專利名稱：顯示裝置、控制光檢測操作的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種在像素電路中使用自發(fā)光器件(例如，有機(jī)電致發(fā)光器件(有機(jī) EL器件))的顯示裝置以及一種用于控制在像素電路中提供的光檢測部件的光檢測操作的 方法。
背景技術(shù)：
在有源矩陣型的顯示裝置(其中有機(jī)電致發(fā)光(EL 電致發(fā)光)發(fā)光元件被用作 像素)中，通過有源器件(通常是在每個(gè)像素電路中提供的薄膜晶體管(TFT))來控制流入 每個(gè)像素電路中的發(fā)光元件的電流。由于有機(jī)EL器件是電流發(fā)光元件，因此通過控制流入 EL器件的電流量來獲得顯色(colordevelopment)的灰度。具體地，在包括有機(jī)EL器件的像素電路中，將對應(yīng)于所施加的信號值電壓的電流 提供給有機(jī)EL器件，以便執(zhí)行根據(jù)該信號值的灰度(gradation)的發(fā)光。在使用自發(fā)光器件的顯示裝置(例如使用如上所述的有機(jī)EL器件的顯示裝置) 中，重要的是，抵消(cancel)像素間的發(fā)光亮度的散射(dispersion)，以便消除屏幕上顯 現(xiàn)的不均勻性。在像素間的發(fā)光亮度的散射也出現(xiàn)在面板制造時(shí)的初始狀態(tài)下時(shí)，該散射由時(shí)間 相關(guān)的變化造成。有機(jī)EL器件的發(fā)光效率隨著時(shí)間的流逝而下降。具體地，即使相同電流流動時(shí)， 發(fā)射的光亮度也隨著時(shí)間的流逝而一起下降。結(jié)果，屏幕燃燒(screen burn)，如果在黑背景上顯示白WINDOW圖案并且隨后全 屏顯示白色(例如圖17A所示)，則顯示W(wǎng)INDOW圖案所在的部分處的亮度下降。應(yīng)對上面所述情形的措施被公開在JP-T-2007-501953或JP-T-2008-518263 (下 文中分別是指專利文獻(xiàn)1和2)。具體地，專利文獻(xiàn)1公開了一種在每個(gè)像素電路中布置光 傳感器并且將光傳感器的檢測值反饋回系統(tǒng)以校正發(fā)射光亮度的裝置。專利文獻(xiàn)2公開了 一種將檢測值從光傳感器反饋回系統(tǒng)以執(zhí)行發(fā)射光亮度的校正的裝置。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供了一種用于在像素電路中檢測來自像素電路的發(fā)光元件的光的光檢 測部件。該顯示裝置被假設(shè)為其中根據(jù)光檢測部件檢測到的光量信息來校正信號值，以防 止如上所述的那種屏幕燃燒。本發(fā)明還提供了一種能夠高精確度地進(jìn)行檢測的光檢測部 件。根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，提供了一種顯示裝置，包括多個(gè)像素電路、發(fā)光驅(qū)動部件、 光檢測部件、校正信息生成部件和初始化控制部件。多個(gè)像素電路在多條信號線和多條掃 描線彼此交叉的位置處以矩陣布置，并且每個(gè)像素電路包括發(fā)光元件。發(fā)光驅(qū)動部件被適 配成將信號值施加到每個(gè)所述像素電路，以便發(fā)射對應(yīng)于該信號值的灰度的光。光檢測部 件包括用于檢測來自每個(gè)所述像素電路的所述發(fā)光元件的光的光傳感器，并且具有形成于其中的檢測信號輸出電路，該檢測信號輸出電路用于將所述光傳感器的光檢測信息輸出到 光檢測線。校正信息生成部件被適配成檢測輸出到所述光檢測線的光檢測信息，并且將用 于校正與檢測的結(jié)果對應(yīng)的信號值的信息提供給所述發(fā)光驅(qū)動部件。初始化控制部件被適 配成在所述光檢測部件不進(jìn)行光檢測操作的期間內(nèi)將所述檢測信號輸出電路的所有節(jié)點(diǎn) 設(shè)置為相同電勢。根據(jù)本發(fā)明的另一實(shí)施例，提供了一種用于顯示裝置的光檢測操作的控制方法。所述顯示裝置包括多個(gè)像素電路、發(fā)光驅(qū)動部件、光檢測部件、校正信息生成部件和初始化 控制部件。多個(gè)像素電路在多條信號線和多條掃描線彼此交叉的位置處以矩陣布置，并且 每個(gè)像素電路包括發(fā)光元件。發(fā)光驅(qū)動部件被適配成將信號值施加到每個(gè)所述像素電路， 以便發(fā)射對應(yīng)于該信號值的灰度的光。光檢測部件包括用于檢測來自每個(gè)所述像素電路的 所述發(fā)光元件的光的光傳感器，并且具有形成于其中的檢測信號輸出電路，該檢測信號輸 出電路用于將所述光傳感器的光檢測信息輸出到光檢測線。校正信息生成部件被適配成檢 測輸出到所述光檢測線的光檢測信息，并且將用于校正與檢測的結(jié)果對應(yīng)的信號值的信息 提供給所述發(fā)光驅(qū)動部件。所述控制方法包括步驟在所述光檢測部件不進(jìn)行光檢測操作 的期間內(nèi)將所述檢測信號輸出電路的所有節(jié)點(diǎn)設(shè)置為相同電勢。在顯示裝置和用于光檢測操作的控制方法中，能夠在光檢測部件不進(jìn)行光檢測操 作的期間內(nèi)防止電壓被施加到組成光檢測部件的檢測信號輸出電路的一個(gè)或多個(gè)晶體管 以及光傳感器。利用顯示裝置和用于光檢測操作的控制方法，在光檢測部件不進(jìn)行光檢測操作的 期間內(nèi)，光檢測部件的檢測信號輸出電路的所有節(jié)點(diǎn)被設(shè)置為相同電勢。因此，可以防止電 壓被施加到組成光檢測部件的檢測信號輸出電路的一個(gè)或多個(gè)晶體管以及光傳感器。因 此，在不進(jìn)行光檢測的期間內(nèi)，可以防止一個(gè)或多個(gè)晶體管以及光檢測元件的電氣特性發(fā) 生變化。從而，在光檢測操作時(shí)，能夠檢測光檢測信息并且有規(guī)律地進(jìn)行反饋用以信號值的 校正，因此可以獲得沒有屏幕燃燒的均勻畫面質(zhì)量。本發(fā)明的上面和其它目的、特征和優(yōu)點(diǎn)將從結(jié)合附圖的下面描述以及所附權(quán)利要 求中變得明顯，附圖中相同部分或元件用相同的附圖標(biāo)記指代。


圖1是示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的顯示裝置的方框圖；圖2是示出圖1的顯示裝置中的光檢測部件的布置的實(shí)例的概略視圖；圖3是示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的像素電路和光檢測部件的電路圖；圖4A、圖4B、圖5A和圖5B是圖示根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的光檢測部件的光檢測操作 期間的概略視圖；圖6是圖示根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的光檢測部件在光檢測時(shí)的操作的波形圖；圖7到圖9是圖示根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的光檢測部件在光檢測時(shí)的操作的等效電路 圖；圖10是圖示圖2的像素電路和光檢測部件的初始化狀態(tài)的電路圖；圖11是圖示用于形成圖10中圖示的初始化狀態(tài)的操作的等效電路圖；圖12是圖示用于形成圖10中圖示的初始化狀態(tài)的操作控制的波形圖13是圖示圖2的光檢測部件的操作的另一實(shí)例的波形圖；圖14是示出根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例的像素電路和光檢測部件的電路圖；圖15是示出本發(fā)明過程中所考慮的配置的電路圖；圖16是圖示圖15的電路的操作的波形圖；和圖17A和圖17B是圖示校正相對于屏幕燃燒的示意圖。
具體實(shí)施例方式下文中，本發(fā)明的實(shí)施例以下列順序進(jìn)行描述[1.顯示裝置的配置][2.本發(fā)明過程中所考慮的配置][3.本實(shí)施例的電路配置][4.光檢測操作期間][5.光檢測操作和初始化操作1[6.變形例][1.顯示裝置的配置]圖1中示出了根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的有機(jī)EL顯示裝置的配置。該有機(jī)EL顯示裝置包括多個(gè)像素電路10，每個(gè)像素電路10包括有機(jī)EL器件作為 用于根據(jù)有源矩陣方法執(zhí)行發(fā)光驅(qū)動的發(fā)光元件。參考圖1，有機(jī)EL顯示裝置包括像素陣列20，其中大量像素電路10在行方向和列 方向上以矩陣(即m行Xn列)布置。將要注意，每個(gè)像素電路10用作R(紅)、G(綠)和 B (藍(lán))發(fā)光像素之一，并且通過按照預(yù)定的規(guī)則布置各個(gè)顏色的像素電路10來配置彩色顯
示裝置。作為用于驅(qū)動像素電路10發(fā)光的組件，提供水平選擇器11和寫掃描器12。信號線DTL(具體地，DTL1、DTL2、…)布置在像素陣列20上的列方向上，該信號 線DTL由水平選擇器11選擇，該水平選擇器11用于根據(jù)亮度信號的信號值(即灰度值) 將電壓作為顯示數(shù)據(jù)提供給像素電路10。信號線DTL1、DTL2、…的數(shù)量等于在像素陣列20 上以矩陣布置的像素電路10的列數(shù)。而且，在像素陣列20上，寫控制線WSL(即WSL1、WSL2、…)布置在行方向上。寫 控制線WSL的數(shù)量等于在像素陣列20的行方向上以矩陣布置的像素電路10的行數(shù)。寫控制線WSL(即WSL1、WSL2、…)由寫掃描器12驅(qū)動。寫掃描器12將掃描脈沖 WS順序地提供給以行布置的寫控制線WSL1、WSL2、…，以便以行為單位線順序地掃描像素 電路10。桉照通過寫掃描器12的線順序掃描的時(shí)序關(guān)系，水平誅擇器11將信號值電勢 Vsig作為到像素電路10的輸入信號提供給布置在列方向上的信號線DTL1、DTL2、…。光檢測部件30被提供為對應(yīng)于每個(gè)像素電路10。光檢測部件30包括在其內(nèi)部的 光傳感器以及包括該光傳感器的檢測信號輸出電路。光檢測部件30輸出相應(yīng)像素電路10 的發(fā)光元件的發(fā)射光量的檢測信息。而且，提供了用于控制光檢測部件30的操作的檢測操作控制部件21?？刂凭€ TLa(即，TLaU TLa2、…)和控制線TLb (即，TLbl、TLb2、…)從檢測操作控制部件21延伸到光檢測部件30。
盡管下文中描述了光檢測部件30的檢測信號輸出電路的配置，但是控制線TLa所 起的作用是將用于光檢測部件30中的第一開關(guān)晶體管T3的導(dǎo)通/截止控制的控制脈沖 PT3提供給第一開關(guān)晶體管Τ3。同時(shí)，控制線TLb所起的作用是將用于光檢測部件30中的 第二開關(guān)晶體管Τ4的導(dǎo)通/截止控制的控制脈沖ρΤ4提供給第二開關(guān)晶體管Τ4。而且，光檢測線DTEL (即DETLl、DETL2、…)對于光檢測部件30例如被布置在列 方向上。光檢測線DETL被用作用于將電壓作為光檢測部件30的檢測信息進(jìn)行輸出的線。光檢測線DETL(即DETL1、DETL2、…)連接到光檢測驅(qū)動器22。光檢測驅(qū)動器22 執(zhí)行關(guān)于光檢測線DETL的電壓檢測，以便檢測光檢測部件30的光量檢測信息。光檢測驅(qū)動器22將光檢測部件20的關(guān)于像素電路10的光量檢測信息施加到水 平選擇器11中的信號值校正部件11a。信號值校正部件Ila基于所述光量檢測信息來判定像素電路10中的有機(jī)EL器件 的發(fā)光效率的劣化程度，并且根據(jù)判定的結(jié)果執(zhí)行要被施加到像素電路10的信號值Vsig 的校正處理。有機(jī)EL器件的發(fā)光效率隨著時(shí)間流逝而劣化。具體地，即使提供相同的電流，發(fā) 光亮度也隨著時(shí)間流逝而降低。因此，在根據(jù)本實(shí)施例的顯示裝置中，檢測每個(gè)像素電路10 的發(fā)射光量，并且根據(jù)檢測結(jié)果來判定發(fā)光亮度的劣化。然后，響應(yīng)于劣化的程度而校正信 號值Vsig自身。例如，在將要施加信號值Vsig(作為某一電壓值VI)的情況下，進(jìn)行校正 使得基于發(fā)光亮度的劣化的程度而確定的校正值α被設(shè)置并且施加作為電壓值Vl+α的 信號值Vsig。通過將如剛剛所述的方式檢測的每個(gè)像素電路10的發(fā)光亮度的劣化反饋回信號 值Vsig，來補(bǔ)償所述劣化，從而降低了屏幕燃燒。具體地，例如，在其中屏幕燃燒如圖17A中所見發(fā)生的情形中，屏幕燃燒如圖17B 中所見得以降低。將要注意，盡管圖1中未示出，但是，用于經(jīng)其提供所需的操作電源電壓的電源線 和用于經(jīng)其提供參考電勢的參考電勢線連接到像素電路10和光檢測部件30，它們示于圖3 中。檢測操作控制部件21使用控制信號pSW還來執(zhí)行對電源線、參考電勢線等等的電 勢到光檢測部件30的切換控制。順便提及，盡管對于每個(gè)像素電路10提供單個(gè)光檢測部件30，但是不必對于每個(gè) 像素電路10提供一個(gè)光檢測電路30。換句話說，可以應(yīng)用另一種配置，其中一個(gè)光檢測部件30對于多個(gè)像素電路10進(jìn) 行光檢測，例如，類似圖2中所示的配置，其中對于四個(gè)像素電路布置一個(gè)光檢測部件30。 例如，可以考慮以下技術(shù)，即，其中在按順序依次驅(qū)動像素電路10a、10b、10c和IOd發(fā)光的 同時(shí)，執(zhí)行關(guān)于圖2中所示的四個(gè)像素電路10a、10b、10c和IOd的光檢測，通過在像素電路 10a、10b、10c和IOd中的中央位置放置的光檢測部件30a來依次執(zhí)行光檢測?；蛘呖梢圆?取另一種技術(shù)，即，在同時(shí)驅(qū)動多個(gè)像素電路10發(fā)光的同時(shí)，以像素塊(例如包括像素電路 10a、10b、IOc和IOd)為單位檢測光量。[2.本發(fā)明過程中考慮的配置]
這里，在描述本發(fā)明的實(shí)施例的電路配置和操作之前，描述本發(fā)明過程中已考慮 的光檢測部件，以便于理解本實(shí)施例。圖15示出了為減少屏幕燃燒而設(shè)計(jì)的像素電路10和光檢測部件100。參考圖3，像素電路10包括驅(qū)動晶體管Td、取樣晶體管Ts、保持電容器Cs和有機(jī) EL元件1。下文更詳細(xì)地描述具有所述配置的像素電路10。為了補(bǔ)償像素電路10的有機(jī)EL元件1的發(fā)光效率的下降，光檢測部件10被提供 為包括光檢測元件或光傳感器Sl和開關(guān)晶體管Tl，所述開關(guān)晶體管Tl介于固定電源電壓 Vcc與光檢測線DETL之間。在該實(shí)例中，例如，光傳感器Sl以光電二極管的形式提供與來自有機(jī)EL元件1的 發(fā)射光量對應(yīng)的漏電流。通常，當(dāng)二極管檢測到光時(shí)，其電流增加。而且，電流的增加量根據(jù)入射到二極管的光量而變化。具體地，如果光量較大，則電流的增加量較大，如果光量較小，則電流的增加
量較小。如果造成開關(guān)晶體管Tl導(dǎo)通，則流經(jīng)光檢測器Sl的電流流入光檢測線DETL。連接到光檢測線DETL的外部驅(qū)動器101檢測從光傳感器Sl提供給光檢測線DETL 的電流量。外部驅(qū)動器101檢測到的電流值被轉(zhuǎn)換為檢測信息信號并且被提供給水平選擇 器11。水平選擇器11根據(jù)檢測信息信號判定檢測電流值是否對應(yīng)于提供給像素電路10的 信號值Vsig。如果有機(jī)EL元件1的發(fā)射光的亮度表示降低的電平，則檢測電流量表示減少 的級別。在該實(shí)例中，信號值Vsig被校正。圖16中圖示了光檢測操作波形。這里，光檢測部件100將檢測電流輸出到外部驅(qū) 動器101的期間被確定為一幀。在圖16中圖示的信號寫期間內(nèi)，像素電路10中的取樣晶體管Ts利用掃描脈沖WS 展示導(dǎo)通狀態(tài)，并且從水平選擇器11施加到信號線DTL的信號值Vsig被輸入到像素電路 10。信號值Vsig被輸入到驅(qū)動晶體管Td的柵極并且被保留給保持電容器Cs。因此，驅(qū)動 晶體管Td將對應(yīng)于其柵極-源極電壓的電流提供給有機(jī)EL元件1，從而有機(jī)EL元件1發(fā) 光。例如，如果在當(dāng)前幀內(nèi)對于白顯示而提供信號值Vsig，則有機(jī)EL元件1在當(dāng)前幀內(nèi)發(fā) 射白電平的光。在其中發(fā)射白電平的光的幀內(nèi)，利用控制脈沖pTl造成光檢測部件100中的開關(guān) 晶體管Tl導(dǎo)通。因此，接收有機(jī)EL元件1的光的光傳感器Sl的電流的變化反映在光檢測 線 DETL ± ο例如，如果流經(jīng)光傳感器Sl的電流量等于應(yīng)當(dāng)最初發(fā)射的光量并且如圖16中實(shí) 線所示，則如果發(fā)射光量由于有機(jī)EL元件1的劣化而減少，則這如圖16中的虛線所示的那樣。由于與發(fā)射光的亮度的劣化對應(yīng)的電流變化出現(xiàn)在光檢測線DETL上，因此外部 驅(qū)動器101可以檢測該電流量并且獲得劣化程度的信息。然后，該信息被反饋回水平選擇 器11以校正信號值Vsig，從而進(jìn)行對亮度劣化的補(bǔ)償。因此，可以減少屏幕燃燒。然而，如上所述的這種光檢測系統(tǒng)會引起下列不足。具體地，光傳感器Sl接收有機(jī)EL元件1的發(fā)射光并且增加其電流。對于作為光傳感器Sl的二極管，優(yōu)選地使用展示大電流變化(即，施加的負(fù)值電壓近似為零)的其截 止區(qū)。這是因?yàn)榭梢韵鄬_地檢測到電流變化。然而，即使這時(shí)的電流值表示增加，由于它相對于導(dǎo)通電流非常小，如果試圖高精 確度地檢測亮度變化，則可能需要一段長時(shí)間來對光檢測線DETL的寄生電容充電。例如， 難以在一幀內(nèi)高精確度地檢測電流變化。作為一種應(yīng)對措施，可能的思路是增加光傳感器Sl的尺寸以增加電流量。然而， 隨著尺寸增加，光檢測部件100在像素陣列20中占據(jù)的面積的比例會增加。在本實(shí)施例中，考慮了上面的因素而提供能夠高精確度地檢測光的光檢測部件 30。最后，采用一種應(yīng)對措施來使得即使光傳感器Sl的尺寸沒有增加并且此外在每 個(gè)光檢測部件30不進(jìn)行檢測操作的期間內(nèi)防止光傳感器Sl和晶體管的特性變化，也能夠 將適當(dāng)?shù)墓饬啃畔⑤敵龅焦鈾z測線DETL。[3.本實(shí)施例的電路配置]圖10中示出了圖1中所示的實(shí)施例的像素電路10和光檢測部件30的配置。參考圖10，所示的像素電路10包括形式為η-溝道TFT的取樣晶體管Ts、保持電 容器Cs、形式為ρ-溝道TFT的驅(qū)動晶體管Td和有機(jī)EL元件1。如圖1所見，像素電路10被布置在信號線DTL和寫控制線WSL之間的交叉點(diǎn)處。 信號線DTL連接到取樣晶體管Ts的漏極，以及寫控制線WSL連接到取樣晶體管Ts的柵極。驅(qū)動晶體管Td和有機(jī)EL元件1串聯(lián)于電源電壓Vcc與陰極電勢Vcat之間。取樣晶體管Ts和保持電容器Cs連接到驅(qū)動晶體管Td的柵極。驅(qū)動晶體管Td的 柵極-源極電壓表示為Vgs。在本像素電路10中，當(dāng)水平選擇器11將與亮度信號對應(yīng)的信號值施加到信號線 DTL時(shí)，如果寫掃描器12將寫控制線WSL的掃描脈沖WS置于H電平，則造成取樣晶體管Ts 導(dǎo)通，并且信號值被寫入保持電容器Cs。在保持電容器Cs中寫入的信號值電勢變成驅(qū)動晶 體管Td的柵極電勢。如果寫掃描器12將寫控制線WSL的掃描脈沖WS置于L電平，則盡管信號線DTL 和驅(qū)動晶體管Td彼此斷開電連接，驅(qū)動晶體管Td的柵極電勢仍由保持電容器Cs穩(wěn)定地保持。然后，驅(qū)動電流Ids流入驅(qū)動晶體管Td和有機(jī)EL元件1，從而從電源電壓Vcc被 導(dǎo)引為地電勢。這時(shí)，驅(qū)動電流Ids展示與驅(qū)動晶體管Td的柵極_源極電壓Vgs對應(yīng)的值，并且 有機(jī)EL元件1利用與電流值對應(yīng)的亮度發(fā)光。簡言之，在像素電路10中，將信號值電勢從信號線DTL寫入到保持電容器Cs以改 變驅(qū)動晶體管Td的柵極施加電壓，從而控制流入有機(jī)EL元件1的電流值，以獲得顯色的灰度。由于形式為ρ-溝道TFT的驅(qū)動晶體管Td被設(shè)計(jì)成使得其在源極處連接到電源電 壓Vcc從而驅(qū)動晶體管Td在其飽和區(qū)內(nèi)正常地操作，所以驅(qū)動晶體管Td用作恒流源，其具 有通過下列表達(dá)式(1)給出的值Ids = (1/2) · μ · (ff/L) .Cox · (Vgs-Vth)2 (1)其中，Ids 是在其飽和區(qū)中操作的晶體管的漏極與源極之間流動的電流，μ是遷移率，W是溝道寬度，L是溝道長度，Cox 是柵極電容，Vth是驅(qū)動晶體管Td的閾值電壓。從上面的表達(dá)式(1)明顯地得出，在飽和區(qū)內(nèi)，驅(qū)動晶體管Td的漏極電流Ids由 柵極_源極電壓Vgs控制。由于驅(qū)動晶體管Td的柵極-源極電壓Vgs保持為固定的，因此 驅(qū)動晶體管Td操作為恒流源，并且可以促使有機(jī)EL元件1以固定的亮度發(fā)光。通常，有機(jī)EL元件1的電流-電壓特性隨時(shí)間逝去而劣化。因此，在像素電路10 中，與有機(jī)EL元件1的時(shí)間相關(guān)變化一起，驅(qū)動晶體管Td的漏極電壓發(fā)生變化。然而，由 于驅(qū)動晶體管Td的柵極-源極電壓Vgs在像素電路10中被固定，因此固定的電流量流入 有機(jī)EL元件1，并且發(fā)射光亮度不發(fā)生變化。簡言之，可以預(yù)料穩(wěn)定的灰度控制。
然而，隨著時(shí)間流逝，不僅有機(jī)EL元件1的驅(qū)動電壓劣化，而且有機(jī)EL元件1的 發(fā)光效率也劣化。換句話說，即使相同的電流被提供給有機(jī)EL元件1，有機(jī)EL元件1的發(fā) 射光亮度也隨著時(shí)間一起下降。結(jié)果，這種屏幕燃燒出現(xiàn)。因此，提供光檢測部件30，從而執(zhí)行與發(fā)射光亮度的劣化對應(yīng)的校正或補(bǔ)償。檢測信號輸出電路(作為本實(shí)施例中的光檢測部件30)包括光傳感器Si、電容器 Cl、檢測信號輸出晶體管T5 (其形式為η-溝道TFT)、以及如圖3中所見的第一開關(guān)晶體管 Τ3、第二開關(guān)晶體管Τ4、晶體管Τ6。光傳感器Sl連接于電源線VLl與檢測信號輸出晶體管Τ5的柵極之間。盡管通?？梢允褂肞IN 二極管或者非晶硅元件來制造光傳感器Si，但是對于光傳 感器Sl可以使用任何元件，只要其中流動的電流量隨光而變化。在本實(shí)施例中，光傳感器 Sl例如由二極管連接的晶體管形成。光傳感器Sl被布置成檢測從有機(jī)EL元件1發(fā)射的光。光傳感器Sl的電流響應(yīng) 于檢測光量而增加或較少。具體地，如果有機(jī)EL元件1的發(fā)射光量大，則電流增加量大，但 是如果有機(jī)EL元件1的發(fā)射光量小，則電流增加量小。電容器Cl連接于電源線VLl與檢測信號輸出晶體管Τ5的柵極之間。檢測信號輸出晶體管Τ5在其漏極處連接到電源線VLl且在其源極處連接到開關(guān) 晶體管Τ3。開關(guān)晶體管Τ3連接于檢測信號輸出晶體管Τ5的源極與光檢測線DETL之間。開 關(guān)晶體管Τ3在其柵極處連接到控制線TLa，因此它響應(yīng)于圖1中所示的檢測操作控制部件 21的控制脈沖pT3而導(dǎo)通/截止。當(dāng)開關(guān)晶體管Τ3導(dǎo)通時(shí)，檢測信號輸出晶體管Τ5的源 極電勢被輸出到光檢測線DETL。晶體管Τ6具有二極管連接的形式并且連接于檢測信號輸出晶體管Τ5的源極與陰 極電勢Vcat之間。開關(guān)晶體管Τ4在其源極和漏極處連接在參考電勢線VL2和輸出晶體管Τ5的柵極 之間。開關(guān)晶體管Τ4利用從控制線TLb提供到其柵極的控制脈沖ρΤ4而導(dǎo)通/截止。當(dāng) 開關(guān)晶體管Τ4導(dǎo)通時(shí)，參考電勢線VL2被輸入到開關(guān)晶體管Τ5的柵極。光檢測驅(qū)動器22包括電壓檢測部件22a，用于檢測每條光檢測線DETL的電勢。電 壓檢測部件22a檢測從光檢測部件30輸出的檢測信號電壓并且將該檢測信號電壓作為有 機(jī)EL元件1的發(fā)射光量信息(即，作為有機(jī)EL元件1的亮度劣化的信息)提供給上面參 考圖1描述的水平選擇器11，具體地提供給信號值校正部件11a。
對于電源線VLl，電源電壓Vcc和陰極電勢Vcat通過開關(guān)SWl來選擇性地提供。同時(shí)，對于參考電勢線VL2，參考電壓Vini和陰極電勢Vcat通過開關(guān)SW2來選擇 性地提供。而且，對于光檢測線DETL，當(dāng)開關(guān)SW3導(dǎo)通時(shí)提供陰極電勢Vcat0
三個(gè)開關(guān)SW1、SW2和SW3分別由來自檢測操作控制部件21的控制信號pSWl、pSW2 和pSW3控制進(jìn)行切換。將要注意，盡管電源線VLl的電勢由開關(guān)SWl在電源電壓Vcc與陰極電勢Vcat之 間進(jìn)行切換(作為用于解釋的實(shí)例)，但是通過開關(guān)SWl的電源線VLl的電勢切換實(shí)際上可 以通過檢測操作控制部件21的內(nèi)部處理來進(jìn)行。具體地，檢測操作控制部件21可被配置 成響應(yīng)于一個(gè)期間將電源電壓Vcc和陰極電勢Vcat提供給電源線VLl。這也類似地應(yīng)用于 對參考電勢線VL2的電勢切換，即，開關(guān)SW2的操作。[4.光檢測操作期間]在通過此上參考圖3描述的光檢測部件30執(zhí)行檢測像素電路10的有機(jī)EL元件1 的發(fā)射光量的光檢測操作的同時(shí)，此處描述光檢測部件30的光檢測操作的執(zhí)行期間等等。圖4A圖示了在通常圖像顯示之后執(zhí)行的光檢測操作。將要注意，下文中使用的術(shù) 語“通常圖像顯示”是指其中基于提供給顯示裝置的圖像信號的信號值Vsig被提供給每個(gè) 像素電路10以執(zhí)行一般動態(tài)圖像或靜止圖像的圖像顯示的狀態(tài)。假設(shè)，在圖4A中，在時(shí)間t0，接通到顯示裝置的電源。此處，在時(shí)間tl執(zhí)行接通電源時(shí)的各種初始化操作，并且在時(shí)間tl開始通常圖像顯不。在本實(shí)例的情況中，光檢測部件30在到設(shè)備的電源變得可用之后在開始通常圖 像顯示之前的期間內(nèi)進(jìn)行此后描述的初始化。初始化是指將光檢測部件30中的所有節(jié)點(diǎn) 設(shè)置為相同電勢(在本實(shí)例中，為陰極電勢Vcat)的操作。然后，在時(shí)間tl之后，視頻圖像幀F(xiàn)1、F2、…的顯示被執(zhí)行為通常圖像顯示。在 這個(gè)期間中，光檢測部件30保持初始化狀態(tài)。在時(shí)間t2，通常圖像顯示結(jié)束。這對應(yīng)于以下的情況例如，進(jìn)行對電源的斷開操作。在圖4A的實(shí)例中，光檢測部件30在時(shí)間t2之后進(jìn)行光檢測操作。在該實(shí)例中，對于一條線的像素(例如在一幀的期間內(nèi))進(jìn)行光檢測操作。例如，當(dāng)開始光檢測操作時(shí)，水平選擇器11促使像素電路10在第一幀F(xiàn)a內(nèi)進(jìn)行 以下顯示以白顯示來顯示第一線，如圖IlB所見。簡言之，信號值Vsig被施加到像素電路 10，從而在所有其它像素電路10進(jìn)行黑顯示的同時(shí)，第一線中的像素電路10進(jìn)行白顯示， 艮口，高亮度灰度顯示。在幀F(xiàn)a的期間內(nèi)，對應(yīng)于第一線中的像素的光檢測部件30檢測相應(yīng)像素的發(fā)射 光量。光檢測驅(qū)動器22進(jìn)行列的光檢測線DETL的電壓檢測，以獲得第一線中的像素的發(fā) 射光亮度信息。然后，將發(fā)射光亮度信息反饋回水平選擇器11。在下一幀F(xiàn)b中，水平選擇器11促使像素電路11執(zhí)行如下顯示在第二線中執(zhí)行 白顯示，如圖4B所見。換句話說，水平選擇器11促使第二線中的像素電路10來執(zhí)行白顯 示，即，高亮度灰度顯示，但是促使所有其它像素電路10進(jìn)行黑色顯示。
在幀F(xiàn)b的期間內(nèi)，對應(yīng)于第二線中的像素的光檢測部件30檢測相應(yīng)像素的發(fā)射 光量。光檢測驅(qū)動器22進(jìn)行列的光檢測線DETL的電壓檢測，以獲得第二線中的像素的發(fā) 射光亮度信息。然后，將發(fā)射光亮度信息反饋回水平選擇器11。重復(fù)如上所述的這種操作順序，直到最后線。在其中最后線的像素的發(fā)射光亮度 信息被檢測到并且被反饋回水平選擇器11的階段，光檢測操作結(jié)束。水平選擇器11基于像素的發(fā)射光亮度信息來執(zhí)行信號值校正處理。當(dāng)上述的光檢測操作在時(shí)間t3完成時(shí)，執(zhí)行例如切斷到顯示裝置的電源的必需處理。將要注意，在于針對每一線的光檢測操作中選擇對應(yīng)于線中的像素的光檢測部件 30的同時(shí)，使用檢測操作控制部件21的控制脈沖pT3來執(zhí)行選擇。具體地，由于在對應(yīng)于相關(guān)線的像素的光檢測部件30中導(dǎo)通了開關(guān)晶體管Τ3，因 此其它線上的光檢測部件30的信息未被輸出到光檢測線DETL，因此可以執(zhí)行相關(guān)線的像 素的光量檢測。圖5Α圖示了在通常圖像顯示的執(zhí)行期間在某一時(shí)間段中執(zhí)行的光檢測操作。假設(shè)，例如，在時(shí)間tlO開始通常圖像顯示。在開始通常圖像顯示之后，在一幀的 期間內(nèi)對于一條線進(jìn)行光檢測部件30的光檢測操作。換句話說，執(zhí)行與在圖4A的從時(shí)間 t2到時(shí)間t3的期間內(nèi)執(zhí)行的檢測操作類似的檢測操作。然而，每個(gè)像素電路10的顯示是 通常情況下的圖像顯示，而不是對于如在圖4B中的光檢測操作的顯示。在完成對第一線到最后線的光檢測操作之后，在時(shí)間til執(zhí)行光檢測操作30的初 始化。之后，維持初始化狀態(tài)預(yù)定時(shí)間期間。在每一預(yù)定期間之后進(jìn)行光檢測操作，并且如果假設(shè)檢測操作期間的定時(shí)到達(dá)某 一時(shí)間tl2，則類似地進(jìn)行從第一線到最后線的光檢測操作。然后，在完成光檢測操作之后， 在時(shí)間tl3進(jìn)行光檢測操作30的初始化。之后，維持初始化狀態(tài)預(yù)定時(shí)間期間。例如，在通常圖像顯示的執(zhí)行期間，可在預(yù)定期間并行地進(jìn)行光檢測操作。圖5B圖示了當(dāng)電源接通時(shí)執(zhí)行的光檢測操作。假設(shè)在時(shí)間t20接通到顯示裝置的電源。此處，剛好在當(dāng)電源變得可用時(shí)進(jìn)行各 種初始化操作(例如啟動)之后，從時(shí)間t21進(jìn)行光檢測操作。具體地，進(jìn)行與在從圖4A 的時(shí)間t2到時(shí)間t3的期間內(nèi)執(zhí)行的操作類似的檢測操作。而且，每個(gè)像素電路10進(jìn)行對 光檢測操作的顯示，以對于每一幀通過白顯示而顯示一條線，如圖4B所示。在完成對第一線到最后線的光檢測操作之后，水平選擇器11促使像素電路10在 時(shí)間t22開始通常圖像顯示。在時(shí)間tl3進(jìn)行光檢測部件30的初始化。之后，維持初始化 狀態(tài)預(yù)定時(shí)間期間。例如，如果在通常圖像顯示達(dá)到結(jié)束之后進(jìn)行光檢測操作，在通常圖像顯示的執(zhí) 行期間，在開始通常圖像顯示之前或者在如上所述的某一其它定時(shí)并且隨后進(jìn)行基于檢測 的信號值校正處理，可以應(yīng)對發(fā)射光亮度的劣化。將要注意，例如，可以在通常圖像顯示結(jié)束之后和在通常圖像顯示開始之前的兩 個(gè)定時(shí)執(zhí)行光檢測操作。在通常圖像顯示結(jié)束之后和在通常圖像顯示開始之前的兩個(gè)定時(shí)或一個(gè)定時(shí)進(jìn) 行光檢測操作的情況下，由于可以執(zhí)行針對圖4B中所示的光檢測操作的這種顯示，因此有利的是，如在白顯示的情況下，使用高灰度的發(fā)射光可以進(jìn)行檢測。而且，可能的是，執(zhí)行任 意灰度的顯示以便檢測每個(gè)灰度的劣化的程度。另一方面，在執(zhí)行通常圖像顯示期間進(jìn)行光檢測操作的情況下，由于實(shí)際正被顯 示的圖像的實(shí)質(zhì)是不確定的，因此不能指定一個(gè)灰度來進(jìn)行光檢測操作。因此，必須將檢測 值判定為考慮發(fā)射光灰度而確定的值，即，隨后被施加到檢測目標(biāo)的像素的信號值Vsig，并 且必須進(jìn)行信號值校正處理。將要注意，由于在通常圖像顯示的執(zhí)行期間可以重復(fù)地進(jìn)行 光檢測操作和校正處理，因此有利的是，可以基本正常地應(yīng)對有機(jī)EL元件1的亮度劣化。[5.光檢測操作和初始化操作]描述了光檢測部件30的光檢測操作和初始化操作。首先，參考圖6到圖9來描述光檢測操作。假設(shè)，例如，在通常圖像顯示結(jié)束之后(如圖4A所見)進(jìn)行光檢測操作。圖6圖示了光檢測操作時(shí)的操作波形。具體地，圖6圖示了寫掃描器12的掃描脈沖WS、檢測操作控制部件21的控制脈沖 pT4和ρΤ3、檢測信號輸出晶體管Τ5的柵極電壓和光檢測線DETL上出現(xiàn)的電壓。如此上參考圖4Α和圖4Β所述，在光檢測操作時(shí)，一條線上的像素電路10被驅(qū)動 來在一幀期間內(nèi)執(zhí)行白光發(fā)射，并且通過與像素電路10對應(yīng)的光檢測部件30來進(jìn)行發(fā)射 光量檢測。圖6圖示了到被選擇為檢測目標(biāo)的一個(gè)像素電路10的掃描脈沖WS的波形以及 與像素電路10對應(yīng)的光檢測部件30的操作波形。在光檢測部件30中，首先作為檢測準(zhǔn)備期間，將控制脈沖ρΤ4和ρΤ3設(shè)置為H電 平以分別導(dǎo)通開關(guān)晶體管Τ4和Τ3。圖7中圖示了這時(shí)的狀態(tài)。將要注意，當(dāng)開始檢測準(zhǔn)備期間時(shí)，使用來自檢測操作控制部件21的控制信號 pSWl、pSW2和pSW3以如圖7所見的方式分別控制開關(guān)SW1、SW2和SW3。具體地，電源線VLl 被設(shè)置為電源電壓Vcc，參考電勢線VL2被設(shè)置為參考電壓Vini。而且，光檢測線DETL與 陰極電勢Vcat斷開連接。當(dāng)開關(guān)晶體管T4導(dǎo)通時(shí)，參考電勢Vini被輸入到檢測信號輸出晶體管T5的柵 極。參考電勢Vini被設(shè)置為導(dǎo)通檢測信號輸出晶體管T5和晶體管T6的電平。具體 地，參考電勢Vini大于檢測信號輸出晶體管T5的閾值電壓VthT5、晶體管T6的閾值電壓 VthT6和陰極電勢Vcat之和，S卩，VthT5+VthT6+Vcat。因此，由于電流Iini如圖中所見流 動并且開關(guān)晶體管T3也導(dǎo)通，因此電勢Vx被輸出到光檢測線DETL。在檢測準(zhǔn)備期間內(nèi)，如圖6中所見得到檢測信號輸出晶體管T5的柵極電勢=Vini 以及光檢測線DETL的電勢=Vx。為了一幀期間內(nèi)的顯示，在像素電路10中進(jìn)行信號寫。具體地，在圖6的信號寫 期間內(nèi)，寫掃描器12將目標(biāo)線的像素電路10的掃描脈沖WS設(shè)置為H電平，以造成取樣晶 體管Ts導(dǎo)通。這時(shí)，水平選擇器11將白顯示的灰度的信號值Vsig提供給信號線DTL。因 此，在像素電路10中，有機(jī)EL元件1發(fā)射白灰度的光。這時(shí)的狀態(tài)如圖8中所示。這時(shí)，光傳感器Sl接收從有機(jī)EL元件1發(fā)射的光，并且其漏電流變化。然而，由于 開關(guān)晶體管T4處于導(dǎo)通狀態(tài)，因此檢測信號輸出晶體管T5的柵極電壓保持參考電勢Vini。在信號寫結(jié)束之后，寫掃描器12將掃描脈沖WS設(shè)置為L電平以截止取樣晶體管Ts0同時(shí)，檢測操作控制部件21將控制脈沖pT4設(shè)置為L電平以截止開關(guān)晶體管Τ4。 該狀態(tài)如圖9所示。當(dāng)開關(guān)晶體 管Τ4截止時(shí)，光傳感器Sl接收從有機(jī)EL元件1發(fā)射的光，并且將來 自電源電壓Vcc的漏電流提供給檢測信號輸出晶體管Τ5的柵極。通過這一操作，檢測信號輸出晶體管Τ5的柵極電壓從參考電勢Vini逐漸增加，如 圖6所見，并且與此一起，光檢測線DETL的電勢也從電勢Vx增加。光檢測線DETL的這種 電勢變化由電壓檢測部件201a檢測。檢測到的電勢對應(yīng)于有機(jī)EL元件1的發(fā)射光量。換 句話說，如果像素電路10執(zhí)行特定灰度顯示(例如白顯示)，則檢測到的電勢表示有機(jī)EL 元件1的劣化的程度。例如，圖6中實(shí)線表示的光檢測線DETL的電勢差表示當(dāng)有機(jī)EL元 件1根本沒有劣化時(shí)的電勢差，而圖6中虛線表示的電勢差表示當(dāng)有機(jī)EL元件1遭到劣化 時(shí)的電勢差。將要注意，由于隨著光傳感器Sl接收到的光量增加，流經(jīng)光傳感器Sl的電流量增 力口，因此高灰度顯示(例如白顯示)上的檢測電壓高于低灰度顯示上的電壓。換句話說，高 灰度顯示更有利于精確檢測。在一段固定時(shí)間期間逝去之后，檢測操作控制部件21將控制脈沖pT3設(shè)置為L電 平以截止開關(guān)晶體管Τ3，從而結(jié)束檢測操作。以如上所述的那種方式執(zhí)行例如在一幀內(nèi)關(guān)于相關(guān)線中的像素電路10的檢測。光檢測部件200的檢測信號輸出電路具有源跟隨器(source-follower)電路的配 置，并且如果檢測信號輸出晶體管T5的柵極電壓變化，則從檢測信號輸出晶體管T5的源極 輸出該變化。換句話說，檢測信號輸出晶體管T5的柵極電壓由于光傳感器Sl的漏電流的 變化引起的變化從檢測信號輸出晶體管T5的源極輸出到光檢測線DETL。同時(shí)，檢測信號輸出晶體管T5的柵極_源極電壓Vgs被設(shè)置為高于檢測信號輸出 晶體管T5的閾值電壓Vth。因此，從檢測信號輸出晶體管T5輸出的電流值比此上參考圖 15所述的電路配置的電流值高得多，并且即使光傳感器Sl的電流值低，由于它通過檢測信 號輸出晶體管T5，因此發(fā)射光量的檢測信息可被輸出到光檢測驅(qū)動器22。此處，研究了組成光檢測部件30的檢測信號輸出電路的光傳感器Sl以及晶體管 T3、T4、T5 和 Τ6。通常，晶體管的閾值電壓和遷移率響應(yīng)于向其施加的電壓、對其入射的光等等而 變化。具體地，如果晶體管處于導(dǎo)通狀態(tài)，則其閾值電壓在正方向上移動，但是如果晶體管 處于截止?fàn)顟B(tài)，則其閾值電壓在負(fù)方向上移動。因此，輸出到外部光檢測驅(qū)動器22的電壓有時(shí)響應(yīng)于組成用于進(jìn)行光檢測和反 饋的光檢測部件30的晶體管的閾值電壓或遷移率的變化而不同。換句話說，即使有機(jī)EL 元件1的發(fā)射光亮度相等，也可以輸出不同的電壓，導(dǎo)致相對于屏幕燃燒進(jìn)行錯(cuò)誤的校正。而且，如圖4Α、4Β、5Α和5Β所示，在通常圖像顯示結(jié)束之后或者在通常圖像顯示開 始之前或者此外在通常圖像顯示執(zhí)行期間，在預(yù)定的期間內(nèi)進(jìn)行光檢測操作。在該實(shí)例中， 光傳感器Sl處于截止?fàn)顟B(tài)的期間在通常圖像顯示執(zhí)行期間(在該期間有機(jī)EL元件1發(fā)光) 變得非常長。結(jié)果，晶體管的閾值電壓或遷移率很可能變化，并且即使有機(jī)EL元件1的發(fā) 射光亮度相等也可能輸出不同的電壓、從而導(dǎo)致相對于屏幕燃燒執(zhí)行錯(cuò)誤校正的可能性變得更高。因此，在本實(shí)施例中，在不執(zhí)行光檢測操作的期間內(nèi)，進(jìn)行將光檢測部件30的檢 測信號輸出電路的所有節(jié)點(diǎn)設(shè)置為相同電勢的初始化。換句話說，在此上參考圖4A、圖4B、圖5A和圖5B所述不執(zhí)行光檢測操作的期間 內(nèi)，執(zhí)行將所有節(jié)點(diǎn)設(shè)置為相同電勢的初始化。處于初始化狀態(tài)的像素電路10和光檢測部件30如圖10所示。參考圖10，一旦初始化，分別通過來自檢測操作控制部件21的控制信號pSWl、 PSW2和pSW3，如圖10所示地控制開關(guān)SW1、SW2和SW3。具體地，電源線VLl被設(shè)置為陰極 電勢Vcat，參考電勢線VL2被設(shè)置為陰極電勢Vcat0而且光檢測線DETL被設(shè)置為陰極電 勢 Vcat0在光檢測部件30中，檢測信號輸出晶體管T5的柵極節(jié)點(diǎn)和源極節(jié)點(diǎn)以及開關(guān)晶 體管T3和T4的柵極節(jié)點(diǎn)都被設(shè)置為陰極電勢Vcat，如圖10所示。這是以下一種狀態(tài)，即， 其中光檢測部件30的檢測信號輸出電路的所有節(jié)點(diǎn)被初始化為陰 極電勢Vcat。將要注意，陰極電勢Vcat是一個(gè)電勢實(shí)例。至少，對于所有節(jié)點(diǎn)必須具有相同的 電勢。為了實(shí)現(xiàn)如上所述的初始化狀態(tài)，檢測操作控制部件21在此上參考圖4A、圖4B、 圖5A和圖5B所述的初始化時(shí)進(jìn)行圖12所示的控制。具體地，參考圖12，使用控制信號pSW3將開關(guān)SW3接通以便將光檢測線DETL設(shè)置 為陰極電勢Vcat。將要注意，例如將控制信號pSW3施加到形成開關(guān)SW3的晶體管的柵極， 而陰極電勢Vcat被設(shè)置為截止電勢作為該晶體管的柵極電勢，因此開關(guān)SW3的柵極、漏極 和源極都展現(xiàn)陰極電勢Vcat。而且，盡管未示出，但是檢測操作控制部件21以如上所述的那種方式控制開關(guān) Sffl和SW2，以便將電源線VLl設(shè)置為陰極電勢Vcat，并且將參考電勢線VL2設(shè)置為陰極電 勢 Vcat。然后，控制脈沖pT4和ρΤ3被設(shè)置為H電平以分別導(dǎo)通開關(guān)晶體管Τ4和Τ3。這種 狀態(tài)下的光檢測部件30如圖11所示。參考圖11，當(dāng)開關(guān)晶體管Τ3導(dǎo)通時(shí)，施加到光檢測線DETL的陰極電勢Vcat被輸 入到檢測信號示出晶體管Τ5的源極節(jié)點(diǎn)。而且，當(dāng)開關(guān)晶體管Τ4導(dǎo)通時(shí)，施加到參考電勢線VL2的陰極電勢Vcat被輸入到 檢測信號輸出晶體管Τ5的柵極節(jié)點(diǎn)。之后，檢測操作控制部件21將控制脈沖ρΤ4和ρΤ3設(shè)置為L電平，即陰極電勢 Vcat，如圖12所見。陰極電勢Vcat被設(shè)置為開關(guān)晶體管T3和T4的截止電勢。結(jié)果，開關(guān)晶體管T3和T4的柵極節(jié)點(diǎn)也被控制為陰極電勢Vcat。換句話說，圖 10的狀態(tài)形成。通過使用如圖10所見的這種電壓設(shè)置，在光檢測部件30不操作的期間內(nèi)沒有將 電壓施加到晶體管T3、T4、T5和T6以及光傳感器Si，因此，如晶體管的閾值電壓和遷移率 之類的電氣特性在所述期間內(nèi)根本沒有展示任何變化。因此，當(dāng)光檢測操作時(shí)，不會發(fā)生以下情形即使有機(jī)EL元件1的發(fā)射光亮度相 等，作為光傳感器Si的特性變化的結(jié)果，不同的電壓被輸出。
如上所述，在本實(shí)施例中，在光檢測部件30不進(jìn)行光檢測操作的期間內(nèi)，沒有電 壓被施加到組成光檢測部件30的電路的晶體管T3、T4、T5和T6以及光傳感器Si，并且所 述組件的電氣特性根本沒有變化。結(jié)果，有規(guī)律地進(jìn)行光檢測操作，并且可以有規(guī)律地進(jìn)行 對屏幕燃燒的校正。因此，可以獲得沒有屏幕燃燒的均勻畫面質(zhì)量。而且，由于晶體管T3、T4、T5和T6以及光傳感器Sl的電氣特性沒有變化，因此不 必另外提供用于補(bǔ)償特性變化的電路配置，光檢測部件30的元件數(shù)量不會增加。因此可以 實(shí)現(xiàn)高成品率。[6.修改]盡管上面描述了本發(fā)明的實(shí)施例，但是本發(fā)明不限于該特定實(shí)施例，而是能夠以 各種修改的形式來實(shí)現(xiàn)。例如，在如圖5Α所見的通常圖像顯示期間的預(yù)定期間中執(zhí)行光檢測操作的情況 下，可以使用如圖13中圖示的所述操作波形。具體地，參考圖13，當(dāng)在通常圖像顯示的執(zhí)行期間進(jìn)行光檢測操作時(shí)，電源線VLl 被設(shè)置為電源電壓Vcc，并且參考電勢線VL2被設(shè)置為參考電壓Vini。然后，在對應(yīng)于檢測準(zhǔn)備期間內(nèi)的目標(biāo)像素的光檢測部件30中，分別利用控制脈 沖ρΤ3和ρΤ4來導(dǎo)通開關(guān)晶體管Τ3和Τ4，以便形成此上參考圖7描述的狀態(tài)。將要注意， 圖13中的掃描脈沖WS被用來執(zhí)行對于像素電路10的線掃描，用以通常顯示。然后，在通過線掃描將信號值Vsig寫入像素電路10并且像素電路10開始如圖8 中所見的發(fā)光之后，開關(guān)晶體管Τ4截止以形成此上參考圖9所述的狀態(tài)，從而以如上所述 的類似方式進(jìn)行光檢測操作。如上所述的操作順序被執(zhí)行為針對一條線的光檢測，例如，在一幀的期間內(nèi)，并且 在完成對最后線的光檢測操作之后，將電源線VLl設(shè)置為陰極電勢Vcat，并且還將參考電 勢線VL2設(shè)置為陰極電勢Vcat。然后，開關(guān)晶體管T3和T4導(dǎo)通以向光檢測部件30輸入陰 極電勢Vcat。之后，還將待分別施加到開關(guān)晶體管T4和T3的柵極的控制脈沖pT4和pT3 設(shè)置為陰極電勢Vcat。結(jié)果，形成初始化狀態(tài)。該狀態(tài)可以維持直到開始下一光檢測操作 為止。圖14示出了光檢測部件30的電路配置的修改。參考圖14，在修改的光檢測部件30中，晶體管T6不連接到每個(gè)光檢測部件30而 是連接到光檢測線DETL，該光檢測線DETL連接到光檢測部件。換句話說，從每個(gè)光檢測部 件30中去除晶體管T6。通過所述的配置，光檢測部件30的配置得以簡化，并且像素陣列 20中的元件數(shù)量得以減少并且像素陣列20中的排列配置得以簡化。而且，像素電路10的配置根本不限于此上描述的實(shí)例，而且可以采用各種其他配 置。具體地，上述的本實(shí)施例可被廣泛應(yīng)用于采用以下像素電路的顯示裝置，即，所述像素 電路不管參考圖10上述的像素電路的配置如何而進(jìn)行發(fā)光操作并且包括在像素電路外提 供的用于檢測像素電路的發(fā)射光量的光檢測部件。本申請包含與2009年5月12日向日本專利局提交的日本優(yōu)先權(quán)專利申請JP 2009-115194中公開的主題相同的主題，其整體內(nèi)容并入于此作為參考。盡管使用特定術(shù)語已經(jīng)描述了本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例，但是所述描述僅是圖示意 圖，并且應(yīng)當(dāng)理解，在不背離所附權(quán)利要求的精神或范疇的情況下可以進(jìn)行改變和變化。
權(quán)利要求
一種顯示裝置，包括多個(gè)像素電路，其在多條信號線和多條掃描線彼此交叉的位置處以矩陣布置，并且每個(gè)像素電路包括發(fā)光元件；發(fā)光驅(qū)動部件，其被適配成將信號值施加到每個(gè)所述像素電路，以便在各像素電路中發(fā)射對應(yīng)于該信號值的灰度的光；光檢測部件，其包括用于檢測來自每個(gè)所述像素電路的所述發(fā)光元件的光的光傳感器，并且具有形成于其中的檢測信號輸出電路，該檢測信號輸出電路用于將所述光傳感器的光檢測信息輸出到光檢測線；校正信息生成部件，其被適配成檢測輸出到所述光檢測線的光檢測信息，并且將用于校正與檢測的結(jié)果對應(yīng)的信號值的信息提供給所述發(fā)光驅(qū)動部件；和初始化控制部件，其被適配成在所述光檢測部件不進(jìn)行光檢測操作的期間內(nèi)將所述檢測信號輸出電路的所有節(jié)點(diǎn)設(shè)置為相同電勢。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示裝置，其中，組成所述光檢測部件的所述檢測信號輸出 電路包括檢測信號輸出晶體管，用于將與所述光傳感器的電流變化量對應(yīng)的檢測信號輸出 到所述光檢測線。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的顯示裝置，其中，組成所述光檢測部件的所述檢測信號輸出 電路還包括第一開關(guān)晶體管，用于將所述檢測信號輸出晶體管的檢測信號輸出端連接到所述光檢 測線；和第二開關(guān)晶體管，用于將所述檢測信號輸出晶體管的柵極節(jié)點(diǎn)連接到被設(shè)置為預(yù)定檢 測參考電勢的參考電勢提供線，以便將所述檢測信號輸出晶體管的柵極電勢設(shè)置為參考電 勢。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的顯示裝置，其中，所述初始化控制部件將到所述檢測信號輸 出電路的電源電壓提供線的電勢、所述參考電勢提供線的電勢和所述光檢測線的電勢設(shè)置 為相同的預(yù)定電勢，導(dǎo)通所述第一開關(guān)晶體管和第二開關(guān)晶體管，并且隨后也設(shè)置控制線 電勢用以將所述第一開關(guān)晶體管和第二開關(guān)晶體管控制為所述預(yù)定電勢，從而將所述檢測 信號輸出電路的所有節(jié)點(diǎn)設(shè)置為相同的電勢。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的顯示裝置，其中，每個(gè)所述像素電路包括有機(jī)電致發(fā)光元件 作為所述發(fā)光元件，并且在所述光檢測部件不進(jìn)行光檢測操作的期間內(nèi)，所述初始化控制 部件將所述檢測信號輸出電路的所有節(jié)點(diǎn)設(shè)置為與所述有機(jī)電致發(fā)光元件的陰極電勢相 同的電勢。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示裝置，其中，所述光檢測部件在像素電路開始通常圖像 顯示之前或者在像素電路結(jié)束通常圖像顯示之后進(jìn)行光檢測操作。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示裝置，其中，所述光檢測部件在通常圖像顯示期間內(nèi)的 間歇期間內(nèi)進(jìn)行光檢測操作。
8.一種用于顯示裝置的光檢測操作的控制方法，所述顯示裝置包括多個(gè)像素電路， 其在多條信號線和多條掃描線彼此交叉的位置處以矩陣布置，并且每個(gè)像素電路包括發(fā)光 元件；發(fā)光驅(qū)動部件，其被適配成將信號值施加到每個(gè)所述像素電路，以便發(fā)射對應(yīng)于該信 號值的灰度的光；光檢測部件，其包括用于檢測來自每個(gè)所述像素電路的所述發(fā)光元件的光的光傳感器，并且具有形成于其中的檢測信號輸出電路，該檢測信號輸出電路用于將所 述光傳感器的光檢測信息輸出到光檢測線；和校正信息生成部件，其被適配成檢測輸出到 所述光檢測線的光檢測信息，并且將用于校正與檢測的結(jié)果對應(yīng)的信號值的信息提供給所 述發(fā)光驅(qū)動部件，所述控制方法包括步驟在所述光檢測部件不進(jìn)行光檢測操作的期間內(nèi)將所述檢測信號輸出電路的所有節(jié)點(diǎn) 設(shè)置為相同電勢。
全文摘要
此處公開了一種顯示裝置，包括像素電路，其在多條信號線和多條掃描線彼此交叉的位置處以矩陣布置，并且每個(gè)像素電路包括發(fā)光元件；發(fā)光驅(qū)動部件，其被適配成將信號值施加到每個(gè)所述像素電路；光檢測部件，其具有光傳感器；校正信息生成部件，其被適配成檢測輸出到所述光檢測線的光檢測信息，并且將用于校正與檢測的結(jié)果對應(yīng)的信號值的信息提供給所述發(fā)光驅(qū)動部件；和初始化控制部件，其被適配成在所述光檢測部件不進(jìn)行光檢測操作的期間內(nèi)將所述檢測信號輸出電路的所有節(jié)點(diǎn)設(shè)置為相同電勢。
文檔編號G09G3/32GK101887690SQ201010178638
公開日2010年11月17日 申請日期2010年5月12日 優(yōu)先權(quán)日2009年5月12日
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