本發(fā)明涉及電流控制領域，尤其涉及一種電流控制電路及控制方法、背光模組、顯示裝置。

背景技術：

背光源作為液晶顯示裝置的主要組成部分，如圖1所示，背光源包括多個led燈串(l1、l2……ln)以及與燈串連接的電流控制單元(currentsink)；其中，電流控制單元用于控制各燈串發(fā)光的同時，還通過檢測該電流控制單元中串聯(lián)于每一燈串與接地端之間的預設電阻r兩端的電壓，并通過將該電壓與基準電壓vref進行比較，以調(diào)整燈串上的電流達到預設電流，從而保證背光源穩(wěn)定發(fā)光。

基于此，可以看出，現(xiàn)有技術中的背光源中，在各燈串在發(fā)光的情況下，預設電阻r上有電流流過，從而會造成額外的功率損耗，導致電流控制單元的驅(qū)動效率降低，尤其對于手機、筆記本電腦等移動電子產(chǎn)品而言，會使得待機時間明顯降低。

技術實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的實施例提供一種電流控制電路及控制方法、背光模組、顯示裝置，能夠避免因采用調(diào)整與燈串串聯(lián)的電阻上的電壓來實現(xiàn)燈串上電流的控制而導致的額外功率損耗的弊端。

為達到上述目的，本發(fā)明的實施例采用如下技術方案：

本發(fā)明實施例一方面提供一種電流控制電路，用于調(diào)節(jié)通過待檢測模塊的電流，所述電流控制電路包括：電流調(diào)節(jié)模塊、電流檢測模塊、電壓檢測模塊、切換模塊和參考電壓設定模塊；所述電流調(diào)節(jié)模塊與所述切換模塊、所述電流檢測模塊、所述參考電壓設定模塊以及所述待檢測模塊連接，用于在所述切換模塊的控制下根據(jù)所述電壓檢測模塊和所述參考電壓設定模塊提供的電壓，調(diào)節(jié)通過所述待檢測模塊的電流達到預設電流；所述電流檢測模塊還與所述切換模塊和接地端連接；所述電壓檢測模塊還與所述切換模塊和所述參考電壓設定模塊連接，且與所述待檢測模塊中部分子模塊的兩端連接；所述切換模塊用于控制切換所述電流調(diào)節(jié)模塊與所述電流檢測模塊的第一連接狀態(tài)，以及所述電流調(diào)節(jié)模塊與所述電壓檢測模塊的第二連接狀態(tài)，且同時短接所述電流檢測模塊；所述參考電壓設定模塊用于在所述電流控制電路處于所述第一連接狀態(tài)下輸出第一參考電壓，在所述切換模塊將所述電流控制電路切換至所述第二連接狀態(tài)下輸出第二參考電壓；其中，所述第二參考電壓為在所述電流控制電路處于所述第一連接狀態(tài)下，通過所述電壓檢測模塊獲取的所述待檢測模塊中部分子模塊的電壓。

進一步優(yōu)選的，所述電流調(diào)節(jié)模塊包括運算放大器和晶體管；其中，所述運算放大器的輸出端與所述晶體管的柵極連接，所反相輸入端與所述參考電壓設定模塊連接，正相輸入端與所述切換模塊連接；所述晶體管的第一極與所述電流檢測模塊連接，第二極與所述待檢測模塊的負極端連接。

進一步優(yōu)選的，所述切換模塊包括第一開關、第二開關、第三開關；所述第一開關與所述電流檢測模塊并聯(lián)；所述第二開關的兩端分別連接所述運算放大器的反相輸入端以及所述電流檢測模塊連接所述電流調(diào)節(jié)模塊的一端；所述第三開關的兩端分別連接所述運算放大器的反相輸入端和所述電壓檢測模塊。

進一步優(yōu)選的，所述參考電壓設定模塊包括第一參考電壓設定單元和第二參考電壓設定單元；其中，所述第一參考電壓設定單元與所述運算放大器的正相輸入端連接，用于存儲所述第一參考電壓；所述第二參考電壓設定單元包括模數(shù)轉(zhuǎn)換子單元、存儲子單元和數(shù)模轉(zhuǎn)換子單元；所述模數(shù)轉(zhuǎn)換子單元的輸入端與所述電壓檢測單元連接，輸出端與所述存儲子單元數(shù)連接；所述存儲子單元的輸出端與所述數(shù)模轉(zhuǎn)換子單元的輸入端連接，用于存儲所述第二參考電壓；所述數(shù)模轉(zhuǎn)換子單元的輸出端與所述運算放大器的正相輸入端連接。

進一步優(yōu)選的，所述電流檢測模塊包括固定電阻。

進一步優(yōu)選的，所述電壓檢測模塊連接在所述待檢測模塊中最靠近負極端的一個子模塊的兩端。

本發(fā)明實施例另一方面還提供一種電流控制電路的控制方法，所述電流控制電路包括電流調(diào)節(jié)模塊，所述控制方法包括：向所述電流調(diào)節(jié)模塊的第一輸入端輸入電流檢測模塊兩端的電壓，向所述電流調(diào)節(jié)模塊的第二輸入端輸入第一參考電壓，以使得與電流調(diào)節(jié)模塊通過負極端連接的待檢測模塊上的電流達到預設電流；測定在預設電流下所述待檢測模塊中部分子模塊的電壓作為第二參考電壓；向所述電流調(diào)節(jié)模塊的第一輸入端輸入所述待檢測模塊中部分子模塊的電壓，向所述電流調(diào)節(jié)模塊的輸入所述第二參考電壓、且短接所述電流檢測模塊，以使得與所述電流調(diào)節(jié)模塊連接的待檢測模塊上的電流達到預設電流。

本發(fā)明再一方面還提供一種背光模組，包括多個燈串以及至少一個如前述的電流控制電路，其中，所述電流控制電路中的待檢測模塊為所述燈串，所述待檢測模塊中的子模塊為所述燈串上的單個燈珠。

進一步優(yōu)選的，每一所述燈串分別與一個所述電流控制電路連接。

本發(fā)明實施例又一方面還提供一種顯示裝置，包括前述的背光模組。

本發(fā)明實施例提供一種電流控制電路及控制方法、背光模組、顯示裝置，該電流控制電路包括：電流調(diào)節(jié)模塊、電流檢測模塊、電壓檢測模塊、切換模塊、參考電壓設定模塊以及待檢測模塊；電流調(diào)節(jié)模塊與切換模塊、電流檢測模塊、參考電壓設定模塊以及待檢測模塊連接，用于在切換模塊的控制下根據(jù)電壓檢測模塊和參考電壓設定模塊，調(diào)節(jié)通過待檢測模塊的電流達到預設電流；電流檢測模塊還與切換模塊和接地端連接；電壓檢測模塊還與切換模塊和參考電壓設定模塊連接，且與待檢測模塊中部分子模塊的兩端連接；切換模塊用于控制切換電流調(diào)節(jié)模塊與電流檢測模塊的第一連接狀態(tài)，以及電流調(diào)節(jié)模塊與電壓檢測模塊的第二連接狀態(tài)，且同時短接電流檢測模塊；參考電壓設定模塊用于在電流控制電路處于第一連接狀態(tài)下輸出第一參考電壓，在切換模塊將電流控制電路切換至第二連接狀態(tài)下輸出第二參考電壓；其中，第二參考電壓為在電流控制電路處于第一連接狀態(tài)下，通過電壓檢測模塊獲取的待檢測模塊中部分子模塊的電壓。

綜上所述，采用本發(fā)明中的方案，通過切換模塊控制切換電流調(diào)節(jié)模塊與電流檢測模塊處于第一連接狀態(tài)，且參考電壓設定模塊向電流調(diào)節(jié)模塊輸入第一參考電壓，從而控制待檢測模塊上的電流達到預設電流，在此情況下，通過電壓檢測模塊獲取第二參考電壓；并且通過切換模塊控制切換電流調(diào)節(jié)模塊與電壓檢測模塊連接，參考電壓設定模塊向電流調(diào)節(jié)模塊輸入第二參考電壓，同時短接電流檢測模塊，進而控制待檢測模塊上的電流達到預設電流，這樣一來，相比于現(xiàn)有技術中，采用調(diào)整與燈串串聯(lián)的電阻上的電壓來實現(xiàn)燈串上電流的控制而言，采用本發(fā)明中的技術方案，在達到精確控制待檢測模塊(例如，燈串)上的電流達到預設電流的同時，能夠保證待檢測模塊在預設電流下正常工作時，通過短接電流檢測模塊(例如，電阻)從而避免了在電流檢測上損耗的額外功率，也即能夠避免因采用調(diào)整與燈串串聯(lián)的電阻上的電壓來實現(xiàn)燈串上電流的控制而導致的額外功率損耗的弊端，進而提高了電流控制電路的轉(zhuǎn)化效率。

附圖說明

為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術中的技術方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為現(xiàn)有技術中提供的一種背光源電流控制電路示意圖；

圖2為本發(fā)明實施例提供的一種電流控制電路示意圖；

圖3為本發(fā)明實施例提供的另一種電流控制電路示意圖；

圖4為本發(fā)明實施例提供的另一種電流控制電路示意圖；

圖5為本發(fā)明實施例提供的另一種電流控制電路示意圖；

圖6為本發(fā)明實施例提供的另一種電流控制電路示意圖；

圖7為本發(fā)明實施例提供的一種電流控制電路的控制方法的方法流程圖；

圖8a為本發(fā)明實施例提供的一種電流控制電路的控制過程示意圖；

圖8b為本發(fā)明實施例提供的一種電流控制電路的控制過程示意圖；

圖9為本發(fā)明實施例提供的一種背光模組的電流控制電路示意圖。

附圖標記：

100-電流控制電路；101-電流調(diào)節(jié)模塊；102-電流檢測模塊；103-電壓檢測模塊；104-切換模塊；105-參考電壓設定模塊；106-待檢測模塊；k1-第一開關；k2-第二開關；k3-第三開關；op-運算放大器；m-晶體管。

具體實施方式

下面將結合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。

本發(fā)明實施例提供一種電流控制電路，如圖2所示，該電流控制電路100包括：電流調(diào)節(jié)模塊101、電流檢測模塊102、電壓檢測模塊103、切換模塊104、參考電壓設定模塊105以及待檢測模塊106。

其中，電流調(diào)節(jié)模塊101與切換模塊104、電流檢測模塊102、參考電壓設定模塊105以及待檢測模塊106連接，用于在切換模塊104的控制下根據(jù)電壓檢測模塊103和參考電壓設定模塊105，調(diào)節(jié)通過待檢測模塊106的電流達到預設電流。

電流檢測模塊102還與切換模塊104和接地端gnd連接。

此處需要說明的是，一般的，該電流檢測模塊102具有固定的電阻值，且該電流檢測模塊102一端與接地端gnd連接，這樣一來，通過獲取電流檢測模塊102另一端的電壓，相當于得到流過該電流檢測模塊102上的電流(i＝u/r)。

電壓檢測模塊103還與切換模塊104和參考電壓設定模塊105連接，且與待檢測模塊106中部分子模塊的兩端連接。

切換模塊104用于控制切換：電流調(diào)節(jié)模塊101與電流檢測模塊102的第一連接狀態(tài)c1，以及電流調(diào)節(jié)模塊101與電壓檢測模塊103的第二連接狀態(tài)c2，且同時短接電流檢測模塊102。

參考電壓設定模塊105用于在電流控制電路處于第一連接狀態(tài)c1下輸出第一參考電壓vref1，在切換模塊104將電流控制電路切換至第二連接狀態(tài)c2下，輸出第二參考電壓vref2；其中，第二參考電壓vref2為在電流控制電路處于第一連接狀態(tài)c1下，通過電壓檢測模塊103獲取的待檢測模塊106中部分子模塊的電壓。

以下對上述各模塊的整體工作過程做進一步的說明。

具體的，在切換模塊104的控制下，電流調(diào)節(jié)模塊101與電流檢測模塊102處于第一連接狀態(tài)c1，并向電流調(diào)節(jié)模塊101輸入電流檢測模塊102上的實時電壓，同時，參考電壓設定模塊105向電流調(diào)節(jié)模塊101輸入第一參考電壓vref1，電流調(diào)節(jié)模塊101根據(jù)電流檢測模塊102和參考電壓設定模塊105分別輸入的電壓控制待檢測模塊106上的電流達到預設電流；此時，在該第一連接狀態(tài)c1，且待檢測模塊106上的電流達到預設電流的情況下，通過電壓檢測模塊103獲取待檢測模塊106中部分子模塊兩端的電壓，作為第二參考電壓vref2，并存儲至參考電壓設定模塊105中。

在此基礎上，通過切換模塊104，將電流調(diào)節(jié)模塊101與電流檢測模塊102的第一連接狀態(tài)c1切換為電流調(diào)節(jié)模塊101與電壓檢測模塊103的第二連接狀態(tài)c2，且短接電流檢測模塊102；同時，參考電壓設定模塊105向電流調(diào)節(jié)模塊101輸入第二參考電壓vref2，在此情況下，電流調(diào)節(jié)模塊101根據(jù)電壓檢測模塊103和參考電壓設定模塊105分別輸入的電壓控制待檢測模塊106上的電流達到預設電流。

這樣一來，相比于現(xiàn)有技術中，采用調(diào)整與燈串串聯(lián)的電阻上的電壓來實現(xiàn)燈串上電流的控制而言，采用本發(fā)明中的技術方案，在達到精確控制待檢測模塊(例如，燈串)上的電流達到預設電流的同時，能夠保證待檢測模塊在預設電流下正常工作時，通過短接電流檢測模塊(例如，電阻)從而避免了在電流檢測上損耗的額外功率，也即能夠避免因采用調(diào)整與燈串串聯(lián)的電阻上的電壓來實現(xiàn)燈串上電流的控制而導致的額外功率損耗的弊端，進而提高了電流控制電路的轉(zhuǎn)化效率。

以下對上述各模塊的具體設置情況下做進一步的說明。

具體的，如圖3所示，上述電流調(diào)節(jié)模塊101可以包括運算放大器op和晶體管m。

其中，運算放大器op的輸出端與晶體管m的柵極連接，反相輸入端(－)與參考電壓設定模塊105連接，正相輸入端(+)與切換模塊104連接；晶體管m的第一極與電流檢測模塊102連接，第二極與待檢測模塊106整體的負極端連接。

其中，晶體管m可以n型晶體管，例如，n溝道型金屬氧化物半導體晶體管(n型mos管)；可以是p型晶體管，本發(fā)明對此不作限定。運算放大器op通過比較反相輸入端(－)和正相輸入端(+)的輸入電壓，從而通過輸出端控制晶體管m柵極的電壓大小以控制其導通程度，進而精確的控制待檢測模塊106上的電流達到預設電流。

在此基礎上，如圖4所示，上述切換模塊104包括第一開關k1、第二開關k2、第三開關k3。

其中，第一開關k1與電流檢測模塊102并聯(lián)，通過控制第一開關k1的導通或截止，來控制電流檢測模塊102是否短接。

第二開關k2的兩端分別連接上述電流調(diào)節(jié)模塊101中運算放大器op的反相輸入端(－)以及電流檢測模塊102連接電流調(diào)節(jié)模塊101的一端，通過控制第二開關k2的導通或截止，來控制電流檢測模塊102與電流調(diào)節(jié)模塊101之間的連接或者斷開。

第三開關k3的兩端分別連接上述電流調(diào)節(jié)模塊101中運算放大器op的反相輸入端(－)以及電壓檢測模塊103，通過控制第三開關k3的導通或截止，來控制電壓檢測模塊103與電流調(diào)節(jié)模塊101之間的連接或者斷開。

需要說明的是，圖4僅是以開關的符號對第一開關k1、第二開關k2、第三開關k3進行示意說明的是，在實際的制作工藝中第一開關k1、第二開關k2、第三開關k3可以是晶體管，通過輸入信號控制其導通或截止；當然也可以是其他的控制形式，此處不作具體限定，只要能夠通過實際的控制實現(xiàn)第一開關k1、第二開關k2、第三開關k3所在線路的導通或截止即可。

進一步的，上述參考電壓設定模塊105可以包括第一參考電壓設定單元和第二參考電壓設定單元。

其中，第一參考電壓設定單元與上述電流調(diào)節(jié)模塊101中運算放大器op的正相輸入端(﹢)連接；第二參考電壓設定單元包括模數(shù)轉(zhuǎn)換子單元、存儲子單元和數(shù)模轉(zhuǎn)換子單元；模數(shù)轉(zhuǎn)換子單元的輸入端與電壓檢測單元連接，輸出端與存儲子單元數(shù)連接；存儲子單元的輸出端與數(shù)模轉(zhuǎn)換子單元的輸入端連接；數(shù)模轉(zhuǎn)換子單元的輸出端與運算放大器op的正相輸入端(﹢)連接。

需要說明的是，對于第一參考電壓而言，由于第一參考電壓vref1的大小等于電流檢測模塊102的電阻大小與預設的預設電流之積的大小相等，那么第一參考電壓vref1的大小為預先可知的，且可以人為設置該電阻的大小，并保證第一參考電壓vref1的數(shù)值為固定值，因此，可以通過簡單的電路排布即可滿足第一參考電壓設定單元能夠輸出該第一參考電壓vref1。

對于第二參考電壓而言，由于第二參考電壓vref2為在電流控制電路處于第一連接狀態(tài)c1下，通過電壓檢測模塊103獲取的上述待檢測模塊106中部分子模塊兩端的電壓，且部分子模塊兩端的電阻并非預知，采用簡單的電路排布可能無法精確的保證第二參考電壓設定單元輸出第二參考電壓vref2，基于此，因此本發(fā)明優(yōu)選的，第二參考電壓設定單元包括模數(shù)轉(zhuǎn)換子單元、存儲子單元和數(shù)模轉(zhuǎn)換子單元，以將實際測定的電壓模擬信號通過模數(shù)轉(zhuǎn)換子單元轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號，通過一定的編碼規(guī)則進行編碼存入至存儲子單元中，然后通過數(shù)模轉(zhuǎn)換子單元將數(shù)字信號轉(zhuǎn)換為電壓模擬信號輸出至運算放大器op的正相輸入端(﹢)。

當然，本領域的技術人員應該理解到，對于上述參考電壓設定模塊105在不同的連接狀態(tài)需要通過設定控制單元以實現(xiàn)上述第一參考電壓設定單元與運算放大器op的正相輸入端(﹢)有效連接，以將第一參考電壓vref1輸出至運算放大器op的正相輸入端(﹢)；或者，第二參考電壓設定單元與運算放大器op的正相輸入端(﹢)有效連接，以將第二參考電壓vref2輸出至運算放大器op的正相輸入端(﹢)；其中，該控制單元可以是電路，也可以是控制器，本發(fā)明對此不做限定。

在此基礎上，如圖5所示，上述電流檢測模塊102為固定電阻r，其中該固定電阻r可以是多個電阻，也可以是一個電阻，本發(fā)明對此不作限定。

此外，如圖2至圖5所示，對于電壓檢測模塊103而言，可以是包括特定集成電路、控制器、處理器中的一個或者多個，本發(fā)明對此不作限定，只要能夠保證電壓檢測模塊103能夠檢測待檢測模塊106中部分子模塊兩端的電壓，并能夠?qū)⒃摍z測電壓進行輸出即可。

另外，需要說明的是，前述電壓檢測模塊103與待檢測模塊106中部分子模塊的兩端連接具體是指，電壓檢測模塊103可以連接在待檢測模塊中任一個子模塊的兩端；也可以在連接在連續(xù)的多個子模塊整體的兩端；或者連接在所有子模塊整體的兩端，本發(fā)明對此不作限定，可以根據(jù)實際的需要實際設置。

在此基礎上，由于電流調(diào)節(jié)模塊101與待檢測模塊106整體的負極端連接，因此，考慮到實際線路的排布，避免采用過長、過多的走線，本發(fā)明優(yōu)選的，如圖6所示，將電壓檢測模塊103連接在待檢測模塊106中最靠近負極端的一個子模塊的兩端，這樣一來，對于電壓檢測模塊103連接待檢測模塊106中最靠近負極端的走線可以與電流調(diào)節(jié)模塊101共用，也即簡化電路。

本發(fā)明實施例還提供一種電流控制電路的控制方法，該電流控制電路包括電流調(diào)節(jié)模塊，如圖7所示，該控制方法包括：

步驟s101、向電流調(diào)節(jié)模塊的第一輸入端輸入電流檢測模塊兩端的電壓值，向電流調(diào)節(jié)模塊的第二輸入端輸入第一參考電壓，以使得與電流調(diào)節(jié)模塊通過負極端連接的待檢測模塊上的電流達到預設電流。

步驟s102、測定在預設電流下待檢測模塊中部分子模塊的電壓作為第二參考電壓。

步驟s103、向電流調(diào)節(jié)模塊的第一輸入端輸入待檢測模塊中部分子模塊的電壓，向電流調(diào)節(jié)模塊的輸入第二參考電壓、且短接電流檢測模塊，以使得與電流調(diào)節(jié)模塊連接的燈串上的電流達到預設電流。

具體的，以下結合本發(fā)明中提供的上述電流控制電路對該控制方法做進一步的說明，當然，該控制方法并不限定與對于上述的電流控制電路，可根據(jù)本發(fā)明中的控制方法選擇其他的電流控制電路，都應涵蓋在本控制方法的范圍內(nèi)。

示意的，在前述電流控制電路100中電流調(diào)節(jié)模塊101包括運算放大器op和晶體管m，切換模塊104包括第一開關k1、第二開關k2、第三開關k3，電流檢測模塊102為固定電阻r，參考電壓設定模塊105包括第一參考電壓設定單元和第二參考電壓設定單元，其中各部分的連接關系可參考圖2至圖6以及前述的文字描述部分，此處不再贅述；基于該設置情況下，上述控制方法具體包括：

上述步驟s101具體可以包括：

如圖8a所示，閉合第二開關k2，斷開第一開關k1和第三開關k3；將電流檢測模塊102上的電壓輸入至運算放大器op的反相輸入端(即電流調(diào)節(jié)模塊101的第一輸入端)，也即，電流調(diào)節(jié)模塊101處于與電流檢測模塊102的第一連接狀態(tài)c1，將第一參考電壓設定單元中的第一參考電壓vref1輸入至運算放大器op的正相輸入端(即電流調(diào)節(jié)模塊101的第二輸入端)，運算放大器op通過比較反相輸入端(－)和正相輸入端(+)的輸入電壓，從而通過輸出端控制晶體管m的導通程度，進而精確的控制燈串l上的電流達到預設電流。

上述步驟s102可以包括：

通過電壓檢測模塊103測定在上述預設電流下待檢測模塊中部分子模塊(例如，待檢測模塊106中最靠近負極端的一個子模塊)的電壓，并存儲至參考電壓設定模塊105中的第二參考電壓設定單元中，作為第二參考電壓vref2。

上述步驟s103可以包括：

如圖8b所示，斷開第二開關k2，閉合第一開關k1和第三開關k3；將電壓檢測模塊103測定的前述待檢測模塊中部分子模塊的電壓輸入至運算放大器op的反相輸入端(即電流調(diào)節(jié)模塊101的第一輸入端)，也即，電流調(diào)節(jié)模塊101處于與電壓檢測模塊103的第二連接狀態(tài)c2，將第二參考電壓設定單元中的第二參考電壓vref2輸入至運算放大器op的正相輸入端(即電流調(diào)節(jié)模塊101的第二輸入端)，且短接電流檢測模塊102，運算放大器op通過比較反相輸入端(－)和正相輸入端(+)的輸入電壓，從而通過輸出端控制晶體管m的導通程度，進而精確的控制待檢測模塊上的電流達到預設電流。

這樣一來，相比于現(xiàn)有技術中，采用調(diào)整與燈串串聯(lián)的電阻上的電壓來實現(xiàn)燈串上電流的控制而言，采用本發(fā)明中的技術方案，在達到精確控制待檢測模塊(例如，燈串)上的電流達到預設電流的同時，能夠保證待檢測模塊在預設電流下正常工作時，通過短接電流檢測模塊(例如，電阻)從而避免了在電流檢測上損耗的額外功率，也即能夠避免因采用調(diào)整與燈串串聯(lián)的電阻上的電壓來實現(xiàn)燈串上電流的控制而導致的額外功率損耗的弊端，進而提高了電流控制電路的轉(zhuǎn)化效率。

本發(fā)明實施例還提供一種背光模組，如圖9所示，包括多個燈串l(例如，l1、l2……ln)以及至少一個如前述的電流控制電路100，其中，該電流控制電路100中的待檢測模塊106為燈串l，待檢測模塊106中的子模塊為燈串l上的單個燈珠。

由于該背光模組包括前述的電流控制電路，具有與前述實施例提供的電流控制電路相同的結構和有益效果。由于前述實施例已經(jīng)對該電流控制電路的結構和有益效果進行了詳細的描述，此處不再贅述。

基于此，為了能夠最大程度的降低額外功率損耗，本發(fā)明優(yōu)選的，每一燈條l分別連接一個電流控制電路100，從而保證通過電流控制電路精確控制所有燈條上的電流達到預設電流的同時，避免所有燈串上因串聯(lián)的電阻而導致的額外功率損耗的問題，進而最大程度提高背光控制電路的轉(zhuǎn)化效率。

另外，為了簡化電路，避免采用過長、過多的走線，優(yōu)選的，電壓檢測模塊103連接在燈串l中最靠近負極端的一個燈珠的兩端，具體理由可參考前述內(nèi)容，此處不再贅述。

當然，對于背光模組而言，上述電流控制電路100可以整體集成于背光源驅(qū)動芯片中，該背光源驅(qū)動芯片中還包括電壓增強器(boost)、亮度控制器(dimingcontrol)等，并且背光源驅(qū)動芯片的端口(例如iset、pwm、en、in、ifb等)的連接，均與現(xiàn)有技術類似，此處不再贅述。

本發(fā)明實施例還提供一種顯示裝置，包括前述的背光模組，包括如上所述的電流控制電路，具有與前述實施例提供的電流控制電路相同的結構和有益效果。由于前述實施例已經(jīng)對電流控制電路的結構和有益效果進行了詳細的描述，此處不再贅述。

本領域普通技術人員可以理解：實現(xiàn)上述方法實施例的全部或部分步驟可以通過程序指令相關的硬件來完成，前述的程序可以存儲于一計算機可讀取存儲介質(zhì)中，該程序在執(zhí)行時，執(zhí)行包括上述方法實施例的步驟；而前述的存儲介質(zhì)包括：rom、ram、磁碟或者光盤等各種可以存儲程序代碼的介質(zhì)。

以上所述，僅為本發(fā)明的具體實施方式，但本發(fā)明的保護范圍并不局限于此，任何熟悉本技術領域的技術人員在本發(fā)明揭露的技術范圍內(nèi)，可輕易想到變化或替換，都應涵蓋在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。因此，本發(fā)明的保護范圍應以所述權利要求的保護范圍為準。