用于識(shí)別電子電路中的缺陷的裝置及方法
【專(zhuān)利摘要】本發(fā)明公開(kāi)用于在防止大規(guī)模面板損壞的同時(shí)保持用于面板檢測(cè)（即，像素及線缺陷探測(cè)）的可靠和可再現(xiàn)狀態(tài)的技術(shù)。一種實(shí)施形式涉及到一種用于識(shí)別電子電路中的缺陷的裝置，所述裝置包含：電路驅(qū)動(dòng)模塊，用以對(duì)所述電子電路施加電性測(cè)試信號(hào)；缺陷探測(cè)模塊，用以至少根據(jù)所施加的所述電性測(cè)試信號(hào)來(lái)識(shí)別所述電子電路中的所述缺陷；信號(hào)監(jiān)測(cè)模塊，用以在所述電子電路處測(cè)量所述電性測(cè)試信號(hào)；以及控制模塊，可操作地耦合至所述信號(hào)監(jiān)測(cè)模塊及所述電路驅(qū)動(dòng)模塊，并用以根據(jù)在所述電子電路處測(cè)量的所述電性測(cè)試信號(hào)來(lái)控制至少所述電路驅(qū)動(dòng)模塊。
【專(zhuān)利說(shuō)明】用于識(shí)別電子電路中的缺陷的裝置及方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明大體而言涉及對(duì)電子器件的電性檢測(cè)領(lǐng)域，且具體而言，涉及對(duì)剛性及撓性液晶(Liquid Crystal ;LC)顯示器和有機(jī)發(fā)光二極管(Organic Light Emitting Diode ；OLED)顯示器的檢測(cè)以及用于檢測(cè)和缺陷探測(cè)的系統(tǒng)。

【背景技術(shù)】
[0002]液晶顯示器(Liquid Crystal Display ;LCD)面板包含具有電場(chǎng)相依光調(diào)制特性(electric-field dependent light modulating property)的液晶。液晶顯示器面板最常用于在從傳真機(jī)、手機(jī)、平板計(jì)算機(jī)及膝上型計(jì)算機(jī)屏幕到大屏幕高清晰度電視在內(nèi)的各種器件中顯示圖像及其他信息。有源矩陣LCD面板是由幾個(gè)功能層組成的復(fù)雜分層結(jié)構(gòu):一個(gè)或多個(gè)偏光膜層；TFT玻璃基板，包含有薄膜晶體管、存儲(chǔ)電容器、像素電極及互連件，所述互連件配接彩色濾光片玻璃基板與透明共用電極，所述彩色濾光片玻璃基板包含有黑色矩陣及彩色濾光片陣列；取向膜，由聚酰亞胺制成；以及實(shí)際液晶材料，包含有塑料/玻璃間隔件以保持適當(dāng)?shù)腎XD單元厚度。
[0003]IXD面板是在潔凈室環(huán)境中在高度受控狀態(tài)下制造以使良率最大化。盡管如此，某些LCD可能因組裝產(chǎn)品中的制造瑕疵而不得不被丟棄。
[0004]為提高LCD面板生產(chǎn)良率，在LCD面板的整個(gè)制造過(guò)程期間實(shí)施多個(gè)檢測(cè)與修復(fù)步驟。在這些步驟當(dāng)中，最關(guān)鍵的檢測(cè)步驟之一是陣列測(cè)試(在TFT陣列制作過(guò)程結(jié)束時(shí)執(zhí)行的電性檢測(cè)步驟)。
[0005]LCD制造商當(dāng)前可在市場(chǎng)上獲得幾種常規(guī)陣列測(cè)試技術(shù)，其中最流行的當(dāng)數(shù)如例如以引用方式全文并入本文中的美國(guó)專(zhuān)利4，983,911中所述使用電光換能器(調(diào)制器)的電性LCD檢測(cè)。一個(gè)此種類(lèi)型的實(shí)例性LCD檢測(cè)器件是可自位于美國(guó)加利福尼亞州圣何塞市的光子動(dòng)力(Photon Dynamics)公司(一家?jiàn)W寶公司)購(gòu)得的陣列檢查器(Array Checker)。具體而言，上述陣列檢查器檢測(cè)系統(tǒng)采用一種叫做“電壓成像(VOLTAGE IMAGING ) κ ’的方法，所述方法利用基于反射型液晶的調(diào)制器來(lái)測(cè)量個(gè)別TFT陣列像素上的電壓。在通過(guò)陣列檢查器來(lái)對(duì)TFT陣列進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，通過(guò)測(cè)試圖案(test pattern)產(chǎn)生器子系統(tǒng)來(lái)對(duì)受測(cè)試TFT面板施加驅(qū)動(dòng)電壓圖案(voltage pattern),并通過(guò)使上述電光調(diào)制器的位置緊密靠近受測(cè)試TFT陣列(通常相距大約50微米)并使其經(jīng)受高壓方波電壓圖案來(lái)測(cè)量所得面板像素電壓。例如，被施加至調(diào)制器的電壓方波圖案的振幅可為300V、頻率60Hz。由于電光調(diào)制器靠近被施加有驅(qū)動(dòng)電壓的受測(cè)試TFT陣列的像素，在檢測(cè)系統(tǒng)的電光調(diào)制器兩端會(huì)形成電位，所述電位迫使調(diào)制器中的液晶改變其電場(chǎng)相依空間取向，從而局部地改變其透過(guò)調(diào)制器的光透射率。換句話說(shuō)，調(diào)制器的光透射率可表示與其靠近的陣列像素上的電壓。為捕獲發(fā)生改變的調(diào)制器透射率，使用光脈沖來(lái)照射調(diào)制器并使由承受面板電壓的調(diào)制器反射的光成像至電壓成像光學(xué)子系統(tǒng)(voltageimaging optical subsystem ;V10S)照相機(jī)上,所述照相機(jī)獲取所得圖像并使其數(shù)字化。上述光脈沖的持續(xù)時(shí)間可為例如I毫秒。一種用于將原始電壓圖像轉(zhuǎn)換成LCD像素圖(map)并使用所述圖來(lái)探測(cè)缺陷的實(shí)例性系統(tǒng)及方法闡述于以引用方式全文并入本文中的第7，212，024號(hào)美國(guó)專(zhuān)利中。
[0006]然而，由于根據(jù)常規(guī)檢測(cè)技術(shù)，在檢測(cè)期間被施加至受測(cè)試TFT面板的驅(qū)動(dòng)電壓不被連續(xù)監(jiān)測(cè)或控制，因而任何測(cè)試圖案產(chǎn)生器子系統(tǒng)漂移或系統(tǒng)或面板狀態(tài)的變化均可導(dǎo)致各順次的TFT面板在不同狀態(tài)下受到檢測(cè)或在檢測(cè)過(guò)程期間不知不覺(jué)地被損壞。在沒(méi)有實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)的情況下，缺陷探測(cè)精度及可重復(fù)性的變化將無(wú)人知曉，直到面板到達(dá)制造工廠中的組立工藝(cell process)為止。到問(wèn)題在組立工藝中被發(fā)現(xiàn)的時(shí)候，成千上萬(wàn)的面板可能已被損壞或在次于最佳狀態(tài)下被檢測(cè)，從而給制造商帶來(lái)經(jīng)濟(jì)損失。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]本發(fā)明涉及用于實(shí)質(zhì)上消除一個(gè)或多個(gè)與用于檢測(cè)電子電路的常規(guī)技術(shù)相關(guān)聯(lián)的上述及其他問(wèn)題的方法及系統(tǒng)。
[0008]根據(jù)本文所述實(shí)施例的一個(gè)方面，提供一種用于識(shí)別電子電路中的缺陷的裝置，所述裝置包含:電路驅(qū)動(dòng)模塊，用以對(duì)所述電子電路施加電性測(cè)試信號(hào)；缺陷探測(cè)模塊，用以至少根據(jù)所施加的所述電性測(cè)試信號(hào)來(lái)識(shí)別所述電子電路中的所述缺陷；信號(hào)監(jiān)測(cè)模塊，用以在所述電子電路處測(cè)量所述電性測(cè)試信號(hào)；以及控制模塊，可操作地耦合至所述信號(hào)監(jiān)測(cè)模塊及所述電路驅(qū)動(dòng)模塊，并用以根據(jù)在所述電子電路處測(cè)量的所述電性測(cè)試信號(hào)來(lái)控制至少所述電路驅(qū)動(dòng)模塊。
[0009]在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例中，所述電性測(cè)試信號(hào)通過(guò)力線被施加至所述電子電路，且其中所述信號(hào)監(jiān)測(cè)模塊在所述力線處測(cè)量所述電性測(cè)試信號(hào)。
[0010]在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例中，所述監(jiān)測(cè)模塊在電性連接至所述電子電路的返回線處測(cè)量所述電性測(cè)試信號(hào)。
[0011]在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例中，所述信號(hào)監(jiān)測(cè)模塊測(cè)量所述電性測(cè)試信號(hào)的電壓。
[0012]在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例中，所述控制模塊根據(jù)由所述信號(hào)監(jiān)測(cè)模塊測(cè)量的所述電性測(cè)試信號(hào)的所述電壓來(lái)控制所述電路驅(qū)動(dòng)模塊的輸出電壓。
[0013]在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例中，所述信號(hào)監(jiān)測(cè)模塊測(cè)量所述電性測(cè)試信號(hào)的電流。
[0014]在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例中，所述控制模塊根據(jù)由所述信號(hào)監(jiān)測(cè)模塊測(cè)量的所述電性測(cè)試信號(hào)的所述電流來(lái)控制所述電路驅(qū)動(dòng)模塊的輸出電流。
[0015]在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例中，所述控制模塊還根據(jù)所述缺陷探測(cè)模塊的輸出來(lái)控制所述電路驅(qū)動(dòng)模塊。
[0016]在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例中，所述控制模塊在預(yù)定參數(shù)范圍內(nèi)控制所述電路驅(qū)動(dòng)模塊的至少一個(gè)參數(shù)。
[0017]在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例中，所述控制模塊控制所述電路驅(qū)動(dòng)模塊的至少一個(gè)參數(shù)以補(bǔ)償由所述電路驅(qū)動(dòng)模塊對(duì)所述電子電路施加的所述電性測(cè)試信號(hào)的漂移。
[0018]在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例中，所述控制模塊控制所述電路驅(qū)動(dòng)模塊的至少一個(gè)參數(shù)以補(bǔ)償所述電子電路的至少一種狀態(tài)的變化。
[0019]在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例中，所述控制模塊還根據(jù)在所述電子電路處測(cè)量的所述電性測(cè)試信號(hào)來(lái)控制所述缺陷探測(cè)模塊。
[0020]在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例中，所述信號(hào)監(jiān)測(cè)模塊用以在所述電子電路處連續(xù)測(cè)量所述電性測(cè)試信號(hào)。
[0021]根據(jù)本文所述實(shí)施例的另一方面，提供一種用于識(shí)別電子電路中的缺陷的裝置，所述裝置包括:電路驅(qū)動(dòng)模塊，用以對(duì)所述電子電路施加電性測(cè)試信號(hào)；缺陷探測(cè)模塊，用以至少根據(jù)所施加的所述電性測(cè)試信號(hào)來(lái)識(shí)別所述電子電路中的所述缺陷；信號(hào)監(jiān)測(cè)模塊，用以在所述電子電路處測(cè)量所述電性測(cè)試信號(hào)；以及信號(hào)分析模塊，可操作地耦合至所述信號(hào)監(jiān)測(cè)模塊，并用以分析所測(cè)量的所述電性測(cè)試信號(hào)并且判定是否已發(fā)生對(duì)所述電子電路的損壞。
[0022]在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例中，所述電性測(cè)試信號(hào)通過(guò)力線被施加至所述電子電路，且其中所述信號(hào)監(jiān)測(cè)模塊在所述力線處測(cè)量所述電性測(cè)試信號(hào)。
[0023]在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例中，所述信號(hào)監(jiān)測(cè)模塊在電性連接至所述電子電路的返回線處測(cè)量所述電性測(cè)試信號(hào)。
[0024]在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例中，所述信號(hào)監(jiān)測(cè)模塊測(cè)量所述電性測(cè)試信號(hào)的電壓。
[0025]在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例中，所述信號(hào)監(jiān)測(cè)模塊測(cè)量所述電性測(cè)試信號(hào)的電流。
[0026]根據(jù)本文所述實(shí)施例的另一方面，提供一種用于識(shí)別電子電路中的缺陷的方法，所述方法涉及到:對(duì)所述電子電路施加電性測(cè)試信號(hào)；至少根據(jù)所施加的所述電性測(cè)試信號(hào)來(lái)識(shí)別所述電子電路中的所述缺陷；在所述電子電路處測(cè)量所述電性測(cè)試信號(hào)；以及根據(jù)在所述電子電路處測(cè)量的所述電性測(cè)試信號(hào)來(lái)控制被施加至所述電子電路的所述電性測(cè)試信號(hào)。
[0027]在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例中，所述電性測(cè)試信號(hào)通過(guò)力線被施加至所述電子電路，且其中所述電性測(cè)試信號(hào)在所述力線處被測(cè)量。
[0028]在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例中，所述電性測(cè)試信號(hào)在電性連接至所述電子電路的返回線處被測(cè)量。
[0029]在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例中，所述電性測(cè)試信號(hào)包括測(cè)量所述電性測(cè)試信號(hào)的電壓。
[0030]在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例中，測(cè)量所述電性測(cè)試信號(hào)包括測(cè)量所述電性測(cè)試信號(hào)的電流。
[0031]與本發(fā)明相關(guān)的其他方面將部分地闡述于接下來(lái)的說(shuō)明中，且部分地將根據(jù)本說(shuō)明顯而易見(jiàn)，或者可通過(guò)實(shí)踐本發(fā)明而獲悉。本發(fā)明的各個(gè)方面可通過(guò)以下詳細(xì)說(shuō)明及隨附權(quán)利要求書(shū)中具體指出的元件及各種元件與方面的組合來(lái)實(shí)現(xiàn)及獲得。
[0032]應(yīng)理解，以上及以下說(shuō)明僅為實(shí)例性及說(shuō)明性的，而非旨在以任何方式限制所主張的發(fā)明或發(fā)明申請(qǐng)。

【專(zhuān)利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0033]并入本發(fā)明書(shū)中且構(gòu)成本說(shuō)明書(shū)的一部分的隨附圖式例示本發(fā)明的實(shí)施例，且與本說(shuō)明一起，用來(lái)解釋并舉例說(shuō)明本發(fā)明技術(shù)的原理。具體為:
[0034]圖1例示一種用于根據(jù)對(duì)檢測(cè)系統(tǒng)與受測(cè)試顯示面板之間力線或感測(cè)線上的信號(hào)進(jìn)行監(jiān)測(cè)來(lái)進(jìn)行測(cè)試圖案產(chǎn)生器漂移補(bǔ)償?shù)南到y(tǒng)的實(shí)例性實(shí)施例；
[0035]圖2例示一種用于根據(jù)對(duì)檢測(cè)系統(tǒng)與受測(cè)試顯示面板之間力線或感測(cè)線上的信號(hào)進(jìn)行監(jiān)測(cè)來(lái)進(jìn)行測(cè)試圖案產(chǎn)生器漂移補(bǔ)償?shù)南到y(tǒng)的另一實(shí)例性實(shí)施例以及閉環(huán)控制機(jī)制；
[0036]圖3例示被施加至受測(cè)試面板的典型電壓方波形、在力線上測(cè)量的電流以及被損壞的顯示面板跡線處的電流圖案(current pattern)的實(shí)例；以及
[0037]圖4例示控制環(huán)的實(shí)例性實(shí)施例的簡(jiǎn)化方塊圖。
[0038]主要元件標(biāo)記說(shuō)明
[0039]101:可編程器件
[0040]102:數(shù)字-模擬轉(zhuǎn)換器
[0041]103:放大器電路
[0042]104:力線
[0043]105:電壓測(cè)量電路
[0044]106:電流測(cè)量電路
[0045]107:多路復(fù)用器
[0046]108:數(shù)字-模擬轉(zhuǎn)換器
[0047]109:查找表
[0048]210:面板檢測(cè)結(jié)果
[0049]301:方波
[0050]302:可預(yù)測(cè)的和可重復(fù)的形狀
[0051]303:被損壞的面板電流軌跡
[0052]401:檢測(cè)頭
[0053]402:受測(cè)試器件
[0054]403:數(shù)據(jù)處理單元
[0055]404:可編程器件
[0056]405:子系統(tǒng)供應(yīng)單元I
[0057]406:子系統(tǒng)供應(yīng)單元2

【具體實(shí)施方式】
[0058]在以下詳細(xì)說(shuō)明中，將參考附圖，在各附圖中，以相同的編號(hào)表示相同的功能元件。上述附圖以舉例說(shuō)明方式而非以限制方式顯示與本發(fā)明原理相一致的特定實(shí)施例及實(shí)施形式。這些實(shí)施形式被充分地詳細(xì)說(shuō)明，以使所屬領(lǐng)域的技術(shù)人員能夠?qū)嵺`本發(fā)明，且應(yīng)理解，可利用其他實(shí)施形式且可在不背離本發(fā)明的范圍及精神的情況下對(duì)各種元件作出結(jié)構(gòu)改變及/或替換。因此，以下詳細(xì)說(shuō)明不應(yīng)被解釋為具有限制意義。另外，所述本發(fā)明各實(shí)施例可以在通用計(jì)算機(jī)上運(yùn)行的軟件形式、以專(zhuān)用硬件形式或以軟件與硬件的任一組合形式來(lái)實(shí)施。
[0059]本發(fā)明各個(gè)方面提供用于在防止大規(guī)模面板損壞的同時(shí)保持用于面板檢測(cè)(SP，像素及線缺陷探測(cè))的可靠及可再現(xiàn)狀態(tài)的技術(shù)。在沒(méi)有此類(lèi)控制及監(jiān)測(cè)的情況下，各個(gè)順次的面板可能會(huì)在不同狀態(tài)下受到檢測(cè)或者在檢測(cè)過(guò)程期間不知不覺(jué)地被損壞。在沒(méi)有實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)的情況下，缺陷探測(cè)精度及可重復(fù)性的變化將無(wú)人知曉，直到所述面板到達(dá)制造工廠中的組立工藝為止。到問(wèn)題在組立工藝中被發(fā)現(xiàn)時(shí)，成千上萬(wàn)面板可能已被損壞或在次于最佳的狀態(tài)下被檢測(cè)，從而給制造商帶來(lái)經(jīng)濟(jì)損失。
[0060]所述本發(fā)明各實(shí)施例提供一種用于檢測(cè)系統(tǒng)的閉環(huán)控制機(jī)制及一種用于實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)受測(cè)試顯示器的方法。本文所述發(fā)明概念適用于檢測(cè)包含LCD及OLED(均既可為剛性也可為撓性)顯示器在內(nèi)的所有類(lèi)型的顯示器。本發(fā)明實(shí)施例也不依賴(lài)背板(backplane)技術(shù)，例如，在顯示器中所使用的a-S1、LTPS、IGZO。
[0061]在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例中，對(duì)受測(cè)試顯示器的監(jiān)測(cè)可使用本文所述“力線”監(jiān)測(cè)或“感測(cè)線”監(jiān)測(cè)兩種方式來(lái)執(zhí)行。閉環(huán)控制也可使用來(lái)自系統(tǒng)的各種測(cè)量值(例如，檢測(cè)部位電壓、缺陷對(duì)比度等)作為控制環(huán)的輸入數(shù)據(jù)來(lái)設(shè)置，以動(dòng)態(tài)調(diào)整面板測(cè)試狀態(tài)。
[0062]在力線監(jiān)測(cè)技術(shù)的一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例中，在傳送至受測(cè)試面板的模擬驅(qū)動(dòng)信號(hào)的輸出處執(zhí)行測(cè)量。這些信號(hào)通過(guò)通常被稱(chēng)作“力線”的信號(hào)路徑被供應(yīng)至面板。通過(guò)在測(cè)試期間連續(xù)監(jiān)測(cè)力線，可實(shí)時(shí)調(diào)整模擬驅(qū)動(dòng)通道輸出，以補(bǔ)償任何測(cè)試圖案產(chǎn)生器子系統(tǒng)漂移或面板狀態(tài)變化。由此得到對(duì)于每一受測(cè)試面板而言均更加穩(wěn)定的面板驅(qū)動(dòng)狀態(tài)。
[0063]如所屬領(lǐng)域的技術(shù)人員將了解，在沒(méi)有上述控制及監(jiān)測(cè)的情況下，如果在測(cè)試圖案產(chǎn)生器子系統(tǒng)中存在任何漂移，則各順次的面板可能會(huì)在略微不同的驅(qū)動(dòng)狀態(tài)下接受測(cè)試。相反，通過(guò)實(shí)施下面詳細(xì)闡述的閉環(huán)控制，對(duì)所有面板的檢測(cè)均將在盡可能幾乎相同的驅(qū)動(dòng)狀態(tài)下進(jìn)行。
[0064]另一方面，在感測(cè)線監(jiān)測(cè)技術(shù)的實(shí)施例中，在連接至受測(cè)試面板的返回線處執(zhí)行測(cè)量。此返回線通常被稱(chēng)作“感測(cè)線”?？蓪?duì)此感測(cè)線進(jìn)行監(jiān)測(cè)，以探測(cè)受測(cè)試顯示面板的特性的任何變化。受測(cè)試顯示面板的變化可因面板內(nèi)的故障(例如，接觸焊墊燒壞)或測(cè)試圖案產(chǎn)生器子系統(tǒng)內(nèi)的漂移而引起。
[0065]下面更詳細(xì)地闡述上述力線監(jiān)測(cè)技術(shù)。在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例中，可使用感測(cè)線來(lái)實(shí)施同一類(lèi)型的監(jiān)測(cè)，但這需要具有用于將檢測(cè)系統(tǒng)連接至受測(cè)試面板的附加信號(hào)路徑。另一方面，力線監(jiān)測(cè)將提供與感測(cè)線監(jiān)測(cè)相同的有益效果，而無(wú)需添加上述額外信號(hào)通路。如前所述，在沒(méi)有力線或感測(cè)線監(jiān)測(cè)的情況下，如果在測(cè)試圖案產(chǎn)生器子系統(tǒng)中存在正在損壞受測(cè)試面板的未探測(cè)到的故障，則已被檢測(cè)的所有面板均將被損壞。在發(fā)生測(cè)試圖案產(chǎn)生器子系統(tǒng)故障的情況下，所述實(shí)施例可使損壞僅限于單個(gè)面板，進(jìn)而為制造商省卻大量損失。
[0066]在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例中，本文所述實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)及閉環(huán)控制技術(shù)適用于:災(zāi)難性面板損壞探測(cè)、自適應(yīng)性面板驅(qū)動(dòng)、重復(fù)性系統(tǒng)調(diào)諧、系統(tǒng)漂移補(bǔ)償及自動(dòng)化配方調(diào)整。
[0067]在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例中，通過(guò)監(jiān)測(cè)檢測(cè)系統(tǒng)與受測(cè)試面板之間力線或感測(cè)線上的信號(hào)來(lái)實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)漂移補(bǔ)償，如圖1中所例示。在圖1中，可在檢測(cè)面板的同時(shí)監(jiān)測(cè)力線104?？删幊唐骷?01將根據(jù)由系統(tǒng)用戶(hù)提供的配方輸入將數(shù)字-模擬轉(zhuǎn)換器(DAC) 102及放大器電路(AMP) 103的輸出設(shè)定至所期望的水平。在面板驅(qū)動(dòng)期間，分別使用電壓測(cè)量電路105及電流測(cè)量電路106來(lái)監(jiān)測(cè)力線104上有無(wú)適當(dāng)電壓傳送及電流流動(dòng)。這兩個(gè)電路通過(guò)多路復(fù)用器(MUX) 107及模擬-數(shù)字轉(zhuǎn)換器(ADC) 108連接至可編程器件101。數(shù)字-模擬轉(zhuǎn)換器108將所測(cè)量的模擬信號(hào)重新轉(zhuǎn)換成數(shù)字域，而多路復(fù)用器107允許可編程器件101監(jiān)測(cè)多條力線104。如果在力線104上測(cè)量的電壓或電流開(kāi)始偏離用戶(hù)指定值，則可編程器件101用以使用一個(gè)或多個(gè)查找表(LUT) 109 (例如，通過(guò)自動(dòng)增大或減小電流值和電壓值直到其中一者或兩者重新回到用戶(hù)指定水平)來(lái)控制驅(qū)動(dòng)信號(hào)。
[0068]在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例中，允許用戶(hù)設(shè)定預(yù)定控制限值，以使得電壓及電流只可在預(yù)定調(diào)整范圍內(nèi)由可編程器件101自動(dòng)調(diào)整。如果在力線104上測(cè)量的電壓或電流超出由用戶(hù)指定的最小值或最大值，則這可能預(yù)示著災(zāi)難性面板損壞。此類(lèi)災(zāi)難性損壞可包含因檢測(cè)系統(tǒng)內(nèi)的不佳配方設(shè)置或硬件故障而引起的受測(cè)試面板內(nèi)的接觸焊墊燒壞或短路形成。在這兩種情況下，此類(lèi)面板損壞均將使大量電流自測(cè)試圖案產(chǎn)生器子系統(tǒng)流入面板。當(dāng)電流測(cè)量電路106探測(cè)到力線104上的此種大電流流動(dòng)時(shí)，系統(tǒng)發(fā)出警報(bào)并關(guān)閉檢測(cè)過(guò)程。這將使損壞僅限于單個(gè)面板并提醒操作者注意檢測(cè)系統(tǒng)內(nèi)的可能的不佳配方設(shè)置或硬件故障。
[0069]在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例中，提供一種在系統(tǒng)的測(cè)試圖案產(chǎn)生器子系統(tǒng)與檢測(cè)頭之間所建立的閉環(huán)控制機(jī)制(參見(jiàn)圖2)。閉環(huán)控制機(jī)制可根據(jù)在面板處實(shí)施的實(shí)際檢測(cè)測(cè)量來(lái)提供反饋。此類(lèi)測(cè)量值的實(shí)例包含(但不限于)檢測(cè)部位處的平均電壓或在檢測(cè)圖像中探測(cè)到的某些缺陷類(lèi)型的對(duì)比度。所接收到的測(cè)量結(jié)果用于調(diào)整被施加至面板的測(cè)試圖案(此被稱(chēng)作“自適應(yīng)性面板驅(qū)動(dòng)”)并且用于根據(jù)面板測(cè)試結(jié)果來(lái)自動(dòng)調(diào)整檢測(cè)配方。
[0070]上述閉環(huán)機(jī)制的實(shí)例性實(shí)施例例示于圖2中。所述閉環(huán)控制機(jī)制的所示實(shí)例性實(shí)施例通過(guò)收集面板檢測(cè)結(jié)果210并將這些結(jié)果饋送回至可編程器件101中來(lái)進(jìn)行工作?？删幊唐骷?01可使用數(shù)字-模擬轉(zhuǎn)換器102來(lái)以遞增量修改放大器電路103的輸出，進(jìn)而修改面板檢測(cè)結(jié)果210。在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例中，可重復(fù)此過(guò)程直到針對(duì)一個(gè)或多個(gè)面板達(dá)到所期望的面板檢測(cè)結(jié)果210。
[0071]實(shí)時(shí)力線監(jiān)測(cè)丨
[0072]所述技術(shù)的一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例提供探測(cè)可在面板檢測(cè)過(guò)程期間形成的顯示面板短路的能力。一種用于探測(cè)此類(lèi)損壞的實(shí)例性技術(shù)涉及到在測(cè)試顯示面板的同時(shí)監(jiān)測(cè)力線電流測(cè)量電路。具體而言，圖3顯示被施加至有代表性的電容性負(fù)載或受測(cè)試面板的典型電壓方波形301的實(shí)例。方波可在兩個(gè)或更多個(gè)額定正電壓或負(fù)電壓之間切換。在此實(shí)例中，方波301正在Ov與額定最大正電壓X V之間切換。在正常面板驅(qū)動(dòng)期間，在力線上測(cè)量的電流應(yīng)具有可預(yù)測(cè)的及可重復(fù)的形狀302。當(dāng)電壓被切換為正時(shí)，電流將快速升至操作者所定義的限流設(shè)定值Y mA。一旦電壓穩(wěn)定下來(lái)，電流便會(huì)逐漸降至接近OmA而電壓保持處于X V0此行為針對(duì)圖案中的每一電壓脈沖進(jìn)行重復(fù)。當(dāng)發(fā)生面板損壞時(shí)，此電流軌跡看起來(lái)會(huì)有明顯的不同。被損壞的面板電流軌跡303顯示來(lái)自驅(qū)動(dòng)至面板短路中的力線的預(yù)期電流測(cè)量。并非在施加初始電壓脈沖之后逐漸朝OmA返回，通道將在電壓脈沖持續(xù)期間以操作者定義的電流限值繼續(xù)輸出電壓。電流只有在脈沖被切斷時(shí)才會(huì)回到0mA。在這種情況下，可編程器件101將通過(guò)電流測(cè)量電路探測(cè)到通道正以電流限值工作達(dá)延長(zhǎng)的時(shí)間周期?？删幊唐骷㈥P(guān)閉驅(qū)動(dòng)通道并向系統(tǒng)發(fā)出警報(bào)。警報(bào)可提醒操作者注意被損壞的面板并建議檢查系統(tǒng)有無(wú)硬件故障或提醒對(duì)圖案調(diào)諧作出改變。應(yīng)注意，所有監(jiān)測(cè)均在逐一通道基礎(chǔ)上進(jìn)行且典型系統(tǒng)將具有許多獨(dú)立通道。系統(tǒng)中的每一通道均受到獨(dú)立監(jiān)測(cè)及控制，如上所述。
[0073]閉環(huán)控制
[0074]所述技術(shù)的一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例提供在閉環(huán)控制模式下操作檢測(cè)系統(tǒng)的能力。在這種操作模式下，系統(tǒng)可使用檢測(cè)結(jié)果作為控制環(huán)的輸入。如果系統(tǒng)開(kāi)始感測(cè)到測(cè)量值的漂移，則控制環(huán)可修改一個(gè)或多個(gè)檢測(cè)參數(shù)以補(bǔ)償漂移并使系統(tǒng)重新回到提供可重復(fù)及可再現(xiàn)檢測(cè)狀態(tài)的狀態(tài)。圖4例示控制環(huán)的實(shí)例性實(shí)施例的簡(jiǎn)化方塊圖。在所示實(shí)例中，檢測(cè)頭401對(duì)受測(cè)試器件402執(zhí)行主動(dòng)檢測(cè)。檢測(cè)頭401連接至數(shù)據(jù)處理單元403，所述數(shù)據(jù)處理單元負(fù)責(zé)收集并解譯所收集到的數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)處理單元403為操作者提供實(shí)時(shí)結(jié)果并且保存隨著時(shí)間而用于監(jiān)測(cè)系統(tǒng)漂移的代表性數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)處理單元403連接至可編程器件404。所述可編程器件可解譯隨著時(shí)間由數(shù)據(jù)處理單元403收集的數(shù)據(jù)并判定系統(tǒng)是否正在漂移。如果探測(cè)到系統(tǒng)漂移，則可編程器件404可對(duì)任意數(shù)量的子系統(tǒng)供應(yīng)單元405、406的輸出作出改變，以抵消系統(tǒng)漂移并使系統(tǒng)回到穩(wěn)定工作模式。圖4顯示可調(diào)整面板驅(qū)動(dòng)狀態(tài)(例如，驅(qū)動(dòng)電壓、電流、脈沖寬度等)的子系統(tǒng)供應(yīng)單元I (405)及可調(diào)整傳感器狀態(tài)(例如，傳感器偏壓電壓、照明強(qiáng)度等)的子系統(tǒng)供應(yīng)單元2 (406)。盡管圖中未顯示，但控制環(huán)可被設(shè)置成連接可編程器件404以調(diào)整附加子系統(tǒng)，所述附加子系統(tǒng)的實(shí)例可為其中可根據(jù)檢測(cè)結(jié)果來(lái)調(diào)整X、Y及Z運(yùn)動(dòng)軸以補(bǔ)償運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)漂移的平臺(tái)運(yùn)動(dòng)(stage motion)子系統(tǒng)。在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例中，所述系統(tǒng)含有多組獨(dú)立通道及子系統(tǒng)供應(yīng)單元。閉環(huán)控制功能可根據(jù)個(gè)別或共同反饋來(lái)對(duì)所有這些群組施加校正。
[0075]應(yīng)注意，本文所述發(fā)明性技術(shù)不僅限于檢測(cè)顯示面板。本發(fā)明實(shí)施例也可用于檢測(cè)其他電子器件，包含(但不限于)印刷電路板(PCB)、半導(dǎo)體電路(例如，在芯片上)以及其他此類(lèi)器件。
[0076]最后，應(yīng)理解，本文所述過(guò)程及技術(shù)并非固有地與任一特定裝置相關(guān)，而是可由任一合適的組件組合來(lái)實(shí)施。此外，可根據(jù)本文所述教示內(nèi)容使用各種類(lèi)型的通用器件。構(gòu)造專(zhuān)用裝置來(lái)執(zhí)行本文所述方法步驟也可證明是有利的。已就在所有方面均旨在為例示性而非限制性的特定實(shí)例闡述了本發(fā)明。但所屬領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)了解，硬件、軟件與固件的許多不同組合將適用于實(shí)踐本發(fā)明。
[0077]此外，所屬領(lǐng)域的技術(shù)人員通過(guò)考慮本文所揭示發(fā)明的說(shuō)明書(shū)及實(shí)踐，將易知本發(fā)明的其他實(shí)施形式。所述實(shí)施例的各個(gè)方面及/或各種組件可單獨(dú)地或以任一組合形式用于檢測(cè)系統(tǒng)中。旨在使本說(shuō)明書(shū)及各實(shí)例應(yīng)僅被視為實(shí)例性的，本發(fā)明的真實(shí)范圍及精神由隨附權(quán)利要求書(shū)指示。
【權(quán)利要求】
1.一種用于識(shí)別電子電路中的缺陷的裝置，所述裝置包括: a.電路驅(qū)動(dòng)模塊，用以對(duì)所述電子電路施加電性測(cè)試信號(hào)； b.缺陷探測(cè)模塊，用以至少根據(jù)所施加的所述電性測(cè)試信號(hào)來(lái)識(shí)別所述電子電路中的所述缺陷； c.信號(hào)監(jiān)測(cè)模塊，用以在所述電子電路處測(cè)量所述電性測(cè)試信號(hào)；以及 d.控制模塊，可操作地耦合至所述信號(hào)監(jiān)測(cè)模塊及所述電路驅(qū)動(dòng)模塊，并用以根據(jù)在所述電子電路處測(cè)量的所述電性測(cè)試信號(hào)來(lái)控制至少所述電路驅(qū)動(dòng)模塊。
2.如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述電性測(cè)試信號(hào)通過(guò)力線被施加至所述電子電路，且其中所述信號(hào)監(jiān)測(cè)模塊在所述力線處測(cè)量所述電性測(cè)試信號(hào)。
3.如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述信號(hào)監(jiān)測(cè)模塊在電性連接至所述電子電路的返回線處測(cè)量所述電性測(cè)試信號(hào)。
4.如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述信號(hào)監(jiān)測(cè)模塊測(cè)量所述電性測(cè)試信號(hào)的電壓。
5.如權(quán)利要求4所述的裝置，其特征在于，所述控制模塊根據(jù)由所述信號(hào)監(jiān)測(cè)模塊測(cè)量的所述電性測(cè)試信號(hào)的所述電壓來(lái)控制所述電路驅(qū)動(dòng)模塊的輸出電壓。
6.如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述信號(hào)監(jiān)測(cè)模塊測(cè)量所述電性測(cè)試信號(hào)的電流。
7.如權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述控制模塊根據(jù)由所述信號(hào)監(jiān)測(cè)模塊測(cè)量的所述電性測(cè)試信號(hào)的電流來(lái)控制所述電路驅(qū)動(dòng)模塊的輸出電流。
8.如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述控制模塊還根據(jù)所述缺陷探測(cè)模塊的輸出來(lái)控制所述電路驅(qū)動(dòng)模塊。
9.如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述控制模塊在預(yù)定參數(shù)范圍內(nèi)控制所述電路驅(qū)動(dòng)模塊的至少一個(gè)參數(shù)。
10.如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述控制模塊控制所述電路驅(qū)動(dòng)模塊的至少一個(gè)參數(shù)，以補(bǔ)償由所述電路驅(qū)動(dòng)模塊對(duì)所述電子電路施加的所述電性測(cè)試信號(hào)的漂移。
11.如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述控制模塊控制所述電路驅(qū)動(dòng)模塊的至少一個(gè)參數(shù)，以補(bǔ)償所述電子電路的至少一種狀態(tài)的變化。
12.如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述控制模塊根據(jù)在所述電子電路處測(cè)量的所述電性測(cè)試信號(hào)，還控制所述缺陷探測(cè)模塊。
13.如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述信號(hào)監(jiān)測(cè)模塊用以在所述電子電路處連續(xù)地測(cè)量所述電性測(cè)試信號(hào)。
14.一種用于識(shí)別電子電路中的缺陷的裝置，所述裝置包括: a.電路驅(qū)動(dòng)模塊，用以對(duì)所述電子電路施加電性測(cè)試信號(hào)； b.缺陷探測(cè)模塊，用以至少根據(jù)所施加的所述電性測(cè)試信號(hào)來(lái)識(shí)別所述電子電路中的所述缺陷； c.信號(hào)監(jiān)測(cè)模塊，用以在所述電子電路處測(cè)量所述電性測(cè)試信號(hào)；以及 d.信號(hào)分析模塊，可操作地耦合至所述信號(hào)監(jiān)測(cè)模塊，并用以分析所測(cè)量的所述電性測(cè)試信號(hào)并且判斷是否已發(fā)生對(duì)所述電子電路的損壞。
15.如權(quán)利要求14所述的裝置，其特征在于，所述電性測(cè)試信號(hào)通過(guò)力線施加至所述電子電路，且其中所述信號(hào)監(jiān)測(cè)模塊在所述力線處測(cè)量所述電性測(cè)試信號(hào)。
16.如權(quán)利要求14所述的裝置，其特征在于，所述信號(hào)監(jiān)測(cè)模塊在電性連接至所述電子電路的返回線處測(cè)量所述電性測(cè)試信號(hào)。
17.如權(quán)利要求14所述的裝置，其特征在于，所述信號(hào)監(jiān)測(cè)模塊測(cè)量所述電性測(cè)試信號(hào)的電壓。
18.如權(quán)利要求14所述的裝置，其特征在于，所述信號(hào)監(jiān)測(cè)模塊測(cè)量所述電性測(cè)試信號(hào)的電流。
19.一種用于識(shí)別電子電路中的缺陷的方法，所述方法包括: a.對(duì)所述電子電路施加電性測(cè)試信號(hào)； b.至少根據(jù)所施加的所述電性測(cè)試信號(hào)來(lái)識(shí)別所述電子電路中的所述缺陷； c.在所述電子電路處測(cè)量所述電性測(cè)試信號(hào)；以及 d.根據(jù)在所述電子電路處測(cè)量的所述電性測(cè)試信號(hào)，控制被施加至所述電子電路的所述電性測(cè)試信號(hào)。
20.如權(quán)利要求19所述的方法，其特征在于，所述電性測(cè)試信號(hào)通過(guò)力線被施加至所述電子電路，且其中所述電性測(cè)試信號(hào)在所述力線處被測(cè)量。
21.如權(quán)利要求19所述的方法，其特征在于，所述電性測(cè)試信號(hào)在電性連接至所述電子電路的返回線處被測(cè)量。
22.如權(quán)利要求19所述的方法，其特征在于，測(cè)量所述電性測(cè)試信號(hào)包括:測(cè)量所述電性測(cè)試信號(hào)的電壓。
23.如權(quán)利要求19所述的方法，其特征在于，測(cè)量所述電性測(cè)試信號(hào)包括測(cè)量所述電性測(cè)試信號(hào)的電流。
【文檔編號(hào)】G09G3/00GK104050907SQ201410095444
【公開(kāi)日】2014年9月17日 申請(qǐng)日期:2014年3月14日 優(yōu)先權(quán)日:2013年3月15日
【發(fā)明者】V·米那耶夫, R·A·馬丁, T·E·威沙德, M·S·卡薩迪, 李鐘浩, T·H·貝利, S·克里希納斯瓦米 申請(qǐng)人:烽騰科技有限公司