本實(shí)用新型涉及有機(jī)發(fā)光顯示面板技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種有機(jī)發(fā)光顯示面板檢測(cè)結(jié)構(gòu)。

背景技術(shù)：

OLED面板生產(chǎn)是在一個(gè)母板上進(jìn)行劃片，使之形成多個(gè)OLED面板，在母板劃片后需要對(duì)面板進(jìn)行檢測(cè)，避免不良品流入后段工藝中造成不必要的浪費(fèi)。

常見的Cell檢測(cè)電路放置在Cell面板的頂部，即Cell面板上與IC位置相對(duì)的一側(cè)，如圖1所示，其中100為劃片后的Cell面板，101為面板AA區(qū)(有效顯示區(qū)域)，102為IC位，103為Cell檢測(cè)電路，104為Cell檢測(cè)電路信號(hào)線。

目前OLED面板的整體發(fā)展趨勢(shì)是更高的分辨率、更窄的邊框，更高的分辨率意味著Cell檢測(cè)電路更大的負(fù)載，更窄的邊框意味著Cell檢測(cè)電路信號(hào)線走線更細(xì)。尤其是目前SPR的普遍應(yīng)用，對(duì)Cell檢測(cè)電路工作有巨大影響，驅(qū)動(dòng)負(fù)載過大，信號(hào)線阻抗過大，導(dǎo)致Cell檢測(cè)電路工作異常，使得無法正常完成Cell檢測(cè)任務(wù)，不良品流入后段工藝造成浪費(fèi)。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型的發(fā)明目的在于提供一種有機(jī)發(fā)光顯示面板檢測(cè)結(jié)構(gòu)，采用本實(shí)用新型提供的技術(shù)方案可以有效降低Cell檢測(cè)電路的阻抗，提高Cell檢測(cè)電路的驅(qū)動(dòng)能力，有效檢測(cè)出面板中的不良。

為了達(dá)到上述發(fā)明目的，本實(shí)用新型提供一種有機(jī)發(fā)光顯示面板檢測(cè)結(jié)構(gòu)，包括劃片后的Cell面板，在所述Cell面板的中心位置為有效顯示區(qū)域，在所述有效顯示區(qū)域與所述Cell面板的側(cè)邊之間設(shè)有用于安裝IC的IC位，在所述IC位與所述有效顯示區(qū)域之間設(shè)有Cell檢測(cè)電路，所述Cell檢測(cè)電路的信號(hào)線繞過所述IC位連接于所述Cell面板的側(cè)邊。

進(jìn)一步的，在所述有效顯示區(qū)域的側(cè)邊形成有扇出走線，所述扇出走線位于所述有效顯示區(qū)域與所述Cell檢測(cè)電路之間，且所述扇出走線的起始端與所述Cell檢測(cè)電路連接。

由上可見，應(yīng)用本實(shí)用新型實(shí)施例的技術(shù)方案，有如下有益效果：本實(shí)用新型通過將Cell測(cè)試電路由Cell面板上與IC位置對(duì)立的位置改至IC位置的上方，能夠有效減少Cell測(cè)試電路驅(qū)動(dòng)信號(hào)的RC負(fù)載，可以提高Cell檢測(cè)電路的驅(qū)動(dòng)電流，從而使得Cell檢測(cè)電路系統(tǒng)可以更好地驅(qū)動(dòng)OLED面板進(jìn)行檢測(cè)；同時(shí)可以檢測(cè)出工藝制作過程出現(xiàn)的短路，開路等導(dǎo)致不良，可以減少因漏檢造成后段工藝的浪費(fèi)。

附圖說明

為了更清楚地說明本實(shí)用新型實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹。下面描述中的附圖僅僅是本實(shí)用新型的一部分實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為現(xiàn)有技術(shù)結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為實(shí)施例結(jié)構(gòu)一結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3為實(shí)施例結(jié)構(gòu)二結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖，對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚地描述。

由于現(xiàn)有技術(shù)中的Cell檢測(cè)電路位于與IC位相對(duì)的位置，使得Cell檢測(cè)電路的驅(qū)動(dòng)負(fù)載過大，信號(hào)線阻抗過大，導(dǎo)致Cell檢測(cè)電路工作異常，使得Cell檢測(cè)電路無法正常完成Cell檢測(cè)任務(wù)，不良品流入后段工藝造成浪費(fèi)。

請(qǐng)參見圖2，為了解決上述技術(shù)問題，本實(shí)施例公開了一種有機(jī)發(fā)光顯示面板檢測(cè)結(jié)構(gòu)，該有機(jī)發(fā)光顯示面板檢測(cè)結(jié)構(gòu)包括劃片后的Cell面板100，在Cell面板100的中心位置為有效顯示區(qū)域101，即Cell面板100的AA區(qū)。

在有效顯示區(qū)域101與Cell面板100的側(cè)邊之間設(shè)有用于安裝IC的IC位102，在IC位102與有效顯示區(qū)域101之間設(shè)有Cell檢測(cè)電路103，Cell檢測(cè)電路103的信號(hào)線104繞過IC位102連接于Cell面板100的側(cè)邊。

不同于以往技術(shù)，本實(shí)施例提供的檢測(cè)結(jié)構(gòu)將Cell檢測(cè)電路103放置于IC位102上方，有效縮短了Cell檢測(cè)電路信號(hào)線104的長(zhǎng)度，根據(jù)電阻計(jì)算公式R＝ρL/S，縮短信號(hào)線長(zhǎng)度L可以有效降低信號(hào)線104的電阻，降低Cell檢測(cè)電路信號(hào)線104的電阻可以降低Cell檢測(cè)電路系統(tǒng)的整體阻抗，由I＝U/R可知，可以提高Cell檢測(cè)電路104的驅(qū)動(dòng)電流，從而使得Cell檢測(cè)電路系統(tǒng)可以更好地驅(qū)動(dòng)OLED面板進(jìn)行檢測(cè)。

請(qǐng)參見圖3，還在有效顯示區(qū)域101的側(cè)邊形成有扇出走線105，即Fanout走線，扇出走線105位于有效顯示區(qū)域101與Cell檢測(cè)電路103之間，且扇出走線105的起始端與Cell檢測(cè)電路103連接，該結(jié)構(gòu)使得Cell檢測(cè)電路103同時(shí)具有Fanout走線的檢測(cè)功能，可以檢測(cè)Fanout走線開路、短路等缺陷。

本實(shí)施例提供的檢測(cè)結(jié)構(gòu)通過將Cell測(cè)試電路由Cell面板上與IC位置對(duì)立的位置改至IC位置的上方，有效減少Cell測(cè)試電路驅(qū)動(dòng)信號(hào)的RC負(fù)載，可以提高Cell檢測(cè)電路的驅(qū)動(dòng)電流，從而使得Cell檢測(cè)電路系統(tǒng)可以更好地驅(qū)動(dòng)OLED面板進(jìn)行檢測(cè)；同時(shí)可以檢測(cè)出工藝制作過程出現(xiàn)的短路，開路等導(dǎo)致不良，可以減少因漏檢造成后段工藝的浪費(fèi)。

以上所述的實(shí)施方式，并不構(gòu)成對(duì)該技術(shù)方案保護(hù)范圍的限定。任何在上述實(shí)施方式的精神和原則之內(nèi)所作的修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在該技術(shù)方案的保護(hù)范圍之內(nèi)。