顯示裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種顯示裝置包括：N個(gè)依序排列的發(fā)光模塊與一個(gè)驗(yàn)證模塊，N為大于1的正整數(shù)，并且每一個(gè)發(fā)光模塊包括：用以發(fā)出光線的發(fā)光電路以及電性耦接至發(fā)光電路的檢測(cè)電路。其中檢測(cè)電路依據(jù)輸入的檢測(cè)輸入信號(hào)以及從發(fā)光電路接收的操作電壓以輸出檢測(cè)輸出信號(hào)。驗(yàn)證模塊電性耦接第N個(gè)發(fā)光模塊，以依據(jù)第N個(gè)發(fā)光模塊的檢測(cè)輸出信號(hào)，判斷前述N個(gè)發(fā)光模塊的操作狀態(tài)。其中，前述N個(gè)發(fā)光模塊中的第i個(gè)發(fā)光模塊的檢測(cè)輸出信號(hào)被用以作為第i+1個(gè)發(fā)光模塊的檢測(cè)輸入信號(hào)，i為小于N的正整數(shù)。
【專利說(shuō)明】顯示裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明關(guān)于一種顯示裝置，特別關(guān)于一種顯示裝置的電路結(jié)構(gòu)。

【背景技術(shù)】
[0002]顯示裝置廣泛的被應(yīng)用在現(xiàn)代人的生活之中。如何更快地產(chǎn)出更好的顯示裝置一直是一個(gè)主要的目標(biāo)。顯示面板的各種問(wèn)題中，有一種被稱為斑/彩紋(MURA)的缺陷，也就是顯示裝置的背光出光不均勻，或是特定區(qū)域的像素的色調(diào)不均勻。
[0003]一般而言，要檢查斑/彩紋缺陷，是致能顯示裝置后，以光學(xué)檢測(cè)方法由外部檢測(cè)其出光均勻度或是色調(diào)均勻度。然而對(duì)于中大型的顯示裝置而言，以光學(xué)檢測(cè)儀器及方法來(lái)進(jìn)行所述的檢測(cè)既不方便又耗時(shí)。因此如何提供一種可以快速自我檢測(cè)出光均勻度的顯示裝置，是一個(gè)亟待克服的問(wèn)題。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]鑒于以上問(wèn)題，本發(fā)明提出一種具有自我檢測(cè)出光均勻度的顯示裝置。所揭露的顯示裝置中的每個(gè)發(fā)光模塊(例如一顆做為背光發(fā)光二極管電路或是一顆作為像素的發(fā)光二極管電路)都具有檢測(cè)電路來(lái)判斷其中的發(fā)光單元對(duì)應(yīng)驅(qū)動(dòng)電壓的操作電壓是否正常，并藉由特定的連接方式，使顯示裝置內(nèi)的驗(yàn)證模塊可以依據(jù)特定的幾個(gè)發(fā)光模塊所送出的檢測(cè)結(jié)果，來(lái)判斷顯示裝置的出光均勻度。
[0005]依據(jù)本發(fā)明一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例所揭露的一種顯示裝置，包括:N個(gè)第一發(fā)光模塊與一個(gè)驗(yàn)證模塊。其中第I個(gè)第一發(fā)光模塊至第N個(gè)第一發(fā)光模塊依序排列，N為大于I的正整數(shù)，并且每一個(gè)所述的第一發(fā)光模塊包括:用以發(fā)出光線的發(fā)光電路以及電性耦接至發(fā)光電路的檢測(cè)電路。其中，檢測(cè)電路包括:用以接收第一檢測(cè)輸入信號(hào)的第一檢測(cè)輸入端、電性耦接發(fā)光電路以從發(fā)光電路接收操作電壓的一第二檢測(cè)輸入端與用以輸出第一檢測(cè)輸出信號(hào)的第一檢測(cè)輸出端，其中第一檢測(cè)輸出端電性耦接第一檢測(cè)輸入端。驗(yàn)證模塊電性耦接第N個(gè)第一發(fā)光模塊的第一檢測(cè)輸出端，以依據(jù)第N個(gè)第一發(fā)光模塊的第一檢測(cè)輸出信號(hào)，判斷前述N個(gè)第一發(fā)光模塊的第一操作狀態(tài)。其中，前述N個(gè)第一發(fā)光模塊中的第i個(gè)第一發(fā)光模塊的第一檢測(cè)輸出端電性耦接至前述N個(gè)第一發(fā)光模塊中的第i+Ι個(gè)第一發(fā)光模塊的第一檢測(cè)輸入端，以提供第i+Ι個(gè)第一發(fā)光模塊的該第一檢測(cè)輸入信號(hào)，i為小于N的正整數(shù)。
[0006]本發(fā)明所揭露的顯示裝置，其中的驗(yàn)證模塊可以一次性地檢測(cè)與驗(yàn)證一列甚或多列發(fā)光模塊的操作狀態(tài)，當(dāng)驗(yàn)證模塊得到多列發(fā)光模塊的操作狀態(tài)時(shí)，驗(yàn)證模塊即可判斷顯示裝置的出光均勻度。
[0007]以上的關(guān)于本
【發(fā)明內(nèi)容】
的說(shuō)明及以下的實(shí)施方式的說(shuō)明用以示范與解釋本發(fā)明的精神與原理，并且提供本發(fā)明的權(quán)利要求保護(hù)范圍更進(jìn)一步的解釋。

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0008]圖1為依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施的顯示裝置部分電路示意圖；
[0009]圖2為依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的發(fā)光模塊的電路示意圖；
[0010]圖3為依據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例的發(fā)光模塊的電路示意圖；
[0011]圖4A為依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的發(fā)光模塊的硅圓片制程微型模塊化電路的外觀示意圖；
[0012]圖4B為圖4A的俯視圖；
[0013]圖5為依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例中硅圓片制程微型模塊化電路被設(shè)置在只有走線的基板上的示意圖。
[0014]附圖標(biāo)記說(shuō)明:
[0015]I顯示裝置
[0016]11~mn發(fā)光模塊
[0017]111驅(qū)動(dòng)單元
[0018]113、113’ 檢測(cè)電路
[0019]1131、1135 比較器
[0020]1133 邏輯且閘
[0021]1137 邏輯或門
[0022]20驗(yàn)證模塊
[0023]AE出光區(qū)
[0024]Clll 電容
[0025]DATAl ~DATAn 資料線
[0026]Det_in 檢測(cè)輸入端
[0027]Det_out檢測(cè)輸出端
[0028]LEDll 發(fā)光二極管
[0029]LEDll 發(fā)光二極管
[0030]Mllll 掃描開關(guān)
[0031]Ml 113 驅(qū)動(dòng)開關(guān)
[0032]OVDD、OVSS 驅(qū)動(dòng)線
[0033]PINl ~PIN7 腳位
[0034]Ql 131、Ql 135 比較信號(hào)
[0035]RC、RR 走線
[0036]VOP 操作電壓
[0037]VREFl~VREFn參考電壓線
[0038]SCAN 掃描線

【具體實(shí)施方式】
[0039]以下在實(shí)施方式中詳細(xì)敘述本發(fā)明的詳細(xì)特征以及優(yōu)點(diǎn)，其內(nèi)容足以使任何熟悉相關(guān)技術(shù)者了解本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容并據(jù)以實(shí)施，且根據(jù)本說(shuō)明書所揭露的內(nèi)容、申請(qǐng)專利范圍及圖式，任何熟悉相關(guān)技術(shù)者可輕易地理解本發(fā)明相關(guān)的目的及優(yōu)點(diǎn)。以下的實(shí)施例進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明的觀點(diǎn)，但非以任何觀點(diǎn)限制本發(fā)明的范疇。
[0040]為了更便捷地檢測(cè)顯示裝置中的多個(gè)像素單元或是背光單元是否正常，請(qǐng)參照?qǐng)D1，其為依據(jù)本發(fā)明一實(shí)施的顯示裝置部分電路示意圖。如圖1所示，顯示裝置I可以包括發(fā)光模塊11至發(fā)光模塊In、發(fā)光模塊21至發(fā)光模塊2η、發(fā)光模塊ml至發(fā)光模塊mn以及驗(yàn)證模塊20。換句話說(shuō)，本發(fā)明一實(shí)施例中的顯示裝置可以包括m列η行共計(jì)mXη個(gè)發(fā)光模塊，其中發(fā)光模塊11至發(fā)光模塊In依序排在第一列，發(fā)光模塊21至發(fā)光模塊2η依序排在第二列，發(fā)光模塊ml至發(fā)光模塊mn依序排在第m列。每一列的多個(gè)發(fā)光模塊都電性耦接至第一驅(qū)動(dòng)線0VDD、第二驅(qū)動(dòng)線OVSS以及掃描線SCAN。并且每一行的多個(gè)發(fā)光模塊都電性耦接至同一條數(shù)據(jù)線以及同一條參考電壓線(例如第一行的多個(gè)發(fā)光模塊都電性耦接至數(shù)據(jù)線DATAl與同一條參考電壓線VREF1)。其中，每一條數(shù)據(jù)線與每一條參考電壓線可以電性耦接至驗(yàn)證模塊20。
[0041]此外，每一個(gè)發(fā)光模塊還有一個(gè)檢測(cè)輸入端Det_in與一個(gè)檢測(cè)輸出端Det_out,檢測(cè)輸入端Det_in用來(lái)接收檢測(cè)輸入信號(hào)，而檢測(cè)輸出端Det_out用來(lái)輸出檢測(cè)輸出信號(hào)。發(fā)光模塊11的檢測(cè)輸出端Det_out電性稱接至發(fā)光模塊12的檢測(cè)輸入端Det_in,而發(fā)光模塊I (η-1)的檢測(cè)輸出端Det_out電性稱接至發(fā)光模塊In的檢測(cè)輸入端Det_in,而發(fā)光模塊In的檢測(cè)輸出端Det_out電性稱接至驗(yàn)證模塊20。
[0042]同樣地，發(fā)光模塊21的檢測(cè)輸出端Det_out電性耦接至發(fā)光模塊22的檢測(cè)輸入端Det_in,而發(fā)光模塊2 (η-1)的檢測(cè)輸出端Det_out電性稱接至發(fā)光模塊2n的檢測(cè)輸入端Det_in,并且發(fā)光模塊2n的檢測(cè)輸出端Det_out電性稱接至驗(yàn)證模塊20。發(fā)光模塊ml的檢測(cè)輸出端Det_out電性稱接至發(fā)光模塊m2的檢測(cè)輸入端Det_in,而發(fā)光模塊m(n_l)的檢測(cè)輸出端Det_out電性稱接至發(fā)光模塊mn的檢測(cè)輸入端Det_in,并且發(fā)光模塊mn的檢測(cè)輸出端Det_out電性稱接至驗(yàn)證模塊20。
[0043]藉由上述的連接方式以及本發(fā)明后述的發(fā)光模塊的電路結(jié)構(gòu)，驗(yàn)證模塊20可以依據(jù)發(fā)光模塊In的檢測(cè)輸出端Det_out所輸出的檢測(cè)輸出信號(hào)來(lái)判斷發(fā)光模塊11至發(fā)光模塊In，也就是第一列發(fā)光模塊的操作狀態(tài)。同樣地，驗(yàn)證模塊20也可以依據(jù)發(fā)光模塊2n的檢測(cè)輸出端Det_out所輸出的檢測(cè)輸出信號(hào)來(lái)判斷第二列發(fā)光模塊的操作狀態(tài)，并且驗(yàn)證模塊20可以依據(jù)發(fā)光模塊mn的檢測(cè)輸出端Det_out所輸出的檢測(cè)輸出信號(hào)來(lái)判斷第m列發(fā)光模塊的操作狀態(tài)。更甚者，驗(yàn)證模塊20可以依據(jù)m列發(fā)光模塊的操作狀態(tài)，來(lái)產(chǎn)生關(guān)于顯示裝置I的出光均勻度的信息。
[0044]圖1所揭示的顯示裝置I雖然只有m列η行發(fā)光模塊，然而依據(jù)本發(fā)明的精神，顯示裝置中可以包括有任意列數(shù)與行數(shù)的發(fā)光模塊。此外，所述的每一個(gè)發(fā)光模塊可以是顯示裝置I的背光模塊的一部份，也可以是發(fā)光二極管顯示裝置(LED display)中用來(lái)作為像素的一個(gè)單色光發(fā)光二極管，本發(fā)明并不加以限制。
[0045]如圖1中的發(fā)光模塊11所示，發(fā)光模塊11可以包括發(fā)光二極管LEDl1、驅(qū)動(dòng)單元111以及檢測(cè)電路113。驅(qū)動(dòng)單元111電性耦接至第一驅(qū)動(dòng)線0VDD、掃描線SCAN與數(shù)據(jù)線DATAl，并且耦接至發(fā)光二極管LEDll的正端。發(fā)光二極管LEDll的負(fù)端電性耦接至第二驅(qū)動(dòng)線0VSS，驅(qū)動(dòng)單元111與發(fā)光二極管LEDll合稱發(fā)光電路。而檢測(cè)電路113的檢測(cè)輸入端就是發(fā)光模塊11的檢測(cè)輸入端Det_in，而檢測(cè)電路113的檢測(cè)輸出端就是發(fā)光模塊11的檢測(cè)輸出端Det_out，并且檢測(cè)電路113電性耦接至參考電壓線VREFl與發(fā)光二極管LEDll的正端。
[0046]驅(qū)動(dòng)單元111用以依據(jù)掃描線SCAN所送來(lái)的掃描信號(hào)與數(shù)據(jù)線DATAl上的數(shù)據(jù)電壓，從第一驅(qū)動(dòng)線OVDD抽取對(duì)應(yīng)的電流給發(fā)光二極管LEDl I，而發(fā)光二極管LEDl I在被電流驅(qū)動(dòng)的時(shí)候，發(fā)光二極管LEDll的正端會(huì)有一個(gè)操作電壓V0P。檢測(cè)電路113就是依據(jù)操作電壓VOP與參考電壓線VREFl上的參考電壓，來(lái)判斷發(fā)光二極管LEDll與周邊電路的電性耦接關(guān)系或是發(fā)光二極管LEDll本身的發(fā)光特性是否正常。
[0047]舉例來(lái)說(shuō)，如果發(fā)光二極管LEDll與第二驅(qū)動(dòng)線OVSS的接點(diǎn)有缺陷時(shí)(例如接觸不良甚至斷路)，則操作電壓VOP會(huì)被拉至接近第一驅(qū)動(dòng)線OVDD的電壓。又舉例來(lái)說(shuō)，如果老化的發(fā)光二極管LEDll相較于正常的發(fā)光二極管，給定同樣的電流時(shí)，老化的發(fā)光二極管LEDll會(huì)有較高的操作電壓V0P。因此，當(dāng)操作電壓VOP大于參考電壓線VREF所提供的參考電壓時(shí)，檢測(cè)電路113可以判斷發(fā)光二極管LEDll的操作狀態(tài)不正常。
[0048]并且，依據(jù)本發(fā)明的目的，要讓驗(yàn)證模塊20可以直接依據(jù)每一列最后一個(gè)發(fā)光模塊的檢測(cè)輸出端Det_out的電壓位準(zhǔn)來(lái)判斷該列發(fā)光模塊的操作狀態(tài)，因此如果發(fā)光模塊11的檢測(cè)輸出信號(hào)指示發(fā)光模塊11中的發(fā)光二極管LEDll的操作狀態(tài)不正常，則無(wú)論發(fā)光模塊12中的發(fā)光二極管的操作狀態(tài)是否正常，發(fā)光模塊12的檢測(cè)輸出信號(hào)必須指出操作狀態(tài)不正常。
[0049]也就是說(shuō)，只有當(dāng)發(fā)光模塊11至發(fā)光模塊In都正常時(shí)，發(fā)光模塊In的檢測(cè)輸出信號(hào)才會(huì)指出正常。依照此一原則，以發(fā)光模塊11為例，由于發(fā)光模塊11的左側(cè)并沒(méi)有其它發(fā)光模塊，因此發(fā)光模塊11所接收的檢測(cè)輸入信號(hào)必須被預(yù)設(shè)至代表操作狀態(tài)正常的電壓位準(zhǔn)。當(dāng)發(fā)光模塊11中的操作電壓VOP正常時(shí)，發(fā)光模塊11的檢測(cè)輸出信號(hào)的電壓位準(zhǔn)必須與檢測(cè)輸入信號(hào)的電壓位準(zhǔn)相同，以指出發(fā)光模塊11的操作狀態(tài)正常。而當(dāng)發(fā)光模塊11中的操作電壓VOP過(guò)高時(shí),發(fā)光模塊11的檢測(cè)輸出信號(hào)的電壓位準(zhǔn)必須不同于檢測(cè)輸入信號(hào)的電壓位準(zhǔn)，以指出發(fā)光模塊11的操作狀態(tài)不正常。當(dāng)發(fā)光模塊11的檢測(cè)輸出信號(hào)的電壓位準(zhǔn)指出發(fā)光模塊11的操作狀態(tài)不正常時(shí)，發(fā)光模塊12經(jīng)由其檢測(cè)輸入端Det_in接收到這個(gè)電壓位準(zhǔn)，而不論發(fā)光模塊12的操作狀態(tài)正常與否，發(fā)光模塊12的檢測(cè)輸出信號(hào)的電壓位準(zhǔn)指出操作狀態(tài)不正常。因此，可以整理出下列表1來(lái)說(shuō)明，對(duì)于每一個(gè)發(fā)光模塊來(lái)說(shuō)，檢測(cè)輸入信號(hào)的電壓位準(zhǔn)所代表的涵義、發(fā)光模塊本身的操作狀態(tài)與檢測(cè)輸出信號(hào)-的電壓位準(zhǔn)所代表的涵義的關(guān)系。
[0050]表1
[0051]

【權(quán)利要求】
1.一種顯示裝置，包括: 第I至N個(gè)第一發(fā)光模塊，依序排列，其中N為大于I的正整數(shù)，每一該第一發(fā)光模塊包括: 一第一發(fā)光電路，用以發(fā)出光線；以及 一第一檢測(cè)電路，電性耦接該第一發(fā)光電路，該第一檢測(cè)電路包括: 一第一檢測(cè)輸入端， 用以接收一第一檢測(cè)輸入信號(hào)； 一第二檢測(cè)輸入端，電性I禹接該第一發(fā)光電路，用以由該第一發(fā)光電路接收一第一操作電壓；以及 一第一檢測(cè)輸出端，電性I禹接該第一檢測(cè)輸入端，用以輸出一第一檢測(cè)輸出信號(hào)；以及 一驗(yàn)證模塊，電性耦接該第N個(gè)第一發(fā)光模塊的該第一檢測(cè)輸出端，用以依據(jù)該第N個(gè)第一發(fā)光模塊的該第一檢測(cè)輸出信號(hào)，判斷該N個(gè)第一發(fā)光模塊的一第一操作狀態(tài)； 其中，該N個(gè)第一發(fā)光模塊中的第i個(gè)第一發(fā)光模塊的該第一檢測(cè)輸出端電性耦接至該N個(gè)第一發(fā)光模塊中的第i+Ι個(gè)第一發(fā)光模塊的該第一檢測(cè)輸入端，用以提供該第i+1個(gè)第一發(fā)光模塊的該第一檢測(cè)輸入信號(hào)，i為小于N的正整數(shù)。
2.如權(quán)利要求1所述的顯示裝置，其特征在于，該檢測(cè)電路用以在該第一發(fā)光電路發(fā)出光線時(shí)，依據(jù)該第一檢測(cè)輸入信號(hào)、一參考電壓與該第一操作電壓，輸出該第一檢測(cè)輸出信號(hào)。
3.如權(quán)利要求2所述的顯示裝置，其特征在于，該檢測(cè)電路包括: 一比較器，電性耦接該第一發(fā)光電路，用以比較該參考電壓與該第一操作電壓，以產(chǎn)生一比較信號(hào)；以及 一邏輯閘，電性耦接該比較器，用以對(duì)該比較信號(hào)與該第一檢測(cè)輸入信號(hào)進(jìn)行邏輯運(yùn)算以產(chǎn)生該第一檢測(cè)輸出信號(hào)。
4.如權(quán)利要求3所述的顯示裝置，其特征在于，該第一操作電壓被提供至該比較器的一負(fù)輸入端，且該參考電壓被耦接至該比較器的一正輸入端，該邏輯閘是一邏輯且閘，且該N個(gè)第一發(fā)光模塊中的第I個(gè)第一發(fā)光模塊的該第一檢測(cè)輸入端更電性耦接至具有高邏輯位準(zhǔn)的信號(hào)。
5.如權(quán)利要求3所述的顯示裝置，其特征在于，該第一操作電壓被提供至該比較器的一正輸入端，且該參考電壓被耦接至該比較器的一負(fù)輸入端，該邏輯閘為一邏輯或門，且該N個(gè)第一發(fā)光模塊中的第I個(gè)第一發(fā)光模塊的該第一檢測(cè)輸入端更電性耦接至具有低邏輯位準(zhǔn)的信號(hào)。
6.如權(quán)利要求2所述的顯示裝置，其特征在于，該驗(yàn)證模塊更依據(jù)該參考電壓，判斷該N個(gè)第一發(fā)光模塊的該第一操作狀態(tài)。
7.如權(quán)利要求2所述的顯示裝置，其特征在于，該驗(yàn)證模塊更用以調(diào)整該參考電壓。
8.如權(quán)利要求1所述的顯示裝置，其特征在于，更包括N個(gè)第二發(fā)光模塊，每一該第二發(fā)光模塊包括: 一第二發(fā)光電路，用以發(fā)出光線；以及 一第二檢測(cè)電路，電性耦接該第二發(fā)光電路，該第二檢測(cè)電路包括: 一第三檢測(cè)輸入端，用以接收一第二檢測(cè)輸入信號(hào)； 一第四檢測(cè)輸入端，電性耦接該第二發(fā)光電路，用以由該第二發(fā)光電路接收一第二操作電壓；以及 一第二檢測(cè)輸出端，用以輸出一第二檢測(cè)輸出信號(hào)； 其中，該N個(gè)第二發(fā)光模塊中的第j個(gè)第二發(fā)光模塊的該第二檢測(cè)輸出端電性耦接至該N個(gè)第二發(fā)光模塊中的第j+Ι個(gè)第二發(fā)光模塊的該第二檢測(cè)輸入端，用以提供該第j+1個(gè)第二發(fā)光模塊的該第二檢測(cè)輸入信號(hào)，并且該驗(yàn)證模塊更電性耦接至第N個(gè)第二發(fā)光模塊的該第二檢測(cè)輸出端，以依據(jù)該第N個(gè)第二發(fā)光模塊的該第二檢測(cè)輸出信號(hào)，判斷該N個(gè)第二發(fā)光模塊的一第二操作狀態(tài)，j為小于N的正整數(shù)。
9.如權(quán)利要求8所述的顯示裝置，其特征在于，該驗(yàn)證模塊更依據(jù)該第一操作狀態(tài)與該第二操作狀態(tài)，產(chǎn)生一驗(yàn)證值以指示該顯示裝置的均勻度。
10.如權(quán)利要求1至9項(xiàng)任一所述的顯示裝置，其特征在于，該顯示裝置包括一顯示區(qū)與一非顯示區(qū)， 該非顯示區(qū)設(shè)置于該顯示區(qū)的周緣，該第一檢測(cè)電路設(shè)置于該顯示區(qū)內(nèi)。
【文檔編號(hào)】G09G3/34GK104078008SQ201410344905
【公開日】2014年10月1日 申請(qǐng)日期:2014年7月18日 優(yōu)先權(quán)日:2014年5月23日
【發(fā)明者】劉奕成 申請(qǐng)人:友達(dá)光電股份有限公司