本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，更具體的說，涉及一種顯示面板、電子設(shè)備以及測試方法。

背景技術(shù)：

隨著科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展，越來越多的具有顯示功能的電子設(shè)備被廣泛的應(yīng)用于人們的日常生活以及工作當(dāng)中，為人們的日常生活以及工作帶了了巨大的便利，成為當(dāng)今人們不可或缺的重要工具。顯示面板為電子設(shè)備實(shí)現(xiàn)顯示功能的主要部件，其中，液晶顯示面板以及OLED顯示面板為當(dāng)今顯示領(lǐng)域的兩種主流顯示面板，此外微型LED顯示，量子點(diǎn)發(fā)光二極管顯示等顯示技術(shù)也異軍突起。

顯示面板具有邊框區(qū)以及顯示區(qū)，顯示區(qū)具有顯示陣列，顯示陣列具有多個(gè)陣列排布的像素單元，邊框區(qū)設(shè)置有用于驅(qū)動(dòng)像素單元進(jìn)行圖像顯示的驅(qū)動(dòng)芯片。邊框區(qū)還設(shè)置有驅(qū)動(dòng)引腳、測試引腳以及測試開關(guān)電路。在綁定驅(qū)動(dòng)芯片前需要通過驅(qū)動(dòng)引腳、測試引腳以及測試開關(guān)電路檢測顯示面板是否能夠正常顯示，避免將驅(qū)動(dòng)芯片綁定在不符合質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的顯示面板上，造成高成本的驅(qū)動(dòng)芯片的損壞浪費(fèi)。

驅(qū)動(dòng)引腳用于驅(qū)動(dòng)測試開關(guān)電路的開關(guān)狀態(tài)，測試引腳用于通過測試開關(guān)電路為數(shù)據(jù)線提供測試信號(hào)，以測試顯示區(qū)中像素單元的顯示性能?，F(xiàn)有的顯示面板中，需要在邊框區(qū)單獨(dú)設(shè)置連接測試引腳與測試開關(guān)電路的信號(hào)線，以便于通過測試引腳為所述測試開關(guān)電路提供測試信號(hào)，不便于顯示面板的窄邊框的設(shè)計(jì)。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

為了解決上述問題，本發(fā)明提供了一種顯示面板、電子設(shè)備以及測試方法，復(fù)用數(shù)據(jù)線作為測試引腳的信號(hào)線，降低了邊框區(qū)的寬度，便于顯示面板的窄邊框設(shè)計(jì)。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本方面提供如下技術(shù)方案：

一種顯示面板，所述顯示面板包括：

多條平行排布的數(shù)據(jù)線，所述數(shù)據(jù)線沿第一方向延伸；

顯示陣列，所述顯示陣列包括多個(gè)陣列排布的像素單元；所述像素單元的列數(shù)與所述數(shù)據(jù)線的條數(shù)相同，一列所述像素單元對(duì)應(yīng)電連接一條所述數(shù)據(jù)線；

在所述第一方向上，設(shè)置在所述顯示陣列一側(cè)的測試開關(guān)電路，設(shè)置在所述顯示陣列另一側(cè)的驅(qū)動(dòng)引腳以及測試引腳；

其中，所述測試開關(guān)電路具有控制端、輸入端以及輸出端；所述驅(qū)動(dòng)引腳與所述控制端電連接，所述驅(qū)動(dòng)引腳用于輸入開關(guān)控制信號(hào)；所述測試引腳用于輸入測試信號(hào)，所述測試引腳通過部分所述數(shù)據(jù)線與所述輸入端電連接，其余所述數(shù)據(jù)線與所述輸出端電連接。

本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種電子設(shè)備，所述電子設(shè)備包括上述顯示面板。

本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種測試方法，用于上述顯示面板，所述顯示面板包括顯示陣列、數(shù)據(jù)線、測試開關(guān)電路、驅(qū)動(dòng)引腳以及測試引腳；顯示陣列具有多個(gè)陣列排布的像素單元；

所述測試方法包括：

驅(qū)動(dòng)引腳通過設(shè)置在所述顯示面板的邊框區(qū)的信號(hào)線為測試開關(guān)電路的控制端提供開關(guān)控制信號(hào)，控制所述測試開關(guān)電路的導(dǎo)通狀態(tài)；

測試引腳通過一部分?jǐn)?shù)據(jù)線為測試開關(guān)電路的輸入端提供測試信號(hào)，所述測試開關(guān)電路通過另一部分?jǐn)?shù)據(jù)線輸出所述測試信號(hào)。

通過上述描述可知，本發(fā)明技術(shù)方案提供的顯示面板、電子設(shè)備以及測試方法中，所述測試引腳通過部分?jǐn)?shù)據(jù)線與所述輸入端電連接，通過該部分?jǐn)?shù)據(jù)線提供測試信號(hào)，其余數(shù)據(jù)線與所述輸出端電連接，復(fù)用數(shù)據(jù)線作為測試引腳的信號(hào)線，無需在邊框區(qū)設(shè)置測試引腳的信號(hào)線，降低了邊框區(qū)的寬度，便于顯示面板的窄邊框設(shè)計(jì)。復(fù)用部分?jǐn)?shù)據(jù)線作為測試引腳的信號(hào)線對(duì)顯示面板中像素單元進(jìn)行顯示測試，該部分?jǐn)?shù)據(jù)線一方面可以為其自身連接的像素單元提供數(shù)據(jù)線，另一方面為其他數(shù)據(jù)線連接的像素單元提供測試信號(hào)，而像素單元的亮度取決于所有數(shù)據(jù)線上電壓穩(wěn)定后的電壓，故不會(huì)該部分?jǐn)?shù)據(jù)線連接的像素單元與其他數(shù)據(jù)線連接的像素單元的亮度差異，故不會(huì)影響測試的準(zhǔn)確性。

附圖說明

為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)提供的附圖獲得其他的附圖。

圖1A為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖1B為本發(fā)明實(shí)施例提供的另一種顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖1C為本發(fā)明實(shí)施例提供的又一種顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2A為本發(fā)明實(shí)施例提供的又一種顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2B為本發(fā)明實(shí)施例提供的又一種顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3A為本發(fā)明實(shí)施例提供的又一種顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3B為本發(fā)明實(shí)施例提供的又一種顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4A為本發(fā)明實(shí)施例提供的又一種顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4B為本發(fā)明實(shí)施例提供的又一種顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖5A為本發(fā)明實(shí)施例提供的又一種顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖5B為本發(fā)明實(shí)施例提供的又一種顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖6為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種電子設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖7為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種測試方法的流程示意圖。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。

為了使本發(fā)明實(shí)施例提供的技術(shù)方案更加清楚，下面結(jié)合附圖對(duì)上述方案進(jìn)行詳細(xì)描述。

參考圖1A，圖1A為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖，該顯示面板包括：多條平行排布的數(shù)據(jù)線D，所述數(shù)據(jù)線D沿第一方向Y延伸；顯示陣列11，所述顯示陣列11包括多個(gè)陣列排布的像素單元P；所述像素單元P的列數(shù)與所述數(shù)據(jù)線D的條數(shù)相同，一列所述像素單元P對(duì)應(yīng)電連接一條所述數(shù)據(jù)線D；在所述第一方向Y上，設(shè)置在所述顯示陣列11一側(cè)的測試開關(guān)電路12，設(shè)置在所述顯示陣列11另一側(cè)的驅(qū)動(dòng)引腳13以及測試引腳14。

其中，所述測試開關(guān)電路12具有控制端121、輸入端122以及輸出端123；所述驅(qū)動(dòng)引腳13與所述控制端121電連接，所述驅(qū)動(dòng)引腳13用于輸入開關(guān)控制信號(hào)，以控制測試開關(guān)電路12的開關(guān)狀態(tài)；所述測試引腳14用于輸入測試信號(hào)，所述測試引腳14通過部分所述數(shù)據(jù)線D與所述輸入端122電連接，其余所述數(shù)據(jù)線D與所述輸出端123電連接。

顯示面板包括顯示區(qū)以及包括顯示區(qū)的邊框區(qū)15。顯示陣列11位于所述顯示區(qū)內(nèi)。

本發(fā)明實(shí)施例所述顯示面板中，通過部分?jǐn)?shù)據(jù)線D為開關(guān)測試開關(guān)電路12的輸入端122提供測試信號(hào)，復(fù)用該部分?jǐn)?shù)據(jù)線D作為測試引腳14的信號(hào)線，無需單獨(dú)在顯示面板的邊框區(qū)15內(nèi)再設(shè)置測試引腳14的信號(hào)線，降低了顯示面板的邊框?qū)挾?，便于顯示面板窄邊框的設(shè)計(jì)。

設(shè)定所述測試引腳14的個(gè)數(shù)為m，m為正整數(shù)；所述數(shù)據(jù)線D的條數(shù)為n，n為正整數(shù)。所述測試開關(guān)電路12具有一個(gè)所述控制端121、a個(gè)所述輸入端122以及b個(gè)所述輸出端123，a和b均為正整數(shù)。其中，a+b≤n，a≤m，m+b＝n。每一個(gè)所述測試引腳14單獨(dú)通過一條所述數(shù)據(jù)線D與一個(gè)所述輸入端122電連接。每一個(gè)所述輸出端123單獨(dú)電連接一條所述數(shù)據(jù)線D。

所述測試開關(guān)電路12具有b個(gè)在第二方向X上依次排布的第一薄膜晶體管T1，所述第二方向X垂直于所述第一方向Y，且平行于所述像素單元P的行方向；所述第一薄膜晶體管T1與所述輸出端123一一對(duì)應(yīng)。圖1A中，每個(gè)虛線圓圈區(qū)域表示一個(gè)第一薄膜晶體管T1，所示虛線圓圈僅是為了示出第一薄膜晶體管T1的位置，并不實(shí)際存在。

所述第一薄膜晶體管T1具有控制電極、第一電極以及第二電極；每個(gè)所述第一薄膜晶體管T1的第一電極單獨(dú)與一個(gè)對(duì)應(yīng)的所述輸出端123電連接；所有所述第一薄膜晶體管T1的控制電極與所述控制端121電連接；每個(gè)所述第一薄膜晶體管T1的第二電極與一個(gè)所述輸入端123電連接。也就是說，測試開關(guān)電路12具有與所述輸出端123一一對(duì)應(yīng)的第一薄膜晶體管T1，每個(gè)薄膜晶體管T1的第二電極即為一個(gè)輸出端123。

圖1A實(shí)施方式中，a＝2，具有兩個(gè)輸入端122，兩個(gè)輸入端122一個(gè)為奇數(shù)輸入端122A，另一個(gè)偶數(shù)輸入端122B。圖1A中僅示出了八列像素單元P，即n＝8。數(shù)據(jù)線的條數(shù)n為常數(shù)，具體的取決于顯示面板中像素單元P的列數(shù)，不局限于圖1A所示實(shí)施方式。

圖1A所示顯示面板中，顯示陣列11中像素單元P采用像素渲染方式排布，所有奇數(shù)列的像素單元P的個(gè)數(shù)相同，所有偶數(shù)列的像素單元P的個(gè)數(shù)相同，奇數(shù)列的像素單元P的個(gè)數(shù)與偶數(shù)列的像素單元P的個(gè)數(shù)相同或相差一個(gè)。任意一奇數(shù)列的像素單元P與另一奇數(shù)列的像素單元P在第二方向X上一一正對(duì)設(shè)置。任意一偶數(shù)列的像素單元P與另一偶數(shù)列的像素單元P在第二方向X上一一正對(duì)設(shè)置。任意兩個(gè)第一方向Y上相鄰的像素單元P的間距相同，任意兩個(gè)第二方向X上相鄰的像素單元P的間距相同，兩個(gè)第一方向Y上相鄰的像素單元P的間距與兩個(gè)第二方向X上相鄰的像素單元P的間距相同或不同。奇數(shù)列的像素單元P與偶數(shù)列的像素單元P錯(cuò)位設(shè)置，奇數(shù)行的像素單元P與偶數(shù)行的像素單元P錯(cuò)位設(shè)置，使得任意相鄰的兩奇數(shù)列與任意相鄰兩奇數(shù)行相交確定的四個(gè)像素單元P的中心區(qū)域具有一個(gè)位于偶數(shù)行偶數(shù)列的像素單元P，使得任意相鄰的兩偶數(shù)列與任意相鄰的兩偶數(shù)行相交確定的四個(gè)像素單元P的中心區(qū)域具有一個(gè)位于奇數(shù)列奇數(shù)行的像素單元P。

當(dāng)像素單元P采用像素渲染方式排布時(shí)，如果n為偶數(shù)，設(shè)定n＝2N，N為正整數(shù)。在所述第二方向X上，2N條數(shù)據(jù)線D平均分為N組，每一組具有兩條相鄰的數(shù)據(jù)線D，第i組包括第2i-1條數(shù)據(jù)線D以及第2i條數(shù)據(jù)線D，i為不大于N的正整數(shù)。當(dāng)n＝8時(shí)，N＝4，在第二方向X上，4組依次為第1組-第4組，8條數(shù)據(jù)線D依次為第1條數(shù)據(jù)線D-第8條數(shù)據(jù)線D，其中，第1組包括第1條數(shù)據(jù)線D以及2條數(shù)據(jù)線D，第2組包括第3條數(shù)據(jù)線D以及第4條數(shù)據(jù)線D，第3組包括第5條數(shù)據(jù)線D以及第6條數(shù)據(jù)線D，第4組包括第7條數(shù)據(jù)線D以及第8條數(shù)據(jù)線D。

此時(shí)，可以設(shè)定m＝2，具有兩個(gè)測試引腳14。兩個(gè)所述測試引腳中的一個(gè)奇數(shù)引腳141，另一個(gè)為偶數(shù)引腳142。所述奇數(shù)引腳141通過一奇數(shù)組中的一條數(shù)據(jù)線D與所述奇數(shù)輸入端122A電連接；所有奇數(shù)組中的其他N-1條數(shù)據(jù)線D均單獨(dú)通過一個(gè)所述輸入端123與所述奇數(shù)輸入端122A電連接。所述偶數(shù)引腳142通過一偶數(shù)組中的一條數(shù)據(jù)線與所述偶數(shù)輸入端122B電連接。所有偶數(shù)組中的其他N-1條數(shù)據(jù)線D均單獨(dú)通過一個(gè)所述輸入端123與所述偶數(shù)輸入端122B連接。

如圖1A中，奇數(shù)引腳141通過位于第1組的第1條數(shù)據(jù)線D與奇數(shù)輸入端122A電連接，位于第1組的第2條數(shù)據(jù)線D、位于第3組的第5條數(shù)據(jù)線D以及第6條數(shù)據(jù)線D均單獨(dú)通過一個(gè)所述輸入端123與所述奇數(shù)輸入端122A電連接。偶數(shù)引腳142通過位于第4組的第8條數(shù)據(jù)線D與所述偶數(shù)輸入端122B電連接，位于第4組的第7條數(shù)據(jù)線D、位于第2組的第3條數(shù)據(jù)線D以及第4條數(shù)據(jù)線D均單獨(dú)通過一個(gè)所述輸入端123與所述偶數(shù)輸入端122B連接。

當(dāng)像素單元P采用像素渲染方式排布時(shí)，相鄰兩個(gè)列像素單元P以及相鄰兩行像素單元P均為錯(cuò)位排布，任意相鄰的兩列像素單元P中，其中一列為第一顏色的像素單元P，另一列為交替排布的第二顏色的像素單元P第一第三顏色的像素單元P。第一顏色、第二顏色以及第三顏色均不相同，可以設(shè)定第一顏色、第二顏色以及第三顏色中的一個(gè)為紅色，一個(gè)為綠色，一個(gè)為藍(lán)色。當(dāng)像素單元P采用像素渲染方式排布時(shí)，最近鄰的兩個(gè)像素單元間距較大即可滿足較大的分辨率。本發(fā)明是實(shí)例所述顯示面板可以同時(shí)為所有奇數(shù)組的相鄰的柵極線D提供測試信號(hào)，以判斷所有奇數(shù)組電連接的像素單元D中是否具有短路等問題，同時(shí)為所有偶數(shù)組的相鄰的柵極線D提供測試信號(hào)，以判斷所有偶數(shù)組的電連接的像素單元D中是否具有短路等問題。奇數(shù)組的數(shù)據(jù)線D與偶數(shù)組的數(shù)據(jù)線D不同時(shí)提供測試信號(hào)。

驅(qū)動(dòng)引腳13通過位于邊框區(qū)15的信號(hào)線為控制端121提供開關(guān)控制信號(hào)，以控制各個(gè)第一薄膜晶體管T1的開關(guān)狀態(tài)。第一薄膜晶體管T1可以為PMOS，在開關(guān)控制信號(hào)為低電位時(shí)導(dǎo)通，在開關(guān)控制信號(hào)為高電位時(shí)關(guān)閉。第一薄膜晶體管T1也可以為NMOS，在開關(guān)控制信號(hào)為低電位時(shí)關(guān)閉，在開關(guān)控制信號(hào)為高電位時(shí)導(dǎo)通。

當(dāng)所有第一薄膜晶體管T1均導(dǎo)通時(shí)，可以通過奇數(shù)測試引腳141或是偶數(shù)測試引腳142分時(shí)的為與第一輸入端122A導(dǎo)通的數(shù)據(jù)線D以及與第二輸入端122B導(dǎo)通的數(shù)據(jù)線D提供測試信號(hào)，以測試顯示面板師傅具有像素短路以及斷路問題。

所述顯示陣列11設(shè)置有所述測試引腳14的一側(cè)設(shè)置有綁定區(qū)16，所述綁定區(qū)16用于綁定驅(qū)動(dòng)芯片。當(dāng)測試完成后，確定像素單元P之間無短路或是短路等問題后，在綁定區(qū)16內(nèi)綁定驅(qū)動(dòng)芯片。驅(qū)動(dòng)芯片用于驅(qū)動(dòng)像素單元P進(jìn)行圖像顯示。綁定區(qū)16位于顯示陣列11背離所述測試開關(guān)電路12的一側(cè)，與測試引腳14以及驅(qū)動(dòng)引腳13位于同一側(cè)，便于測試引腳14、驅(qū)動(dòng)引腳13以及測試開關(guān)電路12在邊框區(qū)15的布線。

圖1A所示實(shí)施例中，奇數(shù)引腳141通過第1條數(shù)據(jù)線D與奇數(shù)輸入端122A電連接，偶數(shù)引腳142通過第n條數(shù)據(jù)線D與所述偶數(shù)輸入端122B電連接，奇數(shù)引腳141與偶數(shù)引腳142位于綁定區(qū)16兩側(cè)，便于奇數(shù)引腳141以及偶數(shù)引腳142在邊框區(qū)15布線設(shè)置，以便于與對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線D連接。

參考圖1B，圖1B為本發(fā)明實(shí)施例提供的另一種顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖，基于圖1A所示實(shí)施方式，圖1B中所述顯示面板中，所述測試開關(guān)電路12還具有m個(gè)第二薄膜晶體管T2，所述第二薄膜晶體管具有控制電極、第一電極以及第二電極；所有所述第二薄膜晶體管T2的控制電極與所述控制端121電連接；所述第二薄膜晶體管T2的第一電極單獨(dú)通過一條所述數(shù)據(jù)線D與一個(gè)對(duì)應(yīng)的所述測試引腳14電連接；所述薄膜晶體管T2的第二電極與所述輸入端122電連接。需要說明的是，虛線三角形僅是為了示出第二薄膜晶體管T2的位置，不表示實(shí)際的結(jié)構(gòu)圖形。所述測試開關(guān)電路12具有與測試引腳一一對(duì)應(yīng)的第二薄膜晶體管。

具體的，圖1B中，m＝a＝2，測試引腳14與輸入端12一一對(duì)應(yīng)連接，每個(gè)測試引腳14單獨(dú)對(duì)應(yīng)一個(gè)第二薄膜晶體管T2。奇數(shù)引腳141通過一個(gè)第二薄膜晶體管T2與奇數(shù)輸入端122A電連接，偶數(shù)引腳142通過另一個(gè)第二薄膜晶體管T2與偶數(shù)輸入端122B電連接。這樣，每條數(shù)據(jù)線D均是通過一個(gè)薄膜晶體管與測試開關(guān)電路12電連接，提高測試開關(guān)電路12的穩(wěn)定性以及可靠性。

一般的，顯示面板具有較多的數(shù)據(jù)線D，而與輸入端12連接的數(shù)據(jù)線相對(duì)于與輸出端123連接的數(shù)據(jù)線D較少，因此，測試開關(guān)電路12中所有薄膜晶體管均導(dǎo)通時(shí)，第二薄膜晶體管T2中的電流會(huì)大于第一薄膜晶體管T1中的電流，會(huì)使得數(shù)據(jù)線D中電壓達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài)所需時(shí)間較長，影響測試過程中畫面切換的響應(yīng)速度，為了解決該問題，本發(fā)明實(shí)施例中設(shè)置所述第二薄膜晶體管T2的溝道寬長比大于所述第一薄膜晶體管T1的溝道寬長比，以降低數(shù)據(jù)線D中電壓達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài)所需時(shí)間，提高測試過程中畫面切換的響應(yīng)速度。

一般的，本發(fā)明實(shí)施例所述顯示面板中，至少具有兩個(gè)測試引腳14。且所述顯示陣列11設(shè)置有所述測試引腳14的一側(cè)設(shè)置有綁定區(qū)16，所述綁定區(qū)用于綁定驅(qū)動(dòng)芯片。當(dāng)具有多個(gè)所述測試引腳14時(shí)，為了便于測試引腳14與對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)線D的布線連接，設(shè)置所述測試引腳14在所述第二方向X上依次排布，所述綁定區(qū)16位于兩個(gè)所述測試引腳14之間。

基于上述各個(gè)實(shí)施方式，為了避免第一薄膜晶體管上漏電流或是殘留電荷影響顯示面板的顯示性能，本發(fā)明實(shí)施例所述顯示面板中，設(shè)置電連接同一輸入端的所有所述第一薄膜晶體管的第二電極通過同一電阻元件與電壓輸入端電連接或是接地；電連接不同輸入端的所述第一薄膜晶體管的第二電極通過不同的電阻元件分別與電壓輸入端電連接或是接地。此時(shí)，顯示面板的機(jī)構(gòu)可以如圖1C所示。

參考圖1C，圖1C為本發(fā)明實(shí)施例提供的又一種顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖，在圖1B所示顯示面板的基礎(chǔ)上，圖1C所示顯示面板所有連接奇數(shù)輸入端122A的第一薄膜晶體管T1的第二電極均通過第一電阻元件R1接地，所有連接奇數(shù)輸入端122A的第二薄膜晶體管T1的第二電極均通過第二電阻元件R2接地。

為了避免顯示面板測試時(shí)，電阻元件上消耗較多電能，薄膜晶體管連接的電阻元件的電阻值需要足夠大，以保證測試信號(hào)主要供顯示單元進(jìn)行測試。所述電阻元件可以為顯示面板中半導(dǎo)體層制備或是金屬層制備，復(fù)用顯示面板中已有的半導(dǎo)體層或是金屬層制作所述電阻元件，在通過半導(dǎo)體層形成薄膜晶體管的有源區(qū)的同時(shí)形成所述電阻元件或是在通過金屬層形成顯示面板內(nèi)部導(dǎo)電結(jié)構(gòu)的同時(shí)形成所述電阻元件，不增加制作流程以及面板厚度，制作成本低，工藝簡單。

如圖1C所示的，當(dāng)顯示面板具有第二薄膜晶體管T2時(shí)，電連接同一輸入端122的所述第一薄膜晶體管T1與所述第二薄膜晶體管T2通過同一電阻元件與電壓輸入端電連接或是接地。如圖1C所示，與奇數(shù)輸入端122A連接的第二薄膜晶體干T2以及第一薄膜晶體管T1通過第一電阻元件R1接地，與偶數(shù)輸入端122B連接的第二薄膜晶體干T2以及第一薄膜晶體管T1通過第二電阻元件R2接地。

在圖1C中電阻元件直接接地，在其他實(shí)施方式中，電阻元件還可以連接顯示面板中的電壓輸入端，且不接地。當(dāng)電阻元件連接電壓輸入端時(shí)，電壓輸入端為顯示面板中已有的電壓信號(hào)端，該電壓信號(hào)端可以為交流信號(hào)端或是直流信號(hào)端。為了避免電壓信號(hào)端中電壓信號(hào)波動(dòng)對(duì)測試引腳輸入的測試信號(hào)的影響，優(yōu)選的采用直流信號(hào)端。

當(dāng)所述顯示面板為LCD顯示面板時(shí)，所述電壓輸入端可以是用于輸入公共電壓信號(hào)，輸入掃描電路的直流電壓信號(hào)，或輸入掃描電路的數(shù)據(jù)信號(hào)中的一種。當(dāng)所述顯示面板為OLED顯示面板時(shí)，所述電壓輸入端可以是用于輸入陰極電壓信號(hào)、輸入掃描電路的直流電壓信號(hào)，或輸入掃描電路的數(shù)據(jù)信號(hào)中的一種。需要說明的是，上述列舉的信號(hào)端口僅為舉例說明，本申請的電壓輸入端不限于此，也可以是顯示面板中存在的其他可用信號(hào)端口，具體視情況而定。

基于上述各實(shí)施方式，當(dāng)具有上述兩個(gè)輸入端122，且顯示陣列11中像素單元P采用像素渲染方式排布時(shí)，顯示面板的結(jié)構(gòu)還可以如圖2A所示。

參考圖2A，圖2A為本發(fā)明實(shí)施例提供的又一種顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖，圖2A與圖1A不同的是，m＝4，具有四個(gè)測試引腳14。四個(gè)所述測試引腳14中的兩個(gè)為奇數(shù)引腳141，另外兩個(gè)為偶數(shù)引腳142。兩個(gè)所述奇數(shù)引腳141分別通過同一奇數(shù)組的兩條數(shù)據(jù)線D與所述奇數(shù)輸入端122A連接；所有奇數(shù)組中的其他N-2條數(shù)據(jù)線D均單獨(dú)通過一個(gè)所述輸入端123與所述奇數(shù)輸入端122A電連接。兩個(gè)所述偶數(shù)引腳142分別通過同一偶數(shù)組中的兩條數(shù)據(jù)線D與所述偶數(shù)輸入端122B連接；所有偶數(shù)組中的其他N-2條數(shù)據(jù)線D均單獨(dú)通過一個(gè)所述輸入端123與所述偶數(shù)輸入端122B電連接。

圖2A所示實(shí)施方式采用兩個(gè)測試引腳14同時(shí)為奇數(shù)輸入端122A提供測試信號(hào)，采用兩個(gè)測試引腳14同時(shí)為偶數(shù)輸入端122B提供測試信號(hào)，相對(duì)于圖1A所示實(shí)施方式，提高了驅(qū)動(dòng)能力。

為了提供驅(qū)動(dòng)能力，可以一個(gè)輸入端122同時(shí)連接多個(gè)測試引腳14，每個(gè)測試引腳14單獨(dú)通過一條數(shù)據(jù)線與相應(yīng)輸入端122電連接，以提高驅(qū)動(dòng)能力。需要說明的是，不局限于一個(gè)輸入端122采用兩個(gè)測試引腳14同時(shí)輸入測試信號(hào)的方式，還可以采大于兩個(gè)的測試引腳14同時(shí)為同一個(gè)輸入端122輸入測試信號(hào)。

參考圖2B，圖2B為本發(fā)明實(shí)施例提供的又一種顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖，該顯示面板中，在圖2B實(shí)施方式中，每個(gè)測試引腳14連接的數(shù)據(jù)線D均分別通過一個(gè)第二薄膜晶體管T2與對(duì)應(yīng)輸入端122連接，以使得數(shù)據(jù)線均是通過一個(gè)薄膜晶體管與對(duì)應(yīng)輸入端122連接，保證測試開關(guān)電路12的可靠性以及穩(wěn)定性。同樣，為了避免測試開關(guān)電路12中薄膜晶體管的漏電流以及殘留電荷對(duì)顯示性功能的干擾，設(shè)置連接奇數(shù)輸入端122A的薄膜晶體管的第二電極均通過第一電阻元件R1接地，連接偶數(shù)輸入端122B的薄膜晶體管的第二電極均通過第二電阻元件接地。其他方式中，電阻元件也可以連接預(yù)設(shè)的電壓輸入端。

當(dāng)具有上述兩個(gè)輸入端122，且所有像素單元P矩陣排布時(shí)，即任意相鄰兩列的像素單元P中，一列中的像素單元P與另一列中的像素單元P在第二方向X上一一相對(duì)設(shè)置，對(duì)于像素單元P矩陣排布的顯示陣列11，面板尺寸一定時(shí)，為了達(dá)到較高的分辨率，同一行相鄰兩個(gè)像素單元P的間距較小，需要隔行輸入測試信號(hào)，以檢測相鄰兩像素單元P是否短路。此時(shí)，基于上述各實(shí)施方式，顯示面板的結(jié)構(gòu)可以如圖3A所示。

參考圖3A，圖3A為本發(fā)明實(shí)施例提供的又一種顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖。該實(shí)施方式與圖1A所示實(shí)施方式不同在于：所有像素單元P矩陣排布，所述奇數(shù)引腳141通過一奇數(shù)列像素單元P電連接的所述數(shù)據(jù)線D與所述奇數(shù)輸入端122A電連接；其他奇數(shù)列像素單元P電連接的所述數(shù)據(jù)線D均單獨(dú)通過一個(gè)所述輸出端123與所述奇數(shù)輸入端122A電連接；所述偶數(shù)引腳142通過一偶數(shù)列像素單元P電連接的所述數(shù)據(jù)線D與所述偶數(shù)輸入端122B電連接；其他偶數(shù)列像素單元P電連接的所述數(shù)據(jù)線D均單獨(dú)通過一個(gè)所述輸出端123與所述偶數(shù)輸入端122B電連接。

參考圖3B，圖3B為本發(fā)明實(shí)施例提供的又一種顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖，該顯示面板中，在圖3B實(shí)施方式中，每個(gè)測試引腳14連接的數(shù)據(jù)線D均分別通過一個(gè)第二薄膜晶體管T2與對(duì)應(yīng)輸入端122連接，以使得數(shù)據(jù)線均是通過一個(gè)薄膜晶體管與對(duì)應(yīng)輸入端122連接，保證測試開關(guān)電路12的可靠性以及穩(wěn)定性。同樣，為了避免測試開關(guān)電路12中薄膜晶體管的漏電流以及殘留電荷對(duì)顯示性功能的干擾，設(shè)置連接奇數(shù)輸入端122A的薄膜晶體管的第二電極均通過第一電阻元件R1接地，連接偶數(shù)輸入端122B的薄膜晶體管的第二電極均通過第二電阻元件接地。其他方式中，電阻元件也可以連接預(yù)設(shè)的電壓輸入端。

像素單元P矩陣排布時(shí)，為了提高驅(qū)動(dòng)能力，同樣可以通過設(shè)置四個(gè)測試引腳14，采用兩個(gè)測試引腳14同時(shí)為奇數(shù)輸入端122A提供測試信號(hào)，采用另外兩個(gè)測試引腳14同時(shí)為偶數(shù)輸入端122B提供測試信號(hào)。同樣，分時(shí)為奇數(shù)輸入端122A以及偶數(shù)輸入端122B提供測試信號(hào)。此時(shí)，基于上述各實(shí)施方式，顯示面板的結(jié)構(gòu)可以如圖4A所示。

參考圖4A，圖4A為本發(fā)明實(shí)施例提供的又一種顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖。該實(shí)施方式與圖3A所示實(shí)施方式不同在于：m＝4，四個(gè)所述測試引腳14中的兩個(gè)均是奇數(shù)引腳141，另外兩個(gè)均是偶數(shù)引腳142；一個(gè)奇數(shù)引腳141個(gè)通過一奇數(shù)列像素單元P電連接的所述數(shù)據(jù)線D與所述奇數(shù)輸入端122A電連接，另一個(gè)奇數(shù)引腳141通過另一奇數(shù)列像素單元P電連接的所述數(shù)據(jù)線D與所述奇數(shù)輸入端122A電連接，其他奇數(shù)列像素單元P電連接的所述數(shù)據(jù)線D均單獨(dú)通過一個(gè)所述輸出端123與所述奇數(shù)輸入端122A電連接；

一個(gè)偶數(shù)引腳142通過一偶數(shù)列像素單元P電連接的所述數(shù)據(jù)線D與所述偶數(shù)輸入端122B電連接，另一個(gè)偶數(shù)引腳142通過另一偶數(shù)列像素單元P電連接的所述數(shù)據(jù)線D與所述偶數(shù)輸入端122B電連接，其他偶數(shù)列像素單元P電連接的所述數(shù)據(jù)線D均單獨(dú)通過一個(gè)所述輸出端123與所述偶數(shù)輸入端122B電連接。

參考圖4B，圖4B為本發(fā)明實(shí)施例提供的又一種顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖，該顯示面板中，在圖4B實(shí)施方式中，每個(gè)測試引腳14連接的數(shù)據(jù)線D均分別通過一個(gè)第二薄膜晶體管T2與對(duì)應(yīng)輸入端122連接，以使得數(shù)據(jù)線均是通過一個(gè)薄膜晶體管與對(duì)應(yīng)輸入端122連接，保證測試開關(guān)電路12的可靠性以及穩(wěn)定性。同樣，為了避免測試開關(guān)電路12中薄膜晶體管的漏電流以及殘留電荷對(duì)顯示性功能的干擾，設(shè)置連接奇數(shù)輸入端122A的薄膜晶體管的第二電極均通過第一電阻元件R1接地，連接偶數(shù)輸入端122B的薄膜晶體管的第二電極均通過第二電阻元件接地。其他方式中，電阻元件也可以連接預(yù)設(shè)的電壓輸入端。

當(dāng)所述顯示面板具有三種不同顏色的像素單元P，所述三種不同顏色分別為第一顏色、第二顏色以及第三顏色；同一列像素單元P的顏色相同；同一行像素單元P中任意連續(xù)的三個(gè)像素單元P的顏色不同時(shí)，可以設(shè)置3個(gè)輸入端，即a＝3。此時(shí)，基于上述各實(shí)施方式，顯示面板的結(jié)構(gòu)可以如圖5A所示。

參考圖5A，圖5A為本發(fā)明實(shí)施例提供的又一種顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖，該顯示面板中，具有三個(gè)輸入端122，三個(gè)所述輸入端分別為第一輸入端122r、第二輸入端122g以及第三輸入端122B。

圖5A所示方式中，第一顏色為紅色R，第二顏色為綠色G，第三顏色為藍(lán)色B。m＝3，顯示面板具有三個(gè)測試引腳14，三個(gè)測試引腳14分別為第一引腳141r、第二引腳141g以及第三引腳141b。

所述第一引腳141r通過一列第一顏色R的像素單元P電連接的所述數(shù)據(jù)線D與所述第一輸入端122r電連接；其他列的第一顏色R的像素單元P電連接的所述數(shù)據(jù)線D均單獨(dú)通過一個(gè)所述輸出端123與所述第一輸入端122r電連接。所述第二引腳141g通過一列第二顏色G的像素單元P電連接的所述數(shù)據(jù)線D與所述第二輸入端122g電連接；其他列的第二顏色G的像素單元P電連接的所述數(shù)據(jù)線D均單獨(dú)通過一個(gè)所述輸出端123與所述第二輸入端122g電連接。所述第三引腳141b通過一列第三顏色B的像素單元P電連接的所述數(shù)據(jù)線D與所述第三輸入端122B電連接；其他列的第三顏色B的像素單元P電連接的所述數(shù)據(jù)線D均單獨(dú)通過一個(gè)所述輸出端123與所述第三輸入端122B電連接。

參考圖5B，圖5B為本發(fā)明實(shí)施例提供的又一種顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖，該顯示面板中，在圖5B實(shí)施方式中，每個(gè)測試引腳14連接的數(shù)據(jù)線D均分別通過一個(gè)第二薄膜晶體管T2與對(duì)應(yīng)輸入端122連接，以使得數(shù)據(jù)線均是通過一個(gè)薄膜晶體管與對(duì)應(yīng)輸入端122連接，保證測試開關(guān)電路12的可靠性以及穩(wěn)定性。同樣，為了避免測試開關(guān)電路12中薄膜晶體管的漏電流以及殘留電荷對(duì)顯示性功能的干擾，設(shè)置連接第一輸入端122r的薄膜晶體管的第二電極均通過電阻元件R11接地，連接第二輸入端122g的薄膜晶體管的第二電極均通過電阻元件R12接地，連接第三輸入端122B的薄膜晶體管的第二電極均通過電阻元件R13接地。其他方式中，電阻元件也可以連接預(yù)設(shè)的電壓輸入端。

本發(fā)明實(shí)施例所述顯示面板中，還包括設(shè)置在綁定區(qū)的驅(qū)動(dòng)芯片。當(dāng)測試合格后，在綁定區(qū)綁定驅(qū)動(dòng)芯片。驅(qū)動(dòng)芯片設(shè)置在顯示陣列11朝向測試引腳14的一側(cè)，便于驅(qū)動(dòng)芯片與各個(gè)數(shù)據(jù)線D電連接，驅(qū)動(dòng)芯片以較短的走線即可分別與各個(gè)數(shù)據(jù)線D電連接。驅(qū)動(dòng)芯片可以通過具有多個(gè)薄膜晶體管的數(shù)據(jù)選擇電路與各個(gè)數(shù)據(jù)線D連接，以便于使得驅(qū)動(dòng)芯片通過較少的端口與所有數(shù)據(jù)線D提供顯示驅(qū)動(dòng)信號(hào)。

驅(qū)動(dòng)芯片與所述驅(qū)動(dòng)引腳13連接，在顯示時(shí)，所述驅(qū)動(dòng)芯片用于為所述驅(qū)動(dòng)引腳提供用于控制所述測試開關(guān)電路12中所有薄膜晶體管關(guān)閉的開關(guān)控制信號(hào)，以保證各個(gè)數(shù)據(jù)線D的顯示驅(qū)動(dòng)信號(hào)的相互隔離。

通過上述描述可知，本發(fā)明實(shí)施例提供的顯示面板中，所述測試引腳通過部分?jǐn)?shù)據(jù)線與所述輸入端電連接，通過該部分?jǐn)?shù)據(jù)線提供測試信號(hào)，其余數(shù)據(jù)線與所述輸出端電連接，復(fù)用數(shù)據(jù)線作為測試引腳的信號(hào)線，無需在邊框區(qū)設(shè)置測試引腳的信號(hào)線，降低了邊框區(qū)的寬度，便于顯示面板的窄邊框設(shè)計(jì)。

基于上述顯示面板實(shí)施例，本發(fā)明另一實(shí)施例還提供了一種電子設(shè)備，如圖6所示，圖6為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種電子設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖，所述電子設(shè)備包括顯示面板61，所述顯示面板61為上述實(shí)施例所述顯示面板。需要說明的是，本申請上述各實(shí)施例的顯示面板可以為LC D顯示面板，也可以為OLED顯示面板，還可以是微LED顯示面板(micro LED，μLED)、QLED顯示面板(Quantum Dot Light Emitting Display，量子點(diǎn)顯示器件面板)、電泳顯示器，電潤濕顯示器等模式的顯示面板，本申請對(duì)此不做限定。

本發(fā)明實(shí)施例所述電子設(shè)備可以為手機(jī)、電腦以及電視等具有顯示功能的電子裝置。所述電子設(shè)備采用上述實(shí)施例所述顯示面板，可以復(fù)用數(shù)據(jù)線對(duì)像素單元進(jìn)行顯示測試，無需在邊框區(qū)額外設(shè)置測試引腳的信號(hào)線，具有更窄的邊框?qū)挾取?/p>

基于上述顯示面板實(shí)施例，本發(fā)明另一實(shí)施例還提供了一種測試方法，所述測試方法用于對(duì)上述顯示面板的像素單元進(jìn)行顯示測試，所述測試方法如圖7所示，圖7為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種測試方法的流程示意圖，所述測試方法包括：

步驟S11：驅(qū)動(dòng)引腳通過設(shè)置在所述顯示面板的邊框區(qū)的信號(hào)線為測試開關(guān)電路的控制端提供開關(guān)控制信號(hào)，控制所述測試開關(guān)電路的導(dǎo)通狀態(tài)。

步驟S12：測試引腳通過一部分?jǐn)?shù)據(jù)線為測試開關(guān)電路的輸入端提供測試信號(hào)，所述測試開關(guān)電路通過另一部分?jǐn)?shù)據(jù)線輸出所述測試信號(hào)。

一種方式中，顯示面板中，所述測試開關(guān)電路具有兩個(gè)輸入端，一個(gè)輸入端為奇數(shù)輸入端，另一個(gè)輸入端為偶數(shù)輸入端；所述顯示面板具有兩個(gè)測試引腳，一個(gè)為奇數(shù)引腳，另一個(gè)偶數(shù)引腳。

此時(shí)，所述測試引腳通過一部分?jǐn)?shù)據(jù)線為測試開關(guān)電路的輸入端提供測試信號(hào)，所述測試開關(guān)電路通過另一部分?jǐn)?shù)據(jù)線輸出所述測試信號(hào)包括：所述奇數(shù)引腳通過一奇數(shù)列像素單元電連接的所述數(shù)據(jù)線與所述奇數(shù)輸入端電連接，為所述奇數(shù)輸入端提供第一測試信號(hào)；其他奇數(shù)列像素單元電連接的所述數(shù)據(jù)線均單獨(dú)通過一個(gè)所述輸出端與所述奇數(shù)輸入端電連接，獲取所述輸出端輸出的第一測試信號(hào)；所述偶數(shù)引腳通過一偶數(shù)列像素單元電連接的所述數(shù)據(jù)線與所述偶數(shù)輸入端電連接，為所述偶數(shù)輸入端提供第二測試信號(hào)；其他偶數(shù)列像素單元電連接的所述數(shù)據(jù)線均單獨(dú)通過一個(gè)所述輸出端與所述偶數(shù)輸入端電連接，獲取所述輸出端輸出的第二測試信號(hào)。

該測試方法中，通過一個(gè)測試引腳提供第一測試信號(hào)，通過另一個(gè)測試引腳提供第二測試信號(hào)，且分時(shí)提供所述第一測試信號(hào)或是第二測試信號(hào)，以測試像素單元是否可以正常顯示。該方法中，奇數(shù)列像素單元的數(shù)據(jù)線與偶數(shù)列像素單元的數(shù)據(jù)線分時(shí)輸入第一測試信號(hào)或是第二測試信號(hào)。

另一種方式中，所述測試開關(guān)電路具有兩個(gè)輸入端，一個(gè)輸入端為奇數(shù)輸入端，另一個(gè)輸入端為偶數(shù)輸入端；所述顯示面板具有四個(gè)測試引腳，兩個(gè)均為奇數(shù)引腳，另兩個(gè)均為偶數(shù)引腳。

此時(shí)，所述測試引腳通過一部分?jǐn)?shù)據(jù)線為測試開關(guān)電路的輸入端提供測試信號(hào)，所述測試開關(guān)電路通過另一部分?jǐn)?shù)據(jù)線輸出所述測試信號(hào)包括：一個(gè)奇數(shù)引腳通過一奇數(shù)列像素單元電連接的所述數(shù)據(jù)線與所述奇數(shù)輸入端電連接，另一個(gè)奇數(shù)引腳通過另一奇數(shù)列像素單元電連接的所述數(shù)據(jù)線與所述奇數(shù)輸入端電連接，通過兩個(gè)奇數(shù)引腳同時(shí)為所述奇數(shù)輸入端提供第一測試信號(hào)；其他奇數(shù)列像素單元電連接的所述數(shù)據(jù)線均單獨(dú)通過一個(gè)所述輸出端與所述奇數(shù)輸入端電連接，獲取所述輸出端輸出的第一測試信號(hào)；一個(gè)偶數(shù)引腳通過一偶數(shù)列像素單元電連接的所述數(shù)據(jù)線與所述偶數(shù)輸入端電連接，另一個(gè)偶數(shù)引腳通過另一偶數(shù)列像素單元電連接的所述數(shù)據(jù)線與所述偶數(shù)輸入端電連接，通過兩個(gè)偶數(shù)引腳同時(shí)為所述偶數(shù)輸入端提供第一測試信號(hào)；其他偶數(shù)列像素單元電連接的所述數(shù)據(jù)線均單獨(dú)通過一個(gè)所述輸出端與所述偶數(shù)輸入端電連接，獲取所述輸出端輸出的第二測試信號(hào)。

該測試方法中，奇數(shù)列像素單元的數(shù)據(jù)線與偶數(shù)列像素單元的數(shù)據(jù)線分時(shí)輸入第一測試信號(hào)或是第二測試信號(hào)時(shí)，通過兩個(gè)測試引腳同時(shí)提供第一測試信號(hào)，通過另外兩個(gè)測試引腳同時(shí)提供第二測試信號(hào)，提高了驅(qū)動(dòng)能力。

再一種方式中，所述測試開關(guān)電路具有兩個(gè)輸入端，一個(gè)輸入端為奇數(shù)輸入端，另一個(gè)輸入端為偶數(shù)輸入端；所述顯示面板具有兩個(gè)測試引腳，一個(gè)為奇數(shù)引腳，另一個(gè)偶數(shù)引腳；所述顯示面板具有2N條數(shù)據(jù)線，在所述第二方向上，2N條數(shù)據(jù)線平均分為N組，每一組具有兩條相鄰的數(shù)據(jù)線，第i組包括第2i-1條數(shù)據(jù)線以及第2i條數(shù)據(jù)線，i為不大于N的正整數(shù)。

此時(shí)，所述測試引腳通過一部分?jǐn)?shù)據(jù)線為測試開關(guān)電路的輸入端提供測試信號(hào)，所述測試開關(guān)電路通過另一部分?jǐn)?shù)據(jù)線輸出所述測試信號(hào)包括：所述奇數(shù)引腳通過一奇數(shù)組中的一條數(shù)據(jù)線與所述奇數(shù)輸入端連接，為所述奇數(shù)輸入端提供第一測試信號(hào)；所有奇數(shù)組中的其他N-1條數(shù)據(jù)線均單獨(dú)通過一個(gè)所述輸入端與所述奇數(shù)輸入端電連接，獲取所述輸出端輸出的第一測試信號(hào)；所述偶數(shù)引腳通過一偶數(shù)組中的一條數(shù)據(jù)線與所述偶數(shù)輸入端連接，為所述偶數(shù)輸入端提供第二測試信號(hào)；所有偶數(shù)組中的其他N-1條數(shù)據(jù)線均單獨(dú)通過一個(gè)所述輸入端與所述偶數(shù)輸入端連接，獲取所述輸出端輸出的第二測試信號(hào)。

該測試方法中，通過一個(gè)測試引腳提供第一測試信號(hào)，通過另一個(gè)測試引腳提供第二測試信號(hào)，且分時(shí)提供所述第一測試信號(hào)或是第二測試信號(hào)，以測試像素單元是否可以正常顯示。該方法中，數(shù)據(jù)線兩兩為一組，奇數(shù)組與偶數(shù)組的分時(shí)輸入第一測試信號(hào)或是第二測試信號(hào)。

再一種方式中，所述測試開關(guān)電路具有兩個(gè)輸入端，一個(gè)輸入端為奇數(shù)輸入端，另一個(gè)輸入端為偶數(shù)輸入端；所述顯示面板具有四個(gè)測試引腳，兩個(gè)為奇數(shù)引腳，另為兩個(gè)為偶數(shù)引腳；所述顯示面板具有2N條數(shù)據(jù)線，在所述第二方向上，2N條數(shù)據(jù)線平均分為N組，每一組具有兩條相鄰的數(shù)據(jù)線，第i組包括第2i-1條數(shù)據(jù)線以及第2i條數(shù)據(jù)線，i為不大于N的正整數(shù)。

此時(shí)，所述測試引腳通過一部分?jǐn)?shù)據(jù)線為測試開關(guān)電路的輸入端提供測試信號(hào)，所述測試開關(guān)電路通過另一部分?jǐn)?shù)據(jù)線輸出所述測試信號(hào)包括：兩個(gè)所述奇數(shù)引腳分別通過同一奇數(shù)組的兩條數(shù)據(jù)線與所述奇數(shù)輸入端連接，為所述奇數(shù)輸入端提供第一測試信號(hào)；所有奇數(shù)組中的其他N-2條數(shù)據(jù)線均單獨(dú)通過一個(gè)所述輸入端與所述奇數(shù)輸入端電連接，獲取所述輸出端輸出的第一測試信號(hào)；兩個(gè)所述偶數(shù)引腳分別通過同一偶數(shù)組中的兩條數(shù)據(jù)線與所述偶數(shù)輸入端連接，為所述偶數(shù)輸入端提供第二測試信號(hào)；所有偶數(shù)組中的其他N-2條數(shù)據(jù)線均單獨(dú)通過一個(gè)所述輸入端與所述偶數(shù)輸入端連接，獲取所述輸出端輸出的第二測試信號(hào)。

該測試方法中，數(shù)據(jù)線兩兩為一組，奇數(shù)組與偶數(shù)組的分時(shí)輸入第一測試信號(hào)或是第二測試信號(hào)時(shí)，通過兩個(gè)測試引腳同時(shí)提供第一測試信號(hào)，通過另兩個(gè)測試引腳同時(shí)提供第二測試信號(hào)，以提高驅(qū)動(dòng)能力。

再一種方式中，所述顯示面板具有三種不同顏色的像素單元，所述三種不同顏色分別為第一顏色、第二顏色以及第三顏色；同一列像素單元的顏色相同；同一行像素單元中任意連續(xù)的三個(gè)像素單元的顏色不同；所述顯示面板具有三個(gè)輸入端，分別為第一輸入端、第二輸入端以及第三輸入端；所述測試開關(guān)電路具有三個(gè)測試引腳分別為第一引腳、第二引腳以及第三引腳。

此時(shí)，所述測試引腳通過一部分?jǐn)?shù)據(jù)線為測試開關(guān)電路的輸入端提供測試信號(hào)，所述測試開關(guān)電路通過另一部分?jǐn)?shù)據(jù)線輸出所述測試信號(hào)包括：所述第一引腳通過一列第一顏色的像素單元電連接的所述數(shù)據(jù)線與所述第一輸入端電連接，為所述第一輸入端提供第一顏色像素單元的測試信號(hào)；其他列的第一顏色的像素單元電連接的所述數(shù)據(jù)線均單獨(dú)通過一個(gè)所述輸出端與所述第一輸入端電連接，獲取所述第一顏色像素單元的測試信號(hào)；所述第二引腳通過一列第二顏色的像素單元電連接的所述數(shù)據(jù)線與所述第二輸入端電連接，為所述第二輸入端提供給第二顏色像素單元的測試信號(hào)；其他列的第二顏色的像素單元電連接的所述數(shù)據(jù)線均單獨(dú)通過一個(gè)所述輸出端與所述第二輸入端電連接，獲取所述第二顏色像素單元的測試信號(hào)；所述第三引腳通過一列第三顏色的像素單元電連接的所述數(shù)據(jù)線與所述第三輸入端電連接，為所述第三輸入端提供第三顏色像素單元的測試信號(hào)；其他列的第三顏色的像素單元電連接的所述數(shù)據(jù)線均單獨(dú)通過一個(gè)所述輸出端與所述第三輸入端電連接，獲取所述第三顏色像素單元的測試信號(hào)。

該測試方法中，通過一個(gè)測試引腳提供第一顏色像素單元的測試信號(hào)，通過一個(gè)測試引腳提供第二顏色像素單元的測試信號(hào)，通過一個(gè)測試引腳提供第三顏色像素單元的測試信號(hào)，分別通過三個(gè)不同的測試引腳分別提供第一顏色像素單元的測試信號(hào)、第二顏色像素單元的測試信號(hào)以及第三顏色像素單元的測試信號(hào)，且分時(shí)提供第一顏色像素單元的測試信號(hào)、第二顏色像素單元的測試信號(hào)以及第三顏色像素單元的測試信號(hào)，以測試像素單元是否可以正常顯示。

本發(fā)明實(shí)施例所述測試方法中，通過測試引腳通過一部分?jǐn)?shù)據(jù)線提供測試信號(hào)，測試信號(hào)通過測試開關(guān)電路輸入到其余數(shù)據(jù)線，無需單獨(dú)設(shè)置測試引腳的信號(hào)線，測試方法簡單，成本低，便于顯示面板的窄邊框設(shè)計(jì)。

本說明書中各個(gè)實(shí)施例采用遞進(jìn)的方式描述，每個(gè)實(shí)施例重點(diǎn)說明的都是與其他實(shí)施例的不同之處，各個(gè)實(shí)施例之間相同相似部分互相參見即可。對(duì)于實(shí)施例公開的測試方法以及電子設(shè)備而言，由于其與實(shí)施例公開的顯示面板相對(duì)應(yīng)，所以描述的比較簡單，相關(guān)之處參見顯示面板對(duì)應(yīng)部分說明即可。

對(duì)所公開的實(shí)施例的上述說明，使本領(lǐng)域?qū)I(yè)技術(shù)人員能夠?qū)崿F(xiàn)或使用本發(fā)明。對(duì)這些實(shí)施例的多種修改對(duì)本領(lǐng)域的專業(yè)技術(shù)人員來說將是顯而易見的，本文中所定義的一般原理可以在不脫離本發(fā)明的精神或范圍的情況下，在其它實(shí)施例中實(shí)現(xiàn)。因此，本發(fā)明將不會(huì)被限制于本文所示的這些實(shí)施例，而是要符合與本文所公開的原理和新穎特點(diǎn)相一致的最寬的范圍。