，l)、(Al，2)、(Al,3)、…對初始周期H1之相對時間，所以第二列像素中各像素之驅動時間都被對應地移動AT,即可配合水平同步信號HS1于此周期內之相位偏移，以正確地驅動第二列像素。相仿地，其它列像素中各像素之驅動時間也可以被動態(tài)地調整，即可配合水平同步信號HS1于其所在周期內之相位偏移。第4圖為依據(jù)本發(fā)明一第二實施例之鎖相回路200的示意圖。本實施例系與該第一實施例相似，其差異說明如下。于本實施例中，分頻器108系耦接至壓控振蕩器116之一特定輸出端(例如壓控振蕩器116之該J個輸出端中之最上方的輸出端，第4圖所示，但此僅為一實施例，本發(fā)明之范圍不限于此)，所以鎖相回路200使用該J個第一振蕩信號中一特定振蕩信號作為該反饋信號，而非使用輸出信號Fo作為該反饋信號。另外，上述之選擇信號產生器130于本實施例中系被代換為一選擇信號產生器230。除了上述之合成單元132與量化器134，選擇信號產生器230另包含有一計算單元236。依據(jù)本實施例，量化器134量化合成單元132所產生之該合成信號(其意義已于前一實施例說明)，而計算單元236則依據(jù)量化該合成信號之結果進行計算以產生本實施例之選擇信號S2，用來控制多工器124。需要留意的是，此計算單元236所做的計算在于因應分頻器108耦接至壓控振蕩器116之該特定輸出端之耦接方式相較于前一實施例(第2圖所示之實施例)所造成的差異，計算多工器124應選擇該K個振蕩信號中的哪一個振蕩信號作為輸出信號Fo方能產生第2圖所示之實施例相同或相似的結果，其中選擇信號S2會對應于多工器124之各輸入端中、所欲選擇的振蕩信號之輸入端，以使得多工器124進行上述的選擇(上述之計算單元236之實施可預先依據(jù)理論推導或者試誤性實驗來進行對照表的設計，即可減低其運算負荷，但此僅為一實施例，本發(fā)明之范圍不限于此)。于是，鎖相回路200可將對應于第3圖所示之時間差AT的相位偏移補償至H2。亦如第3圖所示，第二列像素中各像素之驅動時間都被對應地移動AT，就可以配合水平同步信號HS1于此周期內之相位偏移，以正確地驅動第二列像素。相仿地，其它列像素中各像素之驅動時間也可以被動態(tài)地調整，以配合水平同步信號HS1于其所在周期內之相位偏移。第5圖為依據(jù)本發(fā)明一第三實施例之鎖相回^各300的示意圖。本實施例系與該第一實施例相似，其差異說明如下。于本實施例中，上述之振蕩信號產生器120系被代換為一振蕩信號產生器320，其中振蕩信號產生器320包含有N個延遲單元322-1、322-2.....與322-N以及一多工器324。振蕩信號產生器320系耦接至壓控振蕩器116之一特定輸出端(例如'.第4圖所示之該J個輸出端中最上方之輸出端，但此僅為一實施例，本發(fā)明之范圍不限于此)，所以振蕩信號產生器320僅使用該J個第一振蕩信號中一第一振蕩信號。該N個延遲單元322-1、322-2.....與322-N延遲該第一振蕩信號以產生不同相位之N個振蕩信號，分別輸出至多工器324。依據(jù)本實施例，振蕩信號產生器320總共產生(N+1)個振蕩信號，分別被輸出至多工器324,其中該(N+1)個振蕩信號包含有該第一振蕩信號以及該N個振蕩信號。另外，上述之選擇信號產生器130系被代換為選擇信號產生器330，其中選擇信號產生器330包含有兩量化器334-1與334-2以及一計算單元336。量化器334-1與334-2分別量化檢測信號UP與DN以產生一第一量化信號與一第二量化信號，而計算單元336則計算該第一、第二量化信號之和或差以產生本實施例之選擇信號S3,用來控制多工器324，使多工器324依據(jù)選擇信號S3自該(N+1)個振蕩信號中選擇一振蕩信號來作為輸出信號Fo。于是，鎖相回路300可將對應于第3圖所示之時間差AT的相位偏移補償至H2。亦如第3圖所示，第二列像素中各像素之驅動時間都被對應地移動AT,就可以配合水平同步信號HS1于此周期內之相位偏移，以正確地驅動第二列像素。相仿地，其它列像素中各像素之驅動時間也可以被動態(tài)地調整，以配合水平同步信號HS1于其所在周期內之相位偏移。于本實施例之一變化例中，該振蕩信號產生器中之該多工器系依據(jù)該選擇信號自該N個振蕩信號中選擇一振蕩信號來作為輸出信號Fo。第6圖為依據(jù)本發(fā)明一第四實施例之鎖相回路400的示意圖。本實施例系與該第三實施例相似，其差異說明如下。于本實施例中，分頻器108系耦接至壓控振蕩器116之該特定輸出端，所以鎖相回路400使用該特定輸出端所輸出之該第一振蕩信號作為該反饋信號，而非使用輸出信號Fo作為該反饋信號。另外，上述之選擇信號產生器330于本實施例中系被代換為一選擇信號產生器430,其中上述之計算單元336系被代換為一計算單元436。依據(jù)本實施例，計算單元436計算該第一、第二量化信號之和或差以產生本實施例之選擇信號S4,用來控制多工器324,使多工器324依據(jù)選擇信號S4自該(N+1)個振蕩信號中選擇一振蕩信號來作為輸出信號Fo。于是，鎖相回路400可將對應于第3圖所示之時間差AT的相位偏移補償至H2。亦如第3圖所示，第二列像素中各像素之驅動時間都被對應地移動AT，就可以配合水平同步信號HS1于此周期內之相位偏移，以正確地驅動第二列像素。相仿地，其它列像素中各像素之驅動時間也可以被動態(tài)地調整，以配合水平同步信號HS1于其所在周期內之相位偏移。于本實施例之一變化例中，分頻器108系耦接至該N個延遲單元322-1、322-2.....與322-N中一特定延遲單元之輸出端，所以該變化例之鎖相回路使用該特定延遲單元之該輸出端所輸出之振蕩信號作為該反饋信號。以上所述僅為本發(fā)明之較佳實施例，凡依本發(fā)明申請專利范圍所做之均等變化與修飾，皆應屬本發(fā)明之涵蓋范圍。權利要求1.一種鎖相方法，其包含有依據(jù)一鎖相回路之一相位/頻率檢測器之檢測結果來產生一選擇信號；依據(jù)該鎖相回路所產生之至少一第一振蕩信號來產生多個振蕩信號，其中該多個振蕩信號系分別對應于多個相位；以及依據(jù)該選擇信號，自該多個振蕩信號中選擇一振蕩信號來作為該鎖相回路之一輸出信號。2.如權利要求1所述的鎖相方法，其中該檢測結果包含有一第一檢測信號與一第二檢測信號。3.如權利要求2所述的鎖相方法，另包含有合成該第一檢測信號與該第二檢測信號以產生一合成信號；以及量化該合成信號以產生該選擇信號。4.如權利要求2所述的鎖相方法，另包含有合成該第一檢測信號與該第二檢測信號以產生一合成信號；量化該合成信號；以及依據(jù)量化該合成信號之結果進行計算以產生該選擇信號。5.如權利要求2所述的鎖相方法，另包含有分別量化該第一檢測信號與該第二檢測信號來產生一第一量化信號與一第二量化信號；以及計算該第一、第二量化信號之和或差以產生該選擇信號。6.如權利要求1所述的鎖相方法，其中產生該多個振蕩信號之步驟另包含有對該鎖相回路所產生之多個第一振蕩信號進行相位內插以產生該多個振蕩信號。7.如權利要求1所述的鎖相方法，其中產生該多個振蕩信號之步驟另包含有延遲該第一振蕩信號以產生該多個振蕩信號。8.如權利要求1所述的鎖相方法，其中該相位/頻率檢測器系依據(jù)該輸入信號與該鎖相回路中之一反饋信號來產生該檢測結果。9.如權利要求8所述的鎖相方法，另包含有使用該輸出信號作為該反饋信號。10.如權利要求8所述的鎖相方法，另包含有使用該至少一第一振蕩信號與該多個振蕩信號中一特定振蕩信號作為該反饋信號。11.如權利要求8所述的鎖相方法，另包含有使用該第一振蕩信號作為該反饋信號。12.—種鎖相回路，其包含有一相位/頻率檢測器，用來依據(jù)一輸入信號來產生一檢測結果；一振蕩器，耦接至該相位/頻率檢測器，用來依據(jù)該檢測結果來產生至少一第一振蕩信號；一振蕩信號產生器，耦接至該振蕩器，用來依據(jù)該第一振蕩信號來產生多個振蕩信號，其中該多個振蕩信號系分別對應于多個相位；以及一選擇信號產生器，耦接至該相位/頻率檢測器與該振蕩信號產生器，用來依據(jù)該檢測結果來產生一選擇信號；其中該振蕩信號產生器依據(jù)該選擇信號自該多個振蕩信號中選擇一振蕩信號來作為該鎖相回路之一輸出信號。13.如權利要求12所述的鎖相回路，其中該檢測結果包含有一第一檢測信號與一第二檢測信號，以及該選擇信號產生器包含有一合成單元，用來合成該第一^r測信號與該第二檢測信號以產生一合成信號；以及一量化器，耦接至該合成單元，用來量化該合成信號以產生該選擇信號。14.如權利要求12所述的鎖相回路，其中該檢測結果包含有一第一檢測信號與一第二檢測信號，以及該方法另包含有一合成單元，用來合成該第一檢測信號與該第二檢測信號以產生一合成信號；一量化器，耦接至該合成單元，用來量化該合成信號；以及一計算單元，耦接至該量化器，用來依據(jù)量化該合成信號之結果進行計算以產生該選擇信號。15.如權利要求12所述的鎖相回路，其中該檢測結果包含有一第一檢測信號與一第二檢測信號，以及該選擇信號產生器包含有兩量化器，分別用來量化該第一檢測信號與該第二檢測信號來產生一第一量化信號與一第二量化信號；以及一計算單元，耦接至該兩量化器，用來計算該第一、第二量化信號之和或差以產生該選擇信號。16.如權利要求12所述的鎖相回路，其中該至少一第一振蕩信號包含有多個第一振蕩信號，以及該振蕩信號產生器包含有一相位內插器，用來對該多個第一振蕩信號進行相位內插以產生該多個振蕩信號；以及一多工器，耦接至該相位內插器，用來依據(jù)該選擇信號自該多個振蕩信號中選擇一振蕩信號來作為該輸出信號。17.如權利要求12所述的鎖相回路，其中該振蕩信號產生器包含有多個延遲單元，用來延遲該第一振蕩信號以產生該多個振蕩信號；以及一多工器，耦接至該多個延遲單元，用來依據(jù)該選擇信號自該多個振蕩信號中或自該多個振蕩信號與該第一振蕩信號中選擇一振蕩信號來作為該輸出信號。全文摘要本發(fā)明提供一種鎖相方法，其具有依據(jù)一鎖相回路之一相位/頻率檢測器之檢測結果來產生一選擇信號；依據(jù)該鎖相回路所產生之至少一第一振蕩信號來產生多個振蕩信號，其中該多個振蕩信號系分別對應于多個相位；以及依據(jù)該選擇信號，自該多個振蕩信號中選擇一振蕩信號來作為該鎖相回路之一輸出信號。文檔編號G09G5/00GK101527565SQ200810082088公開日2009年9月9日申請日期2008年3月6日優(yōu)先權日2008年3月6日發(fā)明者閔紹恩申請人:瑞昱半導體股份有限公司