1.一種顯示屏殘影檢測(cè)方法，其特征在于，包括：
獲得待檢測(cè)殘影的顯示屏圖像；
將所述顯示屏圖像中所述顯示屏的顯示畫(huà)面部分平均分為至少兩個(gè)相同的區(qū)域；
以至少兩個(gè)所述區(qū)域中的一個(gè)為參考區(qū)，按所述參考區(qū)的大小繪制區(qū)域棋盤(pán)格畫(huà)面；
將所述區(qū)域棋盤(pán)格畫(huà)面和所述顯示畫(huà)面部分的各個(gè)所述區(qū)域分別進(jìn)行傅里葉變換，獲得各個(gè)所述區(qū)域殘影的特征頻率及其對(duì)應(yīng)在各自頻譜結(jié)構(gòu)中的第一頻譜能量值，另外獲取各個(gè)所述區(qū)域的參考頻率在頻域結(jié)構(gòu)中的第二頻譜能量值；
獲得各個(gè)所述區(qū)域?qū)?yīng)的所述第一頻譜能量值與所述第二頻譜能量值的比值。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法進(jìn)一步包括：
獲得各個(gè)所述區(qū)域?qū)?yīng)的比值中最大的一個(gè)比值；
判斷所述最大的一個(gè)比值是否超出對(duì)應(yīng)檢測(cè)合格的數(shù)值范圍，若超出所述數(shù)值范圍，則判斷為不合格，否則為合格。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，將所述顯示屏的顯示畫(huà)面部分平均分為至少兩個(gè)相同的區(qū)域包括：
將所述顯示屏的顯示畫(huà)面部分平均分為至少兩個(gè)面積相同且形狀相同的區(qū)域。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，將所述顯示屏的顯示畫(huà)面部分平均分為至少兩個(gè)面積相同且形狀相同的區(qū)域包括：
將所述顯示屏的顯示畫(huà)面部分平均劃分為不重疊且面積相同、形狀相同的第一矩形區(qū)域；
在所述第一矩形區(qū)域基礎(chǔ)上，繼續(xù)在相鄰兩個(gè)所述第一矩形區(qū)域之間、四個(gè)所述第一矩形區(qū)域之間劃分相互重疊且面積相同、形狀相同的第二矩形區(qū)域。
5.根據(jù)權(quán)利要求1至4任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述參考頻率是零頻。
6.一種顯示屏殘影檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，包括：
獲取裝置，用于獲得待檢測(cè)殘影的顯示屏圖像；
劃分裝置，用于將所述顯示屏圖像中所述顯示屏的顯示畫(huà)面部分平均分為至少兩個(gè)相同的區(qū)域；
繪制裝置，用于以至少兩個(gè)所述區(qū)域中的一個(gè)為參考區(qū)，按所述參考區(qū)的大小繪制區(qū)域棋盤(pán)格畫(huà)面；
運(yùn)算裝置，用于將所述區(qū)域棋盤(pán)格畫(huà)面和所述顯示畫(huà)面部分的各個(gè)所述區(qū)域分別進(jìn)行傅里葉變換，獲得各個(gè)所述區(qū)域殘影的特征頻率及其對(duì)應(yīng)在各自頻譜結(jié)構(gòu)中的第一頻譜能量值，另外獲取各個(gè)所述區(qū)域的參考頻率在頻域結(jié)構(gòu)中的第二頻譜能量值，進(jìn)一步獲得各個(gè)所述區(qū)域?qū)?yīng)的所述第一頻譜能量值與所述第二頻譜能量值的比值。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述運(yùn)算裝置進(jìn)一步包括：
獲取單元，用于獲得各個(gè)所述區(qū)域?qū)?yīng)的比值中最大的一個(gè)比值；
判斷單元，用于判斷所述最大的一個(gè)比值是否超出對(duì)應(yīng)檢測(cè)合格的數(shù)值范圍；
處理單元，用于在所述判斷單元判斷到超出所述數(shù)值范圍時(shí)，判斷為不合格，否則為合格。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述劃分裝置具體是將所述顯示屏的顯示畫(huà)面部分平均分為至少兩個(gè)面積相同且形狀相同的區(qū)域。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述劃分裝置具體是將所述顯示屏的顯示畫(huà)面部分平均劃分為不重疊且面積相同、形狀相同的第一矩形區(qū)域，并在所述第一矩形區(qū)域基礎(chǔ)上，繼續(xù)在相鄰兩個(gè)所述第一矩形區(qū)域之間、四個(gè)所述第一矩形區(qū)域之間劃分相互重疊且面積相同、形狀相同的第二矩形區(qū)域。
10.根據(jù)權(quán)利要求6至9任一項(xiàng)所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述參考頻率是零頻。