本發(fā)明涉及商品防偽
技術領域：
，尤其涉及一種雙標簽型防偽標簽。
背景技術：
：目前，防偽已經是商品流通、銷售等不可缺少的技術。當前的商品防偽技術方法主要有二維碼或其他類型的語義圖形碼，激光全息技術，熒光材料，水印紙等。二維碼或其他類型的語義圖形碼的語義信息易于解讀但也易于被復制；激光全息技術，熒光材料，水印紙等方法將主要精力放在防偽材料和復雜的紋理上面，生產成本高、技術復雜且不利于大規(guī)模推廣，且對于普通消費者來說，難以辨別。技術實現要素：本發(fā)明要解決的技術問題在于針對現有技術中的缺陷，提供一種雙標簽型防偽標簽。本發(fā)明解決其技術問題所采用的技術方案是：一種雙標簽型防偽標簽，包括：第一標簽和第二標簽；所述第一標簽與第二標簽的位置關系如下：第一標簽整體邊界處在第二標簽的邊界范圍內或第一標簽部分覆蓋了第二標簽；所述第二標簽包括紋理信息，所述第二標簽的紋理信息為用于sift特征提取的紋理信息。按上述方案，所述第一標簽為印刷標簽。按上述方案，所述第一標簽為噴印標簽。按上述方案，所述第一標簽為上層標簽，第二標簽為下層標簽，第一標簽以噴印的形式附在第二標簽之上。按上述方案，所述噴印標簽為有立體觸感的噴印標簽。按上述方案，所述第一標簽包括紋理信息，第一標簽的紋理信息為包括商品信息的紋理信息。按上述方案，所述第一標簽為二維碼或其他類型的語義圖形碼標簽。按上述方案，所述第一標簽中包括的商品信息包括商品名稱、商品產地和制造商信息中的一種或多種。按上述方案，所述第二標簽的紋理信息包括豐富的灰度梯度特征信息。本發(fā)明還提供一種雙標簽型防偽標簽的制作方法，包括以下步驟：1)在物品本身或物品印刷包裝表面印制或粘貼第二標簽；所述第二標簽包括紋理信息，所述第二標簽的紋理信息為用于sift特征提取的紋理信息；2)根據第二標簽的位置，使用印制或粘貼方式制作第一標簽，所述第一標簽在第二標簽的邊界范圍內或第一標簽部分覆蓋了第二標簽。按上述方案，所述步驟2)中使用噴印方式制作第一標簽，制作時控制噴印機運轉時的震動、噴頭噴墨時的抖動或標簽紙張走紙時的位置變化，使每個第一標簽和第二標簽的相對位置存在差別。本發(fā)明的工作原理如下：1)取真實的商品樣本和待檢測的商品樣本記為s1，s2；s1的下層標簽記為d1，s2的下層標簽記為d2，d1和d2分別貼在商品s1，s2表面；s1的上層標簽記為u1，s2的上層標簽記為u2。將商品s1的雙標簽記為t，以t為模板雙標簽，t＝{u1，d1}，u1以噴印的形式附在下層標簽d1上；商品s2的雙標簽記為p，p作為待檢驗的雙標簽，p＝{u2，d2}，u2也是以噴印的形式附在下層標簽d2上。然后，對雙標簽t，p拍攝形成兩幅圖片記為img1,img2；2)分別讀取img1,img2中上層標簽的語義信息，獲得商品的信息，也可獲得商品的產地、制造商等信息。并進行信息比對，進行第一次防偽判別；3)分別提取img1中上下標簽d1，u1和img2中上下標簽d2，u2的sift特征點；4)對d1和d2進行sift特征配準，取出d1和d2中配準的sift特征點集記為f1,f2；以d1作為參照的標準，利用sift特征點集f1和f2的位置坐標，構建d2到d1的仿射變換矩陣記為m，m包含旋轉，平移，尺度變換因子等參數。此步驟是將d2變換到與d1同一個位置，削弱不同拍攝角度和商品擺放位置帶來的干擾。5)對u1和u2進行sift特征配準，取出配準的sift特征點集f1’,f2’；將u2的sift特征點集f2’按照步驟3)計算出的m矩陣進行仿射變換得到特征點集f2”。6)根據f1’和f2”的位置坐標，計算sift特征點集f1’和f2”的距離d，d是點集f1’和f2”對應點距離之和。此d反映了商品s2待測雙標簽p的上層標簽u2相對下層標簽d2的相對位移信息。7)根據d與給定距離閾值的比較并結合上層標簽的語義信息，綜合判斷待測雙標簽p是否是真實商品的雙標簽，進而判定商品s2的合法性。本發(fā)明產生的有益效果是：本發(fā)明由于采用了雙層標簽，上下層標簽的紋理特征特殊但不復雜且上下層標簽的相對幾何位置信息不易物理簡單重復，避免了引入復雜紋理和復雜材料所帶來的高昂成本和復雜技術要求。附圖說明下面將結合附圖及實施例對本發(fā)明作進一步說明，附圖中：圖1是本發(fā)明實施例的物品真實雙標簽圖；圖2是本發(fā)明實施例的物品待核驗雙標簽圖；圖3真品商品經過sift特征提取后的示意圖；圖4是待檢驗商品經過sift特征提取后的示意圖；圖5是本發(fā)明實施例的雙標簽型防偽標簽示意圖。具體實施方式為了使本發(fā)明的目的、技術方案及優(yōu)點更加清楚明白，以下結合實施例，對本發(fā)明進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。如圖5所示，一種雙標簽型防偽標簽，包括：第一標簽和第二標簽；第一標簽與第二標簽的位置關系如下：第一標簽整體邊界處在第二標簽的邊界范圍內或第一標簽部分覆蓋了第二標簽；第二標簽包括紋理信息，所述第二標簽的紋理信息為用于sift特征提取的紋理信息。其中，第一標簽的紋理信息為包括商品信息的紋理信息。在本實施例中，第一標簽為上層標簽，第二標簽為下層標簽。常用的，上層標簽選用二維碼或其他類型的語義圖形碼標簽，上層標簽中包括的商品信息包括商品名稱、商品產地和制造商。下層標簽的紋理信息包括豐富的灰度梯度特征信息。上層標簽為噴印標簽，上層標簽以噴印的形式附貼在下層標簽之上。噴印標簽為有立體觸感的噴印標簽。實施實例，參閱圖1,2,3,4本實例提供一種可用于商品防偽的雙標簽。圖1和圖2分別是包裝盒物品真實雙標簽和待核驗雙標簽的圖片，其中灰白方形紋理區(qū)域代表下層標簽，表面紋理主要用作參考背景，其豐富的局部特征信息如灰度梯度等可用于sift特征提??；二維碼或其他類型的語義圖形碼代表上層標簽，表面紋理主要包含商品的語義信息。圖3和圖4中分別是真品和待檢驗商品經過sift特征提取后的圖片，紅色點為sift特征點。本發(fā)明使用時是通過上層標簽和下層標簽的相對位置關系來進行防偽檢測的，因為使用噴印方式印刷上層標簽，由于噴印機運轉時的震動、噴頭噴墨時的抖動及標簽紙張走紙時的位置變化，導致其上層標簽和下層標簽的相對位置都會有差別，無法完全一致，檢測具體包括以下步驟：取真實的商品樣本和待檢測的商品樣本記為s1，s2；s1的下層標簽記為d1，s2的下層標簽記為d2，d1和d2分別貼在商品s1，s2表面；s1的上層標簽記為u1，s2的上層標簽記為u2。將商品s1的雙標簽記為t，以t為模板雙標簽，t＝{u1，d1}，u1以噴印的形式附貼在下層標簽d1上；商品s2的雙標簽記為p，p作為待檢驗的雙標簽，p＝{u2，d2}，u2也是以噴印的形式附貼在下層標簽d2上。然后，對雙標簽t，p拍攝形成兩幅圖片記為img1，如圖1所示，img2如圖2所示。分別讀取img1,img2中上層標簽的語義信息，獲得商品的信息，也可獲得商品的產地、制造商等信息。并進行商品信息比對，進行第一次防偽判別；分別提取img1中上下標簽d1，u1和img2中上下標簽d2，u2的sift特征點。其中，img1的下層標簽典型sift特征點坐標如下表所示：68.74110.9167.39111.2171.95105.75……60.05109.11img1上層標簽典型sift特征點坐標如下表所示：70.13111.2266.91113.2680.18104.4475.19108.18……83.44108.82img2的下層標簽典型sift特征點坐標如下表所示：70.51113.9068.73111.0271.08104.14……61.39106.48img2上層標簽典型sift特征點坐標如下表所示：70.91113.5270.24111.2573.11106.0469.85105.66……61.79109.21對d1和d2進行sift特征配準，取出d1和d2中配準的sift特征點集記為f1,f2；以d1作為參照的標準，利用sift特征點集f1和f2的位置坐標，構建d2到d1的仿射變換矩陣記為m，m包含旋轉，平移，尺度變換因子等參數。此步驟是將d2變換到與d1同一個位置，削弱不同拍攝角度和商品擺放位置帶來的干擾。對u1和u2進行sift特征配準，取出配準的sift特征點集f1’,f2’；將u2的sift特征點集f2’按照3)計算出的m矩陣進行仿射變換得到的特征點集f2’。根據f1’和f2’’的位置坐標，計算sift特征點集f1’和f2’’的距離d，d是點集f1’和f2’’對應點距離之和。此d反映了商品s2待測雙標簽p的上層標簽u2相對下層標簽d2的相對位移信息。根據d與給定距離閾值的比較并結合上層標簽的語義信息，綜合判斷待測雙標簽p是否是真實商品的雙標簽，進而判定商品s2的合法性。應當理解的是，對本領域普通技術人員來說，可以根據上述說明加以改進或變換，而所有這些改進和變換都應屬于本發(fā)明所附權利要求的保護范圍。當前第1頁12