專利名稱：自測試驅(qū)動電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明內(nèi)容是有關(guān)于一種驅(qū)動電路，且特別是有關(guān)于一種可程序化的驅(qū)動電路。
背景技術(shù)：
液晶顯示器具有輕薄、耗電小等優(yōu)點(diǎn)，且近年來已被廣泛地應(yīng)用于筆記本電腦、移動電話、個人數(shù)位助理(PDA)等現(xiàn)代化資訊設(shè)備中。由于液晶顯示器能與半導(dǎo)體工藝技術(shù)相容，因此其已迅速擴(kuò)及各范圍的應(yīng)用層面，甚至已經(jīng)成為平面顯示器的主流。在液晶顯示器中，驅(qū)動集成電路(IC)為重要的零組件的一，其占液晶顯示器的成本比重相當(dāng)高。因此，如何確保驅(qū)動IC的品質(zhì)，實為決定平面顯示器優(yōu)劣的一大關(guān)鍵。以目前對驅(qū)動IC進(jìn)行程序化(或稱燒錄)的過程而言，其主要是將辨識碼(ID code)、共同電壓值(VC0M)、...等所需參數(shù)，以程序化(或稱燒錄)的方式寫入驅(qū)動IC中， 接著再透過對應(yīng)的傳輸介面將所需參數(shù)自驅(qū)動IC中讀取出來。前述傳輸介面可以是序列周邊介面(Serial Peripheral Interface, SPI)、移動產(chǎn)業(yè)處理器介面(Mobile Industry Processor Interface7MIPI)或移動H示數(shù)字介面(Mobile Display Digital Interface, MDDI)、···等對應(yīng)的傳輸介面。然而，由于上述MIPI及MDDI等傳輸介面均是屬于高速串列的傳輸介面，因此通常需要先利用介面轉(zhuǎn)換裝置(如bridge IC)將上述所需參數(shù)讀取出來，而后才能進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸，并由此判定寫入的參數(shù)是否正確。如此一來，卻使判得斷寫入的參數(shù)是否正確的測試過程相當(dāng)繁復(fù)。為此，有必要提出一種驅(qū)動電路或測試方法，由此供方便且簡易地測試程序化 (或稱燒錄)的參數(shù)是否正確。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明內(nèi)容的一技術(shù)樣態(tài)是在提供一種自測試驅(qū)動電路，由此簡化對驅(qū)動電路進(jìn)行測試的過程。本發(fā)明內(nèi)容的一實施方式關(guān)于一種自測試驅(qū)動電路，其包括一第一暫存器、一第二暫存器以及一比較器。第一暫存器用以儲存一第一可程序化數(shù)據(jù)。第二暫存器用以儲存與第一可程序化數(shù)據(jù)預(yù)設(shè)相同的一第二可程序化數(shù)據(jù)。比較器用以于一程序化過程的后比較第一可程序化數(shù)據(jù)以及第二可程序化數(shù)據(jù)，并于第一可程序化數(shù)據(jù)與第二可程序化數(shù)據(jù)不相同時產(chǎn)生一錯誤信號。在本發(fā)明一實施例中，自測試驅(qū)動電路更包括一存儲器。存儲器用以于程序化過程中經(jīng)程序化而儲存與第一可程序化數(shù)據(jù)或第二可程序化數(shù)據(jù)預(yù)設(shè)相同的一第三可程序化數(shù)據(jù)，并將第三可程序化數(shù)據(jù)載入第二暫存器。當(dāng)存儲器經(jīng)程序化而儲存的第三可程序化數(shù)據(jù)與第一可程序化數(shù)據(jù)不相同或是與第二可程序化數(shù)據(jù)不相同時，比較器可產(chǎn)生錯誤信號。
在本發(fā)明另一實施例中，比較器系于第一可程序化數(shù)據(jù)與第二可程序化數(shù)據(jù)相同時產(chǎn)生一正確信號。錯誤信號可為一具有工作周期比為N 1的時脈信號或是一低位準(zhǔn)信號，而正確信號可為一具有工作周期比為1 1的時脈信號或是一高位準(zhǔn)信號，其中N為大于1的正整數(shù)。在本發(fā)明一實施例中，自測試驅(qū)動電路更包括一多工器。多工器用以處理錯誤信號以及一數(shù)據(jù)傳輸啟動信號，以選擇性地輸出錯誤信號和數(shù)據(jù)傳輸啟動信號中的一者。本發(fā)明內(nèi)容的另一技術(shù)樣態(tài)是在提供一種自測試驅(qū)動電路中的測試方法，由此簡化對寫入驅(qū)動電路的數(shù)據(jù)進(jìn)行測試的過程。本發(fā)明內(nèi)容的另一實施方式系關(guān)于一種自測試驅(qū)動電路中的測試方法，其包括下列步驟。寫入一第一可程序化數(shù)據(jù)，并儲存與第一可程序化數(shù)據(jù)預(yù)設(shè)相同的一第二可程序化數(shù)據(jù)。此外，于一程序化過程的后，比較第一可程序化數(shù)據(jù)以及第二可程序化數(shù)據(jù)。當(dāng)?shù)谝豢沙绦蚧瘮?shù)據(jù)與第二可程序化數(shù)據(jù)不相同時，產(chǎn)生一錯誤信號。當(dāng)?shù)谝豢沙绦蚧瘮?shù)據(jù)與該第二可程序化數(shù)據(jù)相同時，產(chǎn)生一正確信號。在本發(fā)明一實施例中，儲存第二可程序化數(shù)據(jù)的步驟更包括下列步驟。首先，對一存儲器進(jìn)行程序化，以儲存與第一可程序化數(shù)據(jù)或第二可程序化數(shù)據(jù)預(yù)設(shè)相同的一第三可程序化數(shù)據(jù)。接著，載入第三可程序化數(shù)據(jù)作為第二可程序化數(shù)據(jù)。當(dāng)?shù)谌沙绦蚧瘮?shù)據(jù)與第一可程序化數(shù)據(jù)不相同或是與第二可程序化數(shù)據(jù)不相同時，產(chǎn)生錯誤信號。在本發(fā)明另一實施例中，錯誤信號系為一具有工作周期比為N 1的時脈信號或是一低位準(zhǔn)信號，正確信號系為一具有工作周期比為1 1的時脈信號或是一高位準(zhǔn)信號， 其中N為大于1的正整數(shù)。根據(jù)本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容，應(yīng)用前述自測試驅(qū)動電路及其中的測試方法，無論是驅(qū)動電路進(jìn)行程序化的過程發(fā)生錯誤，或是驅(qū)動電路中的數(shù)據(jù)讀取過程發(fā)生錯誤，均可直接透過自測試驅(qū)動電路所輸出的信號，判別驅(qū)動電路于程序化過程中是否正確無誤，并可同時得知程序化的數(shù)據(jù)是否正確。


圖1依照本發(fā)明一實施例所繪示的一種自測試驅(qū)動電路的示意圖。圖2依照本發(fā)明另一實施例所繪示的一種自測試驅(qū)動電路的示意圖。圖3依照本發(fā)明又一實施例所繪示的一種自測試驅(qū)動電路的示意圖。圖4依照本發(fā)明一實施例所繪示的一種自測試驅(qū)動電路中測試方法的流程圖。圖5依照本發(fā)明另一實施例所繪示的一種自測試驅(qū)動電路中測試方法的流程圖。附圖標(biāo)記說明100、200、300 自測試驅(qū)動電路110、210、310 第一暫存器120,220,320 第二暫存器130、230、330 比較器240、340 存儲器350 多工器402 410、502 514 步驟
具體實施例方式下文舉實施例配合所附圖式作詳細(xì)說明，但所提供的實施例并非用以限制本發(fā)明所涵蓋的范圍，而結(jié)構(gòu)運(yùn)作的描述非用以限制其執(zhí)行的順序，任何由元件重新組合的結(jié)構(gòu)， 所產(chǎn)生具有均等功效的裝置，皆為本發(fā)明所涵蓋的范圍。此外，圖式僅以說明為目的，并未依照原尺寸作圖。關(guān)于本文中所使用的“約”、“大約”或“大致” 一般通常指數(shù)值的誤差或范圍于百分的二十以內(nèi)，較好地是于百分的十以內(nèi)，而更佳地則是于百分的五以內(nèi)。文中若無明確說明，其所提及的數(shù)值皆視作為近似值，即如“約”、“大約”或“大致”所表示的誤差或范圍。另外，關(guān)于本文中所使用的“耦接”及“連接”，均可指二或多個元件相互直接作實體接觸或電性接觸，或是相互間接作實體接觸或電性接觸，而“耦接”還可指二或多個元件相互操作或動作。圖1依照本發(fā)明一實施例所繪示的一種自測試驅(qū)動電路的示意圖。此自測試驅(qū)動電路100可于一程序化(programming)(或燒錄)過程被編程(或燒入)相關(guān)的所需數(shù)據(jù) (包括辨識碼、共同電壓、...等所需參數(shù)或設(shè)定值)，然后自行比對或測試被編程的數(shù)據(jù)是否有誤，因此被編程的數(shù)據(jù)可直接在自測試驅(qū)動電路100中被判定是否正確，而不需先被讀取出來后才能被判定是否正確。關(guān)于本文中所使用的“程序化”，其亦可稱“燒錄”，兩者均可指一種程序化的方式， 其包括一種將數(shù)據(jù)作程式編碼后寫入的動作或步驟。在實作上，此自測試驅(qū)動電路100可以是應(yīng)用于液晶顯示器中的驅(qū)動集成電路 (IC)，也可以是應(yīng)用于其它裝置中的驅(qū)動集成電路；換言的，自測試驅(qū)動電路100可依實際需求應(yīng)用于任何電子裝置中。如圖1所示，自測試驅(qū)動電路100包括一第一暫存器110、一第二暫存器120以及一比較器130。比較器130的輸入端耦接于第一暫存器110和第二暫存器120的輸出端。 第一暫存器110用以儲存一第一可程序化數(shù)據(jù)Dl。第二暫存器120用以儲存與第一可程序化數(shù)據(jù)Dl預(yù)設(shè)相同的一第二可程序化數(shù)據(jù)D2。比較器130則用以于一程序化過程的后，比較第一可程序化數(shù)據(jù)Dl以及第二可程序化數(shù)據(jù)D2，并據(jù)以產(chǎn)生一判定信號MTR。上述及下列”可程序化數(shù)據(jù)”可以是程序化過程中寫入的數(shù)據(jù)，也可以是程序化過程的前即預(yù)先儲存的數(shù)據(jù)，具體而言，可程序化數(shù)據(jù)可以是暫存器所預(yù)先儲存的數(shù)據(jù)。舉例來說，上述第一可程序化數(shù)據(jù)Dl可以是預(yù)先儲存于第一暫存器110中的數(shù)據(jù)。是故，上述所稱”可程序化數(shù)據(jù)”亦可稱為”暫存器數(shù)據(jù)”，亦即第一暫存器110用以儲存第一暫存器數(shù)據(jù)，且第二暫存器120用以儲存第二暫存器數(shù)據(jù)。換言的，上述及下列所稱”可程序化數(shù)據(jù)”僅為例示的用語，并非用以限定發(fā)明，本領(lǐng)域具通常知識者可以在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，依據(jù)實際需求使用暫存器儲存相對應(yīng)的數(shù)據(jù)。實作上，第一暫存器110與第二暫存器120可以相同或相異，而第一可程序化數(shù)據(jù) Dl與第二可程序化數(shù)據(jù)D2包括辨識碼、共同電壓、...等所需參數(shù)或設(shè)定值。操作上，第一可程序化數(shù)據(jù)Dl可以在程序化過程中，從驅(qū)動電路100外部的一多次可程序化(Multiple-Time Programming, MTP)裝置(未繪示)寫入第一暫存器110中。另外，第二可程序化數(shù)據(jù)D2可先從多次可程序化裝置經(jīng)編程(或稱燒入)進(jìn)自測試驅(qū)動電路100，然后再載入第二暫存器120中。接著，在程序化過程的后，比較器130再比較第一可程序化數(shù)據(jù)Dl和第二可程序化數(shù)據(jù)D2，并藉由自測試驅(qū)動電路100的硬體接腳輸出判定信號MTR，由此供判定第一可程序化數(shù)據(jù)Dl與第二可程序化數(shù)據(jù)D2是否相同。如此一來，便可直接透過自測試驅(qū)動電路100所輸出的信號，判別驅(qū)動電路100于程序化過程中是否正確無誤，并同時得知程序化的數(shù)據(jù)是否正確。在一實施例中，當(dāng)?shù)谝豢沙绦蚧瘮?shù)據(jù)Dl與第二可程序化數(shù)據(jù)D2不相同時，判定信號MTR為一錯誤信號。當(dāng)?shù)谝豢沙绦蚧瘮?shù)據(jù)Dl與第二可程序化數(shù)據(jù)D2相同時，判定信號 MTR為一正確信號。在一實施例中，當(dāng)判定信號MTR為錯誤信號時，此錯誤信號可為一具有工作周期比(duty cycle ratio)為N 1的時脈信號或是一低位準(zhǔn)信號，其中N為大于1的正整數(shù)； 而當(dāng)判定信號MTR為正確信號時，此正確信號可為一具有工作周期比為1 1的時脈信號或是一高位準(zhǔn)信號。上述錯誤信號與正確信號僅為舉例并用以供方便判定而已，并非用以限定本發(fā)明。換言的，本領(lǐng)域具通常知識者均可依據(jù)實際需求，采用各種可供區(qū)別或判定的信號，由此區(qū)分錯誤信號與正確信號。圖2依照本發(fā)明另一實施例所繪示的一種自測試驅(qū)動電路的示意圖。在本實施例中，自測試驅(qū)動電路200包括第一暫存器210、第二暫存器220、比較器230以及一存儲器 2400比較器230的輸入端耦接于第一暫存器210和第二暫存器220的輸出端，且第二暫存器220的輸入端耦接于存儲器240的輸出端。類似上述，第一暫存器210和第二暫存器220分別用以儲存第一可程序化數(shù)據(jù)Dl 和第二可程序化數(shù)據(jù)D2，而比較器230用以于程序化過程的后比較第一可程序化數(shù)據(jù)Dl和第二可程序化數(shù)據(jù)D2，并據(jù)以產(chǎn)生判定信號MTR。此外，存儲器240用以于程序化過程中經(jīng)程序化而儲存與第一可程序化數(shù)據(jù)Dl或第二可程序化數(shù)據(jù)D2預(yù)設(shè)相同的一第三可程序化數(shù)據(jù)D3，并于程序化過程的后將第三可程序化數(shù)據(jù)D3載入第二暫存器220，使得第三可程序化數(shù)據(jù)D3可作為第二可程序化數(shù)據(jù)D2。實作上，第一暫存器210與第二暫存器220可以相同或相異，存儲器240可為一非揮發(fā)性存儲器(Non-volatile memory, NVM)，而第一可程序化數(shù)據(jù)Dl、第二可程序化數(shù)據(jù) D2與第三可程序化數(shù)據(jù)D3包括辨識碼、共同電壓、...等所需參數(shù)或設(shè)定值。操作上，第一可程序化數(shù)據(jù)Dl可以在程序化過程中，從驅(qū)動電路200外部的多次可程序化裝置(未繪示)寫入第一暫存器210中，或者第一可程序化數(shù)據(jù)Dl可預(yù)先儲存于第一暫存器210中，而第三可程序化數(shù)據(jù)D3可同時在存儲器240被程序化的過程中，從多次可程序化裝置經(jīng)編程(或稱燒入)進(jìn)存儲器對0。舉例來說，數(shù)據(jù)可從第一暫存器210經(jīng)編程(或稱燒入)進(jìn)存儲器MO，使得存儲器240儲存第三可程序化數(shù)據(jù)D3。接著在程序化過程的后，第三可程序化數(shù)據(jù)D3可由存儲器240載入至第二暫存器 220中，使得第二暫存器220可儲存第二可程序化數(shù)據(jù)D2。然后，比較器230再比較第一可程序化數(shù)據(jù)Dl和第二可程序化數(shù)據(jù)D2，并藉由自測試驅(qū)動電路200的硬體接腳輸出判定信號MTR，由此供判定第一可程序化數(shù)據(jù)Dl是否與第二可程序化數(shù)據(jù)D2或第三可程序化數(shù)據(jù) D3相同。舉例來說，在數(shù)據(jù)D3預(yù)設(shè)為與數(shù)據(jù)Dl相同的情形下，當(dāng)程序化過程或數(shù)據(jù)讀取過程正確時，則經(jīng)編程(或稱燒入)進(jìn)存儲器MO的數(shù)據(jù)D3當(dāng)然與數(shù)據(jù)Dl相同，且數(shù)據(jù)D3 也會與數(shù)據(jù)D2相同，使得數(shù)據(jù)Dl與數(shù)據(jù)D2相同，比較器230所產(chǎn)生的判定信號MTR為正
確信號。其次，當(dāng)程序化過程發(fā)生錯誤，使得經(jīng)編程(或稱燒入)進(jìn)存儲器MO的數(shù)據(jù)D3 與數(shù)據(jù)Dl不相同時，即使數(shù)據(jù)讀取過程正確而使得數(shù)據(jù)D3與數(shù)據(jù)D2相同，則數(shù)據(jù)Dl與數(shù)據(jù)D2仍不相同，因此比較器230所產(chǎn)生的判定信號MTR為錯誤信號。再者，當(dāng)程序化過程正確時，若是數(shù)據(jù)讀取過程發(fā)生錯誤而使得數(shù)據(jù)D3與數(shù)據(jù)D2 不相同的話，則數(shù)據(jù)Dl與數(shù)據(jù)D2仍不相同，因此比較器230所產(chǎn)生的判定信號MTR仍為錯誤信號。如此一來，無論是可程序化裝置對驅(qū)動電路200進(jìn)行程序化的過程發(fā)生錯誤，或是驅(qū)動電路200中的數(shù)據(jù)讀取過程發(fā)生錯誤，均可直接透過驅(qū)動電路200所輸出的信號，判別驅(qū)動電路200于程序化過程中是否正確無誤，并同時得知程序化的數(shù)據(jù)是否正確。在本實施例中，當(dāng)判定信號MTR為錯誤信號時，此錯誤信號可為一具有工作周期比(duty cycle ratio)為N 1的時脈信號或是一低位準(zhǔn)信號，其中N為大于1的正整數(shù)； 而當(dāng)判定信號MTR為正確信號時，此正確信號可為一具有工作周期比為1 1的時脈信號或是一高位準(zhǔn)信號。上述錯誤信號與正確信號僅為舉例并用以供方便判定而已，并非用以限定本發(fā)明。換言的，本領(lǐng)域具通常知識者均可依據(jù)實際需求，采用各種可供區(qū)別或判定的信號，由此區(qū)分錯誤信號與正確信號。圖3依照本發(fā)明又一實施例所繪示的一種自測試驅(qū)動電路的示意圖。在本實施例中，自測試驅(qū)動電路300包括第一暫存器310、第二暫存器320、比較器330、存儲器340以及一多工器350。比較器330的輸入端耦接于第一暫存器310和第二暫存器320的輸出端，且第二暫存器320的輸入端耦接于存儲器340的輸出端。多工器350的輸入端則耦接比較器 330的輸出端，用以接收比較器330所輸出的判定信號MTR，并另外接收一數(shù)據(jù)傳輸啟動信號TE0類似上述，第一暫存器310和第二暫存器320分別用以儲存第一可程序化數(shù)據(jù)Dl 和第二可程序化數(shù)據(jù)D2，而比較器330用以于程序化過程的后比較第一可程序化數(shù)據(jù)Dl和第二可程序化數(shù)據(jù)D2，并據(jù)以產(chǎn)生判定信號MTR。此外，存儲器340用以于程序化過程中經(jīng)程序化而儲存與第一可程序化數(shù)據(jù)Dl或第二可程序化數(shù)據(jù)D2預(yù)設(shè)相同的第三可程序化數(shù)據(jù)D3，并于程序化過程的后將第三可程序化數(shù)據(jù)D3載入第二暫存器220，使得第三可程序化數(shù)據(jù)D3可作為第二可程序化數(shù)據(jù)D2。另外，多工器350則用以對判定信號MTR及數(shù)據(jù)傳輸啟動信號TE進(jìn)行處理，以在相對應(yīng)的情形下選擇性地輸出兩信號中的一者；換言的，多工器350作切換而輸出判定信號MTR或是輸出數(shù)據(jù)傳輸啟動信號TE。在實作上，第一暫存器310與第二暫存器320可以相同或相異，存儲器340可為一非揮發(fā)性存儲器(Non-volatile memory，NVM)，而第一可程序化數(shù)據(jù)Dl、第二可程序化數(shù)據(jù) D2與第三可程序化數(shù)據(jù)D3包括辨識碼、共同電壓、...等所需參數(shù)或設(shè)定值。操作上，第一可程序化數(shù)據(jù)Dl可以在程序化過程中，從驅(qū)動電路300外部的多次可程序化裝置(未繪示)寫入第一暫存器310中，或者第一可程序化數(shù)據(jù)Dl可預(yù)先儲存于第一暫存器310中，而同時第三可程序化數(shù)據(jù)D3可以經(jīng)程序化過程從多次可程序化裝置經(jīng)編程(或稱燒入)進(jìn)存儲器340。舉例來說，數(shù)據(jù)可從第一暫存器310經(jīng)編程(或稱燒入)進(jìn)存儲器340，使得存儲器340儲存第三可程序化數(shù)據(jù)D3。接著在程序化過程的后，第三可程序化數(shù)據(jù)D3可由存儲器340載入至第二暫存器 320中，使得第二暫存器320可儲存第二可程序化數(shù)據(jù)D2。然后，比較器330再比較第一暫存器310中的第一可程序化數(shù)據(jù)Dl和第二暫存器320中的第二可程序化數(shù)據(jù)D2，并藉由自測試驅(qū)動電路300的硬體接腳輸出判定信號MTR，由此供判定第一可程序化數(shù)據(jù)Dl是否與第二可程序化數(shù)據(jù)D2或第三可程序化數(shù)據(jù)D3相同。同上所述，在數(shù)據(jù)D3預(yù)設(shè)為與數(shù)據(jù)Dl相同的情形下，當(dāng)程序化過程或數(shù)據(jù)讀取過程正確時，比較器330所產(chǎn)生的判定信號MTR為正確信號；當(dāng)程序化過程發(fā)生錯誤，使得經(jīng)編程(或稱燒入)進(jìn)存儲器340的數(shù)據(jù)D3與數(shù)據(jù)Dl不相同時，比較器330所產(chǎn)生的判定信號MTR為錯誤信號；當(dāng)數(shù)據(jù)讀取過程發(fā)生錯誤而使得數(shù)據(jù)D3與數(shù)據(jù)D2不相同時，比較器 330所產(chǎn)生的判定信號MTR仍為錯誤信號。如此一來，無論是可程序化裝置對驅(qū)動電路300進(jìn)行程序化的過程發(fā)生錯誤，或是驅(qū)動電路300中的數(shù)據(jù)讀取過程發(fā)生錯誤，均可直接透過驅(qū)動電路300所輸出的信號，判別驅(qū)動電路300于程序化過程中是否正確無誤，并同時得知程序化的數(shù)據(jù)是否正確。其次，數(shù)據(jù)傳輸啟動信號TE—般可透過驅(qū)動電路300固有的硬體接腳輸出，藉以決定驅(qū)動電路300開始或停止數(shù)據(jù)的傳送循環(huán)(transmission cycle)。因此，若是以多工器350來處理判定信號MTR以及數(shù)據(jù)傳輸啟動信號TE，使得判定信號MTR以及數(shù)據(jù)傳輸啟動信號TE其中一者能透過多工器350的切換而輸出的話，則判定信號MTR和數(shù)據(jù)傳輸啟動信號TE便可以透過原先的硬體接腳輸出，由此避免驅(qū)動電路300必須配置不同接腳供信號 MTR和TE輸出的情形，并可進(jìn)而節(jié)省成本。上述實施例中關(guān)于自測試驅(qū)動電路中的電路結(jié)構(gòu)特征，均可單獨(dú)形成，也可以相互搭配形成。因此，上述各實施例僅是為了方便說明起見而敘述單一特征，而所有實施例均可以依照實際需求選擇性地相互搭配，以制作本揭示內(nèi)容中的自測試驅(qū)動電路，其并非用以限定本發(fā)明。圖4依照本發(fā)明一實施例所繪示的一種自測試驅(qū)動電路中測試方法的流程圖。 首先，寫入第一可程序化數(shù)據(jù)，并儲存與第一可程序化數(shù)據(jù)預(yù)設(shè)相同的第二可程序化數(shù)據(jù) (步驟40幻。接著，比較第一可程序化數(shù)據(jù)和第二可程序化數(shù)據(jù)(步驟404)。然后，判斷第一可程序化數(shù)據(jù)與第二可程序化數(shù)據(jù)是否相同(步驟406)。當(dāng)?shù)谝豢沙绦蚧瘮?shù)據(jù)與第二可程序化數(shù)據(jù)不相同時，產(chǎn)生錯誤信號(步驟408)。當(dāng)?shù)谝豢沙绦蚧瘮?shù)據(jù)與第二可程序化數(shù)據(jù)相同時，產(chǎn)生正確信號(步驟410)。在一實施例中，上述儲存第二可程序化數(shù)據(jù)的步驟更可包括以下步驟。首先，對一存儲器進(jìn)行程序化，以儲存與第一可程序化數(shù)據(jù)或第二可程序化數(shù)據(jù)預(yù)設(shè)相同的一第三可程序化數(shù)據(jù)。然后，載入第三可程序化數(shù)據(jù)作為第二可程序化數(shù)據(jù)。在另一實施例中，上述測試方法更可包括以下步驟。當(dāng)?shù)谌沙绦蚧瘮?shù)據(jù)與第一可程序化數(shù)據(jù)不相同或是與第二可程序化數(shù)據(jù)不相同時，產(chǎn)生錯誤信號。在本實施例中，當(dāng)判定信號MTR為錯誤信號時，此錯誤信號可為一具有工作周期比(duty cycle ratio)為N 1的時脈信號或是一低位準(zhǔn)信號，其中N為大于1的正整數(shù)； 而當(dāng)判定信號MTR為正確信號時，此正確信號可為一具有工作周期比為1 1的時脈信號或是一高位準(zhǔn)信號。上述錯誤信號與正確信號僅為舉例并用以供方便判定而已，并非用以限定本發(fā)明。換言的，本領(lǐng)域具通常知識者均可依據(jù)實際需求，采用各種可供區(qū)別或判定的信號，由此區(qū)分錯誤信號與正確信號。圖5依照本發(fā)明另一實施例所繪示的一種自測試驅(qū)動電路中測試方法的流程圖。 為清楚說明起見，請同時參照圖2和圖5。首先，寫入可程序化數(shù)據(jù)Dl至第一暫存器210 (步驟50幻。其次，于寫入可程序化數(shù)據(jù)Dl的同時，對存儲器240進(jìn)行程序化(或燒錄)，以將與可程序化數(shù)據(jù)Dl預(yù)設(shè)相同的可程序化數(shù)據(jù)D3編程(或燒入)至存儲器240 (步驟504)。 接著，自存儲器240載入可程序化數(shù)據(jù)D3至第二暫存器220，使得可程序化數(shù)據(jù)D3另作為可程序化數(shù)據(jù)D2儲存于第二暫存器220中(步驟506)。然后，比較可程序化數(shù)據(jù)Dl以及可程序化數(shù)據(jù)D2(步驟508)。接著，判斷可程序化數(shù)據(jù)Dl與可程序化數(shù)據(jù)D2是否相同(步驟510)。當(dāng)可程序化數(shù)據(jù)Dl與可程序化數(shù)據(jù)D2不相同時，產(chǎn)生錯誤信號(步驟51幻。當(dāng)可程序化數(shù)據(jù)Dl與可程序化數(shù)據(jù)D2相同時，產(chǎn)生正確信號(步驟514)。在本實施例中，當(dāng)判定信號MTR為錯誤信號時，此錯誤信號可為一具有工作周期比(duty cycle ratio)為N 1的時脈信號或是一低位準(zhǔn)信號，其中N為大于1的正整數(shù)； 而當(dāng)判定信號MTR為正確信號時，此正確信號可為一具有工作周期比為1 1的時脈信號或是一高位準(zhǔn)信號。上述錯誤信號與正確信號僅為舉例并用以供方便判定而已，并非用以限定本發(fā)明。換言的，本領(lǐng)域具通常知識者均可依據(jù)實際需求，采用各種可供區(qū)別或判定的信號，由此區(qū)分錯誤信號與正確信號。在本實施例中所提及的步驟，除特別敘明其順序者外，均可依實際需要調(diào)整其前后順序，甚至可同時或部分同時執(zhí)行，圖4及圖5所示的流程圖僅為實施例，并非用以限定本發(fā)明。 依據(jù)上述，應(yīng)用前述自測試驅(qū)動電路及其中的測試方法，無論是驅(qū)動電路進(jìn)行程序化的過程發(fā)生錯誤，或是驅(qū)動電路中的數(shù)據(jù)讀取過程發(fā)生錯誤，均可直接透過自測試驅(qū)動電路所輸出的信號，判別驅(qū)動電路于程序化過程中是否正確無誤，并可同時得知程序化的數(shù)據(jù)是否正確。此外，應(yīng)用前述自測試驅(qū)動電路及其中的測試方法，不僅可直接藉由驅(qū)動電路的硬體接腳知悉程序化的過程是否正確，方便驅(qū)動電路的測試，而且更可節(jié)省檢測的時間，亦可提高檢測的準(zhǔn)確性。雖然本發(fā)明已以實施方式公開如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何本領(lǐng)域技術(shù)人員在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作各種的更動與潤飾，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍以權(quán)利要求書為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種自測試驅(qū)動電路，包括一第一暫存器，用以儲存一第一可程序化數(shù)據(jù)；一第二暫存器，用以儲存與該第一可程序化數(shù)據(jù)預(yù)設(shè)相同的一第二可程序化數(shù)據(jù)；以及一比較器，用以于一程序化過程的后比較該第一可程序化數(shù)據(jù)以及該第二可程序化數(shù)據(jù)，并于該第一可程序化數(shù)據(jù)與該第二可程序化數(shù)據(jù)不相同時產(chǎn)生一錯誤信號。
2.如權(quán)利要求1所述的自測試驅(qū)動電路，其特征在于，進(jìn)一步包括一存儲器，用以于該程序化過程中經(jīng)程序化而儲存與該第一可程序化數(shù)據(jù)或該第二可程序化數(shù)據(jù)預(yù)設(shè)相同的一第三可程序化數(shù)據(jù)，并將該第三可程序化數(shù)據(jù)載入該第二暫存ο
3.如權(quán)利要求2所述的自測試驅(qū)動電路，其特征在于，當(dāng)該存儲器經(jīng)程序化而儲存的該第三可程序化數(shù)據(jù)與該第一可程序化數(shù)據(jù)不相同或是與該第二可程序化數(shù)據(jù)不相同時， 該比較器產(chǎn)生該錯誤信號。
4.如權(quán)利要求1所述的自測試驅(qū)動電路，其特征在于，該比較器于該第一可程序化數(shù)據(jù)與該第二可程序化數(shù)據(jù)相同時產(chǎn)生一正確信號。
5.如權(quán)利要求4所述的自測試驅(qū)動電路，其特征在于，該錯誤信號為一具有工作周期比為N 1的時脈信號或是一低位準(zhǔn)信號，該正確信號為一具有工作周期比為1 1的時脈信號或是一高位準(zhǔn)信號，其中N為大于1的正整數(shù)。
6.如權(quán)利要求1所述的自測試驅(qū)動電路，其特征在于，進(jìn)一步包括一多工器，用以處理該錯誤信號以及一數(shù)據(jù)傳輸啟動信號，以選擇性地輸出該錯誤信號和該數(shù)據(jù)傳輸啟動信號中的其中之一。
7.一種自測試驅(qū)動電路中的測試方法，包括寫入一第一可程序化數(shù)據(jù)；儲存與該第一可程序化數(shù)據(jù)預(yù)設(shè)相同的一第二可程序化數(shù)據(jù)；以及于一程序化過程的后，比較該第一可程序化數(shù)據(jù)以及該第二可程序化數(shù)據(jù)。
8.如權(quán)利要求7所述的測試方法，其特征在于，進(jìn)一步包括當(dāng)該第一可程序化數(shù)據(jù)與該第二可程序化數(shù)據(jù)不相同時，產(chǎn)生一錯誤信號；以及當(dāng)該第一可程序化數(shù)據(jù)與該第二可程序化數(shù)據(jù)相同時，產(chǎn)生一正確信號。
9.如權(quán)利要求7所述的測試方法，其特征在于，儲存該第二可程序化數(shù)據(jù)的步驟進(jìn)一步包括程序化一存儲器，以儲存與該第一可程序化數(shù)據(jù)或該第二可程序化數(shù)據(jù)預(yù)設(shè)相同的一第三可程序化數(shù)據(jù)；以及載入該第三可程序化數(shù)據(jù)作為該第二可程序化數(shù)據(jù)。
10.如權(quán)利要求9所述的測試方法，其特征在于，進(jìn)一步包括當(dāng)該第三可程序化數(shù)據(jù)與該第一可程序化數(shù)據(jù)不相同或是與該第二可程序化數(shù)據(jù)不相同時，產(chǎn)生該錯誤信號。
11.如權(quán)利要求8所述的測試方法，其特征在于，該錯誤信號為一具有工作周期比為 N 1的時脈信號或是一低位準(zhǔn)信號，該正確信號為一具有工作周期比為1 1的時脈信號或是一高位準(zhǔn)信號，其中N為大于1的正整數(shù)。
全文摘要
一種自測試驅(qū)動電路，其包括第一暫存器、第二暫存器及比較器。第一暫存器用以儲存第一可程序化數(shù)據(jù)。第二暫存器用以儲存與第一可程序化數(shù)據(jù)預(yù)設(shè)相同的第二可程序化數(shù)據(jù)。比較器用以于程序化過程的后比較第一可程序化數(shù)據(jù)以及第二可程序化數(shù)據(jù)，并于第一可程序化數(shù)據(jù)與第二可程序化數(shù)據(jù)不相同時產(chǎn)生一錯誤信號。此外，一種自測試驅(qū)動電路中的測試方法亦在此公開。
文檔編號G09G3/36GK102402961SQ20111039613
公開日2012年4月4日 申請日期2011年11月29日 優(yōu)先權(quán)日2011年11月9日
發(fā)明者劉建志, 林能毅 申請人:友達(dá)光電股份有限公司