本發(fā)明涉及顯示技術領域，尤其涉及一種顯示面板測試系統(tǒng)及顯示面板的測試方法。

背景技術：

隨著顯示技術的發(fā)展，液晶顯示器(Liquid Crystal Display，LCD)及有機發(fā)光二極管顯示器(Organic Light Emitting Display，OLED)等平面顯示裝置因具有高畫質、省電、機身薄及應用范圍廣等優(yōu)點，而被廣泛的應用于手機、電視、個人數(shù)字助理、數(shù)字相機、筆記本電腦、臺式計算機等各種消費性電子產(chǎn)品，成為顯示裝置中的主流。

通常在顯示面板的在生產(chǎn)過程中會設置多個測試環(huán)節(jié)，來保證顯示面板的品質，提升生產(chǎn)效率，其中，在顯示面板成盒(Cell)后，會對顯示面板進行點亮測試，通過顯示簡單的畫面來檢測顯示面板的顯示品質。目前，為了方便檢測，顯示面板的玻璃上會設計有一系列的測試點(Test Pad)，在這些測試點上輸入對應的測試信號就可以產(chǎn)生簡單的畫面，以進行點亮測試。

現(xiàn)有技術中，點亮測試過程通常包括：先將顯示面板固定到顯示面板固定臺(JIG)上，然后將帶有探針的壓頭壓合到顯示面板上，使得探針與測試點接觸，進而將測試信號一一接觸輸入到顯示面板內(nèi)部的。

其中，壓頭在壓合時，需要將探針、及探針對應的測試點準確對位到一起，以實現(xiàn)測試信號的傳輸，目前，探針與測試點的是通過測試人員肉眼進行對位的，極易出現(xiàn)對位不準的情況，短路情況經(jīng)常發(fā)生，大大影響了產(chǎn)品開發(fā)的效率。

技術實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的在于提供一種顯示面板測試系統(tǒng)，能夠避免顯示面板點亮測試中因壓頭對位不準導致的短路問題，減少對位時間，提高測試效率。

本發(fā)明的目的還在于提供一種顯示面板的測試方法，能夠避免顯示面板點亮測試中因壓頭對位不準導致的短路問題，減少對位時間，提高測試效率。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種顯示面板測試系統(tǒng)，包括：顯示面板、對應所述顯示面板設置的壓頭、以及與所述壓頭電性連接的轉接板；

所述壓頭上依次排列的有一第一對位探針、數(shù)個測試信號探針、一第二對位探針；

所述顯示面板上設有對應所述第一對位探針設置的第一對位點、對應所述第二對位探針設置的第二對位點、以及數(shù)個與所述測試信號探針一一對應的測試點，所述第一對位點與所述第二對位點設于所述顯示面板上的走線電性連接；

所述轉接板內(nèi)設有信號轉接電路，所述信號轉接電路包括：一電阻、以及數(shù)個薄膜晶體管，所述測試信號探針的數(shù)量與薄膜晶體管的數(shù)量相同；

所述電阻一端接入薄膜晶體管關閉信號，另一端經(jīng)由第一節(jié)點電性連接第一對位探針；所述數(shù)個薄膜晶體管的柵極均電性連接第一節(jié)點，源極分別接入一測試信號，漏極分別電性連接一測試信號探針；所述第二對位探針經(jīng)由轉接板接入薄膜晶體管開啟信號；所述薄膜晶體管開啟信號與所述薄膜晶體管關閉信號的電位相反；

測試時，將所述壓頭壓合到顯示面板上，使得所述第一對位探針與所述第一對位點對位接觸，第二對位探針與所述第二對位點對位接觸，數(shù)個測試信號探針分別與數(shù)個測試點一一對位接觸，所述薄膜晶體管開啟信號經(jīng)由走線傳輸?shù)降谝还?jié)點，各個薄膜晶體管均打開，測試信號寫入顯示面板顯示測試畫面。

所述壓頭上設有4個測試信號探針，所述顯示面板設有4個測試點，所述信號轉接電路包括4個薄膜晶體管；

所述4個薄膜晶體管的源極接入的測試信號分別為：高電位點亮信號、低電位點亮信號、恒壓高電位信號、以及恒壓低電位信號。

所述4個薄膜晶體管均為N型薄膜晶體管，所述薄膜晶體管開啟信號為恒壓高電位信號，所述薄膜晶體管關閉信號為恒壓低電位信號。

所述4個薄膜晶體管均為P型薄膜晶體管，所述薄膜晶體管關閉信號為恒壓高電位信號，所述薄膜晶體管開啟信號為恒壓低電位信號。

還包括：顯示面板固定臺，測試時，所述顯示面板固定于所述顯示面板固定臺上。

本發(fā)明還提供一種顯示面板的測試方法，包括如下步驟：

步驟S1、提供一顯示面板測試系統(tǒng)，包括：顯示面板、對應所述顯示面板設置的壓頭、以及與所述壓頭電性連接的轉接板；

所述壓頭上依次排列有一第一對位探針、數(shù)個測試信號探針、以及一第二對位探針；

所述顯示面板上設有對應所述第一對位探針設置的第一對位點、對應所述第二對位探針設置的第二對位點、以及數(shù)個與所述測試信號探針的一一對應的測試點，所述第一對位點與所述第二對位點設于所述顯示面板上的走線電性連接；

所述轉接板內(nèi)設有信號轉接電路，所述信號轉接電路包括：一電阻、以及數(shù)個薄膜晶體管，所述測試信號探針的數(shù)量與薄膜晶體管的數(shù)量相同；

所述電阻一端接入薄膜晶體管關閉信號，另一端經(jīng)由第一節(jié)點電性連接第一對位探針；所述數(shù)個薄膜晶體管的柵極均電性連接第一節(jié)點，源極分別接入一測試信號，漏極分別電性連接一測試信號探針；所述第二對位探針經(jīng)由轉接板接入薄膜晶體管開啟信號；所述薄膜晶體管開啟信號與所述薄膜晶體管關閉信號的電位相反；

步驟S2、將所述壓頭壓合到顯示面板，使得所述第一對位探針與所述第一對位點對位接觸，第二對位探針與所述第二對位點對位接觸，數(shù)個測試信號探針分別與數(shù)個測試點一一對位接觸；

步驟S3、點亮所述顯示面板，根據(jù)所述顯示面板的點亮情況判斷是否存在對位偏差；

若顯示面板點亮異常，則判定存在對位偏差，并返回步驟2S重新對位；

若顯示面板點亮正常，則判定對位準確，進行步驟S4；

步驟S4、根據(jù)顯示面板點亮后顯示的測試畫面確定顯示面板的品質。

所述壓頭上設有4個測試信號探針，所述顯示面板設有4個測試點，所述信號轉接電路包括4個薄膜晶體管；

所述4個薄膜晶體管的源極接入的測試信號分別為：高電位點亮信號、低電位點亮信號、恒壓高電位信號、恒壓低電位信號。

所述4個薄膜晶體管均為N型薄膜晶體管，所述薄膜晶體管開啟信號為恒壓高電位信號，所述薄膜晶體管關閉信號為恒壓低電位信號。

所述4個薄膜晶體管均為P型薄膜晶體管，所述薄膜晶體管關閉信號為恒壓高電位信號，所述薄膜晶體管開啟信號為恒壓低電位信號。

所述步驟S2還包括：提供一顯示面板固定臺，并將所述顯示面板固定于所述顯示面板固定臺上。

本發(fā)明的有益效果：本發(fā)明提供一種顯示面板測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括轉接板、壓頭、以及顯示面板，所述顯示面板中增設有第一對位點和以及與第一對位點電性連接的第二對位點，壓頭上增設有與第一對位點對應的第一對位探針和與第二對位點對應的第二對位探針，轉接板內(nèi)設有薄膜晶體管用于控制測試信號的傳輸，當?shù)谝粚ξ稽c和第二對位點對位準確時，轉接板內(nèi)的薄膜晶體管將會開啟，測試信號才能傳輸?shù)斤@示面板中，而第一對位點和第二對位點對位不準時，轉接板內(nèi)的薄膜晶體管將保持截止，測試信號不會傳輸?shù)斤@示面板中，能夠避免顯示面板點亮測試中因壓頭對位不準導致的短路問題，減少對位時間，提高測試效率。本發(fā)明還提供一種顯示面板的測試方法，能夠避免顯示面板點亮測試中因壓頭對位不準導致的短路問題，減少對位時間，提高測試效率。

附圖說明

為了能更進一步了解本發(fā)明的特征以及技術內(nèi)容，請參閱以下有關本發(fā)明的詳細說明與附圖，然而附圖僅提供參考與說明用，并非用來對本發(fā)明加以限制。

附圖中，

圖1為本發(fā)明的顯示面板測試系統(tǒng)的結構圖；

圖2為本發(fā)明的顯示面板測試系統(tǒng)的第一實施例的信號轉接電路的電路圖；

圖3為本發(fā)明的顯示面板測試系統(tǒng)的第二實施例的信號轉接電路的電路圖；

圖4為本發(fā)明的顯示面板的測試方法的流程圖。

具體實施方式

為更進一步闡述本發(fā)明所采取的技術手段及其效果，以下結合本發(fā)明的優(yōu)選實施例及其附圖進行詳細描述。

請參閱圖1，本發(fā)明提供一種顯示面板測試系統(tǒng)，包括：顯示面板1、對應所述顯示面板1設置的壓頭2、以及與所述壓頭電性連接的轉接板3。

具體地，所述壓頭2上依次排列有一第一對位探針21、數(shù)個測試信號探針23、以及一第二對位探針22；所述顯示面板1上設有對應所述第一對位探針21設置的第一對位點TP1、對應所述第二對位探針22設置的第二對位點TP2、以及數(shù)個與所述測試信號探針23的一一對應的測試點CT，所述第一對位點TP1與所述第二對位點TP2設于所述顯示面板1上的走線11電性連接。

需要說明的是，所述轉接板3內(nèi)設有信號轉接電路，所述信號轉接電路包括：一電阻R、以及數(shù)個薄膜晶體管T，所述測試信號探針23的數(shù)量與薄膜晶體管T的數(shù)量相同；所述電阻R一端接入薄膜晶體管關閉信號，另一端經(jīng)由第一節(jié)點A電性連接第一對位探針21；所述數(shù)個薄膜晶體管T的柵極均電性連接第一節(jié)點A，源極分別接入一測試信號，漏極分別電性連接一測試信號探針23；所述第二對位探針22經(jīng)由轉接板3接入薄膜晶體管開啟信號；所述薄膜晶體管開啟信號與所述薄膜晶體管關閉信號的電位相反。

進一步地，所述測試信號由外部信號源提供。所述顯示面板測試系統(tǒng)還包括：顯示面板固定臺4，測試時，所述顯示面板1固定于所述顯示面板固定臺4上，所述壓頭2與所述顯示面板固定臺4可以集成在一起，形成一測試機臺。

如圖2所示，在本發(fā)明的第一實施例的中，所述壓頭2上設有4個測試信號探針，所述顯示面板1設有4個測試點CT，所述信號轉接電路包括4個薄膜晶體管T，所述4個薄膜晶體管T均為P型薄膜晶體管，所述4個薄膜晶體管T的源極接入的測試信號分別為：高電位點亮信號ELH、低電位點亮信號ELL、恒壓高電位信號VGH、恒壓低電位信號VGL，與此同時，所述恒壓高電位信號VGH和恒壓低電位信號VGL還分別作為4個薄膜晶體管T的薄膜晶體管關閉信號和薄膜晶體管的開啟信號，用于在對位不準時，關閉薄膜晶體管T，在對位準確時，打開薄膜晶體管T。

如圖3所示，在本發(fā)明的第二實施例中，所述壓頭2上設有4個測試信號探針，所述顯示面板1設有4個測試點CT，所述信號轉接電路包括4個薄膜晶體管T，所述4個薄膜晶體管T均為N型薄膜晶體管，所述4個薄膜晶體管T的源極接入的測試信號分別為：高電位點亮信號ELH、低電位點亮信號ELL、恒壓高電位信號VGH、恒壓低電位信號VGL，與此同時，所述恒壓高電位信號VGH和恒壓低電位信號VGL還分別作為4個薄膜晶體管T的薄膜晶體管開啟信號和薄膜晶體管的關閉信號，用于在對位不準時，關閉薄膜晶體管T，在對位準確時，打開薄膜晶體管T。

可以理解的是，雖然本發(fā)明的第一和第二實施例中均采用了4個薄膜晶體管T、4個測試信號探針23、4個測試點CT、以及4個不同的測試信號的技術方案，但本發(fā)明還可以根據(jù)需要增加或減少薄膜晶體管、測試信號探針、測試點、以及測試信號的數(shù)量，本發(fā)明對此不做限制。

進一步地，所述壓頭2上通常還會設置不與轉接板3電性連接的非轉接測試探針，該些非轉接測試探針直接接入對應的測試信號，并通過與顯示面板1上設置的對應的測試點接觸將相應的測試信號寫入測試面板，這些測試信號通常是不會產(chǎn)生較大電流，不需要進行短路保護的測試信號，而會產(chǎn)生較大電流的測試信號則需要經(jīng)由轉接板3接入，以進行短路保護。

具體地，以第一實施例為例，本發(fā)明提供一種顯示面板測試系統(tǒng)的工作原理為：先將所述壓頭2壓合到顯示面板1，進行初步對位，使得所述第一對位探針21與所述第一對位點TP1對位接觸，第二對位探針22與所述第二對位點TP2對位接觸，數(shù)個測試信號探針23分別與數(shù)個測試點CT一一對位接觸，若此時對位準確，則薄膜晶體管開啟信號(恒壓低電位信號VGL)傳輸?shù)降诙ξ稽cTP2，再經(jīng)由走線11傳輸?shù)降谝还?jié)點A，拉低第一節(jié)點A的電位，使得各個薄膜晶體管T打開，高電位點亮信號ELH、低電位點亮信號ELL、恒壓高電位信號VGH、以及恒壓低電位信號VGL寫入顯示面板1，顯示面板1正常顯示測試畫面，若此時對位不準確，則薄膜晶體管開啟信號(恒壓低電位信號VGL)不能經(jīng)由第二對位點TP2和走線11傳輸?shù)降谝还?jié)點A，第一節(jié)點A將在薄膜晶體管關閉信號(恒壓高電位信號VGH)的影響下持續(xù)保持高電位，各個薄膜晶體管T均保持關閉，高電位點亮信號ELH、低電位點亮信號ELL、恒壓高電位信號VGH、以及恒壓低電位信號VGL均無法寫入顯示面板1，顯示面板1無法正常顯示測試畫面，此時測試人員觀察到顯示面板1點亮異常之后，重新調(diào)整對位，直至顯示面板1能夠正常顯示測試畫面，在調(diào)整的過程中，由于對位不準時，薄膜晶體管T就不會開啟，各個測試信號也不會寫入顯示面板1，從而有效避免顯示面板點亮測試中因壓頭對位不準導致的短路問題，減少對位時間，提高測試效率。

請參閱圖4，本發(fā)明還提供一種顯示面板的測試方法，包括如下步驟：

步驟S1、提供一顯示面板測試系統(tǒng)，包括：顯示面板1、對應所述顯示面板1設置的壓頭2、以及與所述壓頭2電性連接的轉接板3；

所述壓頭2上依次排列有一第一對位探針21、數(shù)個測試信號探針23、以及、一第二對位探針；

所述顯示面板1上設有對應所述第一對位探針21設置的第一對位點TP1、對應所述第二對位探針22設置的第二對位點TP2、以及數(shù)個與所述測試信號探針23的一一對應的測試點CT，所述第一對位點TP1與所述第二對位點TP2設于所述顯示面板1上的走線11電性連接；

所述轉接板3內(nèi)設有信號轉接電路，所述信號轉接電路包括：一電阻R、以及數(shù)個薄膜晶體管T，所述測試信號探針23的數(shù)量與薄膜晶體管T的數(shù)量相同；

所述電阻R一端接入薄膜晶體管關閉信號，另一端經(jīng)由第一節(jié)點A電性連接第一對位探針；所述數(shù)個薄膜晶體管T的柵極均電性連接第一節(jié)點A，源極分別接入一測試信號，漏極分別電性連接一測試信號探針23；所述第二對位探針經(jīng)由轉接板3接入薄膜晶體管開啟信號；所述薄膜晶體管開啟信號與所述薄膜晶體管關閉信號的電位相反。

可選地，如圖2所示，在本發(fā)明的第一實施例的中，所述壓頭2上設有4個測試信號探針23，所述顯示面板1設有4個測試點，所述信號轉接電路包括4個薄膜晶體管T，所述4個薄膜晶體管T均為P型薄膜晶體管，所述4個薄膜晶體管T的源極接入的測試信號分別為：高電位點亮信號ELH、低電位點亮信號ELL、恒壓高電位信號VGH、恒壓低電位信號VGL，與此同時，所述恒壓高電位信號VGH和恒壓低電位信號VGL還分別作為4個薄膜晶體管T的薄膜晶體管關閉信號和薄膜晶體管的開啟信號，用于在對位不準時，關閉薄膜晶體管T，在對位準確時，打開薄膜晶體管T。

可選地，如圖3所示，在本發(fā)明的第二實施例中，所述壓頭2上設有4個測試信號探針23，所述顯示面板1設有4個測試點，所述信號轉接電路包括4個薄膜晶體管T，所述4個薄膜晶體管T均為N型薄膜晶體管，所述4個薄膜晶體管T的源極接入的測試信號分別為：高電位點亮信號ELH、低電位點亮信號ELL、恒壓高電位信號VGH、恒壓低電位信號VGL，與此同時，所述恒壓高電位信號VGH和恒壓低電位信號VGL還分別作為4個薄膜晶體管T的薄膜晶體管開啟信號和薄膜晶體管的關閉信號，用于在對位不準時，關閉薄膜晶體管T，在對位準確時，打開薄膜晶體管T。

進一步地，所述測試信號由外部信號源提供。所述顯示面板測試系統(tǒng)還包括：顯示面板固定臺4，測試時，所述顯示面板1固定于所述顯示面板固定臺4上，所述壓頭2與所述顯示面板固定臺4可以集成在一起，形成一測試機臺。

可以理解的是，雖然本發(fā)明的第一和第二實施例中均采用了4個薄膜晶體管T、4個測試信號探針、4個測試點、以及4個不同的測試信號的技術方案，但本發(fā)明還可以根據(jù)需要增加或減少薄膜晶體管、測試信號探針、測試點、以及測試信號的數(shù)量，本發(fā)明對此不做限制。

此外，所述壓頭2上通常還會設置不與轉接板3電性連接的非轉接測試探針，該些非轉接測試探針直接接入對應的測試信號，并通過與顯示面板1上設置的對應的測試點接觸將相應的測試信號寫入測試面板，這些測試信號通常是不會產(chǎn)生較大電流，不需要進行短路保護的測試信號，而會產(chǎn)生較大電流的測試信號則需要經(jīng)由轉接板3接入，以進行短路保護。

步驟S2、將所述壓頭2壓合到顯示面板1，使得所述第一對位探針21與所述第一對位點TP1對位接觸，第二對位探針22與所述第二對位點TP2對位接觸，數(shù)個測試信號探針23分別與數(shù)個測試點CT一一對位接觸。

具體地，所述步驟S2中的對位為初步對位，還需要根據(jù)步驟S3的點亮情況來判定對位是否準確。

步驟S3、點亮所述顯示面板1，根據(jù)所述顯示面板1的點亮情況判斷是否存在對位偏差；

若顯示面板1點亮異常，則判定存在對位偏差，并返回步驟S2重新對位；

若顯示面板1點亮正常，則判定對位準確，進行步驟S4。

具體地，以第一實施例為例，對所述步驟S3的具體工作過程進行說明：若此時對位準確，則薄膜晶體管開啟信號(恒壓低電位信號VGL)會傳輸?shù)降诙ξ稽cTP2，再經(jīng)由走線11傳輸?shù)降谝还?jié)點A，拉低第一節(jié)點A的電位，使得各個薄膜晶體管T打開，高電位點亮信號ELH、低電位點亮信號ELL、恒壓高電位信號VGH、以及恒壓低電位信號VGL寫入顯示面板1，顯示面板1正常顯示測試畫面，若此時對位不準確，則薄膜晶體管開啟信號(恒壓低電位信號VGL)不能經(jīng)由第二對位點TP2和走線11傳輸?shù)降谝还?jié)點A，第一節(jié)點A將在薄膜晶體管關閉信號(恒壓高電位信號VGH)的影響下持續(xù)保持高電位，各個薄膜晶體管T均保持關閉，高電位點亮信號ELH、低電位點亮信號ELL、恒壓高電位信號VGH、以及恒壓低電位信號VGL均無法寫入顯示面板1，顯示面板1無法正常顯示測試畫面，此時測試人員觀察到顯示面板1點亮異常之后，重新調(diào)整對位，直至顯示面板1能夠正常顯示測試畫面，在調(diào)整的過程中，由于對位不準時，薄膜晶體管T就不會開啟，各個測試信號也不會寫入顯示面板1，從而有效避免顯示面板點亮測試中因壓頭對位不準導致的短路問題，減少對位時間，提高測試效率。

步驟S4、根據(jù)顯示面板1點亮后顯示的測試畫面確定顯示面板1的品質。

綜上所述，本發(fā)明提供一種顯示面板測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括轉接板、壓頭、以及顯示面板，所述顯示面板中增設有第一對位點和以及與第一對位點電性連接的第二對位點，壓頭上增設有與第一對位點對應的第一對位探針和與第二對位點對應的第二對位探針，轉接板內(nèi)設有薄膜晶體管用于控制測試信號的傳輸，當?shù)谝粚ξ稽c和第二對位點對位準確時，轉接板內(nèi)的薄膜晶體管將會開啟，測試信號才能傳輸?shù)斤@示面板中，而第一對位點和第二對位點對位不準時，轉接板內(nèi)的薄膜晶體管將保持截止，測試信號不會傳輸?shù)斤@示面板中，能夠避免顯示面板點亮測試中因壓頭對位不準導致的短路問題，減少對位時間，提高測試效率。本發(fā)明還提供一種顯示面板的測試方法，能夠避免顯示面板點亮測試中因壓頭對位不準導致的短路問題，減少對位時間，提高測試效率。

以上所述，對于本領域的普通技術人員來說，可以根據(jù)本發(fā)明的技術方案和技術構思作出其他各種相應的改變和變形，而所有這些改變和變形都應屬于本發(fā)明權利要求的保護范圍。