本公開(kāi)涉及顯示面板的制造方法。

背景技術(shù)：

在有源矩陣型的有機(jī)EL顯示器中，在多個(gè)掃描線與多個(gè)數(shù)據(jù)線的交點(diǎn)設(shè)置薄膜晶體管(TFT：Thin Film Transistor)，該TFT與電容元件以及驅(qū)動(dòng)晶體管的柵極連接。而且，通過(guò)選擇出的掃描線使該TFT接通，將來(lái)自數(shù)據(jù)線的數(shù)據(jù)信號(hào)輸入到驅(qū)動(dòng)晶體管以及電容元件，通過(guò)該驅(qū)動(dòng)晶體管以及電容元件對(duì)有機(jī)EL元件的發(fā)光定時(shí)進(jìn)行控制。在此，由TFT、電容元件、驅(qū)動(dòng)晶體管以及有機(jī)EL元件構(gòu)成的像素電路的結(jié)構(gòu)越復(fù)雜，并且，發(fā)光像素?cái)?shù)越增加，在需要細(xì)微加工的制造工序中，就越發(fā)生電路元件以及布線的短路或開(kāi)放那樣的電氣不良狀況。

對(duì)此，提出了在電路元件以及布線的形成后，修正發(fā)生了不良狀況的像素的方法。在專利文獻(xiàn)1中，為了對(duì)因電路元件的短路等而總是成為發(fā)光狀態(tài)且成為亮點(diǎn)的缺陷像素進(jìn)行修正，針對(duì)所有的像素，設(shè)置有與其他的導(dǎo)電部以及布線遠(yuǎn)離而連接的非重疊部。向缺陷像素的非重疊部照射激光，從而切斷該非重疊部。據(jù)此，不良像素，電信號(hào)的傳遞被遮斷，而且，不接受基于激光照射的損傷而成為滅點(diǎn)。

現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)

專利文獻(xiàn)

專利文獻(xiàn)1：日本特開(kāi)2008－203636號(hào)公報(bào)

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

發(fā)明所要解決的課題

在專利文獻(xiàn)1所公開(kāi)的像素修正方法中，需要確定黑顯示中的亮點(diǎn)像素或白顯示中的滅點(diǎn)像素，以作為照射激光來(lái)修復(fù)缺陷像素的前階段。

然而，根據(jù)缺陷模式，會(huì)有不是觀察為點(diǎn)(像素)缺陷而是觀察為線(像素行或像素列)缺陷的情況。在此情況下，還需要逐一仔細(xì)觀察線缺陷中包含的像素，確定要修復(fù)的缺陷像素。因此，會(huì)發(fā)生導(dǎo)致確定缺陷像素的工序的繁雜化以及長(zhǎng)時(shí)間化的問(wèn)題。

于是，本公開(kāi)，提供實(shí)現(xiàn)了缺陷像素的檢查工序的簡(jiǎn)化以及縮短化的顯示面板的制造方法。

用于解決課題的手段

為了解決所述問(wèn)題，本公開(kāi)的實(shí)施方案之一涉及的顯示面板的制造方法，所述顯示面板具有以矩陣狀配置多個(gè)像素而成的顯示部，所述像素具有發(fā)光元件以及驅(qū)動(dòng)該發(fā)光元件的驅(qū)動(dòng)元件，并且以反映了輸入的顯示灰度信號(hào)的亮度來(lái)發(fā)光，所述制造方法包括如下的工序：在具有線缺陷的所述顯示面板中，將點(diǎn)燈線顯示在所述顯示部，在所述顯示部?jī)?nèi)的行方向或列方向上掃描該點(diǎn)燈線，從而將該點(diǎn)燈線與所述線缺陷重疊顯示，所述線缺陷是以沒(méi)有反映所述顯示灰度信號(hào)的亮度來(lái)發(fā)光的規(guī)定的像素行以及像素列的至少一方，所述點(diǎn)燈線是因輸入的統(tǒng)一的顯示灰度信號(hào)而發(fā)光的像素行或像素列；針對(duì)構(gòu)成所述點(diǎn)燈線的所有的像素，將向與所述線缺陷重疊顯示的所述點(diǎn)燈線輸入的所述統(tǒng)一的顯示灰度信號(hào)、或驅(qū)動(dòng)所述驅(qū)動(dòng)元件的驅(qū)動(dòng)電源電壓統(tǒng)一地變更，從而縮小所述線缺陷上的明部范圍或暗部范圍；以及根據(jù)縮小的所述明部范圍或暗部范圍在所述顯示部中的位置，確定成為所述線缺陷的起點(diǎn)的缺陷像素。

發(fā)明的效果

根據(jù)本公開(kāi)，能夠?qū)崿F(xiàn)具有線缺陷的顯示面板的檢查工序的簡(jiǎn)化以及縮短化。

附圖說(shuō)明

圖1是實(shí)施例涉及的顯示面板的結(jié)構(gòu)概略圖。

圖2是示出實(shí)施例涉及的像素電路的一個(gè)例子的電路結(jié)構(gòu)圖。

圖3A是出現(xiàn)了線缺陷式樣A的情況的顯示部的圖像圖。

圖3B是出現(xiàn)了線缺陷式樣B的情況的顯示部的圖像圖。

圖4是示出實(shí)施例涉及的顯示面板的制造方法的工作流程圖。

圖5A是說(shuō)明出現(xiàn)了線缺陷式樣A的情況的實(shí)施例涉及的缺陷像素確定工序的工作流程圖。

圖5B是說(shuō)明出現(xiàn)了線缺陷式樣B的情況的實(shí)施例涉及的缺陷像素確定工序的工作流程圖。

圖6是實(shí)施例的變形例1涉及的說(shuō)明顯示面板的制造方法的工作流程圖。

圖7是實(shí)施例的變形例2涉及的顯示面板的結(jié)構(gòu)的概略圖。

圖8是實(shí)施例涉及的利用顯示面板的制造方法制造的薄型平面TV的外觀圖。

具體實(shí)施方式

以下，對(duì)于顯示面板的制造方法的一個(gè)實(shí)施例，利用附圖進(jìn)行說(shuō)明。而且，以下說(shuō)明的實(shí)施例，都示出本公開(kāi)的優(yōu)選的一個(gè)具體例子。因此，以下的實(shí)施例所示的數(shù)值、形狀、材料、構(gòu)成要素、構(gòu)成要素的配置位置以及連接形態(tài)、工序、工序的順序等是一個(gè)例子，而不是限定本發(fā)明的主旨。因此，對(duì)于以下的實(shí)施例的構(gòu)成要素中的、示出本發(fā)明的最上位概念的實(shí)施方案中沒(méi)有記載的構(gòu)成要素，作為任意的構(gòu)成要素而被說(shuō)明。

而且，各個(gè)圖是模式圖，并不一定是嚴(yán)密示出的圖。并且，在各個(gè)圖中，對(duì)實(shí)質(zhì)上相同的結(jié)構(gòu)附上相同的符號(hào)，省略或簡(jiǎn)化重復(fù)的說(shuō)明。

(實(shí)施例)

[1.顯示面板的結(jié)構(gòu)]

首先，對(duì)于本實(shí)施例涉及的顯示面板1的結(jié)構(gòu)，利用圖1進(jìn)行說(shuō)明。

圖1是實(shí)施例涉及的顯示面板的結(jié)構(gòu)概略圖。如圖1示出，本實(shí)施例涉及的顯示面板1具備，顯示部11、柵極信號(hào)線121至124、源極信號(hào)線131、柵極驅(qū)動(dòng)電路12、以及源極驅(qū)動(dòng)電路13。

顯示部11，像素110被配置為矩陣狀而構(gòu)成，根據(jù)從外部輸入的影像信號(hào)顯示圖像。

柵極信號(hào)線121至124是，按顯示部11的每個(gè)像素行配置的、傳遞對(duì)像素110具有的開(kāi)關(guān)的導(dǎo)通以及非導(dǎo)進(jìn)行切換的控制信號(hào)的掃描線。柵極信號(hào)線121至124，與柵極驅(qū)動(dòng)電路12連接，與屬于各個(gè)像素行的像素110連接。

源極信號(hào)線131是，按顯示部11的每個(gè)像素列配置的、將作為反映了外部輸入的影像信號(hào)的顯示灰度信號(hào)的數(shù)據(jù)電壓傳遞到像素110的數(shù)據(jù)線。

柵極驅(qū)動(dòng)電路12是，顯示部11的周邊電路，并且，向柵極信號(hào)線121至124輸出所述控制信號(hào)。柵極驅(qū)動(dòng)電路12具有，對(duì)向像素110寫入數(shù)據(jù)電壓的定時(shí)進(jìn)行控制的功能、以及對(duì)向像素110施加初始化電壓及參考電壓等的各種電壓的定時(shí)進(jìn)行控制的功能等。

源極驅(qū)動(dòng)電路13是，顯示部11的周邊電路，并且，向源極信號(hào)線131輸出數(shù)據(jù)電壓。

接著，說(shuō)明顯示部11的像素電路結(jié)構(gòu)。

圖2是示出實(shí)施例涉及的像素電路的一個(gè)例子的電路結(jié)構(gòu)圖。該圖示出，顯示部11具有的多個(gè)像素110之中的一個(gè)像素110的電路結(jié)構(gòu)、以及該像素110與周邊電路的連接結(jié)構(gòu)。如該圖示出，像素110具備，有機(jī)EL元件101、驅(qū)動(dòng)晶體管102、開(kāi)關(guān)103至106、以及電容元件107。

有機(jī)EL元件101是，發(fā)光元件的一個(gè)例子，因驅(qū)動(dòng)晶體管102的驅(qū)動(dòng)電流而發(fā)光。EL陰極電壓Vss施加到有機(jī)EL元件101的陰極，有機(jī)EL元件101的陽(yáng)極與驅(qū)動(dòng)晶體管102的源極連接。

驅(qū)動(dòng)晶體管102是，對(duì)向有機(jī)EL元件101的電流的提供進(jìn)行控制的電壓驅(qū)動(dòng)的驅(qū)動(dòng)元件。驅(qū)動(dòng)晶體管102的柵極與電容元件107的第一電極連接，驅(qū)動(dòng)晶體管102的源極與電容元件107的第二電極以及有機(jī)EL元件101的陽(yáng)極連接。驅(qū)動(dòng)晶體管102，在開(kāi)關(guān)105處于接通狀態(tài)的情況下，向有機(jī)EL元件101流動(dòng)作為與對(duì)應(yīng)于顯示灰度的數(shù)據(jù)電壓對(duì)應(yīng)的電流的驅(qū)動(dòng)電流，從而使有機(jī)EL元件101發(fā)光。并且，在開(kāi)關(guān)106處于接通狀態(tài)、開(kāi)關(guān)103處于截止?fàn)顟B(tài)、開(kāi)關(guān)104處于截止?fàn)顟B(tài)、以及開(kāi)關(guān)105處于接通狀態(tài)的期間，由電容元件107檢測(cè)驅(qū)動(dòng)晶體管102的閾值電壓。

電容元件107，保持用于決定向驅(qū)動(dòng)晶體管102流動(dòng)的電流量的電壓。電容元件107的第一電極，與驅(qū)動(dòng)晶體管102的柵極連接，進(jìn)一步，參考電壓Vref經(jīng)由開(kāi)關(guān)106施加到電容元件107的第一電極。電容元件107，例如，在開(kāi)關(guān)106成為截止?fàn)顟B(tài)之后，也維持被施加的參考電壓Vref，向驅(qū)動(dòng)晶體管102的柵極繼續(xù)提供該參考電壓Vref。并且，在開(kāi)關(guān)103成為接通狀態(tài)的情況下，數(shù)據(jù)電壓施加到電容元件107，在開(kāi)關(guān)103成為截止?fàn)顟B(tài)之后，保持該數(shù)據(jù)電壓。而且，使開(kāi)關(guān)105成為接通狀態(tài)之后的驅(qū)動(dòng)晶體管102提供驅(qū)動(dòng)電流。

開(kāi)關(guān)103是，柵極與柵極信號(hào)線121電連接、源極與驅(qū)動(dòng)晶體管102的柵極電連接、漏極與源極信號(hào)線131電連接的開(kāi)關(guān)用NMOS晶體管。根據(jù)所述連接結(jié)構(gòu)，開(kāi)關(guān)103，對(duì)用于提供數(shù)據(jù)電壓的源極信號(hào)線131與電容元件107的第一電極的導(dǎo)通以及非導(dǎo)通進(jìn)行切換。

開(kāi)關(guān)106是，柵極與柵極信號(hào)線123電連接、源極與驅(qū)動(dòng)晶體管102的柵極電連接、參考電壓Vref施加到漏極的開(kāi)關(guān)用NMOS晶體管。開(kāi)關(guān)106，對(duì)向電容元件107的第一電極施加參考電壓Vref以及不施加參考電壓Vref進(jìn)行切換。

開(kāi)關(guān)104是，柵極與柵極信號(hào)線124電連接、源極與驅(qū)動(dòng)晶體管102的源極電連接、初始化電壓Vini施加到漏極的開(kāi)關(guān)用NMOS晶體管。開(kāi)關(guān)104，對(duì)向電容元件107的第二電極施加初始化電壓Vini以及不施加初始化電壓Vini進(jìn)行切換。

開(kāi)關(guān)105是，柵極與柵極信號(hào)線122電連接、源極與驅(qū)動(dòng)晶體管102的漏極電連接、EL陽(yáng)極電源電壓Vdd施加到漏極的開(kāi)關(guān)用NMOS晶體管。而且，EL陽(yáng)極電源電壓Vdd是，使驅(qū)動(dòng)晶體管102驅(qū)動(dòng)的驅(qū)動(dòng)電源電壓。根據(jù)所述連接結(jié)構(gòu)，開(kāi)關(guān)105，對(duì)向驅(qū)動(dòng)晶體管102的漏極施加EL陽(yáng)極電源電壓Vdd以及不施加EL陽(yáng)極電源電壓Vdd進(jìn)行切換。開(kāi)關(guān)105具有，向驅(qū)動(dòng)晶體管102的漏極提供電位Vdd的功能、以及用于進(jìn)行驅(qū)動(dòng)晶體管102的閾值電壓Vth的檢測(cè)的功能。

而且，對(duì)于開(kāi)關(guān)103至106，作為n型TFT來(lái)進(jìn)行說(shuō)明，但是，也可以是p型TFT，并且，也可以n型TFT和p型TFT混在一起來(lái)利用。

[2.線缺陷的發(fā)生機(jī)制]

在此，說(shuō)明顯示面板1的圖像上出現(xiàn)的、所謂線缺陷的發(fā)生機(jī)制。

圖3A是出現(xiàn)了線缺陷式樣A的情況的顯示部的圖像圖，圖3B是出現(xiàn)了線缺陷式樣B的情況的顯示部的圖像圖。

圖3A以及3B所示的圖像是，從源極驅(qū)動(dòng)電路13向顯示部11的所有的像素110提供針對(duì)統(tǒng)一的顯示灰度的數(shù)據(jù)電壓的情況的圖像，但是，在該圖像中觀察到縱條狀的線缺陷。該縱條狀的線缺陷，由以沒(méi)有反映作為輸入的顯示灰度信號(hào)的數(shù)據(jù)電壓的亮度來(lái)發(fā)光的規(guī)定的像素列構(gòu)成。更具體而言，在圖3A的圖像中，隨著從顯示部11的上下端部向中央，從明逐漸變化為暗。另一方面，在圖3B的圖像中，隨著從顯示部11的上下端部向中央，從暗逐漸變化為明。

對(duì)于得到圖3A以及3B的圖像的原因，例如，可以舉出構(gòu)成像素電路的開(kāi)關(guān)的短路不良等。例如，在圖2所示的像素電路中，顯示部11具有的一個(gè)像素110的開(kāi)關(guān)103的漏極與柵極間發(fā)生短路的情況。通常，對(duì)從柵極驅(qū)動(dòng)電路12經(jīng)由柵極信號(hào)線121施加到開(kāi)關(guān)103的柵極的控制電壓GS、與從源極驅(qū)動(dòng)電路13經(jīng)由數(shù)據(jù)線施加到開(kāi)關(guān)103的漏極的數(shù)據(jù)電壓Vdata，設(shè)定不同的電壓值。然而，在某一個(gè)像素110中，在開(kāi)關(guān)103的漏極與柵極間發(fā)生短路的情況下，源極信號(hào)線131的電壓，受到柵極信號(hào)線121的控制電壓GS的電壓的影響，從源極驅(qū)動(dòng)電路13輸出的數(shù)據(jù)電壓Vdata的電壓值變動(dòng)。受到該電位變動(dòng)的源極信號(hào)線131，配置在開(kāi)關(guān)103的漏極與柵極間發(fā)生短路的所述像素110(以下，記載為缺陷像素)所屬的像素列。因此，屬于所述像素列的像素110，從受到該電位變動(dòng)的源極信號(hào)線131，受到?jīng)]有反映輸入的顯示灰度信號(hào)的數(shù)據(jù)電壓的提供。在此，源極信號(hào)線131，具有規(guī)定的布線電阻，因此，在受到電位變動(dòng)的源極信號(hào)線131，與缺陷像素越近電位變動(dòng)就越激烈。因此，屬于與缺陷像素相同的像素列且越與該缺陷像素近的像素，就越以與缺陷像素的發(fā)光亮度近的亮度來(lái)發(fā)光，屬于與缺陷像素相同的像素列且越與該缺陷像素遠(yuǎn)的像素，就越以與缺陷像素的發(fā)光亮度不同的亮度來(lái)發(fā)光。

例如，在數(shù)據(jù)電壓被設(shè)定為正的電壓值、該電壓值越高就越顯示高灰度(明)、控制電壓GS被設(shè)定為0V以下的電壓值的情況下，缺陷像素近旁的源極信號(hào)線131的電位，向低的方向變動(dòng)。在此情況下，屬于相同的像素列且與缺陷像素近的像素110，以比本來(lái)要顯示的亮度低的亮度來(lái)發(fā)光，出現(xiàn)線缺陷式樣A。另一方面，在數(shù)據(jù)電壓被設(shè)定為正的電壓值、該電壓值越低就越顯示高灰度(明)、控制電壓GS被設(shè)定為0V以下的電壓值的情況下，缺陷像素近旁的源極信號(hào)線131的電位，向低的方向變動(dòng)。在此情況下，屬于相同的像素列且與缺陷像素近的像素110，以比本來(lái)要顯示的亮度高的亮度來(lái)發(fā)光，出現(xiàn)線缺陷式樣B。

而且，所述的線缺陷，不僅包含因源極信號(hào)線131的電位變動(dòng)而導(dǎo)致的縱條狀的線缺陷，也包含因開(kāi)關(guān)104至106的柵極與漏極間以及柵極與源極間的短路等而發(fā)生的橫條狀的線缺陷。但是，對(duì)于源極信號(hào)線131，需要向像素110的數(shù)據(jù)電壓的高速提供，因此，被設(shè)定為比柵極信號(hào)線121至124低的阻抗。因此，與柵極信號(hào)線121至124相比，源極信號(hào)線131更容易接受電位變動(dòng)的影響，與橫條狀相比，縱條狀的線缺陷更明顯地出現(xiàn)。

如上所述，因構(gòu)成像素電路的開(kāi)關(guān)用晶體管的短路等，而在顯示圖像上發(fā)生線缺陷，因此，難以從該顯示圖像確定所述缺陷像素。

對(duì)此，以下說(shuō)明根據(jù)本實(shí)施例涉及的顯示面板的制造方法，能夠確定所述缺陷像素的情況。

[3.顯示面板的制造方法]

圖4是示出實(shí)施例涉及的顯示面板的制造方法的工作流程圖。本公開(kāi)的顯示面板的制造方法包含，顯示面板的形成工序、缺陷像素的確定工序、以及修復(fù)工序。

[3－1.顯示面板形成工序]

首先，在顯示面板基板上形成顯示面板(S10)。具體而言，例如，形成適當(dāng)?shù)嘏渲脠D2所示的驅(qū)動(dòng)晶體管102、開(kāi)關(guān)103至106、電容元件107、柵極信號(hào)線121至124、以及源極信號(hào)線131等的驅(qū)動(dòng)電路層。接著，在所述驅(qū)動(dòng)電路層上，經(jīng)過(guò)該驅(qū)動(dòng)電路層的平坦化工序后，形成具有有機(jī)EL元件101的發(fā)光層。所述發(fā)光層具有，例如，陽(yáng)極、空穴注入層、空穴傳輸層、有機(jī)發(fā)光層、堤層、電子注入層、以及透明陰極。

接著，確定缺陷像素(S20)。以下，詳細(xì)說(shuō)明作為本公開(kāi)涉及的顯示面板的制造方法的主要部分的步驟S20。以下，對(duì)于從顯示部11的上端部向下端部變化為明、暗、明的縱條狀的線缺陷式樣A、以及從顯示部11的上端部向下端部變化為暗、明、暗的縱條狀線的缺陷式樣B的缺陷像素確定工序，依次進(jìn)行說(shuō)明。

[3－2－1.點(diǎn)燈線變化為明－暗－明的情況的缺陷像素確定工序]

圖5A是說(shuō)明出現(xiàn)了線缺陷式樣A的情況的實(shí)施例涉及的缺陷像素確定工序的工作流程圖。

在顯示面板形成工序之后，在出現(xiàn)了線缺陷式樣A的圖像中，在缺陷線上重疊顯示線狀的點(diǎn)燈線(S201)。具體而言，使顯示部11顯示，作為從源極驅(qū)動(dòng)電路13輸入了統(tǒng)一的顯示灰度信號(hào)的像素列的點(diǎn)燈線。接著，顯示部11內(nèi)，在行方向(列掃描方向，顯示部左右方向)上掃描所述點(diǎn)燈線，來(lái)重疊顯示該點(diǎn)燈線和線缺陷。在此，優(yōu)選的是，預(yù)先使不屬于點(diǎn)燈線的像素統(tǒng)一地滅燈。據(jù)此，所述點(diǎn)燈線和其他的像素的對(duì)比度提高，能夠提高該點(diǎn)燈線的視認(rèn)度。

在步驟S201中，對(duì)于顯示所述點(diǎn)燈線的具體方法，使柵極驅(qū)動(dòng)電路12，按行順序向柵極信號(hào)線121至124提供HIGH電平的控制電壓GS、GE、GR以及GI。并且，使柵極驅(qū)動(dòng)電路12，僅向配置在規(guī)定的像素列的源極信號(hào)線131，提供作為使該像素列統(tǒng)一地點(diǎn)燈的顯示灰度信號(hào)的數(shù)據(jù)電壓。接著，使源極驅(qū)動(dòng)電路13，按列順序，對(duì)提供所述數(shù)據(jù)電壓的源極信號(hào)線131進(jìn)行掃描。觀看者(操作者)，在按列順序移位的點(diǎn)燈線，與具有預(yù)先觀看的線缺陷的像素列重疊的時(shí)刻，停止點(diǎn)燈線的列掃描。

接著，使點(diǎn)燈線的顯示灰度增加(S203)。對(duì)于使所述點(diǎn)燈線的顯示灰度增加的具體方法，使源極驅(qū)動(dòng)電路13，使施加到配置在所述點(diǎn)燈線重疊的、缺陷像素所屬的像素列的源極信號(hào)線131的數(shù)據(jù)電壓變化，以使該點(diǎn)燈線的顯示灰度提高。據(jù)此，缺陷像素所屬的像素列的有機(jī)EL元件101的發(fā)光亮度上升，因此，能夠縮小線缺陷的暗部范圍。

而且，在步驟S203中，對(duì)于使與所述線缺陷重疊的點(diǎn)燈線的顯示灰度提高的方法，也可以代替使數(shù)據(jù)電壓變更，而使EL陽(yáng)極電源電壓Vdd變大。據(jù)此，缺陷像素所屬的像素列的有機(jī)EL元件101中流動(dòng)的發(fā)光電流變大，有機(jī)EL元件101的發(fā)光亮度上升，因此，能夠縮小線缺陷的暗部范圍。

接著，確定線缺陷的起點(diǎn)部位(S205)。具體而言，根據(jù)步驟S203中縮小的所述暗部范圍在顯示部11中的位置，確定成為線缺陷的起點(diǎn)的缺陷像素。

根據(jù)所述的線缺陷的發(fā)生機(jī)制，在步驟S203中，能夠判斷為即使在線缺陷的像素列統(tǒng)一地提高線缺陷的顯示灰度也作為暗部殘存的部位中包含缺陷像素。

據(jù)此，在觀看線缺陷之后，不逐一仔細(xì)觀察該線缺陷中包含的像素，而統(tǒng)一地提高點(diǎn)燈線的顯示灰度，從而也能夠縮小所述暗部范圍來(lái)確定缺陷像素。因此，能夠?qū)崿F(xiàn)缺陷像素的確定工序的簡(jiǎn)化以及縮短化。

[3－2－2.點(diǎn)燈線變化為暗－明－暗的情況的缺陷像素確定工序]

圖5B是說(shuō)明出現(xiàn)了線缺陷式樣B的情況的實(shí)施例涉及的缺陷像素確定工序的工作流程圖。

在顯示面板形成工序之后，在出現(xiàn)了線缺陷式樣B的圖像中，在缺陷線上重疊顯示線狀的點(diǎn)燈線(S211)。具體而言，使顯示部11顯示，作為從信號(hào)源極驅(qū)動(dòng)電路13輸入了統(tǒng)一的顯示灰度的像素列的點(diǎn)燈線。接著，顯示部11內(nèi)，在行方向(列掃描方向，顯示部左右方向)上掃描所述點(diǎn)燈線，來(lái)重疊顯示該點(diǎn)燈線和線缺陷。在此，優(yōu)選的是，預(yù)先使不屬于點(diǎn)燈線的像素統(tǒng)一地滅燈。據(jù)此，所述點(diǎn)燈線和其他的像素的對(duì)比度提高，能夠提高該點(diǎn)燈線的視認(rèn)度。

在步驟S211中，對(duì)于顯示所述點(diǎn)燈線的具體方法，使柵極驅(qū)動(dòng)電路12，按行順序向柵極信號(hào)線121至124提供HIGH電平的控制電壓GS、GE、GR以及GI。并且，使源極驅(qū)動(dòng)電路13，僅向配置在規(guī)定的像素列的源極信號(hào)線131，提供作為使該像素列統(tǒng)一地點(diǎn)燈的顯示灰度信號(hào)的數(shù)據(jù)電壓。接著，使源極驅(qū)動(dòng)電路13，按列順序，對(duì)提供所述數(shù)據(jù)電壓的源極信號(hào)線131進(jìn)行掃描。觀看者(操作者)，在按列順序移位的點(diǎn)燈線，與具有預(yù)先觀看的線缺陷的像素列重疊的時(shí)刻，停止點(diǎn)燈線的列掃描。

接著，使點(diǎn)燈線的顯示灰度減少(S213)。對(duì)于使所述點(diǎn)燈線的顯示灰度減少的具體方法，使源極驅(qū)動(dòng)電路13，使施加到配置在所述點(diǎn)燈線重疊的、缺陷像素所屬的像素列的源極信號(hào)線131的數(shù)據(jù)電壓變化，以使該點(diǎn)燈線的顯示灰度降低。據(jù)此，缺陷像素所屬的像素列的有機(jī)EL元件101的發(fā)光亮度降低，因此，能夠縮小線缺陷的明部范圍。

而且，在步驟S213中，對(duì)于使與所述線缺陷重疊的點(diǎn)燈線的顯示灰度降低的方法，也可以代替使數(shù)據(jù)電壓變更，而使EL陽(yáng)極電源電壓Vdd變小。據(jù)此，缺陷像素所屬的像素列的有機(jī)EL元件101中流動(dòng)的發(fā)光電流變小，有機(jī)EL元件101的發(fā)光亮度降低，因此，能夠縮小線缺陷的明部范圍。

接著，確定線缺陷的起點(diǎn)部位(S215)。具體而言，根據(jù)步驟S213中縮小的所述明部范圍在顯示部11中的位置，確定成為線缺陷的起點(diǎn)的缺陷像素。

根據(jù)所述的線缺陷的發(fā)生機(jī)制，在步驟S213中，能夠判斷為即使在線缺陷的像素列統(tǒng)一地降低線缺陷的顯示灰度也作為明部殘存的部位中包含缺陷像素。

據(jù)此，在觀看線缺陷之后，不逐一仔細(xì)觀察該線缺陷中包含的像素，而統(tǒng)一地降低點(diǎn)燈線的顯示灰度，從而也能夠縮小所述明部范圍來(lái)確定缺陷像素。因此，能夠?qū)崿F(xiàn)缺陷像素的確定工序的簡(jiǎn)化以及縮短化。

而且，在所述缺陷像素確定工序中，預(yù)先使不屬于點(diǎn)燈線的像素統(tǒng)一地滅燈。然而，在根據(jù)出現(xiàn)的線缺陷的亮度以及亮度變化的形態(tài)等，能夠使不屬于點(diǎn)燈線的像素與線缺陷的對(duì)比度更明確的情況下，也可以不使不屬于點(diǎn)燈線的像素統(tǒng)一地滅燈，而以規(guī)定的亮度統(tǒng)一地點(diǎn)燈。

[3－3.缺陷像素的修復(fù)工序]

最后，修復(fù)缺陷像素(S30)。具體而言，觀察步驟S20中確定的缺陷像素的缺陷狀態(tài)，在判斷為能夠修復(fù)該缺陷像素的情況下，修復(fù)該缺陷像素。另一方面，在判斷為不能修復(fù)該缺陷像素的情況下，不修復(fù)該缺陷像素，而將具有判斷為不能修復(fù)的缺陷像素的顯示面板、或判斷為不能修復(fù)的缺陷像素的數(shù)量為規(guī)定值以上的顯示面板，作為不良品來(lái)處理。

而且，對(duì)于缺陷像素的修復(fù)方法，可以舉出通過(guò)向缺陷部位照射激光、或在缺陷部位流動(dòng)規(guī)定值以上的脈沖電流等，從而解決缺陷部位的短路或開(kāi)放的方法。

根據(jù)所述顯示面板的制造方法，在顯示在顯示面板的檢查用圖像中，針對(duì)以沒(méi)有反映輸入的統(tǒng)一的顯示灰度信號(hào)的亮度來(lái)發(fā)光的線缺陷，(1)在行方向或列方向上對(duì)輸入了統(tǒng)一的顯示灰度信號(hào)點(diǎn)燈線進(jìn)行掃描，來(lái)重疊顯示該點(diǎn)燈線和線缺陷，(2)在點(diǎn)燈線將輸入到屬于與線缺陷重疊顯示的點(diǎn)燈線的像素行或像素列的顯示灰度信號(hào)、或驅(qū)動(dòng)電源電壓統(tǒng)一地變更，從而縮小線缺陷上的明部范圍或暗部范圍，(3)根據(jù)縮小的明部范圍或暗部范圍在顯示部中的位置，確定成為線缺陷的起點(diǎn)的缺陷像素。據(jù)此，在觀看線缺陷之后，不逐一仔細(xì)觀察該線缺陷中包含的像素，而將點(diǎn)燈線的顯示灰度統(tǒng)一地變更，從而也能夠縮小所述明部范圍或暗部范圍來(lái)確定缺陷像素。因此，能夠?qū)崿F(xiàn)缺陷像素的確定工序的簡(jiǎn)化以及縮短化。

而且，在所述制造方法中示出了，顯示由像素列或像素行構(gòu)成的線缺陷的情況的缺陷像素的確定方法示的例子，但是，本公開(kāi)的顯示面板的制造方法，不僅限于此。例如，即使在由像素列以及像素行的組合構(gòu)成的線缺陷、以及由多個(gè)像素列或多個(gè)像素行構(gòu)成的線缺陷出現(xiàn)在顯示面板的情況下，也能夠適用所述實(shí)施例涉及的缺陷像素的確定工序。在此情況下，通過(guò)組合所述步驟S20中包含的各個(gè)步驟，從而能夠確定缺陷像素。

并且，在所述制造方法中，經(jīng)由顯示面板1具有的柵極驅(qū)動(dòng)電路12以及源極驅(qū)動(dòng)電路13，執(zhí)行了點(diǎn)燈線的顯示以及點(diǎn)燈線的顯示灰度的變更，但是，不僅限于此。例如，也可以在顯示面板的制造工序中，針對(duì)安裝柵極驅(qū)動(dòng)電路12以及源極驅(qū)動(dòng)電路13之前的顯示面板，適用所述步驟S20的缺陷像素的確定工序。在此情況下，在內(nèi)置有在規(guī)定的定時(shí)輸出各個(gè)控制電壓以及數(shù)據(jù)電壓的輸出電路的檢查裝置配置顯示面板，從而執(zhí)行所述步驟S20的缺陷像素的確定工序。

[4.顯示面板的制造方法的變形例1]

在本變形例中說(shuō)明，為了與顯示面板的制造工序的變化形態(tài)對(duì)應(yīng)，而多次執(zhí)行作為所述的確定缺陷像素的工序的步驟S20的制造方法。

圖6是實(shí)施例的變形例1涉及的說(shuō)明顯示面板的制造方法的工作流程圖。

首先，在顯示面板基板上形成顯示面板(S10)。

接著，在顯示面板的周邊部，安裝柵極驅(qū)動(dòng)電路以及源極驅(qū)動(dòng)電路等的電路板(S15)。

接著，對(duì)顯示面板進(jìn)行時(shí)效處理，然后，觀察顯示圖像中是否發(fā)生線缺陷(S16)。

在步驟S16中確認(rèn)到線缺陷的情況下(S16的“是”)，執(zhí)行所述實(shí)施例中執(zhí)行的缺陷像素的確定(S20)。在判斷為能夠修復(fù)確定的缺陷像素的情況下(S26的“是”)，修復(fù)該缺陷像素(S30)。在判斷為不能修復(fù)確定的缺陷像素的情況下(S26的“否”)，將該顯示面板作為不良品來(lái)處理。

接著，在步驟S16中沒(méi)有確認(rèn)線缺陷的情況下(S16的“否”)，進(jìn)行顯示面板的點(diǎn)燈確認(rèn)，觀察點(diǎn)燈圖像中是否發(fā)生線缺陷(S17)。

在步驟S17中確認(rèn)到線缺陷的情況下(S17的“是”)，執(zhí)行所述實(shí)施例中執(zhí)行的缺陷像素的確定(S20)。在判斷為能夠修復(fù)確定的缺陷像素的情況下(S27的“是”)，修復(fù)該缺陷像素(S30)。在判斷為不能修復(fù)確定的缺陷像素的情況下(S27的“否”)，將該顯示面板作為不良品來(lái)處理。

接著，在步驟S17中沒(méi)有確認(rèn)線缺陷的情況下(S17的“否”)，進(jìn)行顯示面板的通常的亮點(diǎn)修復(fù)，然后，觀察顯示圖像中是否發(fā)生線缺陷(S18)。

在步驟S18中確認(rèn)到線缺陷的情況下(S18的“是”)，執(zhí)行所述實(shí)施例中執(zhí)行的缺陷像素的確定(S20)。在判斷為能夠修復(fù)確定的缺陷像素的情況下(S28的“是”)，修復(fù)該缺陷像素(S30)。在判斷為不能修復(fù)確定的缺陷像素的情況下(S28的“否”)，將該顯示面板作為不良品來(lái)處理。

接著，在步驟S18中沒(méi)有確認(rèn)線缺陷的情況下(S18的“否”)，進(jìn)行顯示面板的亮度校正，然后，觀察顯示圖像中是否發(fā)生線缺陷(S19)。

在步驟S19中確認(rèn)到線缺陷的情況下(S19的“是”)，執(zhí)行所述實(shí)施例中執(zhí)行的缺陷像素的確定(S20)。在判斷為能夠修復(fù)確定的缺陷像素的情況下(S29的“是”)，修復(fù)該缺陷像素(S30)。在判斷為不能修復(fù)確定的缺陷像素的情況下(S29的“否”)，將該顯示面板作為不良品來(lái)處理。

接著，在步驟S19中沒(méi)有確認(rèn)線缺陷的情況下(S19的“否”)，執(zhí)行顯示面板的組裝(S40)。

根據(jù)所述的變形例1涉及的顯示面板的制造方法，在施加溫度負(fù)荷以及電負(fù)荷的工序之后，按該工序執(zhí)行本實(shí)施例涉及的缺陷像素的確定工序，因此，缺陷像素的檢測(cè)精度提高，顯示面板的制造成品率提高。

[5.顯示面板的制造方法的變形例2]

在本變形例中說(shuō)明，在作為所述的確定缺陷像素的工序的步驟S20中，更有效地縮小所述明部范圍或暗部范圍的方法。

圖7是實(shí)施例的變形例2涉及的顯示面板的結(jié)構(gòu)的概略圖。如圖7示出，本變形例涉及的顯示面板2具備，顯示部11、柵極信號(hào)線121至124、源極信號(hào)線131、柵極驅(qū)動(dòng)電路12a及12b、以及源極驅(qū)動(dòng)電路13a及13b。

柵極信號(hào)線121至124，與柵極驅(qū)動(dòng)電路12a以及12b連接，并且，與屬于各個(gè)像素行的像素110連接。

源極信號(hào)線131，與源極驅(qū)動(dòng)電路13a以及13b連接，并且，與屬于各個(gè)像素列的像素110連接。

柵極驅(qū)動(dòng)電路12a以及12b是，顯示部11的周邊電路，并且，向柵極信號(hào)線121至124輸出控制信號(hào)。柵極驅(qū)動(dòng)電路12a，被配置在顯示部11的左側(cè)端部。并且，柵極驅(qū)動(dòng)電路12b，被配置在顯示部11的右側(cè)端部，被配置為隔著以矩陣狀配置的多個(gè)像素110，與柵極驅(qū)動(dòng)電路12a相對(duì)。在此，柵極驅(qū)動(dòng)電路12a以及12b具有，對(duì)與柵極信號(hào)線121至124的導(dǎo)通以及非導(dǎo)通進(jìn)行切換的開(kāi)關(guān)。

源極驅(qū)動(dòng)電路13a以及13b是，顯示部11的周邊電路，并且，向源極信號(hào)線131輸出數(shù)據(jù)電壓。源極驅(qū)動(dòng)電路13a，被配置在顯示部11的上側(cè)端部。并且，源極驅(qū)動(dòng)電路13b，被配置在顯示部11的下側(cè)端部，被配置為隔著以矩陣狀配置的多個(gè)像素110，與源極驅(qū)動(dòng)電路13a相對(duì)。在此，源極驅(qū)動(dòng)電路13a以及13b具有，對(duì)與源極信號(hào)線131的導(dǎo)通以及非導(dǎo)通進(jìn)行切換的開(kāi)關(guān)。

說(shuō)明具有所述結(jié)構(gòu)的顯示面板2的本變形例涉及的制造方法。本變形例涉及的顯示面板2的制造方法，與實(shí)施例涉及的顯示面板1的制造方法相比，僅確定缺陷像素的工序(S20)之中的使顯示灰度變化的工序(S203以及S213)不同。以下，省略與實(shí)施例涉及的顯示面板1的制造方法相同之處的說(shuō)明，僅說(shuō)明不同之處。

在出現(xiàn)了線缺陷式樣A的圖像中，將點(diǎn)燈線重疊于該缺陷線上來(lái)顯示之后，將源極驅(qū)動(dòng)電路13a或源極驅(qū)動(dòng)電路13b與源極信號(hào)線131處于非連接狀態(tài)。例如，在顯示部11的下方區(qū)域觀察到重疊于線缺陷的點(diǎn)燈線的暗部范圍的情況下，將源極驅(qū)動(dòng)電路13a處于非連接狀態(tài)，在顯示部11的上方區(qū)域觀察到重疊于線缺陷的點(diǎn)燈線的暗部范圍的情況下，將源極驅(qū)動(dòng)電路13b處于非連接狀態(tài)。

在顯示部11的下方區(qū)域觀察到所述暗部范圍的情況下，缺陷像素存在于作為所述線缺陷的像素列的下方的概率高。并且，在顯示部11的上方區(qū)域觀察到所述暗部范圍的情況下，缺陷像素存在于作為所述線缺陷的像素列的上方的概率高。將源極驅(qū)動(dòng)電路13a或13b處于非連接狀態(tài)，從而能夠變更源極信號(hào)線131的阻抗，因此，能夠縮小所述暗部區(qū)域的范圍。

在將源極驅(qū)動(dòng)電路13a或源極驅(qū)動(dòng)電路13b與源極信號(hào)線131處于非連接狀態(tài)之后，增加點(diǎn)燈線的顯示灰度(S203)。

據(jù)此，能夠更有效地縮小線缺陷的暗部范圍。

而且，對(duì)于出現(xiàn)了線缺陷式樣B的圖像，與所述的出現(xiàn)了線缺陷式樣A的圖像的制造方法同樣，將源極驅(qū)動(dòng)電路13a或源極驅(qū)動(dòng)電路13b與源極信號(hào)線131處于非連接狀態(tài)，從而也能夠更有效地縮小線缺陷的明部范圍。

[6.效果等]

如上所述，本實(shí)施例涉及的顯示面板的制造方法，在具有作為以沒(méi)有反映顯示灰度信號(hào)的亮度來(lái)發(fā)光的規(guī)定的像素行以及像素列的至少一方的線缺陷的顯示面板中，將作為輸入了統(tǒng)一的顯示灰度信號(hào)的像素行或像素列的點(diǎn)燈線顯示在顯示部11，在顯示部11內(nèi)的行方向或列方向上掃描該點(diǎn)燈線，從而將該點(diǎn)燈線與線缺陷重疊顯示；針對(duì)構(gòu)成點(diǎn)燈線的所有的像素，將向?qū)儆谂c線缺陷重疊顯示的點(diǎn)燈線的像素行或像素列輸入的顯示灰度信號(hào)的電壓電平、或使驅(qū)動(dòng)元件驅(qū)動(dòng)的驅(qū)動(dòng)電源電壓統(tǒng)一地變更，從而縮小線缺陷上的明部范圍或暗部范圍；以及根據(jù)縮小的明部范圍或暗部范圍在顯示部11中的位置，確定成為線缺陷的起點(diǎn)的缺陷像素。

據(jù)此，在觀看線缺陷之后，即使不逐一仔細(xì)觀察該線缺陷中包含的像素，通過(guò)將點(diǎn)燈線的顯示灰度統(tǒng)一地變更，從而也能夠?qū)⑺雒鞑糠秶虬挡糠秶冋瓉?lái)確定缺陷像素。因此，能夠?qū)崿F(xiàn)缺陷像素的確定工序的簡(jiǎn)化以及縮短化。

而且，也可以是，在將點(diǎn)燈線與線缺陷重疊顯示的工序、縮小線缺陷上的明部范圍或暗部范圍的工序、以及確定缺陷像素的工序中，使不屬于點(diǎn)燈線的像素滅燈。

據(jù)此，點(diǎn)燈線與其他的像素的對(duì)比度提高，能夠提高該點(diǎn)燈線的視認(rèn)度。

并且，例如，在將點(diǎn)燈線與線缺陷重疊顯示的工序中，將點(diǎn)燈線與線缺陷重疊之后，點(diǎn)燈線的顯示形態(tài)從點(diǎn)燈線的一端到另一端依次變化為明、暗、明的情況下，在縮小線缺陷上的明部范圍或暗部范圍的工序中，以提高顯示灰度的方式在點(diǎn)燈線將統(tǒng)一的顯示灰度信號(hào)統(tǒng)一地變更，或者，在點(diǎn)燈線統(tǒng)一地使驅(qū)動(dòng)電源電壓變大，從而縮小暗部范圍。

據(jù)此，將點(diǎn)燈線的顯示灰度統(tǒng)一地變更，從而能夠?qū)挡糠秶冋瓉?lái)確定缺陷像素。

并且，例如，在將點(diǎn)燈線與線缺陷重疊顯示的工序中，將點(diǎn)燈線與線缺陷重疊之后，點(diǎn)燈線的顯示形態(tài)從點(diǎn)燈線的一端到另一端依次變化為暗、明、暗的情況下，在縮小線缺陷上的明部范圍或暗部范圍的工序中，以降低顯示灰度的方式在點(diǎn)燈線將統(tǒng)一的顯示灰度信號(hào)統(tǒng)一地變更，或者，在點(diǎn)燈線統(tǒng)一地使驅(qū)動(dòng)電源電壓變小，從而縮小明部范圍。

據(jù)此，將點(diǎn)燈線的顯示灰度統(tǒng)一地變更，從而能夠?qū)⒚鞑糠秶冋瓉?lái)確定缺陷像素。

并且，也可以是，還包括，修復(fù)確定的缺陷像素的工序。

據(jù)此，缺陷像素成為正常像素，因此，能夠提高顯示面板的制造成品率。

并且，也可以是，還包括如下的工序，在形成像素的工序之后、且將點(diǎn)燈線與線缺陷重疊顯示的工序之前，對(duì)顯示面板進(jìn)行時(shí)效處理，在該時(shí)效處理之后檢查顯示部的線缺陷的有無(wú)。

據(jù)此，在施加溫度負(fù)荷的工序之后，執(zhí)行檢查線缺陷的有無(wú)，來(lái)確定缺陷像素的工序，因此，缺陷像素的檢測(cè)精度提高，顯示面板的制造成品率提高。

并且，也可以是，在顯示部的一端以及與該一端相對(duì)的另一端，分別配置有向像素提供與顯示灰度信號(hào)對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)電壓的第一源極驅(qū)動(dòng)電路以及第二源極驅(qū)動(dòng)電路，在縮小明部范圍或暗部范圍的工序中，使第一源極驅(qū)動(dòng)電路以及第二源極驅(qū)動(dòng)電路的一方與像素成為非導(dǎo)通，從第一源極驅(qū)動(dòng)電路以及第二源極驅(qū)動(dòng)電路的另一方針對(duì)構(gòu)成點(diǎn)燈線的所有的像素提供統(tǒng)一的數(shù)據(jù)電壓，并且，在構(gòu)成點(diǎn)燈線的所有的像素將數(shù)據(jù)電壓或驅(qū)動(dòng)電源電壓統(tǒng)一地變更，從而縮小線缺陷上的明部范圍或暗部范圍。

據(jù)此，能夠更有效地縮小線缺陷的明部范圍或暗部范圍。

(其他的實(shí)施例)

以上，說(shuō)明了實(shí)施例涉及的顯示面板的制造方法，但是，本公開(kāi)的顯示面板的制造方法，不僅限于所述的實(shí)施例。在不脫離本發(fā)明的宗旨的范圍內(nèi)，對(duì)所述實(shí)施例實(shí)施本領(lǐng)域技術(shù)人員想到的各種變形而得到的變形例，以及利用實(shí)施例涉及的顯示面板的制造方法來(lái)制造的顯示面板也包含在本發(fā)明中。

并且，在所述實(shí)施例中，舉出了本公開(kāi)的顯示面板1以及2具有的像素電路結(jié)構(gòu)的一個(gè)例子，但是，像素110的電路結(jié)構(gòu)不僅限于所述電路結(jié)構(gòu)。例如，在所述實(shí)施例中示出了，在EL陽(yáng)極電源電壓Vdd與EL陰極電源電壓Vss之間，依次配置開(kāi)關(guān)105、驅(qū)動(dòng)晶體管102以及有機(jī)EL元件101的結(jié)構(gòu)的例子，但是，也可以以不同的順序配置這些三個(gè)元件。也就是說(shuō)，本公開(kāi)的顯示面板1以及2，即使驅(qū)動(dòng)晶體管是n型還是p型，驅(qū)動(dòng)晶體管102的漏極及源極、以及有機(jī)EL元件101的陽(yáng)極及陰極，也被配置在EL陽(yáng)極電源電壓Vdd與EL陰極電源電壓Vss之間的電流直徑路上即可，不僅限于驅(qū)動(dòng)晶體管102以及有機(jī)EL元件101的配置順序。

并且，在所述實(shí)施例中，在開(kāi)關(guān)103至106是，具有柵極、源極以及漏極的MOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)的前提下進(jìn)行了說(shuō)明，但是，對(duì)于這些晶體管，也可以適用具有基極、集電極以及發(fā)射極的雙極晶體管。即使在此情況下，也實(shí)現(xiàn)本公開(kāi)的目的，獲得同樣的效果。

并且，在所述實(shí)施例涉及的顯示面板的制造方法中，舉出了制造利用了有機(jī)EL元件101的顯示面板的情況的例子，但是，也可以適用于利用了有機(jī)EL元件以外的發(fā)光元件的顯示面板的制造方法。

并且，例如，所述實(shí)施例涉及的顯示面板的制造方法，能夠適用于圖8所示的薄型平面TV。通過(guò)利用所述實(shí)施例涉及的顯示面板的制造方法，能夠?qū)崿F(xiàn)具有實(shí)現(xiàn)了制造工序的簡(jiǎn)化以及縮短化的顯示面板的薄型平面TV。

本公開(kāi)涉及顯示面板的制造方法，例如，能夠利用于有機(jī)EL顯示面板等的制造方法。

附圖符號(hào)的說(shuō)明

1、2 顯示面板

11 顯示部

12、12a、12b 柵極驅(qū)動(dòng)電路

13、13a、13b 源極驅(qū)動(dòng)電路

101 有機(jī)EL元件

102 驅(qū)動(dòng)晶體管

103、104、105、106 開(kāi)關(guān)

107 電容元件

110 像素

121、122、123、124 柵極信號(hào)線

131 源極信號(hào)線