本申請涉及發(fā)光檢測領域，尤其涉及發(fā)光亮度校正方法、裝置和計算機可讀存儲介質。

背景技術：

1、當前顯示技術中，發(fā)光芯片的尺寸不斷縮小，例如micro?led(micro?lightemitting?diode，微型發(fā)光二極管)芯片將單個發(fā)光芯片的尺寸縮小到了50um之內。小尺寸且高密度布置的發(fā)光芯片能夠帶來更好的顯示效果，但是在生產環(huán)節(jié)，其工藝難度也隨著提升。在檢測單顆發(fā)光芯片的亮度時，周圍其他發(fā)光芯片的光線會造成影響，導致最終測得的亮度值并不準確。然而面對大量鋪設的小尺寸且高密度的發(fā)光芯片，采用單個發(fā)光芯片逐個點亮檢測或在亮度檢測時形成物理隔離需要的時間和工藝成本極高。

2、因此，如何低成本的獲取到更準確的實際發(fā)光亮度是亟需解決的問題。

技術實現(xiàn)思路

1、鑒于上述相關技術的不足，本申請的目的在于提供一種發(fā)光亮度校正方法、裝置和計算機可讀存儲介質，旨在解決一些應用場景下，對于發(fā)光對象的發(fā)光亮度檢測的結果不準的問題。

2、一種發(fā)光亮度校正方法，包括：

3、獲取待測對象的亮度測量值和干擾對象的亮度值；其中，所述干擾對象臨近所述待測對象設置；

4、確定所述干擾對象對所述待測對象的亮度的影響因子；以及

5、依照所述干擾對象的亮度值及所述影響因子，對所述亮度測量值進行校正以確定所述待對象的實際發(fā)光亮度。

6、上述發(fā)光亮度校正方法，通過獲取干擾對象的亮度值以對待測對象的亮度測量值進行校正，能夠從亮度測量值中去除干擾對象的串擾影響，在一些實施過程中能夠得到更為準確的待測對象的實際發(fā)光亮度。

7、可選地，所述獲取待測對象的亮度測量值和干擾對象的亮度值之前，還包括：

8、根據(jù)預設位置信息從所述檢測圖像中模擬定位出光源器件的設置位置；

9、根據(jù)模擬定位的結果從所述檢測圖像中確定出所述待測對象及其對應的所述干擾對象。

10、模擬定位可以方便對待測對象、干擾對象和其亮度值進行確定，一些實施過程中還可以通過模擬定位的結果確定作為待測對象是否處于陣列的邊界，或周圍是否存在暗點區(qū)域。

11、可選地，所述根據(jù)所述檢測圖像中對應所述待測對象的像素灰度確定所述亮度測量值包括：

12、確定所述檢測圖像中所述待測對象的亮度峰值位置；

13、以所述亮度峰值位置周圍預定范圍內的像素灰度作為所述亮度測量值。

14、找到發(fā)光區(qū)域的亮度峰值位置，并以該亮度峰值位置為中心測量亮度，更能夠準確反映待測對象處的亮度情況。

15、可選地，獲取所述干擾對象的亮度值包括：

16、獲取所述干擾對象的實際發(fā)光亮度作為所述干擾對象的亮度值。

17、獲取的干擾對象的亮度值為更準確的實際發(fā)光亮度，則對于待測對象的最終亮度校正也會更為準確。

18、可選地，所述依照所述干擾對象的亮度值及所述影響因子，對所述亮度測量值進行校正以確定出所述待測對象的實際發(fā)光亮度包括：

19、根據(jù)預設的所述影響因子與影響系數(shù)的對應關系，確定出所述影響系數(shù)；

20、從所述待測對象的所述亮度測量值中減去所述干擾對象的亮度影響值以確定出所述待測對象的所述實際發(fā)光亮度，所述干擾對象的所述亮度影響值為所述影響系數(shù)與所述干擾對象的亮度值之積。

21、通過影響系數(shù)和干擾對象的亮度值確定出其對待測對象的亮度影響值，從待測對象的亮度測量值中減去亮度影響值可得到比亮度測量值更準確的實際發(fā)光亮度。

22、可選地，所述根據(jù)預設的所述影響因子與影響系數(shù)的對應關系，確定出所述影響系數(shù)包括以下任一種方式：

23、方式一：獲取預設的影響系數(shù)集合以及所述影響系數(shù)集合中的元素與所述影響因子的對應關系，根據(jù)所述對應關系從所述影響系數(shù)集合中確定出所述影響系數(shù)；

24、方式二：獲取所述影響因子與所述影響系數(shù)的擬合函數(shù)，根據(jù)所述影響因子和所述擬合函數(shù)確定出所述影響系數(shù)。

25、基于同樣的發(fā)明構思，本申請還提供一種發(fā)光亮度校正裝置，包括處理器、存儲器及通信總線；

26、所述通信總線用于實現(xiàn)處理器和存儲器之間的連接通信；

27、所述處理器用于執(zhí)行存儲器中存儲的一個或者多個程序，以實現(xiàn)如上所述的發(fā)光亮度校正方法的步驟。

28、上述發(fā)光亮度校正裝置的處理器執(zhí)行存儲器中的程序能夠實現(xiàn)上述的發(fā)光亮度校正方法的步驟，在一些實施過程中能夠得到更為準確的待測對象亮度的實際發(fā)光亮度。

29、基于同樣的發(fā)明構思，本申請還提供一種計算機可讀存儲介質，所述計算機可讀存儲介質存儲有一個或多個程序，所述一個或多個程序可被一個或多個處理器執(zhí)行，以實現(xiàn)如上所述的發(fā)光亮度校正方法的步驟。

30、上述計算機可讀存儲介質存儲的程序能夠被處理器執(zhí)行從而實現(xiàn)上述的發(fā)光亮度校正方法的步驟，在一些實施過程中能夠得到更為準確的待測對象的實際發(fā)光亮度。

技術特征：

1.一種發(fā)光亮度校正方法，其特征在于，包括：

2.如權利要求1所述的發(fā)光亮度校正方法，其特征在于，所述獲取待測對象的亮度測量值包括：

3.如權利要求2所述的發(fā)光亮度校正方法，其特征在于，所述獲取待測對象的亮度測量值和干擾對象的亮度值之前，還包括：

4.如權利要求2所述的發(fā)光亮度校正方法，其特征在于，所述獲取包含有所述待測對象的檢測圖像包括：

5.如權利要求2所述的發(fā)光亮度校正方法，其特征在于，所述根據(jù)所述檢測圖像中對應所述待測對象的像素灰度確定所述亮度測量值包括：

6.如權利要求1所述的發(fā)光亮度校正方法，其特征在于，獲取所述干擾對象的亮度值包括：

7.如權利要求1所述的發(fā)光亮度校正方法，其特征在于，所述依照所述干擾對象的亮度值及所述影響因子，對所述亮度測量值進行校正以確定出所述待測對象的實際發(fā)光亮度包括：

8.如權利要求7所述的發(fā)光亮度校正方法，其特征在于，所述根據(jù)預設的所述影響因子與影響系數(shù)的對應關系，確定出所述影響系數(shù)包括以下任一種方式：

9.如權利要求1-8任一項所述的發(fā)光亮度校正方法，其特征在于，所述影響因子包括以下至少一種：

10.一種發(fā)光亮度校正裝置，其特征在于，包括處理器、存儲器及通信總線；

11.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質存儲有一個或多個程序，所述一個或多個程序可被一個或多個處理器執(zhí)行，以實現(xiàn)如權利要求1-9任一項所述的發(fā)光亮度校正方法的步驟。

技術總結
本申請涉及發(fā)光亮度校正方法、裝置和計算機可讀存儲介質，發(fā)光亮度校正方法包括獲取發(fā)光的待測對象的亮度測量值和干擾對象的亮度值，其中，干擾對象臨近待測對象設置；確定干擾對象對待測對象的亮度的影響因子，以及依照干擾對象的亮度值和影響因子，對亮度測量值進行校正以確定待測對象的實際發(fā)光亮度。本申請的發(fā)光亮度校正方法能夠從亮度測量值中去除干擾對象的串擾影響，得到更為準確的待測對象亮度檢測結果。

技術研發(fā)人員：蔣光平,林浩翔
受保護的技術使用者：重慶康佳光電科技有限公司
技術研發(fā)日：
技術公布日：2025/1/6