專利名稱：顯示器驅(qū)動電路的測試電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種集成電路測試的技術(shù)，且特別是涉及一種顯示器驅(qū)動電 路的測試電if各。
背景技術(shù)：
平面顯示器，例如液晶顯示器(LCD),近年來已經(jīng)被廣泛地使用。液 晶顯示器具有消耗功率低、體積小、重量輕、分辨率高、色彩飽和度高及產(chǎn) 品壽命長等優(yōu)點，因而廣泛地被應用在筆記型計算機或桌上型計算機的液晶 屏幕及液晶電視(LCDTV)等與生活息息相關(guān)的電子產(chǎn)品。其中，液晶顯示器 的驅(qū)動電路更是影響液晶顯示器質(zhì)量及成本的關(guān)鍵元件。
為了確保液晶顯示器能夠正常動作，液晶顯示器驅(qū)動電路在分組時必須 要做測試。目前，液晶顯示器驅(qū)動電路，例如源極驅(qū)動芯片，在分組測試 時，會做芯片探針(Chip Probe,簡稱CP)測試。在對源極驅(qū)動芯片作芯片探 針測試時，由于源極驅(qū)動芯片所輸出的模擬電壓需要相當準確，故測試此源 極驅(qū)動芯片需要非常精確而昂貴的的模擬測試機臺來測試每一個源極驅(qū)動 芯片的接腳的電壓。
因此，隨著液晶顯示器尺寸越來越大，源極驅(qū)動芯片的輸出針腳數(shù)量越 來越多，芯片探針測試的工作量也越來越重的情況下，發(fā)展出便宜而快速的 測試電路以取代昂貴的測試機臺已顯得刻不容緩。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的之一在于提供一種測試電路，用以測試一顯示器驅(qū)動電路。
本發(fā)明的另一個目的在于提供一種測試電路，用以減低芯片測試成本。 本發(fā)明提出一種測試電路，用以測試一顯示器驅(qū)動電路，其中顯示器驅(qū) 動電路接收一測試數(shù)據(jù)。此測試電路包括一參考電壓產(chǎn)生電路、 一減法電路 及一判斷單元。參考電壓產(chǎn)生電路接收測試數(shù)據(jù)，據(jù)以輸出一正確參考電壓。減法電路耦接顯示器驅(qū)動電路的多個輸出接腳其中的特定接腳，接收正確參 考電壓，用以將特定接腳的電壓與正確參考電壓相減得到誤差電壓。判斷單 元將誤差電壓與誤差參考電壓作比較，以判斷顯示驅(qū)動電路是否通過測試。
依照本發(fā)明的較佳實施例所述的測試電路，還包括一選擇電路，其耦接 在顯示器驅(qū)動電路與該減法電路之間，用以從上述輸出接腳中，選擇其中的 一輸出接腳作為特定接腳，以電連接到一選擇端，其中減法電路通過選擇端 耦接特定接腳。
本發(fā)明提出一種測試電路，用以測試一顯示器驅(qū)動電路，其中顯示器驅(qū) 動電路接收一測試數(shù)據(jù)。測試電路包括參考電壓產(chǎn)生電路、多個減法電路及 判斷單元。參考電壓產(chǎn)生電路用以接收測試數(shù)據(jù)，據(jù)以輸出正確參考電壓。 多個減法電路耦接顯示器驅(qū)動電路的多個輸出接腳中的多個特定接腳，并接 收正確參考電壓，用以分別將上述特定接腳的電壓與正確參考電壓相減得到 多個誤差電壓。判斷單元用以將上述誤差電壓與誤差參考電壓作比較，以判 斷顯示驅(qū)動電路是否通過測試。
依照本發(fā)明的較佳實施例所述的顯示器驅(qū)動電路的測試電路，還包括多 個選擇電路。上述選擇電路耦接在顯示器驅(qū)動電^^與減法電路之間，用以從 上述輸出接腳中，選擇其中的一部分輸出接腳作為上述特定接腳，以分別電 連接到多個選擇端，其中上述減法電路通過上述選擇端耦接上述特定接腳。
本發(fā)明因利用參考電壓產(chǎn)生電路根據(jù)測試數(shù)據(jù)產(chǎn)生一個正確參考電壓， 并且將此測試數(shù)據(jù)給顯示驅(qū)動電路使得顯示驅(qū)動電路的輸出接腳輸出與測
試數(shù)據(jù)對應的電壓；接下來，減法電路將顯示驅(qū)動電路的輸出接腳的電壓與 上述正確參考電壓相減后產(chǎn)生誤差電壓，之后將誤差電壓與預設的電壓作比 較。因此，依照本發(fā)明的精神所實施的測試電路遠比已知昂貴的測試機臺要 來的便宜許多。故本發(fā)明可以用極少的成本，達到已知昂貴測試機臺同樣效 果。
為使本發(fā)明的上述和其它目的、特征和優(yōu)點能更明顯易懂，下文特舉較 佳實施例，并結(jié)合附圖詳細i兌明如下。
圖1示出了本發(fā)明實施例的顯示器驅(qū)動電路測試電路的電路圖。
圖2示出了本發(fā)明另一實施例的顯示器驅(qū)動電路測試電路的電路圖。圖3示出了本發(fā)明又一實施例的顯示器驅(qū)動電路測試電路的電路圖。 圖4示出了本發(fā)明再一實施例的顯示器驅(qū)動電路測試電路的電路圖。
附圖符號說明
101、 201、 301、 401:參考電壓產(chǎn)生電路
102、 202、 302、 402:減法電路
103、 203、選4奪電路
104、 204、 305 、 405:判斷單元 105:顯示器驅(qū)動電路
24:比較器 25:邏輯門
303、 403:第一選擇電路 304 、 404:第二選擇電路
具體實施例方式
圖1示出了本發(fā)明實施例的顯示器驅(qū)動電路測試電路的電路圖。請參考 圖1,此測試電路包括參考電壓產(chǎn)生電路101、減法電路102、選擇電路103 及判斷單元104。另外，為了方便說明本發(fā)明的精神，在此實施例中已經(jīng)先 示出了一個顯示器驅(qū)動電路105通過一插座(未示出)耦接至測試電路。為了 使本領(lǐng)域技術(shù)人員能夠?qū)嵤┍景l(fā)明，并且了解本發(fā)明的精神，在此先假設顯 示器驅(qū)動電路105是液晶顯示器的源極驅(qū)動器。并以上述假設為基礎(chǔ)開始說 明上述測試電路的運作。
首先，開始測試源極驅(qū)動器105時，測試數(shù)據(jù)D會被傳輸給源極驅(qū)動器 105以及參考電壓產(chǎn)生電路IOI。源極驅(qū)動器105會根據(jù)此測試數(shù)據(jù)D,在其 每一個輸出腳位反映出對應此測試數(shù)據(jù)D的電壓。參考電壓產(chǎn)生電路101也 會根據(jù)上述測試數(shù)據(jù)D,產(chǎn)生一個與測試數(shù)據(jù)相對應且正確的正確參考電壓 Vrefl給減法電路102。另外，參考電壓產(chǎn)生電路101還會產(chǎn)生一誤差參考 電壓Vref2給判斷單元104。此誤差參考電壓Vref2的作用將會在下面說明。
接下來，選擇電路103會依據(jù)參考電壓產(chǎn)生器101所傳遞出的信號，從 選擇源極驅(qū)動器105的多個輸出接腳中，選擇其中一輸出接腳作為一個特定 接腳，并將所選出的特定接腳電連接到選擇電路103的選擇端，以使此特定接腳電連接到減法電路102。減法電路102用以將此特定接腳上的電壓減去 上述的正確參考電壓Vref 1。正確參考電壓Vrefl可^L為是與測試數(shù)據(jù)相對 應且最正確的電壓，故此兩電壓相減所得到的電壓稱之為誤差電壓Verr。
接下來，減法電路102會將此誤差電壓Verr送給判斷單元104。判斷單 元104用以將此誤差電壓Verr與上述的誤差參考電壓Vref2作比較。值得 注意的是，由于顯示器驅(qū)動電路105的輸出接腳之間的電壓差很小，故判斷 單元104在比較上述兩電壓的過程中，會對誤差電壓Verr與誤差參考電壓 Vref2之間的差異值進行放大，以依據(jù)放大后的差異值來判斷顯示驅(qū)動電路 105是否通過測試。在此，誤差參考電壓Vref2可視為此源極驅(qū)動器105能 夠被允許的誤差最大值。若誤差電壓Verr比上述誤差參考電壓Vref2來的 大，則表示上述的特定接腳所輸出的電壓與正確參考電壓Vref2差異太大， 故判斷單元104將會輸出信號告知此源極驅(qū)動器105無法通過測試。
判斷單元104可以利用比較器來實施。例如比較器的正端接收誤差電壓 Verr,比較器的負端接收誤差參考電壓Vref 2,若比較器輸出負飽和電壓， 表示誤差參考電壓Vref2大于誤差電壓Verr，也就是源極驅(qū)動器105所輸出 的電壓符合規(guī)格；若比較器輸出正飽和電壓，表示誤差參考電壓Vref2小于 誤差電壓Verr,也就是源極驅(qū)動器105所輸出的電壓不符合規(guī)格。若比較器 的負端接收誤差電壓Verr,比較器的正端接收誤差參考電壓Vref2,若比較 器輸出正飽和電壓，表示誤差參考電壓Vref2大于誤差電壓Verr,也就是源 極驅(qū)動器105所輸出的電壓符合規(guī)格；若比較器輸出負飽和電壓，表示誤差 參考電壓Vref2小于誤差電壓Verr,也就是源極驅(qū)動器105所輸出的電壓不 符合規(guī)格。
上述實施例雖然提供了一種測試電路，但本領(lǐng)域技術(shù)人員應當知道，誤 差參考電壓Vref2并不一定要由參考電壓產(chǎn)生電路101所產(chǎn)生。在另一實施 例中，也可以是從外部輸入的一個電壓。主要是此誤差參考電壓Vref2是可 以根據(jù)待測物105的規(guī)格來改變。另外，選擇電路103并非是必要構(gòu)件。在 另一實施例中，也可以取消選擇電路的存在，只要在每一個待測物105的接 腳都接上減法電路102并配合判斷單元104與參考電壓產(chǎn)生電路101也可實 現(xiàn)同樣的功效。故本發(fā)明不應只限定在上述實施例。
圖2為本發(fā)明另一實施例的顯示器驅(qū)動電路測試電路的電路圖。請參考 圖2,此測試電路包括參考電壓產(chǎn)生電路201、多個減法電路202、多個選擇電路203及判斷單元204。此實施例與圖1實施例較大的不同點在于圖l 的電路只有一減法電路102以及一選擇電路103,本實施例有多個選擇電路 203以及多個減法電路202,這些選^r電路分別負責顯示器驅(qū)動電路105的 多組接腳，而減法電路202分別對應上述選擇電路203。此實施例由于是將 顯示器驅(qū)動電路105的輸出接腳分為多組，再分別利用個選擇電路203以及 多個減法電路202來做測試，故本實施例比圖1實施例能夠更快的完成測試。
另外，此實施例的判斷電路204包括多個比較器24以及一邏輯門25。 此實施例中，比較器24的數(shù)目是配合減法電路202的數(shù)目所配置的。每一 個比較器24的負端接收誤差電壓Verr,比較器的正端接收誤差參考電壓 Vref2。若任一比較器24輸出正飽和電壓，表示誤差參考電壓Vref2大于誤 差電壓Verr，也就是源極驅(qū)動器105所輸出的電壓符合規(guī)格；若比較器輸出 負飽和電壓，表示誤差參考電壓Vref2小于誤差電壓Verr,也就是源極驅(qū)動 器105所輸出的電壓不符合規(guī)格。由于顯示驅(qū)動電路105只要任何一個接腳 所輸出的電壓不符合規(guī)格，便表示顯示驅(qū)動電路為瑕疵品，故邏輯門25可 利用與門(AND GATE)或與非門(NAND GATE)來實施。其余操作原理都與圖1 實施例相同，故在此不予贅述。
圖3為本發(fā)明又一實施例的顯示器驅(qū)動電路測試電路的電路圖。請參考 圖3，此測試電路包括參考電壓產(chǎn)生電路301、減法電路302、第一選擇電路 303、第二選擇電路304以及判斷單元305。此實施例與圖1實施例較大的不 同點在于圖1的電路只有一個選擇電路103,且減法電路102所接收到的 兩輸入信號分別來自選擇電路103與參考電壓產(chǎn)生電路101。而在圖2實施 例中，測試電路包括第一選擇電路303與第二選擇電路304，且減法電路302 所接收到的兩輸入信號分別來自第一選擇電路303與第二選擇電路304。
在此，第一選擇電路303與第二選擇電路304分別具有電連接至減法電 路302的選擇端。藉此，第一選擇電路303會依據(jù)參考電壓產(chǎn)生電路301所 傳遞的信號，從選擇源極驅(qū)動器105的部分輸出接腳中，選擇其中的一輸出 接腳作為第一特定接腳。且選擇電路303的選擇端會電連接到其所選出的第 一特定接腳，以致使減法電路302電連接到此第一特定接腳。相似地，第二 選擇電路304也會依據(jù)參考電壓產(chǎn)生電路301所傳遞出的信號，從選擇源極 驅(qū)動器105的部分輸出接腳中，選擇其中的一輸出接腳作為第二特定接腳。 且選擇電路304的選擇端會電連接到其所選出的第二特定接腳，以致使減法電路302電連接到此第二特定接腳。
一般而言，判斷一個源極驅(qū)動器105是否符合規(guī)格，其輸出電壓是否準 確并非最重要的判斷因素，而是在相同像素數(shù)據(jù)下，每個接腳的輸出電壓是
否差異很小。故本實施例在通過第一選擇電路303與第二選擇電路304取得 來自第 一特定接腳與第二特定接腳上的電壓后，減法電路302用以將第一特 定接腳與第二特定接腳上的電壓相減，并將相減所得到的電壓稱之為誤差電 壓Verr。
接下來，與圖1實施例相似地，參考電壓產(chǎn)生電路301還會產(chǎn)生一誤差 參考電壓Vref2給判斷單元305。此誤差參考電壓Vref2可視為此源極驅(qū)動 器105能夠被允許的誤差最大值。在此，判斷單元305用以將此誤差參考電 壓Vref2與上述誤差電壓Verr來做比較。當上述誤差電壓Verr比誤差參考 電壓Vref2來的大時，則表示上述第一特定接腳與第二特定接腳之間的電壓 差過大，故判斷單元305將會輸出信號告知此源極驅(qū)動器105無法通過測試。 其余操作原理都與圖1實施例相似，故在此不予贅述。
圖4為本發(fā)明再一實施例的顯示器驅(qū)動電路測試電路的電路圖。請參考 圖4,此測試電路包括參考電壓產(chǎn)生電路401、多個減法電路402、第一選擇 電路403、多個第二選擇電路404以及判斷單元405。此實施例與圖3實施 例較大的不同點在于圖3的電路只有一第二選擇電路304以及一減法電路 302，本實施例有多個第二選擇電路404以及多個減法電路402，這些第二選 擇電路分別負責顯示器驅(qū)動電路105的多組接腳，而減法電路402分別對應 上述選擇電路404。此實施例延續(xù)了圖2實施例的精神，也就是利用將顯示 器驅(qū)動電路105的輸出接腳分為多組的方式，來降低測試電路的工作時間。
另外，此實施例的判斷電路406與圖2實施例所述的判斷電路204相似。 在此實施例中，判斷電路406包括多個比較器46以及一邏輯門47。其中， 每一個比較器46都會對其所接收到的誤差電壓Verr與誤差參考電壓Vref2 進行比較，并將比較所得的差異值放大后據(jù)以產(chǎn)生一邏輯判斷信號。之后， 邏輯門47將接收來自每一個比較器46的邏輯判斷信號，并當所接收的邏輯 判斷信號并非全部為一特定邏輯狀態(tài)時，則判定顯示驅(qū)動電路105為瑕疵品。
舉例而言，假若當誤差電壓Verr大于誤差參考電壓Vref2，也就是源極 驅(qū)動器105所輸出的電壓不符合規(guī)格時，比較器46會輸出負飽和電壓，反 之，比較器46則輸出正飽和電壓。由于顯示驅(qū)動電路105只要任何一個接腳所輸出的電壓不符合規(guī)格，便表示顯示驅(qū)動電路105為瑕瘋品，故只要有
一個比較器46輸出負飽和電壓，邏輯門47就會判定顯示驅(qū)動電路105為瑕 瘋品。其余操作原理都與上述各個實施例相同，故在此不予贅述。
綜上所述，本發(fā)明因利用參考電壓產(chǎn)生電路根據(jù)測試數(shù)據(jù)產(chǎn)生一個正確 參考電壓，并且將此測試數(shù)據(jù)給顯示驅(qū)動電路使得顯示驅(qū)動電路的輸出接腳 輸出與測試數(shù)據(jù)對應的電壓；接下來，減法電路將顯示驅(qū)動電路的輸出接腳 的電壓與上述正確參考電壓相減后產(chǎn)生誤差電壓，之后將誤差電壓與預設的 電壓作比較。因此，依照本發(fā)明的精神所實施的測試電路遠比已知昂貴的模 擬測試機臺要來的便宜許多。故本發(fā)明可以用極少的成本，達到已知昂貴測 試機臺同樣效果。
雖然本發(fā)明已經(jīng)以較佳實施例披露如上，但其并非用以限定本發(fā)明，本 領(lǐng)域技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的前提下，當可作若干的更改 與修飾，因此本發(fā)明的保護范圍應以本發(fā)明的權(quán)利要求為準。
權(quán)利要求
1.一種測試電路，用以測試一顯示器驅(qū)動電路，該顯示器驅(qū)動電路接收一測試數(shù)據(jù)，該測試電路包括一參考電壓產(chǎn)生電路，用以接收該測試數(shù)據(jù)，據(jù)以輸出一正確參考電壓；一減法電路，接收該正確參考電壓，耦接該顯示器驅(qū)動電路的多個輸出接腳其中的一特定接腳，用以將該特定接腳的電壓與該正確參考電壓相減得到一誤差電壓；以及一判斷單元，用以將該誤差電壓與一誤差參考電壓作比較，以判斷該顯示驅(qū)動電路是否通過測試。
2. 如權(quán)利要求1所述的顯示器驅(qū)動電路的測試電路，還包括 一選擇電路，耦接在該顯示器驅(qū)動電路與該減法電路之間，用以從所述輸出接腳中，選擇其中的 一輸出接腳作為該特定接腳，以電連接到 一選擇端， 其中該減法電路通過該選擇端耦接該特定接腳。
3. 如權(quán)利要求2所述的顯示器驅(qū)動電路的測試電路，其中該參考電壓產(chǎn) 生電路還用以控制該選擇電路，以決定所述輸出接腳的其中之一耦接該選擇 端。
4. 如權(quán)利要求1所述的顯示器驅(qū)動電路的測試電路，其中該參考電壓產(chǎn) 生電路還用以產(chǎn)生該誤差參考電壓。
5. —種測試電路，用以測試一顯示器驅(qū)動電路，該顯示器驅(qū)動電路接收 一測試數(shù)據(jù)，該測試電路包括一參考電壓產(chǎn)生電路，用以接收該測試數(shù)據(jù)，據(jù)以輸出一正確參考電壓； 多個減法電路，接收該正確參考電壓，耦接該顯示器驅(qū)動電路的多個輸出接腳中的多個特定接腳，用以分別將所述特定接腳的電壓與該正確參考電壓相減得到多個誤差電壓；以及一判斷單元，用以將所述誤差電壓與一誤差參考電壓作比較，以判斷該顯示驅(qū)動電路是否通過測試。
6. 如權(quán)利要求5所述的顯示器驅(qū)動電路的測試電路，還包括 多個選4奪電路，耦接在該顯示器驅(qū)動電路與所述減法電路之間，用以從所述輸出接腳中，選擇其中的一部分輸出接腳作為所述特定接腳，以分別電 連接到多個選擇端，其中所述減法電路通過所述選擇端耦接所述特定接腳。
7. 如權(quán)利要求6所述的顯示器驅(qū)動電路的測試電路，其中該參考電壓產(chǎn)生電路還用以控制每一所述選擇電路，以決定所述輸出接腳的其中之一耦接該選擇端。
8. 如權(quán)利要求5所述的顯示器驅(qū)動電路的測試電路，其中該參考電壓產(chǎn)生電路還用以產(chǎn)生該誤差參考電壓。
9. 如權(quán)利要求5所述的顯示器驅(qū)動電路的測試電路，其中該判斷單元包括多個比較器，分別用以將所述誤差電壓與該誤差參考電壓作比較，并分別據(jù)以輸出多個邏輯判斷信號；以及一邏輯門，接收多個邏輯判斷信號，當所述邏輯判斷信號并非全部為一特定邏輯狀態(tài)，則判定該顯示驅(qū)動電路為瑕疵品。
10. —種測試電路，用以測試一顯示器驅(qū)動電路，該顯示器驅(qū)動電路接收一測試數(shù)據(jù)，該測試電路包括一減法電路，耦接該顯示器驅(qū)動電路的多個輸出接腳其中的一第一特定接腳與 一第二特定接腳，用以將該第一特定接腳與該第二特定接腳的電壓相減得到一誤差電壓；一參考電壓產(chǎn)生電路，用以接收該測試數(shù)據(jù)，并據(jù)以輸出一誤差參考電壓；以及一判斷單元，用以將該誤差電壓與該誤差參考電壓作比較，以判斷該顯示驅(qū)動電路是否通過測試。
11. 如權(quán)利要求10所述的顯示器驅(qū)動電路的測試電路，其中該減法電路還放大該誤差電壓。
12. 如權(quán)利要求10所述的顯示器驅(qū)動電路的測試電路，還包括一第一選擇電路，具有耦接該減法電路的一第一選4奪端，用以從部分所述輸出接腳中，選擇其中的一輸出接腳作為該第一特定接腳，且該第一選擇端電連接到該第一特定接腳；以及一第二選擇電路，具有耦接該減法電路的一第二選擇端，用以從部分所述輸出接腳中，選擇其中的一輸出接腳作為該第二特定接腳，且該第二選擇端電連接到該第 一特定接腳。
13. 如權(quán)利要求12所述的顯示器驅(qū)動電路的測試電路，其中該參考電壓產(chǎn)生電路還用以控制該第一選擇電路與該第二選擇電路，以決定所述輸出接腳的其中之二分別耦接該第 一選擇端與該第二選擇端。
14. 一種測試電路，用以測試一顯示器驅(qū)動電路，該顯示器驅(qū)動電路接收一測試數(shù)據(jù)，該測試電路包括多個減法電路，耦接該顯示器驅(qū)動電路的多個輸出接腳中的一第 一特定接腳與多個第二特定接腳，用以分別將所述第二特定接腳的電壓與該第一特定接腳的電壓相減得到多個誤差電壓；一參考電壓產(chǎn)生電路，用以接收該測試數(shù)據(jù)，并據(jù)以輸出一誤差參考電壓；以及一判斷單元，用以將所述誤差電壓與該誤差參考電壓作比較，以判斷該顯示驅(qū)動電路是否通過測試。
15. 如權(quán)利要求14所述的顯示器驅(qū)動電路的測試電路，其中所述減法電路還分別放大對應的該誤差電壓。
16. 如權(quán)利要求14所述的顯示器驅(qū)動電路的測試電路，還包括一第一選擇電路，具有一第一選擇端，用以從部分所述輸出接腳中，選擇其中的一輸出接腳作為該第一特定接腳，以電連接到該第一選擇端；以及多個第二選擇電路，具有多個第二選擇端，用以從部分所述輸出接腳中，選擇其中的 一部分輸出接腳作為所述第二特定接腳，以分別電連接到所述第二選擇端，其中所述減法電路通過該第 一選擇端耦接該第 一特定接腳，并通過所述第二選擇端耦接所述第二特定接腳。
17. 如權(quán)利要求16所述的顯示器驅(qū)動電路的測試電路，其中該參考電壓產(chǎn)生電路還用以控制該第一選擇電路與所述第二選擇電路，以決定所述輸出接腳與該第一選擇端、所述第二選擇端的耦接方式。
18. 如權(quán)利要求14所述的顯示器驅(qū)動電路的測試電路，其中該判斷單元包括多個比較器，分別用以將所述誤差電壓與該誤差參考電壓作比較，并據(jù)以輸出多個邏輯判斷信號；以及一邏輯門，接收多個邏輯判斷信號，當所述邏輯判斷信號并非全部為一特定邏輯狀態(tài)時，則判定該顯示驅(qū)動電路為瑕疵品。
全文摘要
一種用以測試一顯示器驅(qū)動電路的測試電路，此顯示器驅(qū)動電路接收一測試數(shù)據(jù)，此測試電路包括參考電壓產(chǎn)生電路、減法電路以及判斷單元。參考電壓產(chǎn)生電路用以接收測試數(shù)據(jù)，據(jù)以輸出一正確參考電壓。減法電路接收正確參考電壓，并耦接顯示器驅(qū)動電路的多個輸出接腳其中的一特定接腳，用以將上述特定接腳的電壓與正確參考電壓相減得到誤差電壓。判斷單元用以將誤差電壓與誤差參考電壓作比較，以判斷顯示驅(qū)動電路是否通過測試。
文檔編號G09G3/00GK101556757SQ20081008864
公開日2009年10月14日 申請日期2008年4月10日 優(yōu)先權(quán)日2008年4月10日
發(fā)明者李建模, 李權(quán)哲, 陳佳韶 申請人:奇景光電股份有限公司;李建模