專利名稱：改善液晶顯示器淡灰線或淡灰塊現(xiàn)象的裝置和方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及液晶顯示器領(lǐng)域，尤其涉及一種改善液晶顯示器淡灰線或淡灰塊現(xiàn)象的裝置和方法。
背景技術(shù)：
隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展和生活水平的提高，消費者對液晶顯示器畫面尺寸的要求也越來越高，而作為液晶顯示器的顯示部件的液晶面板，其尺寸也越來越大。大尺寸的液晶面板，其RC(阻抗和容抗)延時會嚴重影響到液晶顯示器的畫面品質(zhì)。具體地，在RC異常的情況下，容易引起液晶面板的實際電壓與期望輸入電壓之間存在差值，在灰度畫面相同時，造成極性相同的兩行電壓的電壓值并不相同，即在相同的灰度畫面下，由于RC延時的不可避免性，不同的行出現(xiàn)不同的灰度畫面，在畫面品質(zhì)上表現(xiàn)為垂直方向的Dim-Line (淡灰線)或Dim-Block (淡灰塊)現(xiàn)象，尤其是在液晶面板的特性不一致時，即輸出通道的MOS管工藝不同時，會加重這種現(xiàn)象的發(fā)生。現(xiàn)有技術(shù)通過采用良好的材料減小液晶面板的阻抗和容抗，即RC延時，來克服上述缺陷，但是，發(fā)明人在實現(xiàn)本發(fā)明的技術(shù)方案時發(fā)現(xiàn)，現(xiàn)有技術(shù)至少存在以下問題，由于通過減小阻抗和容抗的程度與工藝密切相關(guān)，因此較難把握；在液晶面板確定后，無法改變電阻值和電容值，出現(xiàn)由于RC異常而引起的Dim-Line或Dim-Block現(xiàn)象時，其維修費用相當(dāng)于重新制作MASK。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題在于提供一種改善液晶顯示器Dim-Line或 Dim-Block現(xiàn)象的裝置和方法，能夠有效改善液晶顯示器Dim-Line或Dim-Block現(xiàn)象。為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明改善液晶顯示器Dim-Line或Dim-Block現(xiàn)象的裝置和方法采用如下技術(shù)方案—種改善液晶顯示器淡灰線或淡灰塊現(xiàn)象的裝置，包括采樣比較單元和補償單元，所述采樣比較單元與液晶面板亞像素單元中的像素電極相連接，用于將采樣得到的亞像素單元的實際輸出電壓與參考電壓相比較得到的差值電壓與某一設(shè)定值相比較；所述補償單元用于若所述差值電壓大于所述設(shè)定值，則鎖存所述差值電壓，并在下一幀時，補償所述差值電壓到所述亞像素單元；若所述差值電壓小于等于所述設(shè)定值，則不補償。所述補償單元的功能由電荷泵電路實現(xiàn)。
所述采樣比較單元包括采樣控制模塊，用于采樣得到亞像素單元的實際輸出電壓；第一比較模塊，用于將所述實際輸出電壓與所述參考電壓相比較，得到差值電壓；
第二比較模塊，用于將所述差值電壓與所述設(shè)定值相比較。所述采樣控制模塊的功能由時序控制器實現(xiàn)。所述采樣控制模塊的功能由時序控制器實現(xiàn)的實現(xiàn)方式為狀態(tài)機或數(shù)字邏輯電路。所述第二比較模塊的功能由設(shè)置有所述設(shè)定值的模擬電壓比較器實現(xiàn)。所述模擬電壓比較器設(shè)置在在驅(qū)動集成電路板內(nèi)部或液晶面板上。一種改善液晶顯示器淡灰線或淡灰塊現(xiàn)象的方法，包括將亞像素單元的實際輸出電壓與參考電壓相比較得到的差值電壓與某一設(shè)定值相比較；若所述差值電壓大于所述設(shè)定值，則鎖存所述差值電壓，并在下一幀時，補償所述差值到所述亞像素單元；若所述差值電壓小于等于所述設(shè)定值，則不補償。所述將亞像素單元的實際輸出電壓與參考電壓相比較得到的差值電壓與某一設(shè)定值相比較包括采樣得到亞像素單元的實際輸出電壓；將所述實際輸出電壓與所述參考電壓相比較，得到差值電壓；將所述差值電壓與所述設(shè)定值相比較。在本實施例的技術(shù)方案中，引入了對存儲電容Cs的采樣線，利用采樣比較模塊對液晶面板上不同范圍的行及列數(shù)據(jù)進行采樣，將采樣得到的實際輸出電壓與其期望輸入電壓的灰度級別相對應(yīng)的參考電壓相比較得出的差值電壓判斷是否需要補償，在該差值電壓大于某一設(shè)定值時，通過補償模塊補償差值電壓到需要補償?shù)膩喯袼貑卧臄?shù)據(jù)線上，從而減少了由于RC異常而引起的Dim-Line或Dim-Block現(xiàn)象，并且其電路實現(xiàn)簡單，易于維修。


為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖1為本發(fā)明實施例整片液晶面板的等效電路圖；圖2為本發(fā)明實施例應(yīng)用改善液晶顯示器Dim-Line或Dim-Block現(xiàn)象的裝置的液晶面板的等效電路圖之一；圖3為本發(fā)明實施例采樣比較單元的機構(gòu)示意圖；圖4為本發(fā)明實施例應(yīng)用改善液晶顯示器Dim-Line或Dim-Block現(xiàn)象的裝置的液晶面板的等效電路圖之二 ；圖5為本發(fā)明實施例電荷泵電路的電路圖；圖6為本發(fā)明實施例中采樣實際輸出電壓的采樣時序圖；圖7為本發(fā)明實施例中采樣控制狀態(tài)圖；圖8為本發(fā)明實施例中采樣控制模塊的結(jié)構(gòu)示意圖；圖9為本發(fā)明實施例中液晶面板Dim-Line或Dim-Block現(xiàn)象多發(fā)區(qū)示意圖10為本發(fā)明實施例改善Dim-Line或Dim-Block現(xiàn)象的方法流程圖；圖11為圖10中步驟101的方法流程圖。附圖標(biāo)記說明1-采樣比較單元；2-補償單元； 11-采樣控制模塊；12-第一比較模塊；13-第二比較模塊；21-脈沖波轉(zhuǎn)換芯片；22-電荷泵。
具體實施例方式下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。本發(fā)明實施例提供一種改善液晶顯示器Dim-Line或Dim-Block現(xiàn)象的裝置和方法，能夠有效改善液晶顯示裝置由于RC延時造成的Dim-Line或Dim-Block現(xiàn)象。圖1為整片液晶面板的等效電路圖，如圖1所示，在液晶面板中，每一個TFT (Thin Film Transistor，薄膜晶體管)都連接一個由像素電極和公共電極形成的Qc(像素電容)， 用于在數(shù)據(jù)線給像素電極充電時，形成電場，控制液晶旋轉(zhuǎn)，從而顯示不同的灰度圖像，以及一個由像素電極和存儲電極形成的Cs (存儲電容)，用于保持像素電極的電壓。在顯示圖像時，柵極驅(qū)動ICantegratedCircuit，集成電路板)在掃描電極上加一系列互不交疊的掃描信號，即逐行在TFT的柵上加正偏壓，使該行的TFT同時導(dǎo)通，TFT由高阻態(tài)轉(zhuǎn)變?yōu)榈妥钁B(tài)；與此同時，源極驅(qū)動IC把對應(yīng)行上所要顯示的圖像數(shù)據(jù)送到各個信號電極上，于是，圖像數(shù)據(jù)便通過該行上開啟的TFT對應(yīng)行的Qc充電，實現(xiàn)液晶顯示，即圖像數(shù)據(jù)通過導(dǎo)通的 TFT，被送到像素電極上，Cs存儲并保持該圖像數(shù)據(jù)的電壓。當(dāng)行掃描信號結(jié)束后，TFT隨即關(guān)斷，被存儲的數(shù)據(jù)電壓將被保持并持續(xù)驅(qū)動像素液晶，直到下幀掃描信號的再次到來。而其他未選中行的TFT始終處于關(guān)斷狀態(tài)，圖像數(shù)據(jù)對其中像素上的電壓沒有影響。這樣逐行重復(fù)便可顯示出一幀圖像。由于RC延時的存在，極性相同、數(shù)字信號相同的相鄰兩行或多行之間的實際輸出電壓Uo存在一定的差異。為了改善由于RC延時造成的Dim-Line或Dim-Block現(xiàn)象，如圖 2所示，本發(fā)明實施例提供一種改善液晶顯示器Dim-Line或Dim-Block現(xiàn)象的裝置，該裝置包括采樣比較單元1和補償單元2，具體地，采樣比較單元1與液晶面板亞像素單元中的像素電極相連接，用于將采樣得到的亞像素單元的實際輸出電壓Uo與參考電壓toef相比較得到的差值電壓Δ V與某一設(shè)定值Vl相比較；所述補償單元2用于若差值電壓Δ V大于上述設(shè)定值VI，則鎖存該差值電壓Δ V，并在下一幀時，補償所述差值電壓Δ V到所述亞像素單元；若所述差值電壓Δ V 小于等于所述設(shè)定值Vl，則不補償。其中，采樣比較單元1可以分別連接至少一個需要進行補償?shù)膩喯袼貑卧?，并對所連接的亞像素單元的實際輸出電壓Uo分別進行采樣。即根據(jù)需要，按照既定的規(guī)則，選取某一數(shù)量的亞像素單元與采樣比較單元1相連接，例如可以選取 1、3、5......η列的亞像素單元，分別與采樣比較單元1相連接。對于源極驅(qū)動IC而言，同一個輸出通道對應(yīng)同一列的亞像素單元，因此，對于同一行的亞像素單元而言，可以由不同的輸出通道確定不同的亞像素單元，因此，在TFT上較容易實現(xiàn)對一行的亞像素單元上的數(shù)據(jù)的采樣，也就是對實際加在每一個像素液晶兩端數(shù)據(jù)的采樣，實現(xiàn)方式可以為在時序控制中，對于每一個亞像素單元顯示的內(nèi)容，由寄存器地址記錄。這樣，將相同寄存器記錄的數(shù)據(jù)進行比較，可以比較出由于液晶面板的RC延時而造成的期望輸入電壓與實際輸出電壓Uo的差值。在本實施例的技術(shù)方案中，引入了對存儲電容Cs的采樣線，利用采樣比較模塊對液晶面板上不同范圍的行及列數(shù)據(jù)進行采樣，將采樣得到的實際輸出電壓與其期望輸入電壓的灰度級別相對應(yīng)的參考電壓相比較得出的差值電壓判斷是否需要補償，在該差值電壓大于某一設(shè)定值時，通過補償模塊補償差值電壓到需要補償?shù)膩喯袼貑卧臄?shù)據(jù)線上，從而減少了由于RC異常而引起的Dim-Line或Dim-Block現(xiàn)象，并且其電路實現(xiàn)簡單，易于維修。進一步地，如圖3所示，采樣比較單元1包括采樣控制模塊11，用于采樣得到亞像素單元的實際輸出電壓Uo，其中，采樣控制模塊11的功能可以由時序控制器實現(xiàn)，實現(xiàn)方式為狀態(tài)機或數(shù)字邏輯電路；第一比較模塊12，用于將所述實際輸出電壓與參考電壓 toef相比較，得到差值電壓Δ V;第二比較模塊13，用于將所述差值電壓ΔΥ與設(shè)定值Vl相比較。其中，第二比較模塊的功能可以由設(shè)置有設(shè)定值Vl的模擬電壓比較器實現(xiàn)，該模擬電壓比較器可以設(shè)置在在驅(qū)動集成電路板內(nèi)部或液晶面板上。進一步地，如圖4所示，上述補償單元2的功能可以由受時序控制器控制的補償電路實現(xiàn)，在本實施例中，優(yōu)選由與脈沖波轉(zhuǎn)換芯片21連接的電荷泵電路22實現(xiàn)。具體地，采用本實施例提供的裝置實現(xiàn)改善液晶顯示器Dim-Line或Dim-Block現(xiàn)象的過程如下如圖4所示，采樣控制模塊控制采樣，采樣得到的實際輸出電壓Uo送到采樣比較單元1中進行模數(shù)轉(zhuǎn)換并比較后，再進一步進行數(shù)模轉(zhuǎn)換，并使用一個模擬電壓比較器，將由實際輸出電壓Uo得到的模擬電壓Ui與參考電壓toef相比較，其中，參考電壓toef為與灰階相對應(yīng)的具有固定值的參考電壓(即每一個灰階對應(yīng)一個固定的參考電壓值)。在高灰度部分，由于畫面本身變亮，所以差異增大時，不會讓人的視覺有所感覺；在低灰度部分， 以相鄰灰度的灰度差為7mV為標(biāo)準，則設(shè)置設(shè)定值Vl = 7mV。當(dāng)差值| Δν| = Ui-Uref < 7mV時，則無需補償，在下一幀時，輸出實際輸出電壓Uo ；而當(dāng)差值= Ui-Uref > V1 = 7mV時，此時需要補償，將差值電壓AV鎖存，在下一幀時，將比較的結(jié)果AV作為脈沖波轉(zhuǎn)換芯片21的輸入端，該脈沖波轉(zhuǎn)換芯片21可由8038實現(xiàn)，輸出的脈沖波DltV作為電荷泵電路22的一端輸入，則補償后的輸出電壓Vbc盡量接近參考電壓toef，將補償后的輸出電壓Vbc作為實際輸出電壓輸出，即Vbc = Uo ^ toef。電荷泵電路如圖5所示，電荷泵電路包括兩個輸入端B、E和一個輸出端C，具體地， 輸入端B輸入的是當(dāng)前數(shù)據(jù)線輸出的電壓Vdata ；輸入端E輸入的是DltV，作為電荷泵電路的補償變壓，該脈沖波DltV由差值比較后經(jīng)脈沖波轉(zhuǎn)換芯片給出；輸出端C是將補償后的輸出電壓Vbc輸出到數(shù)據(jù)線上。Vot電壓(圖中未示出)作為電荷泵電路的參考電壓，直接由液晶面板的Vot基板給出。在需要補償AV時，如圖3所示，數(shù)據(jù)線的選擇端A連接電荷泵的輸入端B，電荷泵的輸出端C連接數(shù)據(jù)線D端，電荷泵通過輸出端C將補償后的輸出電壓Vbc輸出到數(shù)據(jù)線上，像素單元顯示補償后的輸出電壓Vbc ；而在不需要補償時，數(shù)據(jù)線的選擇端A直接連接數(shù)據(jù)線D端，像素單元顯示由數(shù)據(jù)線輸出的電壓Vdata。普通的A/D轉(zhuǎn)換受順序結(jié)構(gòu)指令周期的限制，轉(zhuǎn)換速度通常為lOOOus左右，遠不能滿足液晶顯示器中數(shù)字信號的頻率，而高速的A/D轉(zhuǎn)換器，又是以用高存儲空間及高成本為代價的，而本方案中的A/D采樣控制以流水線的工作方法進行工作，它在每一個CLK周期都啟動一次采樣，完成一次采樣。具體地，如圖6所示，每次啟動采樣是在CLK的下降沿進行，而采樣轉(zhuǎn)換結(jié)果的輸出卻在2. 5個CLK周期后，如果計算上輸出延時Tdd，從采樣到輸出需要經(jīng)過2. 5xTclk+Tdd0對于需要設(shè)計的采樣控制模塊，可以認為，每加一個采樣CLK 周期，A/D就會輸出一個采樣數(shù)據(jù)。可以根據(jù)其采樣時序用狀態(tài)機來描述采樣控制過程，如圖7和圖8所示，在狀態(tài) StO時，給A/D —個采樣時鐘Adck的上升沿，同時鎖存A/D的輸出；在狀態(tài)Ml，給出采樣控制模塊數(shù)據(jù)輸出鎖存信號。A/D采樣控制模塊的輸出共有4個信號Adck 提供A/D采樣時鐘。Adoe 使能端，一直有效。Data:采樣數(shù)據(jù)輸出。Dclk 用來同步數(shù)據(jù)的輸出，可以作為下一級的數(shù)據(jù)的鎖存信號。時序控制器最終收到反饋的信息包括采樣后數(shù)據(jù)發(fā)生變化的像素，通過寄存器的地址記錄該位置后，在下一幀數(shù)據(jù)時，使輸出至模塊上的電壓，最大程度的與參考電壓 (Gamma參考電壓)接近，即在需要補償時，補償差值電壓。對于不同的灰度畫面，比較的差值電壓有所不同，監(jiān)測N楨數(shù)據(jù)后，時序控制器對輸出數(shù)字信號的調(diào)節(jié)也不同，以保證在不同的灰度畫面下，將驅(qū)動IC各通道間輸出差異降到最小，而且不會背離參考電壓。由于一秒的時間對于人眼的視覺感覺是非常短暫的，一行的打開時間以10M*768分辨率為例是 21. 7us，一楨的時間是16. 67ms，在此基礎(chǔ)上，Is內(nèi)將有3. 6楨的畫面結(jié)束，而對于時序控制器采樣到的數(shù)據(jù)來說，4楨的時間足以完成對差值的補償，進一步而言，即使人們不停的切換畫面的時間至少也應(yīng)該在k以上，因此，對于不同灰度差值的補償及完成是不會受到不同灰度的影響的。另外，通常情況下灰度之間的差異為7mv左右，超過IOmv時，人眼會有感知，以與參考電壓的差值為50mv差異為例，相差5個灰度左右，也就是以低灰度計算，大概是在 Gray level 7左右，而在低灰度輸入的差異是非常小的，有實驗數(shù)據(jù)表明，Dim-Line或 Dim-block出現(xiàn)的灰度范圍在G16 G48之間，換算為灰度就是在Gray level 64 Gray levell92之間，所以，低灰度的部分并不會影響本方案的實施。本方案也就是從而通過A/D 采樣的控制來最大程度的減小Dim-Line或Dim-Block現(xiàn)象的一種方案。進一步地，一般情況下，如圖9所示，在整個液晶面板中，Dim-Line或Dim-Block的多發(fā)區(qū)集中在遠離柵極驅(qū)動IC和源極驅(qū)動IC的區(qū)域，若對整個液晶面板進行補償，則會增加液晶面板的電路結(jié)構(gòu)，使陣列基板的設(shè)計和制備變得較為復(fù)雜，本方案中重點對多發(fā)區(qū)進行補償，可以簡化液晶面板的設(shè)計。如圖10所示，本發(fā)明實施例提供一種應(yīng)用上述裝置改善液晶顯示器Dim-Line或 Dim-Block現(xiàn)象的方法，該方法包括步驟101、將亞像素單元的實際輸出電壓與參考電壓相比較得到的差值電壓與某一設(shè)定值相比較；
步驟102、若所述差值電壓大于所述設(shè)定值，則鎖存所述差值電壓，并在下一幀時， 補償所述差值到所述亞像素單元；若所述差值電壓小于等于所述設(shè)定值，則不補償。進一步地，如圖11所示，步驟101包括步驟1011、采樣得到亞像素單元的實際輸出電壓；步驟1012、將所述實際輸出電壓與所述參考電壓相比較，得到差值電壓；步驟1013、將所述差值電壓與所述設(shè)定值相比較。在本實施例的技術(shù)方案中，通過對液晶面板上不同范圍的行及列數(shù)據(jù)進行采樣， 將采樣得到的實際輸出電壓與其期望輸入電壓的灰度級別相對應(yīng)的參考電壓相比較得出的差值電壓判斷是否需要補償，在該差值電壓大于某一設(shè)定值時，補償差值電壓到需要補償?shù)膩喯袼貑卧臄?shù)據(jù)線上，從而減少了由于RC異常而引起的Dim-Line或Dim-Block現(xiàn)象。通過以上的實施方式的描述，所屬領(lǐng)域的技術(shù)人員可以清楚地了解到本發(fā)明可借助軟件加必需的通用硬件的方式來實現(xiàn)，當(dāng)然也可以通過硬件，但很多情況下前者是更佳的實施方式?；谶@樣的理解，本發(fā)明的技術(shù)方案本質(zhì)上或者說對現(xiàn)有技術(shù)做出貢獻的部分可以以軟件產(chǎn)品的形式體現(xiàn)出來，該計算機軟件產(chǎn)品存儲在可讀取的存儲介質(zhì)中，如計算機的軟盤，硬盤或光盤等，包括若干指令用以使得一臺計算機設(shè)備(可以是個人計算機， 服務(wù)器，或者網(wǎng)絡(luò)設(shè)備等)執(zhí)行本發(fā)明各個實施例所述的方法。以上所述，僅為本發(fā)明的具體實施方式
，但本發(fā)明的保護范圍并不局限于此，任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。因此，本發(fā)明的保護范圍應(yīng)以所述權(quán)利要求的保護范圍為準。
權(quán)利要求
1.一種改善液晶顯示器淡灰線或淡灰塊現(xiàn)象的裝置，其特征在于，包括采樣比較單元和補償單元，所述采樣比較單元與液晶面板亞像素單元中的像素電極相連接，用于將采樣得到的亞像素單元的實際輸出電壓與參考電壓相比較得到的差值電壓與某一設(shè)定值相比較；所述補償單元用于若所述差值電壓大于所述設(shè)定值，則鎖存所述差值電壓，并在下一幀時，補償所述差值電壓到所述亞像素單元；若所述差值電壓小于等于所述設(shè)定值，則不補 mte ο
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述補償單元的功能由電荷泵電路實現(xiàn)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的裝置，其特征在于，所述采樣比較單元包括 采樣控制模塊，用于采樣得到亞像素單元的實際輸出電壓；第一比較模塊，用于將所述實際輸出電壓與所述參考電壓相比較，得到差值電壓； 第二比較模塊，用于將所述差值電壓與所述設(shè)定值相比較。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的裝置，其特征在于，所述采樣控制模塊的功能由時序控制器實現(xiàn)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的裝置，其特征在于，所述采樣控制模塊的功能由時序控制器實現(xiàn)，實現(xiàn)方式為狀態(tài)機或數(shù)字邏輯電路。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的裝置，其特征在于，所述第二比較模塊的功能由設(shè)置有所述設(shè)定值的模擬電壓比較器實現(xiàn)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述模擬電壓比較器設(shè)置在在驅(qū)動集成電路板內(nèi)部或液晶面板上。
8.一種改善液晶顯示器淡灰線或淡灰塊現(xiàn)象的方法，其特征在于，包括將亞像素單元的實際輸出電壓與參考電壓相比較得到的差值電壓與某一設(shè)定值相比較；若所述差值電壓大于所述設(shè)定值，則鎖存所述差值電壓，并在下一幀時，補償所述差值到所述亞像素單元；若所述差值電壓小于等于所述設(shè)定值，則不補償。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其特征在于，所述將亞像素單元的實際輸出電壓與參考電壓相比較得到的差值電壓與某一設(shè)定值相比較包括采樣得到亞像素單元的實際輸出電壓；將所述實際輸出電壓與所述參考電壓相比較，得到差值電壓；將所述差值電壓與所述設(shè)定值相比較。
全文摘要
本發(fā)明實施例公開了一種改善液晶顯示器淡灰線或淡灰塊現(xiàn)象的裝置和方法，涉及液晶顯示器領(lǐng)域，能夠有效改善液晶顯示器Dim-Line或Dim-Block現(xiàn)象。改善液晶顯示器淡灰線或淡灰塊現(xiàn)象的裝置包括采樣比較單元和補償單元，所述采樣比較單元與液晶面板亞像素單元中的像素電極相連接，用于將采樣得到的亞像素單元的實際輸出電壓與參考電壓相比較得到的差值電壓與某一設(shè)定值相比較；所述補償單元用于若所述差值電壓大于所述設(shè)定值，則鎖存所述差值電壓，并在下一幀時，補償所述差值電壓到所述亞像素單元；若所述差值電壓小于等于所述設(shè)定值，則不補償。本發(fā)明應(yīng)用于液晶顯示器。
文檔編號G09G3/20GK102270433SQ201010195760
公開日2011年12月7日 申請日期2010年6月2日 優(yōu)先權(quán)日2010年6月2日
發(fā)明者王英 申請人:北京京東方光電科技有限公司