專利名稱：顯示面板及其檢測方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于顯示面板檢測技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種顯示面板及其檢測方法。
背景技術(shù)：
在液晶顯示面板(IXD)、有機發(fā)光二極管顯示面板(OLED)等顯示面板中，有源驅(qū)動的應(yīng)用越來越普遍，而有源驅(qū)動主要通過薄膜晶體管陣列(TFT)基板實現(xiàn)。如圖I所示，薄膜晶體管陣列基板9上設(shè)有多根相互交叉形成網(wǎng)格的柵極線(GateLine)(圖中未示出)和數(shù)據(jù)線2(Data Line)，柵極線和數(shù)據(jù)線2的每個交叉點限定一個薄膜晶體管，薄膜晶體管陣列基板9上還設(shè)有與柵極線平行的公共電極線1(C0M Line)。其中，各引線(柵極線、數(shù)據(jù)線2、公共電極線I)在交叉點被絕緣層隔開，且每條引線的輸入 端11、21均與各自的驅(qū)動芯片19、29(Driver IC)相連，從而可分別傳遞各自的信號。薄膜晶體管陣列基板9的側(cè)面連接柔性線路板7 (FPC)，柔性線路板7遠(yuǎn)離薄膜晶體管陣列基板9的一側(cè)連接印刷線路板8 (PCB)，上述各驅(qū)動芯片19、29可分別設(shè)在柔性線路板7上(C0F方式，Chip On Film Type),也可設(shè)在薄膜晶體管陣列基板8上(C0G方式，Chip On GlassType)ο在顯示面板中，薄膜晶體管陣列基板9是與另一基板(如彩膜基板或有機發(fā)光二極管陣列基板等)組裝在一起的，薄膜晶體管陣列基板9的顯示區(qū)91 (即引線1、2相互交叉而形成有薄膜晶體管陣列的區(qū)域)被另一基板擋住，而各引線輸入端11、12則可暴露在外。當(dāng)顯示面板出現(xiàn)顯示不良時，可能是由各引線1、2的故障引起的，因此引線1、2的檢測是顯示面板檢測的重要組成部分?，F(xiàn)有的顯示面板檢測(以對公共電極線I的檢測為例)主要采取以下方法用檢測探針(Pin)接觸公共電極線的末端12 (即遠(yuǎn)離公共電極驅(qū)動芯片19的一端，其超出顯示區(qū)91外)，從而接收由公共電極驅(qū)動芯片19發(fā)出并經(jīng)公共電極線I傳遞的驅(qū)動信號，通過分析該信號檢測公共電極線I是否有故障。發(fā)明人發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術(shù)中至少存在如下問題顯示面板中薄膜晶體管陣列基板9已經(jīng)與另一基板組裝在一起，其顯示區(qū)91被另一基板擋住，檢測探針只能接觸超出顯示區(qū)91的公共電極線末端12，因此只能檢測出整根公共電極線I是否有故障，但無法對公共電極線I進(jìn)行分區(qū)段的檢測，也就不能確定公共電極線I的故障出在什么位置，由此降低了不良解析的效率和準(zhǔn)確性。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題包括，針對現(xiàn)有技術(shù)中無法對顯示面板的引線進(jìn)行分區(qū)段檢測的問題，提供一種可對引線進(jìn)行分區(qū)段檢測的顯示面板檢測方法。解決本發(fā)明技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是一種顯示面板檢測方法，所述顯示面板包括設(shè)有多根相互交叉的第一引線和第二引線的薄膜晶體管陣列基板，所述第一引線的輸入端連接第一驅(qū)動芯片，第二引線的輸入端連接第二驅(qū)動芯片；所述顯示面板引線檢測方法包括將待測第一引線與檢測用第二引線在二者的交叉點導(dǎo)通，并在位于所述檢測用第二引線輸入端中的阻斷點阻斷檢測用第二引線內(nèi)的信號傳輸；從位于所述檢測用第二引線輸入端中或與檢測用第二引線輸入端相連的檢測點采集檢測信號，所述檢測點或檢測點與第二引線的連接點比所述阻斷點遠(yuǎn)離第二驅(qū)動芯片。其中，“檢測點或檢測點與第二引線的連接點比阻斷點遠(yuǎn)離第二驅(qū)動芯片”是指從各點在第二引線上的連接順序來看，檢測點(或連接點)在第二引線上的位置比阻斷點離第二驅(qū)動芯片更遠(yuǎn)；而非指它們與第二驅(qū)動芯片間的空間位置關(guān)系。或者說，從第二驅(qū)動芯片發(fā)出的信號應(yīng)當(dāng)先到達(dá)阻斷點后才能到達(dá)檢測點，而來自顯示區(qū)中的第二引線的檢測信號應(yīng)先到達(dá)檢測點后才能到達(dá)阻斷點；這是為了使阻斷點既可阻斷來自第二驅(qū)動芯片的干擾信號，又不會妨礙第二弓I線中檢測信號的傳遞?！?br> 同時，以下敘述的“遠(yuǎn)離”的意義均與上述概念相同，都是指各點在引線上的順序，而非空間位置關(guān)系。本發(fā)明的顯示面板檢測方法中，先將待測第一引線與檢測用第二引線導(dǎo)通，并切斷由第二驅(qū)動芯片向檢測用第二引線發(fā)出的信號，因此由第一驅(qū)動芯片發(fā)出并進(jìn)入待測第一引線的信號會經(jīng)過待測第一引線與檢測用第二引線的交叉點傳入檢測用第二引線輸入端，故可在第二引線輸入端采集信號進(jìn)行檢測；也就是說，本發(fā)明實際上利用檢測用第二引線來傳遞待測第一引線的信號，而由于每根第一引線都與多根第二引線在不同位置相交，因此只要選擇不同的第二引線作為檢測用第二引線，即可對第一引線的不同位置進(jìn)行檢測，從而實現(xiàn)了對引線的分區(qū)段檢測，由此提高了不良解析的效率和準(zhǔn)確性。優(yōu)選的是，所述顯示面板還包括位于所述薄膜晶體管陣列基板側(cè)面的印刷線路板；所述檢測用第二引線輸入端至少部分位于所述印刷線路板上，所述阻斷點為位于所述印刷線路板上的開關(guān)結(jié)構(gòu)。優(yōu)選的是，所述顯示面板還包括位于所述薄膜晶體管陣列基板側(cè)面的印刷線路板；所述檢測點為位于所述印刷線路板上的觸點。優(yōu)選的是，所述將待測第一引線與檢測用第二引線在二者的交叉點導(dǎo)通包括用激光將待測第一引線與檢測用第二引線的交叉點焊接導(dǎo)通。優(yōu)選的是，在所述從檢測點采集檢測信號之前，還包括切斷所述待測第一引線，所述切斷的位置比待測第一引線與檢測用第二引線的交叉點更遠(yuǎn)離待測第一引線輸入端；和/或切斷所述檢測用第二引線，所述切斷的位置比檢測用第二引線與待測第一引線的交叉點更遠(yuǎn)離檢測用第二引線輸入端。進(jìn)一步優(yōu)選的是，切斷所述待測第一引線包括用激光切斷所述待測第一引線；和/或切斷所述檢測用第二引線包括用激光切斷所述檢測用第二引線。優(yōu)選的是，所述第一引線為公共電極線，所述第二引線為數(shù)據(jù)線；或所述第一引線為數(shù)據(jù)線，所述第二引線為公共電極線；或所述第一引線為柵極線，所述第二引線為數(shù)據(jù)線；或所述第一引線為數(shù)據(jù)線，所述第二引線為柵極線。
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題還包括，針對現(xiàn)有技術(shù)中無法對顯示面板的引線進(jìn)行分區(qū)段檢測的問題，提供一種可對引線進(jìn)行分區(qū)段檢測的顯示面板。解決本發(fā)明技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是一種顯示面板，包括設(shè)有多根相互交叉的第一引線和第二引線的薄膜晶體管陣列基板，所述第一引線的輸入端連接第一驅(qū)動芯片，所述第二引線的輸入端連接第二驅(qū)動芯片；位于所述薄膜晶體管陣列基板側(cè)面的印刷線路板；其中，至少部分所述第二引線為檢測用第二引線，所述檢測用第二引線的輸入端至少部分位于所述印刷線路板上；
所述印刷線路板上的檢測用第二引線輸入端中設(shè)有用于阻斷檢測用第二引線中信號傳輸?shù)拈_關(guān)結(jié)構(gòu)；所述印刷線路板上設(shè)有觸點，所述觸點位于檢測用第二引線輸入端中或與檢測用第二引線輸入端相連，且所述觸點或觸點與檢測用第二引線的連接點比所述開關(guān)結(jié)構(gòu)遠(yuǎn)離第二驅(qū)動芯片。由于本發(fā)明的顯示面板中具有檢測用第二引線，而檢測用第二引線的輸入端部分位于印刷線路板上，且該檢測用第二引線輸入端中設(shè)有開關(guān)結(jié)構(gòu)和觸點，因此在用上述方法檢測本顯示面板時，可直接利用開關(guān)結(jié)構(gòu)阻斷引線中的信號傳輸，并利用觸點進(jìn)行檢測，從而方便的實現(xiàn)對引線的分區(qū)段檢測。優(yōu)選的是，所述顯示面板還包括連接在所述薄膜晶體管陣列基板側(cè)面的柔性線路板；所述第二驅(qū)動芯片位于所述柔性線路板上，所述印刷線路板連接在所述柔性線路板遠(yuǎn)離薄膜晶體管陣列基板的一側(cè)。優(yōu)選的是，所述開關(guān)結(jié)構(gòu)為O跳變電阻、劃線電阻器、三極管、螺絲開關(guān)中的任意一種。優(yōu)選的是，所述第一引線為公共電極線，所述第二引線為數(shù)據(jù)線；或所述第一引線為數(shù)據(jù)線，所述第二引線為公共電極線；或所述第一引線為柵極線，所述第二引線為數(shù)據(jù)線；或所述第一引線為數(shù)據(jù)線，所述第二引線為柵極線。優(yōu)選的是,所述顯示面板為液晶顯示面板或有機發(fā)光二極管顯示面板。


圖I為現(xiàn)有的顯示面板的薄膜晶體管陣列基板的俯視結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為本發(fā)明實施例2的顯示面板檢測方法在進(jìn)行檢測時的薄膜晶體管陣列基板的俯視結(jié)構(gòu)示意圖；圖3為本發(fā)明實施例2的顯示面板檢測方法在進(jìn)行檢測時的薄膜晶體管陣列基板的局部俯視結(jié)構(gòu)示意圖(部分引線未示出)；圖4為本發(fā)明實施例2的另一種顯示面板檢測方法在進(jìn)行檢測時的薄膜晶體管陣列基板的局部俯視結(jié)構(gòu)示意圖(部分引線未示出)；圖5為本發(fā)明的另一種顯示面板檢測方法在進(jìn)行檢測時的薄膜晶體管陣列基板的俯視結(jié)構(gòu)示意圖；其中附圖標(biāo)記為1、公共電極線；11、公共電極線輸入端；12、公共電極線末端；13、待測公共電極線；131、待測公共電極線輸入端；19、公共電極驅(qū)動芯片；2、數(shù)據(jù)線；21、數(shù)據(jù)線輸入端；23、檢測用數(shù)據(jù)線 ；231、檢測用數(shù)據(jù)線輸入端；29、數(shù)據(jù)驅(qū)動芯片；51、交叉點；52、阻斷點；53、檢測點；531、連接點；54、切斷點；7、柔性線路板；8、印刷線路板；9、薄膜晶體管陣列基板；91、顯示區(qū)。
具體實施例方式為使本領(lǐng)域技術(shù)人員更好地理解本發(fā)明的技術(shù)方案，下面結(jié)合附圖和具體實施方式
對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)描述。實施例I :本實施例提供一種顯示面板檢測方法。其中顯示面板包括設(shè)有多根相互交叉的第一引線和第二引線的薄膜晶體管陣列基板，所述第一引線的輸入端連接第一驅(qū)動芯片，第二引線的輸入端連接第二驅(qū)動芯片。所述顯示面板引線檢測方法具體包括將待測第一引線與檢測用第二引線在二者的交叉點導(dǎo)通，并在位于檢測用第二引線輸入端中的阻斷點阻斷檢測用第二引線內(nèi)的信號傳輸；從位于檢測用第二引線輸入端中或與檢測用第二引線輸入端相連的檢測點采集檢測信號，所述檢測點或檢測點與第二引線的連接點比所述阻斷點遠(yuǎn)離第二驅(qū)動芯片。本實施例的顯示面板檢測方法中，先將待測第一引線與檢測用第二引線導(dǎo)通，并切斷由第二驅(qū)動芯片向檢測用第二引線發(fā)出的信號，因此由第一驅(qū)動芯片發(fā)出并進(jìn)入待測第一引線的信號會經(jīng)過待測第一引線與檢測用第二引線的交叉點傳入檢測用第二引線輸入端，故可在第二引線輸入端采集信號進(jìn)行檢測；也就是說，本實施例實際上利用檢測用第二引線來傳遞待測第一引線的信號，而由于每根第一引線都與多根第二引線在不同位置相交，因此只要選擇不同的第二引線作為檢測用第二引線，即可對第一引線的不同位置進(jìn)行檢測，從而實現(xiàn)了對引線的分區(qū)段檢測，由此提高了不良解析的效率和準(zhǔn)確性。實施例2 本實施例提供一種顯示面板，包括設(shè)有多根相互交叉的第一引線和第二引線的薄膜晶體管陣列基板，所述第一引線的輸入端連接第一驅(qū)動芯片，所述第二引線的輸入端連接第二驅(qū)動芯片；位于所述薄膜晶體管陣列基板側(cè)面的印刷線路板。其中，至少部分所述第二引線為檢測用第二引線，所述檢測用第二引線的輸入端至少部分位于所述印刷線路板上；所述印刷線路板上的檢測用第二引線輸入端中設(shè)有用于阻斷檢測用第二引線中信號傳輸?shù)拈_關(guān)結(jié)構(gòu)；所述印刷線路板上設(shè)有觸點，所述觸點位于檢測用第二引線輸入端中或與檢測用第二引線輸入端相連，且所述觸點或觸點與檢測用第二引線的連接點比所述開關(guān)結(jié)構(gòu)遠(yuǎn)離第二驅(qū)動芯片。由于本實施例的顯示面板中具有檢測用第二引線，而檢測用第二引線的輸入端部分位于印刷線路板上，且該檢測用第二引線輸入端中設(shè)有開關(guān)結(jié)構(gòu)和觸點，因此在用上述方法檢測本顯示面板時，可直接利用開關(guān)結(jié)構(gòu)阻斷引線中的信號傳輸，并利用觸點進(jìn)行檢測，從而方便的實現(xiàn)對弓I線的分區(qū)段檢測。優(yōu)選的是，所述第一引線為公共電極線，所述第二引線為數(shù)據(jù)線；或所述第一引線為數(shù)據(jù)線，所述第二引線為公共電極線；或所述第一引線為柵極線，所述第二引線為數(shù)據(jù)線；或所述第一引線為數(shù)據(jù)線，所述第二引線為柵極線。優(yōu)選的是,所述顯示面板為液晶顯示面板或有機發(fā)光二極管顯示面板。實施例3 如圖2至圖4所示，本實施例提供一種顯示面板及其檢測方法。其中，本實施的顯示面板優(yōu)選為液晶顯示面板或有機發(fā)光二極管顯示面板，其包 括薄膜晶體管陣列基板9 ;連接在薄膜晶體管陣列基板9側(cè)面的柔性線路板7 ;連接在柔性線路板7遠(yuǎn)離薄膜晶體管陣列基板9 一側(cè)的印刷線路板8。本實施例中，以薄膜晶體管陣列基板9的左側(cè)和右側(cè)分別設(shè)有柔性線路板7和印刷線路板8為例子，當(dāng)然，其他類型的柔性線路板7和印刷線路板8設(shè)置方法也是可行的(例如對于雙向進(jìn)線的方式，則薄膜晶體管陣列基板9的四面均設(shè)有柔性線路板7和印刷線路板8)。薄膜晶體管陣列基板9上設(shè)有相互交叉而形成網(wǎng)格裝的公共電極線I (即第一引線)和數(shù)據(jù)線2 (即第二引線)，公共電極線輸入端11連接公共電極驅(qū)動芯片19 (即第一驅(qū)動芯片)，數(shù)據(jù)線輸入端21連接數(shù)據(jù)驅(qū)動芯片29(第二驅(qū)動芯片)；公共電極驅(qū)動芯片19和數(shù)據(jù)驅(qū)動芯片29分別位于薄膜晶體管陣列基板9左側(cè)和上側(cè)的柔性線路板7上。其中，各引線輸入端11、21是指引線1、2中超出顯示區(qū)91外而用于與驅(qū)動芯片19、29相連的部分。本實施例中，以各驅(qū)動芯片19、29均位于柔性線路板7上為例子；但顯然，如果采取驅(qū)動芯片19、29直接位于薄膜晶體管陣列基板9上的方式也是可行的。根據(jù)型號不同，每個顯示面板中可具有多個驅(qū)動芯片19、29，而每個驅(qū)動芯片可連接多根引線1、2(可多達(dá)數(shù)百根)，但為了清楚，附圖中只示意性的示出了部分驅(qū)動芯片19、29和引線1、2。數(shù)據(jù)線2中有部分為檢測用數(shù)據(jù)線23。在對公共電極線I進(jìn)行檢測時，通過選擇不同的檢測用數(shù)據(jù)線23，即可對公共電極線I的不同位置進(jìn)行分區(qū)段檢測；因此，檢測用數(shù)據(jù)線23的設(shè)置可根據(jù)檢測的需要進(jìn)行。例如，在與一個數(shù)據(jù)驅(qū)動芯片29相連的數(shù)據(jù)線2(通常有數(shù)十至上百根)中，可有一根或數(shù)根(本實施例中以兩根為例)為檢測用數(shù)據(jù)線23 ;這樣一方面檢測用數(shù)據(jù)線23在空間上的間隔距離不會很大，可以滿足對公共電極線I進(jìn)行分區(qū)段檢測的要求，同時檢測用數(shù)據(jù)線23的數(shù)量又不太多，故對布線設(shè)計、制備工藝、產(chǎn)品成本等不會產(chǎn)生過大影響。如圖2至圖4所示，與其他數(shù)據(jù)線2不同，檢測用數(shù)據(jù)線輸入端231不是直接從數(shù)據(jù)驅(qū)動芯片29的進(jìn)入薄膜晶體管陣列基板9，而是先進(jìn)入印刷線路板8，之后從印刷線路板8中經(jīng)柔性線路板7再返回薄膜晶體管陣列基板9中，也就是說，檢測用數(shù)據(jù)線輸入端231至少有一部分位于印刷線路板8上。在檢測用數(shù)據(jù)線輸入端231位于印刷線路板8上的部分中，設(shè)有阻斷點52，該阻斷點52優(yōu)選為開關(guān)結(jié)構(gòu)，用于阻斷檢測用數(shù)據(jù)線23中的信號傳輸，以防止數(shù)據(jù)驅(qū)動芯片29的信號對檢測產(chǎn)生影響。優(yōu)選的，開關(guān)結(jié)構(gòu)為O跳變電阻、劃線電阻器、三極管、螺絲開關(guān)中的任意一種。其中，O跳變電阻通常相當(dāng)于一段導(dǎo)線，只要將其取下即可起到阻斷信號的作用；而將劃線電阻器的阻值可調(diào)，只要將其阻值調(diào)大，即可實質(zhì)上阻斷信號的傳輸(或者說使信號極其微小)；而三極管、螺絲開關(guān)都為公知形式的開關(guān)，在此不再詳細(xì)描述。當(dāng)然，該開關(guān)結(jié)構(gòu)也可采用其他的已知形式，只要其能夠阻斷檢測用數(shù)據(jù)線23中的數(shù)據(jù)傳輸即可。同時，印刷線路板8上還設(shè)有檢測點53，該檢測點53用于檢測信號的采集，其優(yōu)選為觸點(即一塊面積較大的金屬片)的形式，從而方便檢測探針與其接觸。該觸點用于與檢測探針接觸以采集信號，因此，其可如圖3所示直接設(shè)在檢測用數(shù)據(jù)線輸入端231中，也可如圖4所示通過接線與檢測用數(shù)據(jù)線輸入端231相連(其與檢測用數(shù)據(jù)線輸入端231的連接點531可位于柔性線路板7上)。顯然，該觸點的位置或觸點與檢測用數(shù)據(jù)線輸入端231的連接點531的位置應(yīng)比上述開關(guān)結(jié)構(gòu)更遠(yuǎn)離數(shù)據(jù)驅(qū)動芯片29，也就是說，由數(shù)據(jù)驅(qū)動芯片29發(fā)出的信號，應(yīng)當(dāng)先經(jīng)過開關(guān)結(jié)構(gòu)后才能達(dá)到觸點或觸點與檢測用數(shù)據(jù)線輸入端231的連接點531，從而保證從檢測點53采集的信號不受數(shù)據(jù)驅(qū)動芯片29發(fā)出的信號的影響?！?br> 其中，開關(guān)結(jié)構(gòu)、觸點之所以優(yōu)選設(shè)在印刷線路板8上，是因為如果將它們設(shè)在薄膜晶體管陣列基板9上，則現(xiàn)有的已經(jīng)成熟的薄膜晶體管陣列基板9結(jié)構(gòu)和制備工藝都會發(fā)生變化，并由此帶來成本的升高和效率的降低；而柔性線路板7因其特殊的性質(zhì)，難以在其上有效的形成開關(guān)結(jié)構(gòu)、觸點等。當(dāng)然，本實施例的顯示面板中還應(yīng)包括與薄膜晶體管陣列基板9組裝在一起的另一基板，且薄膜晶體管陣列基板9上還應(yīng)設(shè)有與公共電極線I平行的柵極線，且柵極線也應(yīng)連接?xùn)艠O驅(qū)動芯片；但因這些結(jié)構(gòu)和本實施例的檢測方法沒有直接關(guān)系，故均未在圖中示出。同時，本實施例的顯示面板還可進(jìn)行許多變化。例如，開關(guān)結(jié)構(gòu)、觸點等也可設(shè)在薄膜晶體管陣列基板9上；觸點與檢測用數(shù)據(jù)線輸入端231的連接點531也可設(shè)在印刷線路板8或薄膜晶體管陣列基板9上等。本實施的對上述顯示面板進(jìn)行檢測的方法包括S01、將待測公共電極線13與檢測用數(shù)據(jù)線23在二者的交叉點51導(dǎo)通；也就是說，使待測公共電極線13與檢測用數(shù)據(jù)線23電連接，從而使待測公共電極線13中的信號可傳入檢測用數(shù)據(jù)線23中。優(yōu)選的，上述的導(dǎo)通具體為通過激光將待測公共電極線13與檢測用數(shù)據(jù)線23的交叉點51焊接導(dǎo)通。之所以使用激光焊接方式，是因為激光可穿過與薄膜晶體管陣列基板9組裝在一起的另一基板，故不用拆卸顯示面板即可實現(xiàn)焊接。而使用激光將引線焊接在一起的技術(shù)是已知的，故在此不再詳細(xì)描述。S02、在位于檢測用數(shù)據(jù)線輸入端231中的阻斷點52阻斷檢測用數(shù)據(jù)線23內(nèi)的信號傳輸；也就是說，阻斷由數(shù)據(jù)驅(qū)動芯片29發(fā)送給檢測用數(shù)據(jù)線23的信號，以免其對檢測
產(chǎn)生影響。優(yōu)選的，阻斷點52為上述的位于印刷線路板8上的開關(guān)結(jié)構(gòu)，此時直接斷開開關(guān)即可阻斷檢測用數(shù)據(jù)線23內(nèi)的信號傳輸。當(dāng)然，如果阻斷點52處沒有開關(guān)結(jié)構(gòu)，則也可通過針扎、激光切斷等方式在阻斷點52處將檢測用數(shù)據(jù)線23斷開。
S03、優(yōu)選的，切斷待測公共電極線13，切斷的位置比待測公共電極線13與檢測用數(shù)據(jù)線23的交叉點51更遠(yuǎn)離待測公共電極線輸入端131 ;和/或切斷檢測用數(shù)據(jù)線23，切斷的位置比檢測用數(shù)據(jù)線23與待測公共電極線13的交叉點51更遠(yuǎn)離檢測用數(shù)據(jù)線輸入端231 ;也就是說，優(yōu)選可在比待測公共電極線13與檢測用數(shù)據(jù)線23的交叉點51 (即導(dǎo)通點)更遠(yuǎn)離各自驅(qū)動芯片19、29的位置將待測公共電極線13與檢測用數(shù)據(jù)線23切斷。顯然，如果沒有切斷點54，則在進(jìn)行檢測時，引線13、23中不用進(jìn)行信號傳輸?shù)牟糠?即待測公共電極線13在交叉點51右側(cè)部分和檢測用數(shù)據(jù)線23在交叉點51下側(cè)的部分)也會帶電，而這部分引線13、23帶電會對檢測結(jié)果產(chǎn)生不良影響，為了減少這種影響，使檢測信號更加準(zhǔn)確，故優(yōu)選在上述切斷點54處切斷引線13、23。當(dāng)然，為了達(dá)到最好的避免引線13、23帶電的效果，切斷點54與交叉點51間的距離越近越好。優(yōu)選的，上述切斷引線13、23的方式具體為用激光切斷待測公共電極線13和/或
檢測用數(shù)據(jù)線23。使用激光將引線切斷的技術(shù)是已知的，故在此不再詳細(xì)描述。顯然，以上的SOI、S02、S03步驟均是為了形成檢測所需的結(jié)構(gòu)，也就是它們均是進(jìn)行檢測前的準(zhǔn)備步驟，因此它們并無必然的先后關(guān)系，本實施例中SOI、S02、S03步驟的順序只是作為一個具體例子，而這三步驟的實際執(zhí)行順序可以任意調(diào)換。S04、從位于檢測用數(shù)據(jù)線輸入端231中或與檢測用數(shù)據(jù)線輸入端231相連的檢測點53采集檢測信號，檢測點53或檢測點53與數(shù)據(jù)線2的連接點531比阻斷點52遠(yuǎn)離第二驅(qū)動芯片；此時，由公共電極驅(qū)動芯片19發(fā)出的信號會經(jīng)由待測公共電極線13從交叉點51傳入檢測用數(shù)據(jù)線23，因此在檢測用數(shù)據(jù)線輸入端231即可采集到由公共電極驅(qū)動芯片19發(fā)出的信號，從而判斷待測公共電極線13的狀況，達(dá)到檢測目的。優(yōu)選的，當(dāng)印刷線路板8上具有上述觸點時，可使檢測探針與觸點接觸，從而接收檢測信號。當(dāng)然，如果檢測點53處沒有觸點，而直接用檢測探針接觸檢測用數(shù)據(jù)線輸入端231以采集信號，也是可行的。顯然，雖然本實施例中以通過數(shù)據(jù)線2對公共電極線I進(jìn)行檢測為例子，但本實施例的顯示面板檢測方法也可用于檢測其他引線；例如，也可通過公共電極線I對數(shù)據(jù)線2進(jìn)行檢測；或者通過柵極線對數(shù)據(jù)線2進(jìn)行檢測；或者通過數(shù)據(jù)線2對柵極線進(jìn)行檢測等。由于這些不同的檢測方法只是弓I線選擇不同，而其實質(zhì)相似，故在此不再逐一描述。上述實施例的顯示面板中，檢測用數(shù)據(jù)線輸入端231部分位于印刷線路板8上；但顯然，對于現(xiàn)有的常規(guī)顯示面板，也可采用上述實施例的方法進(jìn)行檢測；其檢測方式如圖5所示，直接將阻斷點52和檢測點53設(shè)置在柔性線路板7上(或薄膜晶體管陣列基板9上)，當(dāng)然，由于柔性線路板7的性質(zhì)，此時難以在阻斷點52和檢測點53形成開關(guān)結(jié)構(gòu)和觸點，但是仍可通過用針扎斷阻斷點52以及直接用檢測探針接觸檢測點53的方式實現(xiàn)檢測。可以理解的是，以上實施方式僅僅是為了說明本發(fā)明的原理而采用的示例性實施方式，然而本發(fā)明并不局限于此。對于本領(lǐng)域內(nèi)的普通技術(shù)人員而言，在不脫離本發(fā)明的精神和實質(zhì)的情況下，可以做出各種變型和改進(jìn)，這些變型和改進(jìn)也視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1.一種顯示面板檢測方法，所述顯示面板包括設(shè)有多根相互交叉的第一引線和第二引線的薄膜晶體管陣列基板，所述第一引線的輸入端連接第一驅(qū)動芯片，第二引線的輸入端連接第二驅(qū)動芯片，其特征在于，所述顯示面板引線檢測方法包括 將待測第一引線與檢測用第二引線在二者的交叉點導(dǎo)通，并在位于所述檢測用第二引線輸入端中的阻斷點阻斷檢測用第二引線內(nèi)的信號傳輸； 從位于所述檢測用第二引線輸入端中或與檢測用第二引線輸入端相連的檢測點采集檢測信號，所述檢測點或檢測點與第二引線的連接點比所述阻斷點遠(yuǎn)離第二驅(qū)動芯片。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的顯示面板檢測方法，其特征在于，所述顯示面板還包括位于所述薄膜晶體管陣列基板側(cè)面的印刷線路板； 所述檢測用第二引線輸入端至少部分位于所述印刷線路板上，所述阻斷點為位于所述印刷線路板上的開關(guān)結(jié)構(gòu)。
所述檢測點為位于所述印刷線路板上的觸點。
3.根據(jù)權(quán)利要求I或2所述的顯示面板檢測方法，其特征在于，所述將待測第一引線與檢測用第二引線在二者的交叉點導(dǎo)通包括 用激光將待測第一引線與檢測用第二引線的交叉點焊接導(dǎo)通。
4.根據(jù)權(quán)利要求I或2所述的顯示面板檢測方法，其特征在于，在從檢測點采集檢測信號之前，還包括 切斷所述待測第一引線，所述切斷的位置比待測第一引線與檢測用第二引線的交叉點更遠(yuǎn)離所述待測第一引線輸入端； 和/或 切斷所述檢測用第二引線，所述切斷的位置比檢測用第二引線與待測第一引線的交叉點更遠(yuǎn)離所述檢測用第二引線輸入端。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的顯示面板檢測方法，其特征在于， 切斷所述待測第一引線包括用激光切斷所述待測第一引線； 和/或 切斷所述檢測用第二引線包括用激光切斷所述檢測用第二引線。
6.根據(jù)權(quán)利要求I或2中任意一項所述的顯示面板檢測方法，其特征在于， 所述第一引線為公共電極線，所述第二引線為數(shù)據(jù)線； 或 所述第一引線為數(shù)據(jù)線，所述第二引線為公共電極線； 或 所述第一引線為柵極線，所述第二引線為數(shù)據(jù)線； 或 所述第一引線為數(shù)據(jù)線，所述第二引線為柵極線。
7.—種顯不面板,包括 設(shè)有多根相互交叉的第一引線和第二引線的薄膜晶體管陣列基板，所述第一引線的輸入端連接第一驅(qū)動芯片，所述第二引線的輸入端連接第二驅(qū)動芯片； 位于所述薄膜晶體管陣列基板側(cè)面的印刷線路板； 其特征在于，至少部分所述第二引線為檢測用第二引線，所述檢測用第二引線的輸入端至少部分位于所述印刷線路板上； 所述印刷線路板上的檢測用第二引線輸入端中設(shè)有用于阻斷檢測用第二引線中信號傳輸?shù)拈_關(guān)結(jié)構(gòu)； 所述印刷線路板上設(shè)有觸點，所述觸點位于檢測用第二引線輸入端中或與檢測用第二引線輸入端相連，且所述觸點或觸點與檢測用第二引線的連接點比所述開關(guān)結(jié)構(gòu)遠(yuǎn)離第二驅(qū)動芯片。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的顯示面板，其特征在于，還包括連接在所述薄膜晶體管陣列基板側(cè)面的柔性線路板； 所述第二驅(qū)動芯片位于所述柔性線路板上，所述印刷線路板連接在所述柔性線路板遠(yuǎn)離薄膜晶體管陣列基板的一側(cè)。
9.根據(jù)權(quán)利要求7或8所述的顯示面板，其特征在于， 所述開關(guān)結(jié)構(gòu)為O跳變電阻、劃線電阻器、三極管、螺絲開關(guān)中的任意一種。
10.根據(jù)權(quán)利要求7或8所述的顯示面板，其特征在于， 所述第一引線為公共電極線，所述第二引線為數(shù)據(jù)線； 或 所述第一引線為數(shù)據(jù)線，所述第二引線為公共電極線； 或 所述第一引線為柵極線，所述第二引線為數(shù)據(jù)線； 或 所述第一引線為數(shù)據(jù)線，所述第二引線為柵極線。
全文摘要
本發(fā)明提供一種顯示面板及其檢測方法，屬于顯示面板檢測技術(shù)領(lǐng)域，其可解決現(xiàn)有技術(shù)中無法對顯示面板的引線進(jìn)行分區(qū)段檢測的問題。顯示面板包括設(shè)有多根相互交叉的第一引線和第二引線的薄膜晶體管陣列基板，第一引線的輸入端連接第一驅(qū)動芯片，第二引線的輸入端連接第二驅(qū)動芯片。而顯示面板引線檢測方法包括將待測第一引線與檢測用第二引線在二者的交叉點導(dǎo)通，并在位于檢測用第二引線輸入端中的阻斷點阻斷檢測用第二引線內(nèi)的信號傳輸；從位于檢測用第二引線輸入端中或與檢測用第二引線輸入端相連的檢測點采集檢測信號，該檢測點或檢測點與第二引線的連接點比阻斷點遠(yuǎn)離第二驅(qū)動芯片。本發(fā)明可用于液晶顯示面板或有機發(fā)光二極管顯示面板中。
文檔編號G09G3/00GK102945647SQ20121039487
公開日2013年2月27日 申請日期2012年10月17日 優(yōu)先權(quán)日2012年10月17日
發(fā)明者胡海琛, 郤玉生 申請人:京東方科技集團股份有限公司, 北京京東方顯示技術(shù)有限公司