測(cè)量平板透明介質(zhì)折射率的實(shí)驗(yàn)裝置與實(shí)驗(yàn)方法
【專(zhuān)利摘要】一種測(cè)量平板透明介質(zhì)折射率的實(shí)驗(yàn)裝置與實(shí)驗(yàn)方法，在底座上設(shè)置有半導(dǎo)體激光器，底座上半導(dǎo)體激光器光出射方向設(shè)置有中心線與半導(dǎo)體激光器中心線相垂直的柱透鏡，待測(cè)平板透明介質(zhì)的光入射面上設(shè)置有坐標(biāo)紙，坐標(biāo)紙的標(biāo)度面粘貼在平板透明介質(zhì)光入射方向的一側(cè)面。測(cè)量平板透明介質(zhì)折射率的實(shí)驗(yàn)測(cè)量方法步驟為：坐標(biāo)紙的標(biāo)度面貼在已知厚度的平板透明介質(zhì)光入射面上，半導(dǎo)體激光器出射的激光束入射到柱透鏡，出射的線光源垂直入射于平板透明介質(zhì)上坐標(biāo)紙的背面，從平板透明介質(zhì)的另一側(cè)面迎光觀察到以坐標(biāo)紙上的線狀光帶為中心線對(duì)稱(chēng)的暗帶，按公式計(jì)算出平板透明介質(zhì)的折射率。可用于于學(xué)生光學(xué)實(shí)驗(yàn)、課堂演示實(shí)驗(yàn)以及工程現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。
【專(zhuān)利說(shuō)明】測(cè)量平板透明介質(zhì)折射率的實(shí)驗(yàn)裝置與實(shí)驗(yàn)方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于折射率測(cè)量設(shè)備或裝置【技術(shù)領(lǐng)域】，具體涉及測(cè)量平板透明介質(zhì)折射率的實(shí)驗(yàn)裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]透明介質(zhì)的折射率是其最重要的光學(xué)參數(shù)之一，折射率的精確、簡(jiǎn)便、快速測(cè)量技術(shù)的研究一直是本【技術(shù)領(lǐng)域】的熱點(diǎn)問(wèn)題，也是大學(xué)物理光學(xué)實(shí)驗(yàn)中的基本內(nèi)容。幾何光學(xué)測(cè)量法是透明固體折射率的主要測(cè)量方法，其中最常用的方法是利用分光計(jì)的最小偏向角法、V棱鏡折射法和阿貝折射儀，雖然其測(cè)量精度都較高，但都要求將待測(cè)量的固體透明介質(zhì)加工成所要求的確定形狀，其加工成本高、難度大，影響了在一般條件下的使用。專(zhuān)利
【發(fā)明者】張宗權(quán), 苗潤(rùn)才, 劉志存, 楊宗立, 魯百佐, 姚志, 王文成 申請(qǐng)人:陜西師范大學(xué)