有機發(fā)光顯示面板的制作方法
【專利摘要】提供了一種有機發(fā)光顯示面板，所述有機發(fā)光顯示面板包括：像素單元，連接到多條掃描線和多條數(shù)據(jù)線，包括多個像素；面板測試單元，連接到多條數(shù)據(jù)線的第一端，被構(gòu)造成輸出用于測試多個像素的面板測試信號；多個數(shù)據(jù)焊盤，連接到多條數(shù)據(jù)線的第二端；以及陣列測試單元，被構(gòu)造成根據(jù)多個陣列測試控制信號向像素單元的像素列選擇性施加多個陣列測試信號，檢測從被施加多個陣列測試信號的像素列輸出的信號。
【專利說明】有機發(fā)光顯面板
[0001] 本申請要求于2013年5月31日提交的第10-2013-0063078號韓國專利申請的優(yōu) 先權(quán)，該申請的公開通過引用全部包含于此。

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0002] 本發(fā)明的示例性實施例涉及一種有機發(fā)光顯示面板。

【背景技術(shù)】
[0003] 有機發(fā)光顯示設(shè)備通過使用諸如有機發(fā)光二極管的自發(fā)光器件來顯示圖像。由于 其優(yōu)異的亮度和色純度，有機發(fā)光顯示設(shè)備的用途正日益增加。
[0004] 在制造有機發(fā)光顯示設(shè)備期間，可以使用載帶自動鍵合（TAB)法將包括驅(qū)動電路 的高密度集成電路（1C)連接到包括多個像素的陣列基板，所述驅(qū)動電路產(chǎn)生掃描信號和數(shù) 據(jù)信號并且向像素施加掃描信號和數(shù)據(jù)信號。在這種情況下，使用多條引線將驅(qū)動電路連 接到陣列基板。結(jié)果，制造有機發(fā)光顯示設(shè)備的過程會變得復(fù)雜，最終產(chǎn)品的可靠性和制造 工藝的良率會低。另外，由于高密度1C，導(dǎo)致有機發(fā)光顯示設(shè)備的制造成本會高。
[0005] 可選地，可以使用玻璃上芯片（C0G)或板上系統(tǒng)（S0P)型的有機發(fā)光顯示設(shè)備。這 個有機發(fā)光顯示設(shè)備是通過將驅(qū)動電路直接集成到其中設(shè)置有像素電路的像素電路陣列 基板中來制造的。因此，可以避免將驅(qū)動電路連接到像素電路陣列基板的額外工藝，可以提 商最終廣品的可罪性和制造工藝的良率。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0006] 本發(fā)明的示例性實施例提供了一種在執(zhí)行陣列處理之后早期可以被檢測缺陷的 面板。
[0007] 根據(jù)本發(fā)明的示例性實施例，一種有機發(fā)光顯示面板包括：像素單元，位于掃描線 和數(shù)據(jù)線的交叉區(qū)處，在像素單元中形成顯示互不相同顏色的多個像素；面板測試單元，連 接到數(shù)據(jù)線的一端，并且在像素單元中形成有機發(fā)光器件之后，輸出用于測試像素的面板 測試信號；多個數(shù)據(jù)焊盤，分別連接到從數(shù)據(jù)線的另一端延伸的線；陣列測試單元，根據(jù)多 個陣列測試控制信號，向像素單元的像素列選擇性地施加陣列測試信號，檢測從被施加陣 列測試信號的像素列輸出的電流，從而在像素單元中形成有機發(fā)光器件之前測試像素電路 陣列；線測試單元，輸出用于測試從數(shù)據(jù)線的另一端延伸的線中的斷路或短路的出現(xiàn)的線 測試信號。
[0008] 多個陣列測試控制信號可以包括面板測試信號和線測試信號。
[0009] 陣列測試單元可以包括：多個陣列測試焊盤，接觸陣列測試設(shè)備中的探針引腳并 且接收陣列測試信號；以及解復(fù)用器，將一個陣列測試焊盤連接到多個數(shù)據(jù)焊盤，并且根據(jù) 多個陣列測試控制信號，向數(shù)據(jù)焊盤選擇性地發(fā)送陣列測試信號。
[0010] 解復(fù)用器可以包括多個陣列測試開關(guān)，陣列測試開關(guān)具有與發(fā)送多個陣列測試控 制信號的多條線中的一條線連接的柵極、與多個數(shù)據(jù)焊盤中的一個連接的第一端子、與多 個陣列測試焊盤中的一個連接的第二端子。
[0011] 多個陣列測試開關(guān)可以包括：第一陣列測試開關(guān)，其柵極與供應(yīng)第一陣列測試控 制信號的線共同連接；第二陣列測試開關(guān)，其柵極與供應(yīng)第二陣列測試控制信號的線共同 連接；第三陣列測試開關(guān)，其柵極與供應(yīng)第三陣列測試控制信號的線共同連接；第四陣列 測試開關(guān)，其柵極與供應(yīng)第四陣列測試控制信號的線共同連接。
[0012] 解復(fù)用器可以包括多個開關(guān)組，所述多個開關(guān)組將順序的數(shù)據(jù)焊盤連接到一個陣 列測試焊盤，順序的數(shù)據(jù)焊盤的數(shù)量與陣列測試控制信號的數(shù)量相同，各開關(guān)組包括多個 陣列測試開關(guān)，各陣列測試開關(guān)具有與供應(yīng)陣列測試控制信號中的每種陣列測試控制信號 的線連接的柵極，各開關(guān)組中的多個陣列測試開關(guān)響應(yīng)于陣列測試控制信號順序地導(dǎo)通。
[0013] 線測試單元可以包括多個線測試開關(guān)，所述多個線測試開關(guān)具有與供應(yīng)線測試控 制信號的線共同連接的柵極、分別與陣列測試焊盤連接的第一端子、接收線測試信號的第 二端子。
[0014] 線測試單元可以在陣列測試單元執(zhí)行陣列測試時保持截止狀態(tài)。
[0015] 有機發(fā)光顯示面板還可以包括向像素單元的像素列選擇性施加從數(shù)據(jù)焊盤輸出 的數(shù)據(jù)信號的數(shù)據(jù)開關(guān)單元。
[0016] 有機發(fā)光顯示面板還可以包括數(shù)據(jù)驅(qū)動單元，數(shù)據(jù)驅(qū)動單元利用玻璃上芯片 (C0G)法鍵合至數(shù)據(jù)焊盤并且向數(shù)據(jù)線施加數(shù)據(jù)信號。
[0017] 根據(jù)本發(fā)明的示例性實施例，一種有機發(fā)光顯示面板包括：多個陣列測試焊盤，為 了在像素單元中形成有機發(fā)光器件之前測試像素電路陣列，接觸陣列測試設(shè)備中的探針引 腳并且接收陣列測試信號；以及解復(fù)用器，設(shè)置在分別與從像素單元的數(shù)據(jù)線延伸的線連 接的多個數(shù)據(jù)焊盤和多個陣列測試焊盤之間，并且根據(jù)多個陣列測試控制信號，經(jīng)由數(shù)據(jù) 焊盤向像素單元的像素列選擇性施加從陣列測試焊盤輸出的陣列測試信號。
[0018] 多個陣列測試控制信號可以包括：面板測試信號，從在像素單元中形成有機發(fā)光 器件之后測試像素的面板測試單元輸出；以及線測試信號，從線測試單元輸出，線測試單元 測試從數(shù)據(jù)線延伸的線中的短路或斷路的出現(xiàn)。
[0019] 解復(fù)用器可以包括多個陣列測試開關(guān)，所述多個陣列測試開關(guān)具有與供應(yīng)多個陣 列測試控制信號的多條線中的一條線連接的柵極、與多個數(shù)據(jù)焊盤中的一個連接的第一端 子、與多個陣列測試焊盤中的一個連接的第二端子。
[0020] 多個陣列測試開關(guān)可以包括：第一陣列測試開關(guān)，其柵極與供應(yīng)第一陣列測試控 制信號的線共同連接；第二陣列測試開關(guān)，其柵極與供應(yīng)第二陣列測試控制信號的線共同 連接；第三陣列測試開關(guān)，其柵極與供應(yīng)第三陣列測試控制信號的線共同連接；第四陣列 測試開關(guān)，其柵極與供應(yīng)第四陣列測試控制信號的線共同連接。
[0021] 解復(fù)用器可以包括多個開關(guān)組，所述多個開關(guān)組將順序的數(shù)據(jù)焊盤連接到一個陣 列測試焊盤，順序的數(shù)據(jù)焊盤的數(shù)量與陣列測試控制信號的數(shù)量相同，各開關(guān)組可以包括 多個陣列測試開關(guān)，所述多個陣列測試開關(guān)具有與供應(yīng)陣列測試控制信號中的每種陣列測 試控制信號的線連接的柵極，各開關(guān)組中的多個陣列測試開關(guān)響應(yīng)于陣列測試控制信號順 序地導(dǎo)通。
[0022] 陣列測試焊盤可以具有比數(shù)據(jù)焊盤大的尺寸，陣列測試焊盤之間的間隔可以比數(shù) 據(jù)焊盤之間的間隔寬。
[0023] 線測試單元可以包括多個線測試開關(guān)，所述多個線測試開關(guān)具有與供應(yīng)線測試控 制信號的線共同連接的柵極、分別與陣列測試焊盤連接的第一端子、接收線測試信號的第 二端子。
[0024] 線測試單元可以在執(zhí)行陣列測試時保持截止狀態(tài)。
[0025] 有機發(fā)光顯示面板還可以包括向像素單元的像素列選擇性施加從數(shù)據(jù)焊盤輸出 的數(shù)據(jù)信號的數(shù)據(jù)開關(guān)單元。
[0026] 有機發(fā)光顯示面板還可以包括數(shù)據(jù)驅(qū)動單元，數(shù)據(jù)驅(qū)動單元利用玻璃上芯片 (C0G)法鍵合至數(shù)據(jù)焊盤并且向數(shù)據(jù)線施加數(shù)據(jù)信號。
[0027] 根據(jù)本發(fā)明的示例性實施例，一種有機發(fā)光顯示面板包括：像素單元，連接到多條 掃描線和多條數(shù)據(jù)線，包括多個像素；面板測試單元，連接到多條數(shù)據(jù)線的第一端，被構(gòu)造 成輸出用于測試多個像素的面板測試信號；多個數(shù)據(jù)焊盤，連接到多條數(shù)據(jù)線的第二端； 以及陣列測試單元，被構(gòu)造成根據(jù)多個陣列測試控制信號向像素單元的像素列選擇性施加 多個陣列測試信號，檢測從被施加多個陣列測試信號的像素列輸出的信號。
[0028] 根據(jù)本發(fā)明的示例性實施例，一種有機發(fā)光顯示面板包括：多個陣列測試焊盤，被 構(gòu)造成接觸陣列測試設(shè)備的探針引腳并且接收陣列測試信號；以及解復(fù)用器，設(shè)置在多個 數(shù)據(jù)焊盤和多個陣列測試焊盤之間，被構(gòu)造成根據(jù)多個陣列測試控制信號經(jīng)由多個數(shù)據(jù)焊 盤向像素單元的像素列選擇性施加陣列測試信號。多個數(shù)據(jù)焊盤連接到像素單元的多條數(shù) 據(jù)線，由多個陣列測試焊盤輸出陣列測試信號。
[0029] 根據(jù)本發(fā)明的示例性實施例，一種有機發(fā)光顯示面板包括：面板測試單元，連接到 多條數(shù)據(jù)線的第一端，被構(gòu)造成輸出用于測試有機發(fā)光顯示面板中的多個像素的多個面板 測試信號；多個數(shù)據(jù)焊盤，連接到多條數(shù)據(jù)線的第二端；以及陣列測試單元，被構(gòu)造成根據(jù) 多個陣列測試控制信號向包括多個像素的像素列選擇性施加多個陣列測試信號。陣列測試 單元包括被構(gòu)造成接觸陣列測試設(shè)備的探針引腳并且接收多個陣列測試信號的多個陣列 測試焊盤。多個陣列測試焊盤中的每個陣列測試焊盤的尺寸比多個數(shù)據(jù)焊盤中的每個數(shù)據(jù) 焊盤的尺寸大，多個陣列測試焊盤中的每個陣列測試焊盤之間的間隔比多個數(shù)據(jù)焊盤中的 每個數(shù)據(jù)焊盤之間的間隔寬。多個陣列測試控制信號包括多個面板測試信號。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0030] 通過參照附圖詳細描述本發(fā)明的示例性實施例，本發(fā)明的以上和其它特征將變得 更清楚，其中：
[0031] 圖1是示出根據(jù)本發(fā)明的示例性實施例的制造有機發(fā)光顯示設(shè)備的方法的流程 圖。
[0032] 圖2是示出根據(jù)本發(fā)明的示例性實施例的有機發(fā)光顯示面板的示意性平面圖。
[0033] 圖3是根據(jù)本發(fā)明的示例性實施例的可以通過使用陣列測試方法進行測試的有 機發(fā)光顯示面板中的單位像素的等效電路圖。
[0034] 圖4是示出圖2的有機發(fā)光顯示面板的示例性實施例的平面圖。
[0035] 圖5是示出根據(jù)本發(fā)明的示例性實施例的對應(yīng)于有機發(fā)光顯示面板的比較示例 的平面圖。
[0036] 圖6是示出圖2的有機發(fā)光顯示面板的示例性實施例的平面圖。

【具體實施方式】
[0037] 下文中，將參照附圖更充分地描述本發(fā)明的示例性實施例。在整個附圖中，相似的 參考標號可以表示相似的元件。
[0038] 將理解的是，術(shù)語"包括"和/或"包含"當在這里使用時表明組件的存在，但不排 除一個或更多個其它組件的存在或添加。另外，當物體被稱為"在"另一個物體"上"時，該 物體可以在另一個物體的上方或下方，物體可以直接或間接地位于另一個物體上。
[0039] 圖1是示出根據(jù)本發(fā)明的示例性實施例的制造有機發(fā)光顯示設(shè)備的方法的流程 圖。
[0040] 在操作S1中，執(zhí)行在基板上形成像素電路陣列的陣列處理。像素電路陣列中的像 素電路可以包括例如兩個或更多個薄膜晶體管（TFT)和一個或更多個電容器。在操作S2 中，執(zhí)行檢測像素電路陣列是否有缺陷的陣列測試。陣列測試S2確定TFT是否正常運行。 在操作S21中，在陣列測試S2中被確定有缺陷的像素電路經(jīng)受修復(fù)處理。如果不能修復(fù)有 缺陷的像素電路，則不執(zhí)行進一步的操作。
[0041] 如果確定像素電路陣列沒有缺陷，或者如果有缺陷的像素電路被修復(fù)，則產(chǎn)品被 視為是合格的，并且在操作S3中執(zhí)行面板(單元）處理。在面板(單元）處理中，可以形成陽 極電極、有機發(fā)光層和陰極電極，并且完成有機發(fā)光器件（0LED)的制造。然后，在操作S4中 執(zhí)行面板測試。在操作S4中執(zhí)行的面板測試可以包括例如面板照明測試、漏電流測試和/ 或老化測試。在操作S41中，在面板測試S4中被確定為有缺陷的面板經(jīng)受修復(fù)處理。如果 不能修復(fù)有缺陷的面板，則不執(zhí)行進一步的操作。
[0042] 如果確定面板沒有缺陷，或者如果有缺陷的面板被修復(fù)，則產(chǎn)品被視為是合格的， 并且在操作S5中執(zhí)行形成模塊的模塊處理。在操作S6中執(zhí)行最終測試，以確定模塊是否 有缺陷。在操作S61中，在最終測試S6中被確定為有缺陷的模塊可以經(jīng)受修復(fù)處理。如果 不能修復(fù)模塊，則不執(zhí)行進一步的操作。在操作S7中，完成制造根據(jù)圖1的有機發(fā)光顯示 設(shè)備的方法。
[0043] 根據(jù)本發(fā)明的示例性實施例，在執(zhí)行陣列處理S1之后，執(zhí)行陣列測試S2,以檢測 TFT是否有缺陷。因此，像素電路陣列中的缺陷可以被修復(fù)，因此可以提高制造良率。另外， 如果不能修復(fù)有缺陷的像素電路陣列，則不會執(zhí)行面板(單元）處理S3和模塊處理S5。因 此，可以節(jié)省制造成本和時間。
[0044] 圖2是示出根據(jù)本發(fā)明的示例性實施例的有機發(fā)光顯示面板100的示意性平面 圖。
[0045] 參照圖2,根據(jù)本發(fā)明的示例性實施例，有機發(fā)光顯示面板100包括像素單元110、 掃描驅(qū)動單元120、數(shù)據(jù)開關(guān)單元130、集成電路（1C)安裝區(qū)140、陣列測試單元150、線測 試單元160、面板測試單元170和焊盤單元180。
[0046] 像素單元110位于數(shù)據(jù)線D1至D8m和掃描線S1至Sn的交叉區(qū)中。像素單元110 包括分別發(fā)射不同顏色的光的第一像素、第二像素和第三像素。數(shù)據(jù)線D1至D8m在第一方 向上延伸，掃描線S1至Sn在第二方向上延伸。
[0047] 掃描驅(qū)動單元120對應(yīng)于掃描驅(qū)動電源VDD和VSS以及掃描控制信號SCS (圖4 至圖6中示出）產(chǎn)生掃描信號，并且向掃描線S1至Sn順序地供應(yīng)掃描信號。
[0048] 數(shù)據(jù)開關(guān)單元130連接到數(shù)據(jù)線D1至D8m。數(shù)據(jù)開關(guān)單元130可以減小安裝在 1C安裝區(qū)140中的1C的大小。數(shù)據(jù)開關(guān)單元130可以包括例如包括多個開關(guān)器件的解復(fù) 用電路。當執(zhí)行面板測試S4時，數(shù)據(jù)開關(guān)單元130保持截止（OFF)狀態(tài)，從而使數(shù)據(jù)驅(qū)動 單元與像素單元110電絕緣。
[0049] 在1C安裝區(qū)140中設(shè)置多個數(shù)據(jù)焊盤，數(shù)據(jù)焊盤例如經(jīng)由像素單元110中的從數(shù) 據(jù)線D1至D8m延伸的線分別連接到數(shù)據(jù)線。數(shù)據(jù)驅(qū)動單元可以利用例如玻璃上芯片（C0G) 法鍵合至數(shù)據(jù)焊盤，并且可以安裝在1C安裝區(qū)140中。數(shù)據(jù)驅(qū)動單元對應(yīng)于顯示數(shù)據(jù)DATA 和數(shù)據(jù)控制信號DCS產(chǎn)生數(shù)據(jù)信號，并且向數(shù)據(jù)線D1至D8m發(fā)送數(shù)據(jù)信號。數(shù)據(jù)開關(guān)單元 130向像素單元110的像素列選擇性施加從數(shù)據(jù)驅(qū)動單元輸出的數(shù)據(jù)信號。
[0050] 陣列測試單元150測試像素單元110中的各像素中形成的TFT和電容器是否有缺 陷。陣列測試單元150可以包括例如包括多個開關(guān)器件的解復(fù)用電路。在陣列測試S2期 間，陣列測試單元150接收陣列測試信號和陣列測試控制信號(例如，直流（DC)信號)，并且 對應(yīng)于陣列測試控制信號，向像素單元110的像素列選擇性供應(yīng)陣列測試信號。
[0051] 線測試單元160檢測數(shù)據(jù)線D1至D8m的短路或斷路。例如，線測試單元160可以 檢測設(shè)置在扇出單元200中的線(例如，從像素單元110的數(shù)據(jù)線D1至D8m延伸到1C安裝 區(qū)140的線）中的短路或斷路。線測試單元160接收線測試信號和線測試控制信號(例如， DC信號)，并且對應(yīng)于線測試控制信號，向設(shè)置在扇出單元200中的線發(fā)送線測試信號。線 測試單元160在陣列測試S2期間處于截止狀態(tài)。在陣列測試S2之后，線測試單元160可 以在面板測試S4中對扇出單元200中的線執(zhí)行短路/斷路測試。
[0052] 面板測試單元170連接到數(shù)據(jù)線D1至D8m。在執(zhí)行面板測試S4時，面板測試單 元170接收面板測試信號和面板測試控制信號（例如，DC信號)，并且對應(yīng)于面板測試控制 信號，向數(shù)據(jù)線D1至D8m發(fā)送面板測試信號。面板測試單元170在陣列測試S2期間處于 截止狀態(tài)。
[0053] 焊盤單元180包括多個焊盤P，焊盤P向有機發(fā)光顯示面板100的內(nèi)部發(fā)送可以從 有機發(fā)光顯不面板100外部供應(yīng)的功率和/或信號。在圖2的不例性實施例中，不出一條 線將各焊盤P連接到面板100內(nèi)的各元件。然而，連接焊盤P的線的數(shù)量不限于此。例如， 可以提供源自各焊盤P的多條線。例如，在示例性實施例中，可以使用五條線將信號從焊盤 單元180的各焊盤P發(fā)送到掃描驅(qū)動單元120,所述信號可以包括掃描驅(qū)動電源VDD/VSS、 作為掃描控制信號SCS的起始脈沖SP、掃描時鐘信號CLK和輸出使能信號0E。
[0054] 根據(jù)本發(fā)明的示例性實施例，有機發(fā)光顯示面板100還可以包括發(fā)光控制單元， 發(fā)光控制單元向像素單元110施加發(fā)光控制信號，從而允許在面板測試S4期間向第一像 素、第二像素和第三像素施加足夠的測試信號。
[0055] 圖3是根據(jù)本發(fā)明的示例性實施例的可以使用陣列測試方法進行測試的有機發(fā) 光顯示面板中的單位像素的等效電路圖。各像素 PX包括有機發(fā)光器件0LED和向有機發(fā)光 器件0LED供應(yīng)電流的像素電路PC。
[0056] 第一薄膜晶體管（TFT) T1是開關(guān)晶體管。第一 TFT T1的柵極連接到掃描線并且 接收掃描信號Si，第一 TFT T1的第一端子連接到數(shù)據(jù)線并且接收數(shù)據(jù)信號Dj，T1的第二 端子連接到第一節(jié)點N1。
[0057] 第二TFT T2是驅(qū)動晶體管。第二TFT T2的柵極連接到第二節(jié)點N2,第二TFT T2 的第一端子連接到第四節(jié)點N4并且接收第一驅(qū)動電壓ELVDD，第二TFT T2的第二端子與有 機發(fā)光器件OLED的陽極電極和第三TFT Τ3的第一端子連接于第三節(jié)點Ν3。
[0058] 第三TFT T3的柵極接收補償?shù)诙FT T2的閾值電壓的控制信號GC(t)。第三TFT T3的第一端子與第二TFT T2的第二端子連接于第三節(jié)點N3,第三TFT T3的第二端子連接 到第二TFT T2的柵極和第二電容器C2。
[0059] 第一電容器C1連接在第一節(jié)點N1和第四節(jié)點Μ之間，并且存儲被施加到第一 TFT Τ1的第一端子的數(shù)據(jù)信號。第二電容器C2連接在第一節(jié)點Ν1和第二節(jié)點Ν2之間，并 且調(diào)節(jié)第一 TFT T1的閾值電壓。
[0060] 有機發(fā)光器件0LED的陽極電極(為像素電極）與第二TFT T2的第二端子和第三 TFT T3的第一端子連接于第三節(jié)點N3。陰極電極(為公共電極)接收第二驅(qū)動電壓ELVSS。
[0061] 響應(yīng)于掃描信號Si，第一 TFT T1向第二TFT T2的柵極發(fā)送對應(yīng)的數(shù)據(jù)信號Dj。 響應(yīng)于經(jīng)由第一 TFT T1發(fā)送到柵極的數(shù)據(jù)信號Dj，第二TFT T2向有機發(fā)光器件0LED發(fā)送 驅(qū)動電流。響應(yīng)于控制信號GC(t)，第三TFT T3補償?shù)诙FT T2的閾值電壓。
[0062] 圖3示出像素電路PC的"3T2C"（例如，三個晶體管、兩個電容器）結(jié)構(gòu)。然而，本 發(fā)明中的陣列測試方法不限于應(yīng)用于3T2C結(jié)構(gòu)。例如，陣列測試方法可以應(yīng)用于其中沒有 設(shè)置第三TFT T3和第二電容器C2的"2T1C"（例如，兩個晶體管、一個電容器）像素電路。 可選地，本發(fā)明中的陣列測試方法還可以應(yīng)用于其中取代第三TFT T3和第二電容器C2的 晶體管和電容器以各種方式組合的像素電路。另外，盡管圖3示出p溝道金屬氧化物半導(dǎo)體 (PMOS)TFT，但示例性實施例不限于此。例如，還可以采用η溝道金屬氧化物半導(dǎo)體（NM0S) TFT。在這種情況下，驅(qū)動晶體管和電容器的信號的波形可以顛倒。
[0063] 根據(jù)本發(fā)明的示例性實施例，在像素單元110中形成像素電路PC，并且在形成有 機發(fā)光器件0LED之前，可以執(zhí)行陣列測試S2以檢測像素電路PC是否有缺陷。
[0064] 圖4是示出圖2的有機發(fā)光顯示面板的示例性實施例的平面圖。
[0065] 參照圖4,像素單元110具有其中包括發(fā)射各自不同顏色的光的第一像素、第二像 素和第三像素的結(jié)構(gòu)。第一像素和第二像素交替布置在同一列中，第三像素對齊地設(shè)置在 與其中布置有第一像素和第二像素的列相鄰的列中。如圖3中所示，各像素包括像素電路 PC〇
[0066] 如圖4中所示，第一像素是發(fā)射紅光的紅色像素 R，第二像素是發(fā)射藍光的藍色像 素 B，第三像素是發(fā)射綠光的綠色像素 G。
[0067] 紅色像素R和藍色像素B交替布置在同一列中。綠色像素G是對分辨率敏感的顏 色的像素，其對齊地設(shè)置在與其中布置有紅色像素 R和藍色像素 B的列相鄰的列中。
[0068] 紅色像素R和藍色像素B彼此以正交方向布置成棋盤格圖案，綠色像素G設(shè)置在 其間。例如，紅色像素 R和藍色像素 B交替設(shè)置，使得紅色像素 R和藍色像素 B在兩個相鄰 行中沒有重復(fù)布置在同一列中。
[0069] 根據(jù)本發(fā)明的示例性實施例，像素單元110包括紅色像素R、藍色像素B和綠色像 素 G。然而，像素單元110不限于此。例如，像素單元110還可以包括顯示除了紅色、綠色或 藍色之外的顏色的像素。
[0070] 數(shù)據(jù)開關(guān)單元130設(shè)置在數(shù)據(jù)線D1至D8m和1C安裝區(qū)140中的數(shù)據(jù)焊盤DP的 輸出線01至04m之間。數(shù)據(jù)焊盤DP被鍵合至設(shè)置在1C安裝區(qū)140中的數(shù)據(jù)驅(qū)動單元。 將信號從焊盤單元180供應(yīng)到數(shù)據(jù)開關(guān)單元130的線可以包括例如接收第一數(shù)據(jù)控制信號 CLA和第二數(shù)據(jù)控制信號CLB的兩條線134a和134b。數(shù)據(jù)開關(guān)單元130包括第一數(shù)據(jù)開 關(guān)SW1和第二數(shù)據(jù)開關(guān)SW2。第一數(shù)據(jù)開關(guān)SW1設(shè)置在其中交替布置有紅色像素 R和藍色 像素 B的列中的奇數(shù)數(shù)據(jù)線Dl、D3...、D8m-l和輸出線01至04m之間，第二數(shù)據(jù)開關(guān)SW2設(shè) 置在其中布置有綠色像素 G的列中的偶數(shù)數(shù)據(jù)線D2、D4···、D8m和輸出線01至04m之間。 第一數(shù)據(jù)開關(guān)SW1的柵極共同連接到供應(yīng)第一數(shù)據(jù)控制信號CLA的線134a。第一端子中的 每個連接到奇數(shù)數(shù)據(jù)線Dl、D3?、D8m-l中的每條。第二端子中的每個連接到輸出線01至 04m中的每條。第二數(shù)據(jù)開關(guān)SW2的柵極共同連接到供應(yīng)第二數(shù)據(jù)控制信號CLB的線134b。 第一端子中的每個連接到偶數(shù)數(shù)據(jù)線D2、D4···、D8m中的每條，第二端子中的每個連接到輸 出線01至04m中的每條。
[0071] 在面板測試S4期間，數(shù)據(jù)開關(guān)單元130中的第一數(shù)據(jù)開關(guān)SW1和第二數(shù)據(jù)開關(guān) SW2經(jīng)由焊盤單元180接收用于保持截止狀態(tài)的第一數(shù)據(jù)控制信號CLA和第二數(shù)據(jù)控制信 號CLB，并且對應(yīng)地，數(shù)據(jù)開關(guān)單元130保持截止狀態(tài)。在完成面板測試S4之后，在驅(qū)動有 機發(fā)光顯示面板100來顯示圖像時，數(shù)據(jù)開關(guān)單元130經(jīng)由焊盤單元180接收用于保持導(dǎo) 通狀態(tài)的第一數(shù)據(jù)控制信號CLA和第二數(shù)據(jù)控制信號CLB，因此交替地導(dǎo)通。然后，數(shù)據(jù)開 關(guān)單元130向數(shù)據(jù)線D1至D8m發(fā)送從1C安裝區(qū)140中的數(shù)據(jù)驅(qū)動單元供應(yīng)的數(shù)據(jù)信號。 另外，在陣列測試S2期間，數(shù)據(jù)開關(guān)單元130中的第一數(shù)據(jù)開關(guān)SW1和第二數(shù)據(jù)開關(guān)SW2 根據(jù)經(jīng)由焊盤單元180的用于保持導(dǎo)通狀態(tài)的第一數(shù)據(jù)控制信號CLA和第二數(shù)據(jù)控制信號 CLB交替或同時地導(dǎo)通。然后，第一數(shù)據(jù)開關(guān)SW1和第二數(shù)據(jù)開關(guān)SW2向數(shù)據(jù)線D1至D8m 發(fā)送經(jīng)由探針引腳300從陣列測試焊盤ATP供應(yīng)的陣列測試信號AT_DATA。
[0072] 陣列測試單元150設(shè)置在1C安裝區(qū)140中的數(shù)據(jù)焊盤DPI至DP4m和線測試單元 160之間。陣列測試單元150包括解復(fù)用器152和多個陣列測試焊盤ATP1至ATPm。將信 號從焊盤單元180供應(yīng)到陣列測試單元150的線可以包括接收第一陣列測試控制信號AT_ A至第四陣列測試控制信號AT_D的四條線154a至154d。陣列測試控制信號可以包括面板 測試信號和線測試信號。
[0073] 解復(fù)用器152包括多個開關(guān)組SG1至SGm，開關(guān)組SG1至SGm中的每個包括多個陣 列測試開關(guān)AT_SW1至AT_SW4。陣列測試開關(guān)AT_SW1至AT_SW4中的每個的第一端子連接 到數(shù)據(jù)焊盤DPI至DP4m，陣列測試開關(guān)AT_SW1至AT_SW4中的每個的第二端子連接到陣列 測試焊盤ATP1至ATPm。開關(guān)組SG1至SGm中的每個開關(guān)組中的陣列測試開關(guān)AT_SW1至 AT_SW4將順序的數(shù)據(jù)焊盤DP連接到一個陣列測試焊盤ATP，順序的數(shù)據(jù)焊盤DP的數(shù)量與 陣列測試控制信號AT_A至AT_D的數(shù)量相同。因此，陣列測試焊盤ATP的數(shù)量可以減少至 少于數(shù)據(jù)焊盤DP的數(shù)量。因此，可以增大陣列測試焊盤ATP的大小和陣列測試焊盤ATP之 間的間隔。在根據(jù)圖4的示例性實施例中，開關(guān)組SG1至SGm中的每個將四個數(shù)據(jù)焊盤DP 連接到一個陣列測試焊盤ATP。因此，陣列測試焊盤ATP的數(shù)量可以減少至數(shù)據(jù)焊盤DP的 數(shù)量的1/4。
[0074] 第一陣列測試開關(guān)AT_SW1連接到第一數(shù)據(jù)焊盤DP1、DP5、.'DP4II1-3。第一陣列 測試開關(guān)AT_SW1的柵極共同連接到供應(yīng)第一陣列測試控制信號AT_A的線154a。第二陣列 測試開關(guān)AT_SW2連接到第二數(shù)據(jù)焊盤DP2、DP6、…、DP4m-2。第二陣列測試開關(guān)AT_SW2 的柵極共同連接到供應(yīng)第二陣列測試控制信號AT_B的線154b。第三陣列測試開關(guān)AT_SW3 連接到第三數(shù)據(jù)焊盤DP3、DP7、.'DP4II1-1。第三陣列測試開關(guān)AT_SW3的柵極共同連接到 供應(yīng)第三陣列測試控制信號AT_C的線154c。第四陣列測試開關(guān)AT_SW4連接到第四數(shù)據(jù)焊 盤DP4、DP8、…』?％!。第四陣列測試開關(guān)AT_SW4的柵極共同連接到供應(yīng)第四陣列測試控 制信號AT_D的線154d。
[0075] 陣列測試焊盤ATP1至ATPm是接觸陣列測試設(shè)備的探針引腳300的焊盤。數(shù)據(jù)焊 盤DP比陣列測試焊盤ATP相對小，數(shù)據(jù)焊盤DP之間的間隔比陣列測試焊盤ATP之間的間隔 相對小。因此，數(shù)據(jù)焊盤DP可以不以一對一為基礎(chǔ)接觸陣列測試設(shè)備的探針引腳300。相 反，根據(jù)本發(fā)明的示例性實施例，通過使用陣列測試開關(guān)AT_SW1至AT_SW4,陣列測試焊盤 ATP可以被形成為相對于數(shù)據(jù)焊盤DP的尺寸和數(shù)據(jù)焊盤DP之間的間隔具有較大尺寸和陣 列測試焊盤ATP之間的較大間隔。因此，陣列測試焊盤ATP可以以一對一為基礎(chǔ)接觸陣列 測試設(shè)備的探針引腳300,因此可以執(zhí)行陣列測試S2。陣列測試焊盤ATP從陣列測試設(shè)備 的探針引腳300接收陣列測試信號AT_DATA，向像素單元110發(fā)送陣列測試信號AT_DATA， 并且從像素電路110接收信號(例如，電流)。
[0076] 線測試單元160包括多個線測試開關(guān)SD_SW。線測試開關(guān)SD_SW的柵極共同連接 到供應(yīng)線測試控制信號TEST_GATE的線164a。線測試開關(guān)SD_SW中的每個的第一端子連接 到陣列測試焊盤ATP，線測試開關(guān)SD_SW中的每個的第二端子共同連接到供應(yīng)線測試信號 TEST_DATA的線164b。線測試單元160的線測試開關(guān)SD_SW在陣列測試S2期間接收用于 保持截止狀態(tài)的線測試控制信號TEST_GATE，并且對應(yīng)地，線測試單元160保持截止狀態(tài)。 在陣列測試S2之后的面板測試S4期間，線測試單元160可以對扇出單元200中的線執(zhí)行 短路或斷路測試。
[0077] 面板測試單元170包括連接到數(shù)據(jù)線D1至D8m的多個開關(guān)Ml至M5。例如，面板 測試單元170包括連接在第一數(shù)據(jù)線Dl、D5、…、D8m-3中的每個和第一面板測試信號線 174a之間的第一面板測試開關(guān)Ml、連接在第一數(shù)據(jù)線D1、D5、···、D8m-3中的每個和第二面 板測試信號線174b之間的第二面板測試開關(guān)M2、連接在第二數(shù)據(jù)線D3、D7、...、D8m-l和第 二面板測試信號線174b之間的第四面板測試開關(guān)M4、連接在第二數(shù)據(jù)線D3、D7、...、D8m-l 和第一面板測試信號線174a之間的第五面板測試開關(guān)M5、連接在第三數(shù)據(jù)線D2、D4、…、 D8m和第三面板測試信號線174c之間的第三面板測試開關(guān)M3。如這里描述的第一面板測 試信號線174a、第二面板測試信號線174b和第三面板測試信號線174c是在面板測試S4期 間分別從焊盤單元180接收包括例如紅色測試信號DC_R、藍色測試信號DC_B和綠色測試信 號DC_G (例如，DC信號）的面板測試信號的線。紅色測試信號DC_R、藍色測試信號0(：_8和 綠色測試信號DC_G經(jīng)由面板測試單元170供應(yīng)到數(shù)據(jù)線D1至D8m中的每條。
[0078] 第一面板測試開關(guān)Ml和第四面板測試開關(guān)M4的柵極共同連接到供應(yīng)第一面板測 試控制信號T_Gate_Cl的線174d。第二面板測試開關(guān)M2和第五面板測試開關(guān)M5的柵極共 同連接到供應(yīng)第二面板測試控制信號T_Gate_C2的線174e。第三面板測試開關(guān)M3的柵極 共同連接到供應(yīng)第三面板測試控制信號T_Gate_C3的線174f。
[0079] 紅色像素 R和藍色像素 B連接到一條數(shù)據(jù)線。因此，第一面板測試開關(guān)Ml和第四 面板測試開關(guān)M4以及第二面板測試開關(guān)M2和第五面板測試開關(guān)M5根據(jù)第一面板測試控 制信號T_Gate_Cl和第二面板測試控制信號T_Gate_C2交替地導(dǎo)通/截止，使得分別向紅 色像素 R和藍色像素 B供應(yīng)紅色測試信號DC_R和藍色測試信號DC_B。
[0080] 在執(zhí)行面板測試S4時，向第一面板測試開關(guān)Ml至第五面板測試開關(guān)M5的柵極供 應(yīng)用于保持第一面板測試開關(guān)Ml至第五面板測試開關(guān)M5處于導(dǎo)通狀態(tài)的面板測試控制信 號1'_6 &仏（例如，DC信號）。因此，在保持導(dǎo)通狀態(tài)的同時，第一面板測試開關(guān)Ml至第五面 板測試開關(guān)M5分別向第一數(shù)據(jù)線D1、D5、...、D8m-3、第二數(shù)據(jù)線D3、D7、...、D8m-l和第三 數(shù)據(jù)線D2、D4、…、D8m發(fā)送由第一面板測試信號線174a至第三面板測試信號線174c供應(yīng) 的紅色測試信號DC_R、藍色測試信號DC_B和綠色測試信號DC_G。
[0081] 掃描驅(qū)動電源VDD/VSS和掃描控制信號SCS被發(fā)送到掃描驅(qū)動單元120。然后，掃 描驅(qū)動單元120可以順序地產(chǎn)生掃描信號并且向像素單元110發(fā)送掃描信號。因此，接收 掃描信號和面板測試信號的像素發(fā)光以顯示圖像，因此可以執(zhí)行照明測試。
[0082] 在本發(fā)明的示例性實施例中，開關(guān)Ml至M5、SW1和SW2、AT_SW1至AT_SW4和SD_ SW都是PM0S晶體管。然而，本發(fā)明的示例性實施例不限于此。例如，上述所有開關(guān)都可以 是NM0S晶體管或者導(dǎo)電類型互不相同的晶體管。
[0083] 下文中，參照圖4,描述根據(jù)本發(fā)明的示例性實施例的陣列測試S2。
[0084] 一旦完成了陣列處理S1，就可以通過陣列測試設(shè)備的多個探針引腳300接觸面板 100中的陣列測試焊盤ATP。陣列測試設(shè)備向探針引腳300施加陣列測試信號AT-DATA(例 如，測試電壓)。線測試單元160的線測試開關(guān)SD-SW處于截止狀態(tài)。第一陣列測試開關(guān)AT_ SW1至第四陣列測試開關(guān)AT_SW4順序地導(dǎo)通，數(shù)據(jù)開關(guān)單元130中的第一數(shù)據(jù)開關(guān)SW1和 第二數(shù)據(jù)開關(guān)SW2順序或同時地導(dǎo)通。
[0085] 因此，在第一陣列測試開關(guān)AT_SW1和第一數(shù)據(jù)開關(guān)SW1導(dǎo)通時，陣列測試設(shè)備中 的多個探針引腳300接觸陣列測試焊盤ATP，并且經(jīng)由陣列測試焊盤ATP向像素單元110的 第一組諸如(例如）第一列、第九列、第十七列…施加陣列測試信號AT_DATA。
[0086] 掃描驅(qū)動電源VDD/VSS和掃描控制信號SCS被發(fā)送到掃描驅(qū)動單元120。然后，掃 描驅(qū)動單元120可以順序地產(chǎn)生掃描信號并且將掃描信號發(fā)送到像素單元110。因此，陣列 測試信號at_data被供應(yīng)到像素的像素電路。
[0087] 然后，陣列測試設(shè)備中的多個探針引腳300可以再次接觸陣列測試焊盤ATP。響應(yīng) 于施加的陣列測試信號AT_DATA，檢測從第一組輸出的信號(例如，電流)，因此可以檢測有 缺陷的像素。
[0088] 同樣地，在第二陣列測試開關(guān)AT_SW2和第一數(shù)據(jù)開關(guān)SW1導(dǎo)通時，可以經(jīng)由陣列 測試焊盤ATP向像素單元110的第二組諸如(例如)第三列、第十一列、第十九列…施加陣列 測試信號AT_DATA。然后，經(jīng)由陣列測試焊盤ATP檢測從第二組輸出的信號(例如，電流)，因 此可以檢測有缺陷的像素。
[0089] 同樣，在陣列測試開關(guān)AT_SW1至AT_SW4以及第一數(shù)據(jù)開關(guān)SW1和第二數(shù)據(jù)開關(guān) SW2選擇性地導(dǎo)通時，可以向像素單元110的每列像素施加陣列測試信號AT_DATA。然后， 檢測信號(例如，電流)，因此可以檢測有缺陷的像素。
[0090] 在上述的示例性實施例中，第一數(shù)據(jù)開關(guān)SW1和第二數(shù)據(jù)開關(guān)SW2順序地導(dǎo)通。 然而，本發(fā)明的示例性實施例不限于此。例如，如果相鄰的像素列不共享一條數(shù)據(jù)線，則可 以通過同時導(dǎo)通第一數(shù)據(jù)開關(guān)SW1和第二數(shù)據(jù)開關(guān)SW2對相鄰的像素列同時執(zhí)行陣列測試 S2。另外，關(guān)于第一數(shù)據(jù)開關(guān)SW1和第二數(shù)據(jù)開關(guān)SW2以及陣列測試開關(guān)AT_SW1至AT_SW4 何時導(dǎo)通的時間不固定，并且可以變化。
[0091] 根據(jù)本發(fā)明的示例性實施例，已經(jīng)描述了由4:1解復(fù)用電路組成的陣列測試單 元。然而，本發(fā)明的示例性實施例不限于此。例如，響應(yīng)于利用不同的面板設(shè)計或不同的 陣列測試設(shè)備，可以通過調(diào)節(jié)陣列測試焊盤ATP之間的間隔構(gòu)造具有諸如(例如）2:1、3:1、 4:1、5:1等的各種尺寸的解復(fù)用電路。
[0092] 圖5是示出根據(jù)本發(fā)明的示例性實施例的對應(yīng)于有機發(fā)光顯示面板的比較示例 的平面圖。
[0093] 參照圖5,根據(jù)比較示例，有機發(fā)光顯示面板10包括像素單元11、掃描驅(qū)動單元 12、數(shù)據(jù)開關(guān)單元13、1C安裝區(qū)14、線測試單元16和面板測試單元17。
[0094] 像素單元11包括分別發(fā)射互不相同顏色的光的第一像素、第二像素和第三像素。 像素單元11具有以下結(jié)構(gòu)：第一像素和第二像素交替布置在同一列中，第三像素對齊地設(shè) 置在與其中布置有第一像素和第二像素的列相鄰的列中。例如，第一像素可以是發(fā)射紅光 的紅色像素 R，第二像素可以是發(fā)射藍光的藍色像素 B，第三像素可以是發(fā)射綠光的綠色像 素 G。圖5中示出的像素單元11中的像素的布置與在圖4的示例性實施例中示出的像素單 元110的像素的布置相同。因此，省略對其的詳細描述。
[0095] 數(shù)據(jù)開關(guān)單元13設(shè)置在數(shù)據(jù)線D1至D8m和1C安裝區(qū)14中的輸出線01至04m 之間。通過利用例如COG法將數(shù)據(jù)焊盤DP鍵合并且電連接到數(shù)據(jù)驅(qū)動單元。數(shù)據(jù)開關(guān)單 元13包括：設(shè)置在第一數(shù)據(jù)線D1、D3、...、D8m-l和輸出線01至04m之間的第一數(shù)據(jù)開關(guān) SW1，第一數(shù)據(jù)線Dl、D3、…、D8m-1布置在其中交替布置有紅色像素 R和藍色像素 B的列 中；以及設(shè)置在第二數(shù)據(jù)線D2、D4、…、D8m和輸出線01至04m之間的第二數(shù)據(jù)開關(guān)SW2， 第二數(shù)據(jù)線D2、D4、…、D8m布置在其中布置有綠色像素 G的列中。第一數(shù)據(jù)開關(guān)SW1的柵 極共同連接到供應(yīng)第一數(shù)據(jù)控制信號CLA的線13a。第二數(shù)據(jù)開關(guān)SW2的柵極共同連接到 供應(yīng)第二數(shù)據(jù)控制信號CLB的線13b。
[0096] 當有機發(fā)光顯示面板10正常操作時，數(shù)據(jù)開關(guān)單元13中的第一數(shù)據(jù)開關(guān)SW1和 第二數(shù)據(jù)開關(guān)SW2根據(jù)第一數(shù)據(jù)控制信號CLA和第二數(shù)據(jù)控制信號CLB交替地導(dǎo)通。然后， 第一數(shù)據(jù)開關(guān)SW1和第二數(shù)據(jù)開關(guān)SW2可以向像素單元11發(fā)送由1C安裝區(qū)14中的數(shù)據(jù) 驅(qū)動單元供應(yīng)的數(shù)據(jù)信號。
[0097] 線測試單元16包括用于對扇出單元20中的線執(zhí)行短路或斷路測試的多個線測 試開關(guān)SD_SW。線測試開關(guān)SD_SW的柵極共同連接到供應(yīng)線測試控制信號TEST_GATE的線 16a。線測試開關(guān)SD_SW中的每個的第一端子連接到1C安裝區(qū)14中的數(shù)據(jù)焊盤DP。奇數(shù) 線測試開關(guān)SD_SW的第二端子共同連接到供應(yīng)第一線測試信號TEST_DATA1的線16b。偶數(shù) 線測試開關(guān)SD_SW的第二端子共同連接到供應(yīng)第二線測試信號TEST_DATA2的線16c。線 測試開關(guān)SD_SW在線測試期間接收用于保持導(dǎo)通狀態(tài)的線測試控制信號TEST_GATE，并且 對應(yīng)地，線測試單元16保持導(dǎo)通狀態(tài)。另外，向奇數(shù)線測試開關(guān)SD_SW供應(yīng)第一線測試信 號TEST_DATA1，向偶數(shù)線測試開關(guān)SD_SW供應(yīng)第二線測試信號TEST_DATA2。第一線測試信 號TEST_DATA1可以是用于顯示白色的白數(shù)據(jù)，第二線測試信號TEST_DATA2可以是用于顯 示黑色的黑數(shù)據(jù)。通過向扇出單元20中的相鄰線供應(yīng)不同信號，可以檢測扇出單元20中 的相鄰線之間的短路或各線中的斷路。
[0098] 面板測試單元17包括用于面板測試的多個面板測試開關(guān)Ml至M5。第一面板測試 開關(guān)Ml和第四面板測試開關(guān)M4的柵極共同連接到供應(yīng)第一面板測試控制信號T_Gate_Cl 的線17d。第二面板測試開關(guān)M2和第五面板測試開關(guān)M5的柵極共同連接到供應(yīng)第二面板 測試控制信號T_Gate_C2的線17e。第三面板測試開關(guān)M3的柵極共同連接到供應(yīng)第三面板 測試控制信號T_Gate_C3的線17f。面板測試開關(guān)Ml至M5還連接到面板測試信號線17a、 17b 和 17c。
[0099] 紅色像素 R和藍色像素 B連接到一條數(shù)據(jù)線。第一面板測試開關(guān)Ml和第四面板 測試開關(guān)M4以及第二面板測試開關(guān)M2和第五面板測試開關(guān)M5根據(jù)第一面板測試控制信 號T_Gate_Cl和第二面板測試控制信號T_Gate_C2交替地導(dǎo)通/截止。因此，分別向紅色 像素 R和藍色像素 B供應(yīng)紅色測試信號DC_R和藍色測試信號DC_B。如果第三面板測試開 關(guān)M3根據(jù)第三面板測試控制信號T_Gate_C3導(dǎo)通，則分別向綠色像素 G供應(yīng)綠色測試信號 DC_G〇
[0100] 至于圖5的有機發(fā)光顯示面板10,線測試單元16直接連接到1C安裝區(qū)14中的數(shù) 據(jù)焊盤DP。因此，為了檢測扇出單元20中的相鄰線之間的短路或各線中的斷路，使用兩個 線測試信號 TEST_DATA1 和 TEST_DATA2。
[0101] 另外，圖5的有機發(fā)光顯示面板10不包括執(zhí)行陣列測試的另外電路單元。因此，在 單元處理之前，不利用電路單元執(zhí)行針對像素電路的陣列測試。另外，為了執(zhí)行陣列測試， 使用1C安裝區(qū)14中的數(shù)據(jù)焊盤DP和陣列測試設(shè)備之間的接觸。然而，隨著顯示設(shè)備的分 辨率增大，從而，像素的數(shù)量和數(shù)據(jù)線的數(shù)量增加，數(shù)據(jù)焊盤DP的數(shù)量也增加。因此，數(shù)據(jù) 焊盤DP的尺寸變小，數(shù)據(jù)焊盤DP之間的間隔（例如，間距）變窄。因此，陣列測試設(shè)備的探 針引腳300和數(shù)據(jù)焊盤DP不會以一對一為基礎(chǔ)彼此接觸。
[0102] 相比之下，如圖4中所示，根據(jù)本發(fā)明的示例性實施例，有機發(fā)光顯示面板100包 括在1C安裝區(qū)140和線測試單元160之間用于執(zhí)行陣列測試S2的陣列測試單元150。陣 列測試單元150包括解復(fù)用器152,解復(fù)用器152包括多個陣列測試開關(guān)AT_SW1至AT_SW4。 因此，通過將兩個或更多個數(shù)據(jù)焊盤DP彼此連接，形成一個陣列測試焊盤ATP。因此，通過 減少陣列測試焊盤ATP的數(shù)量并且形成比數(shù)據(jù)焊盤大的陣列測試焊盤ATP，可以形成具有 對于測試足夠的尺寸的陣列測試焊盤ATP，陣列測試焊盤ATP之間的間距可以變寬。因此， 陣列測試設(shè)備中的探針引腳300可以以一對一為基礎(chǔ)接觸陣列測試焊盤ATP，可以提高在 執(zhí)行陣列測試期間的接觸準確度。
[0103] 因此，根據(jù)本發(fā)明的示例性實施例，有機發(fā)光顯示面板100選擇性地導(dǎo)通多個陣 列測試開關(guān)AT_SW1至AT_SW4。因此，即使當只向線測試單元160供應(yīng)一個線測試信號 TEST_DATA時，有機發(fā)光顯示面板100也可以向扇出單元200中的相鄰線供應(yīng)不同的信號， 因此可以檢測扇出單元200中的相鄰線之間的短路或各線中的斷路。因此，可以減少供應(yīng) 線測試信號的焊盤的數(shù)量。
[0104] 圖6是示出圖2的有機發(fā)光顯示面板的示例性實施例的平面圖。
[0105] 參照圖6,有機發(fā)光顯示面板100'將與圖4的有機發(fā)光顯示面板100相同，除了有 機發(fā)光顯示面板100'采用紅色測試信號DC_R、藍色測試信號DC_B、綠色測試信號DC_G(例 如，DC信號）和現(xiàn)有的第二線測試信號TEST_DATA2作為施加到陣列測試單元150'中的解 復(fù)用器152'的第一陣列測試控制信號AT_A至第四陣列測試控制信號AT_D之外。為了便 于說明，可以省略對之前參照圖4描述的元件和操作的詳細描述。
[0106] 為了驅(qū)動圖4中示出的有機發(fā)光顯示面板100中的陣列測試單元150,利用包括第 一陣列測試控制信號AT_A至第四陣列測試控制信號AT_D的四種信號。因此，進一步設(shè)置 用于供應(yīng)第一陣列測試控制信號AT_A至第四陣列測試控制信號AT_D的焊盤P。
[0107] 相比之下，根據(jù)圖6的示例性實施例，有機發(fā)光顯示面板100'中的陣列測試單元 150'采用紅色測試信號DC_R、藍色測試信號DC_B、綠色測試信號DC_G作為第一陣列測試控 制信號AT_A至第四陣列測試控制信號AT_D之中的三個陣列測試控制信號AT_A至AT_C。 陣列測試單元150'還采用被供應(yīng)到圖5中示出的線測試單元16的兩個線測試信號TEST_ DATA1和TEST_DATA2中的一個。例如，在圖6中，利用第二線測試信號TEST_DATA2。在示 例性實施例中，可以利用線測試信號TEST_DATA1來替代TEST_DATA2。也就是說，在圖6中， 第一陣列測試控制信號線154a至第四陣列測試控制信號線154d中的每條電連接到第一面 板測試信號線174a至第三面板測試信號線174c和線測試信號線164b，因此可以從每條線 接收測試控制信號。第一面板測試控制信號T_Gate_Cl至第三面板測試控制信號T_Gate_ C3保持第一面板測試開關(guān)Ml至第五面板測試開關(guān)M5處于截止狀態(tài)。因此，線測試控制信 號TEST_GATE保持線測試開關(guān)SD_SW處于截止狀態(tài)。
[0108] 例如，當焊盤單元180中的焊盤P之間的距離是大約300 μ m時，如果增加用于四 個陣列測試控制信號的四個焊盤P，則需要另外大約1200μπι的最小距離。然而，根據(jù)圖6 中示出的本發(fā)明的示例性實施例，有機發(fā)光顯示設(shè)備100'采用之前已經(jīng)被用作陣列測試 控制信號的測試信號。因此，在示例性實施例中，用于為陣列測試供應(yīng)另外信號的焊盤不是 必須的。
[0109] 因此，根據(jù)本發(fā)明的示例性實施例，即使顯示器的分辨率會增加并且焊盤單元中 用于形成焊盤的間隔可能不足夠，也可以執(zhí)行陣列測試，而不一定提供用于形成焊盤的另 外間隔。
[0110] 根據(jù)本發(fā)明的示例性實施例，可以通過在C0G安裝區(qū)下方的空間中形成解復(fù)用器 和比數(shù)據(jù)焊盤大的測試焊盤來執(zhí)行陣列測試。因此，可以檢測像素中的缺陷并且可以確定 陣列處理是否正常。因此，可以快速修復(fù)缺陷。
[0111] 另外，通過使用面板測試和線測試所采用的信號作為用于陣列測試的控制信號， 可以執(zhí)行陣列測試，而不一定形成另外的信號輸入焊盤。
[0112] 雖然已經(jīng)參照本發(fā)明的示例性實施例具體示出并描述了本發(fā)明，但本領(lǐng)域的普通 技術(shù)人員將理解的是，在不脫離由權(quán)利要求限定的本發(fā)明的精神和范圍的情況下，可以在 其中進行形式和細節(jié)上的各種改變。
【權(quán)利要求】
1. 一種有機發(fā)光顯示面板，所述有機發(fā)光顯示面板包括： 面板測試單元，連接到多條數(shù)據(jù)線的第一端，被構(gòu)造成輸出用于測試多個像素的面板 測試信號； 多個數(shù)據(jù)焊盤，連接到所述多條數(shù)據(jù)線的第二端；以及 陣列測試單元，被構(gòu)造成根據(jù)多個陣列測試控制信號向像素單元的像素列選擇性地施 加多個陣列測試信號，檢測從被施加所述多個陣列測試信號的像素列輸出的信號； 線測試單元，被構(gòu)造成輸出用于測試數(shù)據(jù)線的第二端中的斷路或短路的線測試信號。
2. 如權(quán)利要求1所述的有機發(fā)光顯示面板，其中，所述多個陣列測試控制信號包括面 板測試信號和線測試信號。
3. 如權(quán)利要求1所述的有機發(fā)光顯示面板，其中，陣列測試單元包括： 多個陣列測試焊盤，被構(gòu)造成接觸陣列測試設(shè)備的探針引腳并且接收所述多個陣列測 試信號；以及 解復(fù)用器，被構(gòu)造成將所述多個陣列測試焊盤之中的一個陣列測試焊盤連接到所述多 個數(shù)據(jù)焊盤，根據(jù)所述多個陣列測試控制信號向所述多個數(shù)據(jù)焊盤選擇性發(fā)送所述多個陣 列測試信號。
4. 如權(quán)利要求3所述的有機發(fā)光顯示面板，其中，解復(fù)用器包括多個陣列測試開關(guān)，每 個陣列測試開關(guān)具有與發(fā)送所述多個陣列測試控制信號的多條線中的一條線連接的柵極、 與所述多個數(shù)據(jù)焊盤中的一個連接的第一端子、與所述多個陣列測試焊盤中的一個連接的 ΛΑ~ -?上山-7* 弟一棲子。
5. 如權(quán)利要求4所述的有機發(fā)光顯示面板，其中，所述多個陣列測試開關(guān)包括： 多個第一陣列測試開關(guān)，具有與供應(yīng)來自所述多個陣列測試控制信號之中的第一陣列 測試控制信號的線共同連接的柵極； 多個第二陣列測試開關(guān)，具有與供應(yīng)來自所述多個陣列測試控制信號之中的第二陣列 測試控制信號的線共同連接的柵極； 多個第三陣列測試開關(guān)，具有與供應(yīng)來自所述多個陣列測試控制信號之中的第三陣列 測試控制信號的線共同連接的柵極； 多個第四陣列測試開關(guān)，具有與供應(yīng)來自所述多個陣列測試控制信號之中的第四陣列 測試控制信號的線共同連接的柵極。
6. 如權(quán)利要求3所述的有機發(fā)光顯示面板，其中，解復(fù)用器包括多個開關(guān)組，所述多個 開關(guān)組將所述多個數(shù)據(jù)焊盤之中的順序的數(shù)據(jù)焊盤連接到所述多個陣列測試焊盤之中的 一個陣列測試焊盤，其中，順序的數(shù)據(jù)焊盤的數(shù)量與陣列測試控制信號的數(shù)量相同， 各開關(guān)組包括多個陣列測試開關(guān)，各陣列測試開關(guān)具有與供應(yīng)陣列測試控制信號中的 一種陣列測試控制信號的線連接的柵極，各開關(guān)組中的所述多個陣列測試開關(guān)被構(gòu)造成響 應(yīng)于所述多個陣列測試控制信號順序地導(dǎo)通。
7. 如權(quán)利要求2所述的有機發(fā)光顯示面板，其中，線測試單元包括多個線測試開關(guān)，所 述多個線測試開關(guān)具有與供應(yīng)線測試控制信號的線共同連接的柵極、分別與多個陣列測試 焊盤連接的第一端子、被構(gòu)造成接收線測試信號的第二端子。
8. 如權(quán)利要求1所述的有機發(fā)光顯示面板，其中，在陣列測試單元執(zhí)行陣列測試時，線 測試單元保持截止狀態(tài)。
9. 如權(quán)利要求1所述的有機發(fā)光顯示面板，所述有機發(fā)光顯示面板還包括被構(gòu)造成向 像素單元的多個像素列選擇性施加多個數(shù)據(jù)信號的數(shù)據(jù)開關(guān)單元，其中，通過所述多個數(shù) 據(jù)焊盤輸出所述多個數(shù)據(jù)信號并且像素列是所述多個像素列中的一個。
10. 如權(quán)利要求1所述的有機發(fā)光顯示面板，所述有機發(fā)光顯示面板還包括數(shù)據(jù)驅(qū)動 單元，數(shù)據(jù)驅(qū)動單元借助玻璃上芯片法鍵合至所述多個數(shù)據(jù)焊盤并且被構(gòu)造成向所述多條 數(shù)據(jù)線施加多個數(shù)據(jù)信號。
【文檔編號】G09G3/32GK104217672SQ201410086791
【公開日】2014年12月17日 申請日期:2014年3月11日 優(yōu)先權(quán)日:2013年5月31日
【發(fā)明者】金知惠 申請人:三星顯示有限公司