本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種顯示面板的檢測(cè)方法和檢測(cè)裝置。

背景技術(shù)：

有機(jī)電致發(fā)光二極管(organiclight-emittingdevice,oled)具有主動(dòng)發(fā)光、溫度特性好、功耗小、響應(yīng)快、視角寬、超輕薄和成本低等優(yōu)點(diǎn)，已廣泛應(yīng)用于顯示裝置中。在有機(jī)電致發(fā)光顯示面板中，每個(gè)像素單元中設(shè)置有發(fā)光二極管和用于驅(qū)動(dòng)該發(fā)光二極管的像素驅(qū)動(dòng)電路。在顯示時(shí)，提供給發(fā)光二極管的電流大小會(huì)受到與該發(fā)光二極管相連的驅(qū)動(dòng)薄膜晶體管的閾值影響，而由于不同像素單元中驅(qū)動(dòng)薄膜晶體管的閾值電壓和遷移率存在差異，導(dǎo)致不同像素單元中提供給發(fā)光二極管的電流不同，從而降低顯示面板顯示亮度的均勻性，產(chǎn)生顯示缺陷，例如，出現(xiàn)區(qū)域的斑點(diǎn)或圖案。面對(duì)各種顯示畫(huà)面，如何快速判斷像素單元是否發(fā)生缺陷，從而提高量產(chǎn)與降低成本成為本領(lǐng)域亟待解決的技術(shù)問(wèn)題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明旨在至少解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的技術(shù)問(wèn)題之一，提出了一種顯示面板的檢測(cè)方法和檢測(cè)裝置，以快速檢測(cè)像素單元是否發(fā)生缺陷。

為了解決上述技術(shù)問(wèn)題之一，本發(fā)明提供一種顯示面板的檢測(cè)方法，所述顯示面板包括多個(gè)像素單元，每個(gè)像素單元包括發(fā)光二極管和用于驅(qū)動(dòng)所述發(fā)光二極管的像素電路，所述像素電路包括驅(qū)動(dòng)晶體管，所述驅(qū)動(dòng)晶體管的第一極與所述發(fā)光二極管相連，所述檢測(cè)方法包括：

檢測(cè)所述顯示面板達(dá)到目標(biāo)亮度時(shí)每個(gè)像素單元中驅(qū)動(dòng)晶體管的第一極的電信號(hào)的實(shí)際值，所述電信號(hào)包括電流信號(hào)和/或電壓信號(hào)；

根據(jù)各個(gè)像素單元所對(duì)應(yīng)的電信號(hào)的實(shí)際值判斷每個(gè)像素單元是否發(fā)生缺陷。

優(yōu)選地，所述根據(jù)各個(gè)像素單元所對(duì)應(yīng)的電信號(hào)的實(shí)際值判斷每個(gè)像素單元是否發(fā)生缺陷的步驟包括：

計(jì)算每個(gè)像素單元所對(duì)應(yīng)的電信號(hào)的實(shí)際值與標(biāo)準(zhǔn)值之間的實(shí)際差值；

將每個(gè)像素單元對(duì)應(yīng)的實(shí)際差值與預(yù)定值進(jìn)行對(duì)比，當(dāng)所述實(shí)際差值大于預(yù)定值時(shí)，判定相應(yīng)的像素單元為缺陷像素單元，并根據(jù)預(yù)設(shè)的多種缺陷類(lèi)型與各自對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)差值范圍判斷每個(gè)缺陷像素單元的缺陷類(lèi)型。

優(yōu)選地，所述標(biāo)準(zhǔn)值為所述顯示面板的多個(gè)像素單元所對(duì)應(yīng)的電信號(hào)的實(shí)際值的平均值。

優(yōu)選地，根據(jù)每個(gè)像素單元所對(duì)應(yīng)的實(shí)際差值以及預(yù)設(shè)的多種缺陷類(lèi)型與各自對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)差值范圍判斷每個(gè)像素單元的缺陷類(lèi)型的步驟之后還包括：

統(tǒng)計(jì)每種缺陷類(lèi)型的像素單元的數(shù)量，并輸出統(tǒng)計(jì)結(jié)果。

優(yōu)選地，所述根據(jù)各個(gè)像素單元所對(duì)應(yīng)的電信號(hào)的實(shí)際值判斷每個(gè)像素單元是否發(fā)生缺陷的步驟包括：

生成參考圖像，該參考圖像包括與所述顯示面板的多個(gè)像素單元一一對(duì)應(yīng)的多個(gè)像素點(diǎn)，每個(gè)像素點(diǎn)的灰階值與相應(yīng)像素單元中驅(qū)動(dòng)晶體管第一極的電信號(hào)的實(shí)際值正相關(guān)；

對(duì)所述參考圖像進(jìn)行直方圖正規(guī)化；

根據(jù)直方圖正規(guī)化后的參考圖像判斷每個(gè)像素單元是否發(fā)生缺陷。

優(yōu)選地，檢測(cè)所述顯示面板達(dá)到目標(biāo)亮度時(shí)每個(gè)像素單元中驅(qū)動(dòng)晶體管的第一極的電信號(hào)的實(shí)際值的步驟之前還包括：

根據(jù)所述目標(biāo)亮度獲取理論數(shù)據(jù)電壓；

獲取每個(gè)像素單元中的驅(qū)動(dòng)晶體管的閾值電壓；

分別計(jì)算每個(gè)驅(qū)動(dòng)晶體管的閾值電壓與所述理論數(shù)據(jù)電壓之和，以作為相應(yīng)的像素單元的目標(biāo)數(shù)據(jù)電壓；

為每個(gè)像素單元提供相應(yīng)的目標(biāo)數(shù)據(jù)電壓，以使得所述顯示面板能夠達(dá)到所述目標(biāo)亮度。

優(yōu)選地，根據(jù)所述目標(biāo)亮度獲取理論數(shù)據(jù)電壓的步驟包括：

根據(jù)所述目標(biāo)亮度獲取相應(yīng)的目標(biāo)灰階；

根據(jù)預(yù)設(shè)的灰階與數(shù)據(jù)電壓的關(guān)系確定與所述目標(biāo)灰階對(duì)應(yīng)的理論數(shù)據(jù)電壓。

優(yōu)選地，所述獲取每個(gè)像素單元中的驅(qū)動(dòng)晶體管的閾值電壓包括：

為所述顯示面板的各像素單元提供初始數(shù)據(jù)電壓，以使得所述顯示面板達(dá)到全黑暗態(tài)；

獲取每個(gè)驅(qū)動(dòng)晶體管的第一極的電壓，以作為相應(yīng)的驅(qū)動(dòng)晶體管的閾值電壓。

相應(yīng)地，本發(fā)明還提供一種檢測(cè)裝置，用于對(duì)顯示面板進(jìn)行檢測(cè)，所述顯示面板包括多個(gè)像素單元，每個(gè)像素單元包括發(fā)光二極管和用于驅(qū)動(dòng)所述發(fā)光二極管的像素電路，所述像素電路包括驅(qū)動(dòng)晶體管，所述驅(qū)動(dòng)晶體管的第一極與所述發(fā)光二極管相連，所述檢測(cè)裝置包括：

檢測(cè)模塊，用于檢測(cè)所述顯示面板達(dá)到目標(biāo)亮度時(shí)每個(gè)像素單元中驅(qū)動(dòng)晶體管的第一極的電信號(hào)的實(shí)際值，所述電信號(hào)包括電流信號(hào)和/或電壓信號(hào)；

分析模塊，用于根據(jù)各個(gè)像素單元所對(duì)應(yīng)的電信號(hào)的實(shí)際值判斷每個(gè)像素單元是否發(fā)生缺陷。

優(yōu)選地，所述分析模塊包括：

計(jì)算單元，計(jì)算每個(gè)像素單元所對(duì)應(yīng)的電信號(hào)的實(shí)際值與標(biāo)準(zhǔn)值之間的實(shí)際差值；

對(duì)比單元，用于將每個(gè)像素單元對(duì)應(yīng)的實(shí)際差值與預(yù)定值進(jìn)行對(duì)比；

第一判定單元，用于在所述實(shí)際差值大于預(yù)定值時(shí)，判定相應(yīng)的像素單元為缺陷像素單元，并根據(jù)預(yù)設(shè)的多種缺陷類(lèi)型與各自對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)差值范圍判斷每個(gè)缺陷像素單元的缺陷類(lèi)型計(jì)算模塊。

優(yōu)選地，所述標(biāo)準(zhǔn)值為所述顯示面板的多個(gè)像素單元所對(duì)應(yīng)的電信號(hào)的實(shí)際值的平均值。

優(yōu)選地，所述檢測(cè)裝置還包括：

統(tǒng)計(jì)模塊，用于根據(jù)所述分析模塊的判斷結(jié)果統(tǒng)計(jì)每種缺陷類(lèi)型的像素單元的數(shù)量，并輸出統(tǒng)計(jì)結(jié)果。

優(yōu)選地，所述分析模塊包括：

圖像生成單元，用于生成參考圖像，該參考圖像包括與所述顯示面板的多個(gè)像素單元一一對(duì)應(yīng)的多個(gè)像素點(diǎn)，每個(gè)像素點(diǎn)的灰階值與相應(yīng)像素單元中驅(qū)動(dòng)晶體管的第一極的電信號(hào)的實(shí)際值正相關(guān)；

圖像處理單元，用于對(duì)所述參考圖像進(jìn)行直方圖正規(guī)化；

第二判定單元，用于根據(jù)直方圖正規(guī)化后的參考圖像判斷每個(gè)像素單元是否發(fā)生缺陷。

優(yōu)選地，所述檢測(cè)裝置還包括：

理論數(shù)據(jù)獲取模塊，用于根據(jù)所述目標(biāo)亮度獲取理論數(shù)據(jù)電壓；

閾值獲取模塊，用于獲取每個(gè)像素單元中的驅(qū)動(dòng)晶體管的閾值電壓；

目標(biāo)數(shù)據(jù)獲取模塊，用于分別計(jì)算每個(gè)驅(qū)動(dòng)晶體管的閾值電壓與所述理論數(shù)據(jù)電壓之和，以作為相應(yīng)的像素單元的目標(biāo)數(shù)據(jù)電壓；

數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)模塊，用于為各個(gè)像素單元提供相應(yīng)的目標(biāo)數(shù)據(jù)電壓，以使得所述顯示面板能夠達(dá)到所述目標(biāo)亮度。

優(yōu)選地，所述理論數(shù)據(jù)獲取模塊能夠根據(jù)所述目標(biāo)亮度獲取相應(yīng)的目標(biāo)灰階，并根據(jù)預(yù)設(shè)的灰階與數(shù)據(jù)電壓的關(guān)系確定與所述目標(biāo)灰階對(duì)應(yīng)的理論數(shù)據(jù)電壓。

優(yōu)選地，所述數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)模塊能夠在提供目標(biāo)數(shù)據(jù)電壓之前為各個(gè)像素單元提供初始數(shù)據(jù)電壓，以使得所述顯示面板達(dá)到全黑暗態(tài)；

所述檢測(cè)模塊能夠檢測(cè)所述顯示面板達(dá)到全黑暗態(tài)時(shí)每個(gè)驅(qū)動(dòng)晶體管第一極的陽(yáng)極電壓；

所述閾值獲取模塊能夠?qū)⑺鲲@示面板達(dá)到全黑暗態(tài)時(shí)各個(gè)驅(qū)動(dòng)晶體管第一極的電壓作為相應(yīng)驅(qū)動(dòng)晶體管的閾值電壓。

利用本發(fā)明提供的檢測(cè)方法和檢測(cè)裝置在批量檢測(cè)時(shí)，通過(guò)檢測(cè)每個(gè)像素單元中驅(qū)動(dòng)晶體管第一極的電信號(hào)的實(shí)際值，并根據(jù)該實(shí)際值判斷是否像素單元是否發(fā)生缺陷，從而不需要人為對(duì)顯示面板的顯示圖像進(jìn)行分析，提高了檢測(cè)效率，有助于提高量產(chǎn)。并且，還可以根據(jù)實(shí)際值與標(biāo)準(zhǔn)值之間的實(shí)際差值，確定該實(shí)際差值處于哪一種缺陷對(duì)應(yīng)的差值范圍，從而可以快速確定顯示面板發(fā)生了這種缺陷，進(jìn)而還可以統(tǒng)計(jì)每種缺陷類(lèi)型的像素單元的數(shù)量，輸出統(tǒng)計(jì)結(jié)果。另外，可以根據(jù)驅(qū)動(dòng)晶體管第一極的電壓的實(shí)際值生成參考圖像，而由于像素單元的缺陷類(lèi)型與驅(qū)動(dòng)晶體管第一極的電壓的實(shí)際值直接相關(guān)，因此，通過(guò)參考圖像可以直觀(guān)地看出發(fā)生缺陷的像素單元的位置和缺陷類(lèi)型。

附圖說(shuō)明

附圖是用來(lái)提供對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步理解，并且構(gòu)成說(shuō)明書(shū)的一部分，與下面的具體實(shí)施方式一起用于解釋本發(fā)明，但并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的限制。在附圖中：

圖1是本發(fā)明實(shí)施例中提供的顯示面板的檢測(cè)方法的流程圖；

圖2是所檢測(cè)的顯示面板中像素單元的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3a是直方圖正規(guī)化之前的參考圖像所對(duì)應(yīng)的直方圖；

圖3b為直方圖正規(guī)化之后的參考圖像所對(duì)應(yīng)的直方圖；

圖4是本發(fā)明實(shí)施例中提供的檢測(cè)裝置模塊結(jié)構(gòu)示意圖。

其中，附圖標(biāo)記為：

10、發(fā)光二極管；11、像素電路；t1、寫(xiě)入晶體管；t2、驅(qū)動(dòng)晶體管；t3、檢測(cè)晶體管；c1、存儲(chǔ)電容；scan1、柵線(xiàn)；scan2、控制信號(hào)線(xiàn)；sense、檢測(cè)線(xiàn)；data、數(shù)據(jù)線(xiàn)；elvdd、電源端；elvss、低電平信號(hào)端；21、檢測(cè)模塊；22、分析模塊；221、計(jì)算單元；222、對(duì)比單元；223、第一判定單元；224、圖像生成單元；225、圖像處理單元；226、第二判定單元；23、統(tǒng)計(jì)模塊；24、理論數(shù)據(jù)獲取模塊；25、閾值獲取模塊；26、目標(biāo)數(shù)據(jù)獲取模塊；27、數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)模塊；28、圖像顯示模塊。

具體實(shí)施方式

以下結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的具體實(shí)施方式進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解的是，此處所描述的具體實(shí)施方式僅用于說(shuō)明和解釋本發(fā)明，并不用于限制本發(fā)明。

作為本發(fā)明的一方面，提供一種顯示面板的檢測(cè)方法，圖1是檢測(cè)方法的流程圖，圖2是所檢測(cè)的顯示面板中像素單元的結(jié)構(gòu)示意圖；如圖2所示，每個(gè)像素單元包括發(fā)光二極管10和用于驅(qū)動(dòng)發(fā)光二極管10的像素電路11，所述像素電路包括驅(qū)動(dòng)晶體管t2，驅(qū)動(dòng)晶體管t2的第一極與發(fā)光二極管10相連。其中，所述驅(qū)動(dòng)晶體管t2的第一極可以與發(fā)光二極管10的陽(yáng)極相連，并且，該相連可以為直接相連；也可以間接相連，例如，驅(qū)動(dòng)晶體管t2的第一極與發(fā)光二極管10之間設(shè)置有其他晶體管。另外，驅(qū)動(dòng)晶體管t2的柵極主要是接收來(lái)自數(shù)據(jù)線(xiàn)data的數(shù)據(jù)信號(hào)，并根據(jù)數(shù)據(jù)信號(hào)控制發(fā)光二極管發(fā)光。如圖1所示，所述檢測(cè)方法包括：

s11、檢測(cè)所述顯示面板達(dá)到目標(biāo)亮度時(shí)每個(gè)像素單元中驅(qū)動(dòng)晶體管t2的第一極的電信號(hào)的實(shí)際值，所述電信號(hào)包括電壓信號(hào)和/或電流信號(hào)。

s12、根據(jù)各個(gè)像素單元所對(duì)應(yīng)的電信號(hào)的實(shí)際值判斷每個(gè)像素單元是否發(fā)生缺陷。當(dāng)像素單元顯示預(yù)設(shè)亮度時(shí)，若像素單元正常，那么該像素單元中驅(qū)動(dòng)晶體管t2的第一極的電信號(hào)的值是一定的，記為標(biāo)準(zhǔn)值；若像素單元發(fā)生異常，那么該像素單元中驅(qū)動(dòng)晶體管t2的第一極的電信號(hào)的實(shí)際值與標(biāo)準(zhǔn)值之間將出現(xiàn)很大的偏差。因此，在該步驟s12中，具體可以根據(jù)像素單元對(duì)應(yīng)的電信號(hào)的實(shí)際值與標(biāo)準(zhǔn)值之間是否有較大的誤差來(lái)判斷像素單元是否發(fā)生缺陷。當(dāng)然，也可以采用其他方式。

由于本發(fā)明提供的檢測(cè)方法是根據(jù)每個(gè)像素單元中驅(qū)動(dòng)晶體管t2的第一極的電信號(hào)的實(shí)際值來(lái)判斷像素單元是否發(fā)生缺陷的，因此，在批量檢測(cè)過(guò)程中，只需要為顯示面板提供達(dá)到目標(biāo)亮度的驅(qū)動(dòng)電壓，就可以根據(jù)每個(gè)像素單元對(duì)應(yīng)的電信號(hào)判斷像素單元是否發(fā)生缺陷，從而不需要人為對(duì)顯示面板的顯示圖像進(jìn)行分析，提高了檢測(cè)效率，有助于提高量產(chǎn)。

作為一種具體實(shí)施方式，步驟s12具體可以包括：

s121a、計(jì)算每個(gè)像素單元所對(duì)應(yīng)的電信號(hào)的實(shí)際值與標(biāo)準(zhǔn)值之間的實(shí)際差值；

s121b、將每個(gè)像素單元對(duì)應(yīng)的實(shí)際差值與預(yù)定值進(jìn)行對(duì)比，當(dāng)所述實(shí)際差值大于預(yù)定值時(shí)，判定相應(yīng)的像素單元為缺陷像素單元，并根據(jù)預(yù)設(shè)的多種缺陷類(lèi)型與各自對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)差值范圍判斷每個(gè)缺陷像素單元的缺陷類(lèi)型。如上所述，若像素單元正常，那么該像素單元中驅(qū)動(dòng)晶體管t2的第一極的電信號(hào)的值是一定的；若像素單元發(fā)生短路、斷路等缺陷，那么驅(qū)動(dòng)晶體管t2的第一極的電信號(hào)的實(shí)際值與所述標(biāo)準(zhǔn)值之間會(huì)存在明顯的差值，缺陷類(lèi)型不同，差值大小也不同。

上述標(biāo)準(zhǔn)值以及多種缺陷類(lèi)型與各自對(duì)應(yīng)的差值范圍可以預(yù)先設(shè)置，例如，可以在進(jìn)行批量檢測(cè)之前，為多個(gè)正常的像素單元以及發(fā)生已知缺陷的像素單元提供與目標(biāo)亮度對(duì)應(yīng)的驅(qū)動(dòng)信號(hào)，之后檢測(cè)正常的像素單元中驅(qū)動(dòng)晶體管t2的第一極的電信號(hào)的大小(即標(biāo)準(zhǔn)值)以及各類(lèi)型缺陷的像素單元中驅(qū)動(dòng)晶體管t2的第一極電信號(hào)的大小(即實(shí)際值)，從而得到各類(lèi)型缺陷像素單元對(duì)應(yīng)的電信號(hào)的實(shí)際值與標(biāo)準(zhǔn)值之間的差值范圍?？紤]到實(shí)際生產(chǎn)中，整個(gè)顯示面板中發(fā)生缺陷的像素單元的比例很小，因此，本發(fā)明中將所述標(biāo)準(zhǔn)值設(shè)置為步驟s11中檢測(cè)到的多個(gè)像素單元所對(duì)應(yīng)的電信號(hào)的實(shí)際值的平均值。

因此，在批量檢測(cè)時(shí)，通過(guò)檢測(cè)驅(qū)動(dòng)晶體管t2的第一極的電信號(hào)的實(shí)際值，獲取實(shí)際值與標(biāo)準(zhǔn)值之間的實(shí)際差值，并確定該實(shí)際差值處于哪一種缺陷對(duì)應(yīng)的差值范圍，就可以快速確定顯示面板發(fā)生了這種缺陷。

作為另一種實(shí)施方式，步驟s12還可以包括：

s122、生成參考圖像，該參考圖像中的像素點(diǎn)與所述顯示面板的像素單元一一對(duì)應(yīng)，每個(gè)像素點(diǎn)的灰階值與相應(yīng)像素單元中驅(qū)動(dòng)晶體管t2的第一極的實(shí)際值正相關(guān)；之后，對(duì)所述參考圖像進(jìn)行直方圖正規(guī)化后進(jìn)行顯示。這種方式可以使得操作人員直觀(guān)形象地看到缺陷像素單元的位置，下文還將對(duì)該步驟s122進(jìn)行具體說(shuō)明，這里先不贅述。

下面對(duì)本發(fā)明的檢測(cè)方法進(jìn)行具體介紹。所述顯示面板包括多個(gè)像素單元，如圖2所示，每個(gè)像素單元包括發(fā)光二極管10和用于驅(qū)動(dòng)發(fā)光二極管10的像素電路11。像素電路11包括寫(xiě)入晶體管t1、驅(qū)動(dòng)晶體管t2和存儲(chǔ)電容c1，寫(xiě)入晶體管t1的柵極與像素單元對(duì)應(yīng)的柵線(xiàn)scan1相連，寫(xiě)入晶體管t1的第一極與像素單元對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線(xiàn)data相連，寫(xiě)入晶體管t1的第二極與驅(qū)動(dòng)晶體管t2的柵極、存儲(chǔ)電容c1的第一端相連；驅(qū)動(dòng)晶體管t2的第二極與電源端elvdd相連，驅(qū)動(dòng)晶體管t2的第一極與存儲(chǔ)電容c1的第二端、發(fā)光二極管10的陽(yáng)極相連，發(fā)光晶體管10的陰極與低電平信號(hào)端elvss相連；驅(qū)動(dòng)晶體管t2用于為發(fā)光二極管10提供驅(qū)動(dòng)電流。每個(gè)像素單元還包括檢測(cè)晶體管t3，檢測(cè)晶體管t3的柵極與控制信號(hào)線(xiàn)scan2相連，檢測(cè)晶體管t3的第一極與驅(qū)動(dòng)晶體管t2的第一極相連，檢測(cè)晶體管t3的第二極與檢測(cè)信號(hào)線(xiàn)sense相連，同一行檢測(cè)晶體管t3的柵極連接同一條控制信號(hào)線(xiàn)scan2，同一列檢測(cè)晶體管t3的第二極連接同一條檢測(cè)信號(hào)線(xiàn)sense，每條sense上還可以串聯(lián)有檢測(cè)電容(未示出)。其中，本發(fā)明以步驟s11中的電信號(hào)為驅(qū)動(dòng)晶體管t2的第一極的電壓信號(hào)為例進(jìn)行說(shuō)明，這種情況下，若像素單元內(nèi)出現(xiàn)短路，則驅(qū)動(dòng)晶體管t2的第一極的電壓基本與電源端elvdd的電壓相同；若像素單元內(nèi)出現(xiàn)斷路，則驅(qū)動(dòng)晶體管t2的第一極的電壓基本為零，因此，通過(guò)驅(qū)動(dòng)晶體管t2的第一極的電壓信號(hào)的實(shí)際值可以很容易地判斷出像素單元的缺陷類(lèi)型。

所述顯示面板的檢測(cè)方法包括補(bǔ)償過(guò)程和檢測(cè)過(guò)程。其中，所述補(bǔ)償過(guò)程用于對(duì)驅(qū)動(dòng)晶體管t2的閾值電壓進(jìn)行補(bǔ)償，以防止不同驅(qū)動(dòng)晶體管t2的閾值電壓的不同對(duì)檢測(cè)結(jié)果造成影響。

首先，如圖1所示，所述補(bǔ)償過(guò)程包括以下步驟：

s01、根據(jù)所述目標(biāo)亮度獲取理論數(shù)據(jù)電壓。其中，所述理論數(shù)據(jù)電壓可以看作，為了使未發(fā)生缺陷的像素單元達(dá)到所述目標(biāo)亮度而需要向該像素單元所提供的數(shù)據(jù)電壓(即，向該像素單元對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線(xiàn)提供的數(shù)據(jù)電壓)。該步驟s01具體可以包括：

s01a、根據(jù)所述目標(biāo)亮度獲取相應(yīng)的目標(biāo)灰階。通常，顯示面板所顯示的亮度與灰階之間的關(guān)系滿(mǎn)足以下公式(1)：

lz＝k×z^m(1)

其中，lz表示第z級(jí)灰階的亮度，z表示第z級(jí)灰階，k為一個(gè)顯示面板決定的常數(shù)，m為顯示面板的gamma值。當(dāng)所述顯示面板的gamma值已知時(shí)，可以根據(jù)上述公式(1)確定目標(biāo)灰階。為了防止顯示面板實(shí)際顯示的過(guò)程中，gamma值發(fā)生偏差，可以先對(duì)gamma值進(jìn)行調(diào)整。具體可以先設(shè)置多個(gè)樣本亮度，如最大亮度(lmax)、中間亮度(lmax/4)、全黑暗態(tài)等等；之后為各像素單元提供數(shù)據(jù)電壓，使顯示面板達(dá)到各個(gè)樣本亮度；再根據(jù)數(shù)據(jù)電壓和灰階的關(guān)系得到各個(gè)樣本亮度對(duì)應(yīng)的實(shí)際灰階，從而根據(jù)樣本亮度與實(shí)際灰階之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系對(duì)顯示面板的gamma值進(jìn)行調(diào)節(jié)。

s01b、根據(jù)預(yù)設(shè)的灰階與數(shù)據(jù)電壓的關(guān)系確定與所述目標(biāo)灰階對(duì)應(yīng)的理論數(shù)據(jù)電壓。其中，灰階和數(shù)據(jù)電壓滿(mǎn)足一定的線(xiàn)性關(guān)系，該線(xiàn)性關(guān)系可以根據(jù)灰階范圍和用于為顯示面板提供的數(shù)據(jù)電壓范圍得到。例如，所述灰階范圍為0～255，數(shù)據(jù)電壓范圍為0～10v，則灰階0對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)電壓0v，灰階255對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)電壓10v，從而得到灰階與數(shù)據(jù)電壓之間的線(xiàn)性關(guān)系。

s02、獲取每個(gè)像素單元中的驅(qū)動(dòng)晶體管t2的閾值電壓。該步驟s02具體可以包括：

s02a、為所述顯示面板的各像素單元提供初始數(shù)據(jù)電壓，以使得顯示面板達(dá)到全黑暗態(tài)。為了使顯示面板達(dá)到全黑暗態(tài)，可以根據(jù)亮度與灰階的關(guān)系以及灰階與亮度的關(guān)系直接獲取全黑暗態(tài)所對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)電壓。在實(shí)際應(yīng)用中，為了使顯示面板能夠更準(zhǔn)確地達(dá)到全黑暗態(tài)，可以先為各像素單元均提供數(shù)據(jù)電壓，使得顯示面板的亮度略大于零；之后對(duì)各個(gè)像素單元的數(shù)據(jù)電壓進(jìn)行調(diào)節(jié)，使得每個(gè)像素單元均達(dá)到全黑暗態(tài)。

s02b、獲取每個(gè)驅(qū)動(dòng)晶體管t2的第一極的電壓，以作為相應(yīng)的驅(qū)動(dòng)晶體管t2的閾值電壓。

其中，獲取每個(gè)驅(qū)動(dòng)晶體管t2的第一極的電壓的過(guò)程可以包括：逐行為控制信號(hào)線(xiàn)scan2提供開(kāi)啟信號(hào)，從而使得檢測(cè)晶體管t3逐行開(kāi)啟，每開(kāi)啟一行檢測(cè)晶體管t3，各條檢測(cè)信號(hào)線(xiàn)上的檢測(cè)電容均開(kāi)始充電，固定充電一段時(shí)間后，檢測(cè)各檢測(cè)電容兩端的電壓，從而獲得該行驅(qū)動(dòng)晶體管t2的第一極的電壓。

s03、分別計(jì)算每個(gè)驅(qū)動(dòng)晶體管t2的閾值電壓與所述理論數(shù)據(jù)電壓之和，以作為相應(yīng)的像素單元的目標(biāo)數(shù)據(jù)電壓。

s04、為每個(gè)像素單元提供相應(yīng)的目標(biāo)數(shù)據(jù)電壓，以使得所述顯示面板能夠達(dá)到所述目標(biāo)亮度。

之后進(jìn)行檢測(cè)過(guò)程，具體包括：

s11、檢測(cè)所述顯示面板達(dá)到目標(biāo)亮度時(shí)每個(gè)像素單元中驅(qū)動(dòng)晶體管t2的第一極的電壓信號(hào)的實(shí)際值。檢測(cè)過(guò)程與上述步驟s02b中獲取每個(gè)驅(qū)動(dòng)晶體管t2的第一極的電壓的過(guò)程相同，即，逐行為控制信號(hào)線(xiàn)scan2提供開(kāi)啟信號(hào)，并檢測(cè)每條檢測(cè)信號(hào)線(xiàn)sense所串聯(lián)的檢測(cè)電容兩端電壓。

s12、根據(jù)各個(gè)像素單元所對(duì)應(yīng)的電信號(hào)的實(shí)際值(即，驅(qū)動(dòng)晶體管t2的第一極的電壓)判斷每個(gè)像素單元是否發(fā)生缺陷。

具體地，步驟s12的其中一種具體實(shí)施方式可以包括：

s121a、計(jì)算每個(gè)像素單元所對(duì)應(yīng)的電信號(hào)的實(shí)際值與標(biāo)準(zhǔn)值之間的實(shí)際差值，該實(shí)際差值為實(shí)際值減去標(biāo)準(zhǔn)值。

s121b、將每個(gè)像素單元對(duì)應(yīng)的實(shí)際差值與預(yù)定值進(jìn)行對(duì)比，當(dāng)所述實(shí)際差值大于預(yù)定值時(shí)，判定相應(yīng)的像素單元為缺陷像素單元，并根據(jù)預(yù)設(shè)的多種缺陷類(lèi)型與各自對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)差值范圍判斷每個(gè)缺陷像素單元的缺陷類(lèi)型。例如，所述預(yù)定值為1v，缺陷類(lèi)型可以包括：像素電路內(nèi)部短路(相應(yīng)的預(yù)設(shè)差值范圍可以為1v～20v)、像素電路內(nèi)部斷路(相應(yīng)的預(yù)設(shè)差值范圍為-10v～-1v)，當(dāng)步驟s12中檢測(cè)到的實(shí)際差值在1v～20v之間時(shí)，判定所述像素電路內(nèi)部短路(實(shí)際上，在發(fā)生短路時(shí)，驅(qū)動(dòng)晶體管t2的第一極的電壓的實(shí)際值較大，減去標(biāo)準(zhǔn)值后仍為一個(gè)較大的值)；當(dāng)步驟s12中檢測(cè)到的實(shí)際差值在-10v～-1v之間時(shí)，判定所述像素電路內(nèi)部斷路(實(shí)際上，在發(fā)生斷路時(shí)，驅(qū)動(dòng)晶體管t2的第一極的電壓基本為零，減去標(biāo)準(zhǔn)值后約為標(biāo)準(zhǔn)值的相反數(shù))。

s121c、統(tǒng)計(jì)每種缺陷類(lèi)型的像素單元的數(shù)量，并輸出統(tǒng)計(jì)結(jié)果。在實(shí)際生產(chǎn)中，當(dāng)發(fā)生缺陷的像素單元的總數(shù)量或發(fā)生某一種缺陷的像素單元的數(shù)量大于一定值時(shí)，則認(rèn)為該顯示面板為不良品，因此，經(jīng)過(guò)步驟s121c的統(tǒng)計(jì)后，更便于操作人員或處理器進(jìn)一步判斷顯示面板是否為良品。本發(fā)明不限定統(tǒng)計(jì)結(jié)果的輸出方式，例如，可以以音頻播放的方式播放統(tǒng)計(jì)結(jié)果，或者以圖像顯示的方式顯示統(tǒng)計(jì)結(jié)果。

步驟s12的另一種實(shí)施可以包括：

s122a、生成參考圖像，該參考圖像中的像素點(diǎn)與所述顯示面板的像素單元一一對(duì)應(yīng)，每個(gè)像素點(diǎn)的灰階值與相應(yīng)像素單元中驅(qū)動(dòng)晶體管t3第一極的電信號(hào)的實(shí)際值正相關(guān)。

s122b、對(duì)所述參考圖像進(jìn)行直方圖正規(guī)化；

s122c、根據(jù)直方圖正規(guī)化后的參考圖像判斷每個(gè)像素單元是否發(fā)生缺陷。

未發(fā)生缺陷以及各種缺陷的像素單元中，驅(qū)動(dòng)晶體管t2第一極的電壓是互不相同的，未發(fā)生缺陷的像素單元中驅(qū)動(dòng)晶體管t2第一極的電壓與標(biāo)準(zhǔn)值相同或相近，發(fā)生短路的像素單元中驅(qū)動(dòng)晶體管t2第一極的電壓較大，發(fā)生斷路的像素單元中驅(qū)動(dòng)晶體管t2第一極的電壓約為零；而由于參考圖像中每個(gè)像素點(diǎn)的灰階值是和顯示面板中相應(yīng)像素單元的驅(qū)動(dòng)晶體管t2第一極的電壓正相關(guān)的，即，顯示面板中的驅(qū)動(dòng)晶體管t2第一極的電壓越大，生成的參考圖像中相應(yīng)位置的像素點(diǎn)的灰階值越大，因此，根據(jù)參考圖像的灰階值可以判斷像素單元是否發(fā)生缺陷。所述步驟s122b中可以對(duì)直方圖正規(guī)化的參考圖像可以進(jìn)行顯示，以供操作人員進(jìn)行觀(guān)察，從而從參考圖像上每個(gè)像素點(diǎn)的灰階值(即明暗程度)直觀(guān)地看出顯示面板中發(fā)生缺陷的像素單元的位置和缺陷類(lèi)型。圖3a為直方圖正規(guī)化之前的參考圖像所對(duì)應(yīng)的直方圖，圖3b為直方圖正規(guī)化之后的參考圖像所對(duì)應(yīng)的直方圖，直方圖中橫軸為驅(qū)動(dòng)晶體管t2第一極的電壓信號(hào)的實(shí)際值，縱軸為像素單元的數(shù)量，從圖3a和圖3b可以看出，直方圖正規(guī)化之前，所有驅(qū)動(dòng)晶體管t2第一極的電壓處于較集中的范圍，導(dǎo)致參考圖像的對(duì)比度較小，不容易觀(guān)察；經(jīng)過(guò)直方圖正規(guī)化后，參考圖像的對(duì)比度增大，更容易看出不同缺陷類(lèi)型像素單元對(duì)應(yīng)的像素點(diǎn)之間的灰度差別，從而有利于判斷顯示面板中發(fā)生缺陷的像素單元的缺陷種類(lèi)和位置。當(dāng)然，所述參考圖像也可以不顯示，由具有數(shù)據(jù)處理功能的處理器根據(jù)圖像中各像素點(diǎn)的灰階判斷像素單元是否發(fā)生缺陷。

上述步驟s12給出了兩種具體實(shí)施方式(步驟s121a～s121c和步驟s122a～s122c)，這兩種實(shí)施方式可以擇一執(zhí)行，也可以都執(zhí)行。

作為本發(fā)明的另一方面，提供一種檢測(cè)裝置，用于對(duì)顯示面板進(jìn)行檢測(cè)，如上所示，所述顯示面板包括多個(gè)像素單元，每個(gè)像素單元包括發(fā)光二極管10和用于驅(qū)動(dòng)所述發(fā)光二極管10的像素電路11，像素電路11包括驅(qū)動(dòng)晶體管t2，驅(qū)動(dòng)晶體管t2的第一極與發(fā)光二極管10相連。如圖4所示，所述檢測(cè)裝置包括檢測(cè)模塊21和分析模塊22。檢測(cè)模塊21用于檢測(cè)所述顯示面板達(dá)到目標(biāo)亮度時(shí)每個(gè)像素單元中驅(qū)動(dòng)晶體管t2第一極的電信號(hào)的實(shí)際值，所述電信號(hào)包括電壓信號(hào)和/或電流信號(hào)。分析模塊22與檢測(cè)模塊21相連，用于根據(jù)各個(gè)像素單元所對(duì)應(yīng)的電信號(hào)的實(shí)際值判斷每個(gè)像素單元是否發(fā)生缺陷。如上文所述，本發(fā)明中的電信號(hào)具體為驅(qū)動(dòng)晶體管t2第一極的電壓信號(hào)。

利用本發(fā)明提供的檢測(cè)裝置對(duì)顯示面板進(jìn)行批量檢測(cè)時(shí)，利用檢測(cè)模塊21檢測(cè)提供給每個(gè)驅(qū)動(dòng)晶體管t2第一極的電信號(hào)的實(shí)際值，之后分析模塊22根據(jù)每個(gè)像素單元對(duì)應(yīng)的實(shí)際值判斷像素單元是否發(fā)生缺陷，從而不需要人為對(duì)顯示面板的顯示圖像進(jìn)行分析，提高了檢測(cè)效率，有助于提高量產(chǎn)。

如上文所述，像素電路11包括寫(xiě)入晶體管t1、驅(qū)動(dòng)晶體管t2和存儲(chǔ)電容c1，像素單元內(nèi)還設(shè)置有檢測(cè)晶體管t3，同一行的檢測(cè)晶體管t3連接同一條控制信號(hào)線(xiàn)scan2，同一列的控制晶體管t3連接同一條檢測(cè)信號(hào)線(xiàn)sense。下面結(jié)合圖4對(duì)本發(fā)明提供的檢測(cè)裝置進(jìn)行介紹。

分析模塊22的第一種結(jié)構(gòu)可以包括：計(jì)算單元221、對(duì)比單元222和第一判定單元223。計(jì)算單元221與檢測(cè)模塊21相連，用于計(jì)算每個(gè)像素單元所對(duì)應(yīng)的電信號(hào)的實(shí)際值與標(biāo)準(zhǔn)值之間的實(shí)際差值。對(duì)比單元222與計(jì)算單元221相連，用于將每個(gè)像素單元對(duì)應(yīng)的實(shí)際差值與預(yù)定值進(jìn)行對(duì)比。第一判定單元223與對(duì)比單元222相連，用于在所述實(shí)際差值大于預(yù)定值時(shí)，判定相應(yīng)的像素單元為缺陷像素單元，并根據(jù)預(yù)設(shè)的多種缺陷類(lèi)型與各自對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)差值范圍判斷每個(gè)缺陷像素單元的缺陷類(lèi)型。分析模塊22根據(jù)實(shí)際差值與預(yù)定值判斷像素單元是否發(fā)生異常，并確定所述實(shí)際差值處于哪一種缺陷對(duì)應(yīng)的差值范圍，就可以快速確定顯示面板發(fā)生了這種缺陷。具體地，所述標(biāo)準(zhǔn)值為所述顯示面板的多個(gè)像素單元所對(duì)應(yīng)的電信號(hào)的實(shí)際值的平均值。

為了便于操作人員進(jìn)一步判斷顯示面板的整體質(zhì)量，所述檢測(cè)裝置還可以包括統(tǒng)計(jì)模塊23，該統(tǒng)計(jì)模塊23與分析模塊22相連，用于根據(jù)分析模塊22的判斷結(jié)果統(tǒng)計(jì)每種缺陷類(lèi)型的像素單元的數(shù)量，并輸出統(tǒng)計(jì)結(jié)果，從而便于操作人員或其他處理器根據(jù)缺陷像素單元的數(shù)量判斷顯示面板是否為良品。統(tǒng)計(jì)模塊23可以與音頻播放器相連，以音頻播放的方式輸出統(tǒng)計(jì)結(jié)果；或者，與顯示屏相連，以顯示的方式輸出統(tǒng)計(jì)結(jié)果。

分析模塊22的第二種結(jié)構(gòu)可以包括：圖像生成單元224、圖像處理單元225、第二判定單元226。

圖像生成單元224與檢測(cè)模塊21相連，用于根據(jù)檢測(cè)模塊21檢測(cè)到的每個(gè)像素單元中驅(qū)動(dòng)晶體管t2第一極的電信號(hào)的實(shí)際值生成參考圖像，該參考圖像包括與所述顯示面板的多個(gè)像素單元一一對(duì)應(yīng)的多個(gè)像素點(diǎn)，每個(gè)像素點(diǎn)的灰階值與相應(yīng)像素單元中驅(qū)動(dòng)晶體管t2第一極的電信號(hào)的實(shí)際值正相關(guān)。圖像處理單元225與圖像生成單元224相連，用于對(duì)所述參考圖像進(jìn)行直方圖正規(guī)化。第二判定單元226與圖像顯示模塊225相連，用于根據(jù)直方圖正規(guī)化后的參考圖像判斷每個(gè)像素單元是否發(fā)生缺陷。

為了使得操作人員直觀(guān)、形象地看到顯示面板的整體質(zhì)量以及缺陷像素單元的位置，進(jìn)一步地，所述檢測(cè)裝置還可以包括圖像顯示模塊28，該圖像顯示模塊28用于顯示直方圖正規(guī)化后的參考圖像。

需要說(shuō)明的是，分析模塊22可以采用上述第一種結(jié)構(gòu)，也可以采用上述第二種結(jié)構(gòu)，也可以同時(shí)包括上述第一種結(jié)構(gòu)和第二種結(jié)構(gòu)中的各個(gè)單元，如圖4中所示。

在本發(fā)明中，分析模塊22可以集成在計(jì)算機(jī)的處理器中，計(jì)算機(jī)與檢測(cè)模塊21之間通過(guò)usb或網(wǎng)口傳輸?shù)姆绞竭M(jìn)行連接，以使得分析模塊22接收到檢測(cè)模塊21檢測(cè)到的各個(gè)數(shù)值?？梢岳斫?，分析模塊22在進(jìn)行計(jì)算之前，對(duì)接收到的數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)值轉(zhuǎn)換，將電壓值轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)，圖像處理模塊225進(jìn)行直方圖正規(guī)化時(shí)，將各個(gè)驅(qū)動(dòng)晶體管t2第一極的電壓所在范圍拉伸到最大的數(shù)值區(qū)間，例如0～1023，當(dāng)驅(qū)動(dòng)晶體管t2第一極的電壓范圍在0～3v之間時(shí)，則將該電壓范圍中的每個(gè)電壓映射到0～1023這一數(shù)值區(qū)間中。

為了防止不同驅(qū)動(dòng)晶體管t2的閾值電壓的不同對(duì)檢測(cè)結(jié)果造成影響，所述檢測(cè)裝置還包括理論數(shù)據(jù)獲取模塊24、閾值獲取模塊25、目標(biāo)數(shù)據(jù)獲取模塊26、數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)模塊27。

理論數(shù)據(jù)獲取模塊24用于根據(jù)所述目標(biāo)亮度獲取理論數(shù)據(jù)電壓，具體地，理論數(shù)據(jù)獲取模塊24能夠根據(jù)所述目標(biāo)亮度獲取相應(yīng)的目標(biāo)灰階，并根據(jù)預(yù)設(shè)的灰階與數(shù)據(jù)電壓的關(guān)系確定與所述目標(biāo)灰階對(duì)應(yīng)的理論數(shù)據(jù)電壓。

數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)模塊27能夠在閾值補(bǔ)償階段為各個(gè)像素單元提供初始數(shù)據(jù)電壓，以使得所述顯示面板達(dá)到全黑暗態(tài)。顯示面板的亮度可以利用點(diǎn)式灰度計(jì)來(lái)檢測(cè)。上述檢測(cè)模塊21能夠檢測(cè)所述顯示面板達(dá)到全黑暗態(tài)時(shí)驅(qū)動(dòng)晶體管t2的第一極的電壓。數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)模塊27具體可以包括數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)單元、柵極驅(qū)動(dòng)單元和時(shí)序控制單元，在閾值補(bǔ)償階段，時(shí)序控制單元控制柵極驅(qū)動(dòng)單元為像素單元逐行提供掃描信號(hào)，每掃描一行，數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)單元均為被掃描到的一行像素單元提供初始數(shù)據(jù)電壓。如何使顯示面板達(dá)到全黑狀態(tài)的過(guò)程參見(jiàn)上文中的步驟s02a，這里不再贅述。

閾值獲取模塊25用于獲取每個(gè)像素單元中的驅(qū)動(dòng)晶體管t2的閾值電壓。具體地，閾值獲取模塊25能夠?qū)⑺鲲@示面板達(dá)到全黑暗態(tài)時(shí)所述檢測(cè)模塊檢測(cè)到的各個(gè)驅(qū)動(dòng)晶體管t2的第一極的電壓作為相應(yīng)驅(qū)動(dòng)晶體管的閾值電壓。

目標(biāo)數(shù)據(jù)獲取模塊26與理論數(shù)據(jù)獲取模塊24和閾值獲取模塊25相連，用于分別計(jì)算每個(gè)驅(qū)動(dòng)晶體管t2的閾值電壓與所述理論數(shù)據(jù)電壓之和，以作為相應(yīng)的像素單元的目標(biāo)數(shù)據(jù)電壓。

數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)模塊27還與目標(biāo)數(shù)據(jù)獲取模塊26相連，能夠在閾值補(bǔ)償階段之后的檢測(cè)階段為各個(gè)像素單元提供相應(yīng)的目標(biāo)數(shù)據(jù)電壓，以使得所述顯示面板能夠達(dá)到所述目標(biāo)亮度。此時(shí)，檢測(cè)模塊21對(duì)顯示面板每個(gè)像素單元中驅(qū)動(dòng)晶體管t2的第一極的電信號(hào)(具體為電壓信號(hào))的實(shí)際值進(jìn)行檢測(cè)，進(jìn)而判斷像素單元是否發(fā)生缺陷以及缺陷的類(lèi)型。其中，檢測(cè)電壓的過(guò)程參見(jiàn)上述步驟s11，這里不再重復(fù)。

利用所述檢測(cè)裝置對(duì)顯示面板進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，在閾值補(bǔ)償階段，利用理論數(shù)據(jù)獲取模塊24根據(jù)目標(biāo)亮度獲取理論數(shù)據(jù)電壓，利用閾值獲取模塊25獲取每個(gè)驅(qū)動(dòng)晶體管t2的閾值電壓，目標(biāo)獲取模塊26根據(jù)理論數(shù)據(jù)電壓和閾值電壓獲取目標(biāo)數(shù)據(jù)電壓，數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)模塊27將目標(biāo)數(shù)據(jù)電壓提供給顯示面板；檢測(cè)階段，檢測(cè)模塊21檢測(cè)各個(gè)驅(qū)動(dòng)晶體管t2第一極的電信號(hào)的實(shí)際值，分析模塊22根據(jù)各個(gè)電信號(hào)的實(shí)際值判斷每個(gè)像素單元是否發(fā)生缺陷，并進(jìn)一步判斷缺陷種類(lèi)；且統(tǒng)計(jì)模塊23可以統(tǒng)計(jì)每種缺陷類(lèi)型的像素單元的數(shù)量，并輸出統(tǒng)計(jì)結(jié)果，圖像顯示模塊28可以顯示參考圖像，以使操作人員直觀(guān)看到顯示面板中每個(gè)像素單元的狀態(tài)。檢測(cè)方法的原理已在上文進(jìn)行說(shuō)明，這里不再詳述。

以上為對(duì)本發(fā)明提供的顯示面板的檢測(cè)方法和檢測(cè)裝置的描述，可以看出，本發(fā)明在批量檢測(cè)時(shí)，通過(guò)檢測(cè)每個(gè)像素單元中驅(qū)動(dòng)晶體管t2第一極的電信號(hào)的實(shí)際值，并根據(jù)該實(shí)際值判斷是否像素單元是否發(fā)生缺陷，從而不需要人為對(duì)顯示面板的顯示圖像進(jìn)行分析，提高了檢測(cè)效率，有助于提高量產(chǎn)。并且，還可以根據(jù)實(shí)際值與標(biāo)準(zhǔn)值之間的實(shí)際差值，確定該實(shí)際差值處于哪一種缺陷對(duì)應(yīng)的差值范圍，從而可以快速確定顯示面板發(fā)生了這種缺陷，進(jìn)而還可以統(tǒng)計(jì)每種缺陷類(lèi)型的像素單元的數(shù)量，輸出統(tǒng)計(jì)結(jié)果。另外，可以根據(jù)驅(qū)動(dòng)晶體管t2第一極的電壓的實(shí)際值生成參考圖像，而由于像素單元的缺陷類(lèi)型與驅(qū)動(dòng)晶體管t2第一極的電壓的實(shí)際值直接相關(guān)，因此，通過(guò)參考圖像可以直觀(guān)地看出發(fā)生缺陷的像素單元的位置和缺陷類(lèi)型。

可以理解的是，以上實(shí)施方式僅僅是為了說(shuō)明本發(fā)明的原理而采用的示例性實(shí)施方式，然而本發(fā)明并不局限于此。對(duì)于本領(lǐng)域內(nèi)的普通技術(shù)人員而言，在不脫離本發(fā)明的精神和實(shí)質(zhì)的情況下，可以做出各種變型和改進(jìn)，這些變型和改進(jìn)也視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。