本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，更具體地，涉及檢測電路和顯示裝置。

背景技術(shù)：

傳統(tǒng)的顯示裝置包括驅(qū)動電路和顯示面板，其中，顯示面板包含由多個像素單元構(gòu)成的像素陣列，驅(qū)動電路用于驅(qū)動顯示面板。一般來說，每個像素單元主要包括薄膜晶體管(Thin-film Transistor,TFT)、像素電極以及公共電極。當(dāng)顯示裝置正常顯示時，會在電極上積累電荷，從而當(dāng)顯示裝置關(guān)機斷電時，這些累積在電極上的電荷會讓對應(yīng)的像素單元具有不同的灰階狀態(tài)，導(dǎo)致顯示面板出現(xiàn)殘留的圖像。

為了解決上述問題，現(xiàn)有技術(shù)在顯示裝置中添加殘影消除功能，即：當(dāng)顯示裝置接收到關(guān)機信號后，驅(qū)動電路同時對顯示面板中所有的像素單元輸出高電平的驅(qū)動信號，使得顯示面板中的各個像素單元被同時選通，從而強制性地將各個像素單元中電極上累積的電荷被快速中和釋放，以達(dá)到消除殘影的目的。

現(xiàn)有技術(shù)主要通過在驅(qū)動電路的柵極驅(qū)動芯片、電源管理芯片或電平轉(zhuǎn)換芯片中置入一個殘影消除功能單元，該單元通過芯片的一個引腳接收顯示裝置中的一個電壓，并根據(jù)該電壓判斷顯示裝置的工作狀態(tài)(關(guān)機斷電狀態(tài)/正常顯示狀態(tài))，從而根據(jù)該工作狀態(tài)產(chǎn)生全復(fù)位信號以控制驅(qū)動電路中的其他單元，使得顯示面板中的所有像素單元均被驅(qū)動單元選通。然而，由于該引腳上的信號很容易受到干擾信號的影響，因此殘影消除功能單元可能輸出錯誤的全復(fù)位信號，導(dǎo)致顯示裝置的工作狀態(tài)不穩(wěn)定。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

為了解決上述現(xiàn)有技術(shù)存在的問題，本發(fā)明提供一種檢測電路和顯示裝置，與傳統(tǒng)的顯示裝置相比，本發(fā)明提供的顯示裝置和檢測電路具有更強的抗干擾能力，避免全復(fù)位信號出現(xiàn)錯誤的狀態(tài)。

根據(jù)本發(fā)明的一方面，提供了一種用于顯示裝置的檢測電路，其特征在于，所述檢測電路包括電壓產(chǎn)生模塊和邏輯模塊，其中，所述電壓產(chǎn)生模塊包括：穩(wěn)壓器，其輸入端接收所述顯示裝置中的直流電壓，其輸出端提供所述直流電壓的穩(wěn)壓電壓；以及分壓器，其輸入端與所述穩(wěn)壓器的輸出端相連，用于對所述穩(wěn)壓電壓進(jìn)行分壓以得到第一參考電壓，所述第一參考電壓由所述分壓器的輸出端輸出；所述邏輯模塊用于根據(jù)所述直流電壓和所述第一參考電壓的比較結(jié)果提供全復(fù)位信號；當(dāng)所述顯示裝置執(zhí)行關(guān)機操作時，所述全復(fù)位信號有效。

優(yōu)選地，所述邏輯模塊包括：采樣電路，其對所述直流電壓采樣以得到采樣電壓；第一比較器，其根據(jù)所述直流電壓和所述第一參考電壓產(chǎn)生第一檢測信號；第二比較器，其根據(jù)所述采樣電壓和第二參考電壓產(chǎn)生第二檢測信號；以及門電路，其根據(jù)所述第一檢測信號和所述第二檢測信號產(chǎn)生所述全復(fù)位信號。

優(yōu)選地，所述第一比較器的正輸入端接收所述第一參考電壓，所述第一比較器的負(fù)輸入端接收所述直流電壓，所述第一比較器的供電端接收所述穩(wěn)壓電壓，所述第一比較器的輸出端提供所述第一檢測信號，所述第二比較器的正輸入端接收所述第二參考電壓，所述第二比較器的負(fù)輸入端接收所述采樣電壓，所述第二比較器的供電端接收所述穩(wěn)壓電壓，所述第二比較器的輸出端提供所述第二檢測信號，所述門電路對所述第一檢測信號和所述第二檢測信號進(jìn)行與運算以得到所述全復(fù)位信號，所述全復(fù)位信號為高電平時有效。

優(yōu)選地，當(dāng)所述顯示裝置處于正常工作狀態(tài)時，所述第二參考電壓小于所述采樣電壓。

優(yōu)選地，所述采樣電路包括串聯(lián)在所述直流電壓和地之間的第一電阻和第二電阻，所述第一電阻和所述第二電阻之間的節(jié)點輸出所述采樣電壓。

優(yōu)選地，所述第一電阻和所述第二電阻為片外電阻。

優(yōu)選地，所述邏輯模塊包括第三比較器，所述第三比較器的供電端與所述穩(wěn)壓器的輸出端相連，所述第三比較器的正輸入端接收所述第一參考電壓，所述第三比較器的負(fù)輸入端接收所述直流電壓，所述第三比較器的輸出端輸出所述全復(fù)位信號，所述全復(fù)位信號在高電平時有效。

優(yōu)選地，所述分壓器包括串聯(lián)于所述穩(wěn)壓電壓和地之間的第三電阻和第四電阻，所述第三電阻和所述第四電阻之間的節(jié)點輸出所述第一參考電壓。

優(yōu)選地，所述第四電阻為片外電阻。

根據(jù)本發(fā)明的另一方面，還提供了一種顯示裝置，包括：顯示面板，其包含由多個像素單元組成的像素陣列；驅(qū)動電路，其包括柵極驅(qū)動單元、源極驅(qū)動單元、供電單元以及如上所述的任一檢測電路，所述柵極驅(qū)動單元用于選通所述顯示面板中的各行所述像素單元，所述源極驅(qū)動單元用于提供灰階電壓至各列所述像素單元，所述供電單元用于提供所述直流電壓，當(dāng)所述顯示裝置執(zhí)行關(guān)機操作時，所述柵極驅(qū)動單元在所述全復(fù)位信號的控制下同時選通所述顯示面板中的所述多個像素單元。

本發(fā)明的顯示裝置中，檢測電路對直流電壓(或直流電壓的采樣電壓)和直流電壓的穩(wěn)壓電壓的分壓信號進(jìn)行比較，并根據(jù)比較結(jié)果產(chǎn)生全復(fù)位信號XON，從而通過對直流電壓進(jìn)行了二次檢測，避免了檢測電路在干擾信號的影響下因?qū)χ绷麟妷赫`判而輸出錯誤的全復(fù)位信號，防止顯示裝置出現(xiàn)異常，在一定程度上提高了檢測電路的抗干擾能力和顯示裝置的穩(wěn)定性。同時，由于檢測電路中邏輯模塊的供電電壓等于直流電壓的穩(wěn)壓電壓，因此在顯示裝置斷電后的一段時間內(nèi)，檢測電路能夠維持正常工作并產(chǎn)生正確的全復(fù)位信號至柵極驅(qū)動單元，使得柵極驅(qū)動單元能夠?qū)︼@示面板中的各行像素單元同時輸出高電平以減弱或消除殘留圖像。

附圖說明

通過以下參照附圖對本發(fā)明實施例的描述，本發(fā)明的上述以及其他目的、特征和優(yōu)點將更為清楚。

圖1示出本發(fā)明第一實施例的顯示裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2示出本發(fā)明第一實施例的顯示裝置中檢測電路的示意性框圖。

圖3示出本發(fā)明第二實施例的顯示裝置中檢測電路的示意性框圖。

具體實施方式

以下將參照附圖更詳細(xì)地描述本發(fā)明。在各個附圖中，相同的元件采用類似的附圖標(biāo)記來表示。為了清楚起見，附圖中的各個部分沒有按比例繪制。此外，在圖中可能未示出某些公知的部分。

在下文中描述了本發(fā)明的許多特定的細(xì)節(jié)，例如器件的結(jié)構(gòu)、材料、尺寸、處理工藝和技術(shù)，以便更清楚地理解本發(fā)明。但正如本領(lǐng)域的技術(shù)人員能夠理解的那樣，可以不按照這些特定的細(xì)節(jié)來實現(xiàn)本發(fā)明。

下面，參照附圖對本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)說明。

圖1示出本發(fā)明第一實施例的顯示裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。

如圖1所示，顯示裝置1000包括驅(qū)動電路和顯示面板1200。

驅(qū)動電路包括時序控制單元1110、源極驅(qū)動單元1120、柵極驅(qū)動單元1130、檢測電路1140以及供電單元1150。供電單元1150用于提供驅(qū)動電路中各單元所需的電源電壓(部分連線未示出)，例如供電單元1150對檢測電路提供直流電壓VIN，使得檢測電路1140能通過檢測直流電壓VIN獲知顯示裝置的工作狀態(tài)；時序控制單元1110分別提供各種控制信號至源極驅(qū)動單元、柵極驅(qū)動單元以及檢測電路；源極驅(qū)動單元1120通過多條數(shù)據(jù)線D[1]～D[m]為顯示面板1200提供灰階電壓；柵極驅(qū)動單元1130通過多條掃描線G[1]～G[n]為顯示面板1200提供選通信號，其中n和m分別為大于等于1的自然數(shù)；檢測電路1140用于在顯示裝置斷電關(guān)機時產(chǎn)生有效的全復(fù)位信號XON，以使得柵極驅(qū)動單元1130同時對多條掃描線G[1]～G[n]施加導(dǎo)通電壓，從而通過在一段時間內(nèi)同時導(dǎo)通顯示面板中各TFT的方法減弱或消除顯示裝置在關(guān)機時出現(xiàn)的殘留圖像。

顯示面板1200包括按n行m列矩陣排列的多個像素單元1210，每個像素單元1210包括一個薄膜晶體管TFT，位于同一行的像素單元所包含的TFT的柵極互連并與一條掃描線相連以接收由柵極驅(qū)動單元1130所提供的的該行的選通信號，位于同一列的像素單元所包含的TFT的源極互連并與一條數(shù)據(jù)線相連以接收由源極驅(qū)動單元1120所提供的的該列的灰階電壓，從而實現(xiàn)圖像的顯示。

在本實施例中，柵極驅(qū)動單元1130的第一部分集成于顯示面板1200上形成陣列基板架構(gòu)(Gate Driver On Array,GOA)，第二部分包括電平轉(zhuǎn)換電路。其中，柵極驅(qū)動單元1130的第一部分通過n條掃描線與顯示面板中的各行像素單元的TFT的柵極相連，柵極驅(qū)動單元1130的第二部分中的電平轉(zhuǎn)換電路的正供電電壓VGH滿足顯示面板1200中各TFT的柵極導(dǎo)通電壓的條件，電平轉(zhuǎn)換電路的負(fù)供電電壓VGL滿足顯示面板1200中各TFT的柵極關(guān)斷電壓的條件。

當(dāng)檢測電路1140提供的全復(fù)位信號XON無效時，柵極驅(qū)動單元1130不執(zhí)行全復(fù)位功能(即殘影消除功能)，柵極驅(qū)動單元1130中的電平轉(zhuǎn)換電路分別將時序控制單元1110提供的第一控制信號CK1轉(zhuǎn)換成第二控制信號，第二控制信號的高電平電壓和低電平電壓分別等于正供電電壓VGH和負(fù)供電電壓VGL，從而使柵極驅(qū)動單元1130能夠根據(jù)第二控制信號產(chǎn)生足夠的驅(qū)動電壓以實現(xiàn)對顯示面板中的各行TFT的導(dǎo)通與關(guān)斷的控制。

當(dāng)檢測電路1140提供的全復(fù)位信號XON有效時，柵極驅(qū)動單元1130執(zhí)行全復(fù)位功能，柵極驅(qū)動單元1130中的電平轉(zhuǎn)換電路所提供的第二控制信號同時為高電平(電壓等于正供電電壓VGH)，從而使顯示面板中的n行TFT被同時導(dǎo)通一段時間，以實現(xiàn)各個TFT的復(fù)位，達(dá)到減緩或消除顯示裝置在關(guān)機時出現(xiàn)的圖像殘留的現(xiàn)象。

圖2示出本發(fā)明第一實施例的顯示裝置中檢測電路的示意性框圖。

如圖2所示，檢測電路1140包括電壓產(chǎn)生模塊1141以及邏輯模塊，其中邏輯模塊包括采樣電路1142、第一比較器1143、第二比較器1144以及門電路1145。

采樣電路1142用于對直流電壓VIN采樣而得到電壓V1(即采樣電壓)，其中，直流電壓VIN為供電單元1150提供的一個電源電壓，且該電源電壓在顯示裝置1000通電狀態(tài)下保持不變、在顯示裝置1000關(guān)機斷電時電壓值下降。采樣電路1142的一種實現(xiàn)方式為：如圖2所示，采樣電路1142包括串聯(lián)在直流電壓VIN與地之間的兩個電阻R1和R2，該兩個電阻之間的節(jié)點輸出電壓V1，因此，電壓V1即為直流電壓VIN的采樣電壓。

電壓產(chǎn)生模塊1141用于根據(jù)直流電壓VIN產(chǎn)生電壓V2(即穩(wěn)壓電壓)，并根據(jù)電壓V2產(chǎn)生電壓Vref1(即第一參考電壓)。電壓產(chǎn)生模塊1141包括穩(wěn)壓器U1、電阻R3以及電阻R4(電阻R3和電阻R4組成分壓器)，其中，穩(wěn)壓器U1對直流電壓VIN穩(wěn)壓得到電壓V2，電阻R3和電阻R4串聯(lián)在電壓V2和地之間，電阻R3與電阻R4之間的節(jié)點輸出電壓Vref1，從而實現(xiàn)對電壓V2的分壓。當(dāng)顯示裝置1000關(guān)機斷電時，電壓V2的電壓值會在穩(wěn)壓器U1的作用下保持一段時間，而直流電壓VIN則會以較快的速度由高電平衰減至0，因此將電壓V2作為第一比較器1143、第二比較器1144以及門電路1145的供電電壓能夠保證檢測電路1140在顯示裝置關(guān)機斷電后的一段時間內(nèi)正常工作。

第一比較器1143用于比較直流電壓VIN和電壓Vref1的電壓值以得到第一檢測信號Comp1。

第二比較器1144用于比較電壓V1與電壓Vref2(即第二參考電壓)的電壓值以得到第二檢測信號Comp2。其中，電壓Vref2的電壓值略小于直流電壓VIN在通電狀態(tài)下的最小值與R2/(R1+R2)的乘積。其中，電壓Vref2可以由外部電路提供，也可以通過設(shè)計在邏輯模塊內(nèi)的基準(zhǔn)電壓源提供。

門電路1145用于根據(jù)第一檢測信號Comp1和第二檢測信號Comp2產(chǎn)生全復(fù)位信號XON。只有當(dāng)?shù)谝粰z測信號Comp1和第二檢測信號Comp2均為有效狀態(tài)時，門電路1145輸出有效的全復(fù)位信號XON。

作為一種優(yōu)選的實施例，第一比較器1143的正輸入端接收電壓Vref1、負(fù)輸入端接收電壓VIN，同時，第二比較器1144的正輸入端接收電壓Vref2、負(fù)輸入端接收直流電壓V1，門電路1145對第一檢測信號Comp1和第二檢測信號Comp2進(jìn)行與運算得到全復(fù)位信號XON。當(dāng)顯示裝置1000處于正常開機狀態(tài)時，第一比較器1143輸出的第一檢測信號Comp1為低電平，第二比較器1144輸出的第二檢測信號Comp2為低電平，此時門電路1145對兩個低電平的信號進(jìn)行與運算得到低電平的全復(fù)位信號XON(無效)，因此，柵極驅(qū)動單元1130不執(zhí)行全復(fù)位功能，顯示面板中的像素單元逐行被柵極驅(qū)動單元1130驅(qū)動以正常顯示圖像；當(dāng)顯示裝置1000關(guān)機斷電時，由于直流電壓VIN將下降至電壓Vref1之下，因此第一比較器1143輸出的第一檢測信號Comp1由低電平變?yōu)楦唠娖?，而電壓V1的電壓值也會隨著直流電壓VIN的下降而下降至電壓Vref2之下，從而第二比較器1144輸出的第二檢測信號Comp2也由低電平變?yōu)楦唠娖?，?dāng)?shù)谝粰z測信號Comp1和第二檢測信號Comp2均為高電平時，門電路1145所輸出的全復(fù)位信號XON將由低電平變?yōu)楦唠娖?有效)，此時，柵極驅(qū)動單元1130將執(zhí)行全復(fù)位功能，即柵極驅(qū)動單元1130中的電平轉(zhuǎn)換電路所提供的第二控制信號同時為高電平(電壓等于正供電電壓VGH)，從而使顯示面板中的n行TFT被同時導(dǎo)通一段時間，以實現(xiàn)各個TFT的復(fù)位，達(dá)到減緩或消除顯示裝置在關(guān)機時出現(xiàn)的圖像殘留的現(xiàn)象。由于只有當(dāng)?shù)谝粰z測信號Comp1和第二檢測信號Comp2均為高電平時全復(fù)位信號XON才有效，因此避免了檢測電路1140在直流電壓VIN中包含干擾信號時發(fā)生檢測錯誤的現(xiàn)象，提高了檢測電路和顯示裝置的抗干擾能力。

檢測電路1140的一部分(電阻R1至R4中某個或某些阻值超過一定閾值的電阻可以通過置于由芯片外部的分立元件實現(xiàn)，以避免電阻在芯片內(nèi)部占有過大的面積)和柵極驅(qū)動單元1130的第二部分可以集成于同一芯片內(nèi)，所述芯片例如為電平轉(zhuǎn)換芯片或電源管理芯片等。作為一種實施例，驅(qū)動電路至少由一個芯片實現(xiàn)，檢測電路1140的穩(wěn)壓器U1和邏輯模塊集成于所述芯片中，該芯片具有引腳P1、引腳P2和引腳P3，電阻R1與電阻R2在該芯片外串聯(lián)于引腳P1與地之間，引腳P2與電阻R1和電阻R2之間的節(jié)點相連，引腳P3與電阻R3和電阻R4之間的節(jié)點相連，電阻R4在該芯片外連接于引腳P3和地之間。然而檢測電路1140的實現(xiàn)不限于此。

根據(jù)本發(fā)明第一實施例的顯示裝置中的檢測電路在產(chǎn)生全復(fù)位信號XON時，不僅對顯示裝置的直流電壓的采樣電壓進(jìn)行檢測，同時也直接對直流電壓進(jìn)行檢測，只有當(dāng)兩個檢測結(jié)果均表征顯示裝置處于關(guān)機斷電狀態(tài)時才會輸出有效的全復(fù)位信號，避免了檢測電路在干擾信號的影響下輸出錯誤的全復(fù)位信號而導(dǎo)致顯示裝置異常，從而提高了檢測電路的抗干擾能力和顯示裝置的穩(wěn)定性。同時，由于檢測電路通過對直流電壓穩(wěn)壓獲得檢測電路內(nèi)的供電電壓，因此在顯示裝置斷電后的一段時間內(nèi)，檢測電路能夠維持正常工作，從而產(chǎn)生正確的全復(fù)位信號至柵極驅(qū)動單元，使得柵極驅(qū)動單元能夠?qū)︼@示面板中的各行像素單元同時輸出高電平以減弱或消除殘留圖像。

本發(fā)明第二實施例的顯示裝置與本發(fā)明第一實施例的顯示裝置的結(jié)構(gòu)基本相同，區(qū)別在于：本發(fā)明第二實施例的顯示裝置中檢測電路的結(jié)構(gòu)與本發(fā)明第一實施例的顯示裝置中檢測電路的結(jié)構(gòu)不同，本發(fā)明第二實施例的顯示裝置的其他部分結(jié)構(gòu)與本發(fā)明第一實施例的顯示裝置的其他部分結(jié)構(gòu)相同，在此不再贅述。下面具體描述本發(fā)明第二實施例的顯示裝置中檢測電路的結(jié)構(gòu)。

圖3示出本發(fā)明第二實施例的顯示裝置中檢測電路的示意性框圖。

如圖3所示，本發(fā)明第二實施例的檢測電路2140包括邏輯模塊和電壓產(chǎn)生模塊2142，其中邏輯模塊包括第三比較器2141。從而本發(fā)明第二實施例的檢測電路2140與本發(fā)明第一實施例的檢測電路1140相比，在結(jié)構(gòu)上更為簡化。

電壓產(chǎn)生模塊2142用于根據(jù)直流電壓VIN產(chǎn)生電壓V3(即穩(wěn)壓電壓)，并根據(jù)電壓V3產(chǎn)生電壓Vref3(即第一參考電壓)。電壓產(chǎn)生模塊2142包括穩(wěn)壓器U2、電阻R5以及電阻R6(電阻R5和電阻R6組成分壓器)，其中，穩(wěn)壓器U2對直流電壓VIN穩(wěn)壓得到電壓V3，電阻R5和電阻R6串聯(lián)在電壓V3和地之間，電阻R5與電阻R6之間的節(jié)點輸出電壓Vref3。當(dāng)顯示裝置關(guān)機斷電時，電壓V3的電壓值會在穩(wěn)壓器U2的作用下保持一段時間，而直流電壓VIN則會以較快的速度由高電平衰減至0，因此將電壓V3作為第三比較器2141的供電電壓能夠保證檢測電路2140在顯示裝置斷電后的一段時間內(nèi)正常工作。

第三比較器2141用于比較直流電壓VIN和電壓Vref3的電壓值以直接得到全復(fù)位信號XON。

作為一種優(yōu)選的實施例，第三比較器2141的正輸入端接收電壓Vref3、負(fù)輸入端接收直流電壓VIN。當(dāng)顯示裝置處于正常開機狀態(tài)時，第三比較器2141輸出的全復(fù)位信號XON為低電平(無效)，因此，柵極驅(qū)動單元不執(zhí)行全復(fù)位功能，顯示面板中的像素單元逐行被柵極驅(qū)動單元驅(qū)動以正常顯示圖像；當(dāng)顯示裝置關(guān)機斷電時，由于直流電壓VIN將下降至電壓Vref3之下，因此第三比較器2141輸出的全復(fù)位信號XON由低電平變?yōu)楦唠娖?由無效變?yōu)橛行?，此時，柵極驅(qū)動單元將執(zhí)行全復(fù)位功能，即柵極驅(qū)動單元中的電平轉(zhuǎn)換電路所提供的第二控制信號均為高電平(電壓等于正供電電壓VGH)，從而使顯示面板中的n行TFT被同時導(dǎo)通一段時間，以實現(xiàn)各個TFT的復(fù)位，達(dá)到減緩或消除顯示裝置在關(guān)機時出現(xiàn)的圖像殘留的現(xiàn)象。

檢測電路2140的一部分(當(dāng)電阻R5和/或R6的阻值超過一定閾值時，可以通過分立元件的形式實現(xiàn)電阻R5和/或電阻R6，以避免電阻在芯片內(nèi)部占有過大的面積)和柵極驅(qū)動單元的第二部分可以集成于同一芯片內(nèi)，所述芯片例如為電平轉(zhuǎn)換芯片或電源管理芯片等。作為一種實施例，驅(qū)動電路至少由一個芯片實現(xiàn)，檢測電路2140的穩(wěn)壓器U2和邏輯模塊集成于所述芯片中，該芯片具有引腳P4和引腳P5，電阻R6在芯片外部連接于引腳P5與地之間，引腳P4與該芯片內(nèi)部的第三比較器2141的負(fù)輸入端以及穩(wěn)壓器U2的輸入端相連。然而檢測電路2140的實現(xiàn)不限于此。

根據(jù)本發(fā)明第二實施例的顯示裝置中的檢測電路在產(chǎn)生全復(fù)位信號XON時，檢測電路直接根據(jù)顯示裝置的直流電壓產(chǎn)生全復(fù)位信號，避免了檢測電路在干擾信號的影響下輸出錯誤的全復(fù)位信號而導(dǎo)致顯示裝置異常，從而提高了檢測電路的抗干擾能力和顯示裝置的穩(wěn)定性。同時，由于檢測電路通過對直流電壓穩(wěn)壓獲得檢測電路內(nèi)的供電電壓，因此在顯示裝置斷電后的一段時間內(nèi)，檢測電路能夠維持正常工作，從而產(chǎn)生正確的全復(fù)位信號至柵極驅(qū)動單元，使得柵極驅(qū)動單元能夠?qū)︼@示面板中的各行像素單元同時輸出高電平以減弱或消除殘留圖像。

值得一提的是，雖然在上述各實施例中已經(jīng)對檢測電路與柵極驅(qū)動單元的設(shè)計方式描繪出了一個可能的形態(tài)，但熟知此技術(shù)者應(yīng)知，各廠商對于檢測電路與柵極驅(qū)動單元的設(shè)計方式都不一樣，因此本發(fā)明的應(yīng)用當(dāng)不限制于此種可能的型態(tài)。換言之，只要是通過對直流電壓的穩(wěn)壓產(chǎn)生與直流電壓或直流電壓的采樣電壓進(jìn)行比較的參考信號，并根據(jù)比較結(jié)果產(chǎn)生全復(fù)位信號，柵極驅(qū)動單元在有效的全復(fù)位信號的作用下同時驅(qū)動顯示面板的各行像素單元，就已經(jīng)是符合了本發(fā)明的精神所在。例如，檢測電路中的邏輯模塊可以包括多個門電路以實現(xiàn)與全復(fù)位功能對應(yīng)的邏輯關(guān)系，各個比較器的正輸入端和負(fù)輸入端可以交換，全復(fù)位信號XON可以為低電平有效、高電平無效等。

綜上所述，本發(fā)明的顯示裝置中采用檢測電路，并利用檢測電路對直流電壓(或直流電壓的采樣電壓)和直流電壓的穩(wěn)壓電壓的分壓信號進(jìn)行比較，檢測電路根據(jù)比較結(jié)果產(chǎn)生全復(fù)位信號XON，通過對直流電壓的二次檢測避免了檢測電路在干擾信號的影響下因?qū)χ绷麟妷赫`判而輸出錯誤的全復(fù)位信號，從而避免了顯示裝置出現(xiàn)異常，在一定程度上提高了檢測電路的抗干擾能力和顯示裝置的穩(wěn)定性。同時，由于檢測電路通過對直流電壓穩(wěn)壓獲得檢測電路內(nèi)的供電電壓，因此在顯示裝置斷電后的一段時間內(nèi)，檢測電路能夠維持正常工作，從而產(chǎn)生正確的全復(fù)位信號至柵極驅(qū)動單元，使得柵極驅(qū)動單元能夠?qū)︼@示面板中的各行像素單元同時輸出高電平以減弱或消除殘留圖像。

應(yīng)當(dāng)說明的是，在本文中，諸如第一和第二等之類的關(guān)系術(shù)語僅僅用來將一個實體或者操作與另一個實體或操作區(qū)分開來，而不一定要求或者暗示這些實體或操作之間存在任何這種實際的關(guān)系或者順序。而且，術(shù)語“包括”、“包含”或者其任何其他變體意在涵蓋非排他性的包含，從而使得包括一系列要素的過程、方法、物品或者設(shè)備不僅包括那些要素，而且還包括沒有明確列出的其他要素，或者是還包括為這種過程、方法、物品或者設(shè)備所固有的要素。在沒有更多限制的情況下，由語句“包括一個……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的過程、方法、物品或者設(shè)備中還存在另外的相同要素。

依照本發(fā)明的實施例如上文所述，這些實施例并沒有詳盡敘述所有的細(xì)節(jié)，也不限制該發(fā)明僅為所述的具體實施例。顯然，根據(jù)以上描述，可作很多的修改和變化。本說明書選取并具體描述這些實施例，是為了更好地解釋本發(fā)明的原理和實際應(yīng)用，從而使所屬技術(shù)領(lǐng)域技術(shù)人員能很好地利用本發(fā)明以及在本發(fā)明基礎(chǔ)上的修改使用。本發(fā)明僅受權(quán)利要求書及其全部范圍和等效物的限制。