本申請涉及顯示，尤其涉及一種顯示面板及其驅(qū)動方法、顯示裝置。

背景技術(shù)：

1、隨著顯示技術(shù)的快速發(fā)展，顯示面板的邊框設計不斷變窄，顯示面板的各個制作工藝段出現(xiàn)異常都會產(chǎn)生屏體裂紋，存在較高的黑斑或異顯等不良風險，因此，通過面板裂紋檢測(panelcrack?detection，簡稱pcd)技術(shù)及時識別屏體裂紋至關(guān)重要。

2、現(xiàn)有裂紋檢測電路需要點屏才能實現(xiàn)裂紋檢測，在設計上就需要新增pcd檢測電路和多根信號繞線，導致極窄邊框設計受限。并且點屏進行pcd檢測的方式還會增加生產(chǎn)時間，影響產(chǎn)能。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、鑒于上述問題，本申請?zhí)峁┝艘环N顯示面板及其驅(qū)動方法、顯示裝置，以實現(xiàn)顯示面板的裂紋檢測，并實現(xiàn)窄邊框設計，且無需點屏就可以實現(xiàn)裂紋檢測。具體方案如下：

2、本申請第一方面提供一種顯示面板，所述顯示面板包括：開關(guān)組件、觸控信號線、以及至少部分圍繞所述顯示面板設置的裂紋檢測信號線；

3、所述裂紋檢測信號線的第一端通過所述開關(guān)組件與所述觸控信號線電連接，所述裂紋檢測信號線的第二端與信號端電連接，所述信號端用于提供第二信號；

4、其中，所述觸控信號線上傳輸?shù)谝恍盘枺龅谝恍盘柵c所述第二信號的電壓值不同；

5、在裂紋檢測階段，控制所述開關(guān)組件處于導通狀態(tài)，并接收所述觸控信號線上傳輸?shù)男盘枺换谒鲇|控信號線上傳輸?shù)男盘栠M行所述顯示面板的裂紋檢測判斷。

6、本申請第二方面提供一種顯示面板的驅(qū)動方法，所述顯示面板的驅(qū)動方法包括：

7、在非裂紋檢測階段，控制所述開關(guān)組件處于斷開狀態(tài)；

8、在裂紋檢測階段，控制所述開關(guān)組件處于導通狀態(tài)，并接收所述觸控信號線上傳輸?shù)男盘枺换谒鲇|控信號線上傳輸?shù)男盘栠M行所述顯示面板的裂紋檢測判斷。

9、本申請第三方面提供一種顯示裝置，所述顯示裝置包括上述所述的顯示面板。

10、借由上述技術(shù)方案，本申請?zhí)峁┝艘环N顯示面板及其驅(qū)動方法、顯示裝置，基于開關(guān)組件、觸控信號線、以及裂紋檢測信號線的連接方式，通過觸控測試即可檢測裂紋檢測信號線斷裂的情況，以實現(xiàn)顯示面板的裂紋檢測判斷。相比較現(xiàn)有技術(shù)而言，可以省去pcd檢測畫面，簡化布線布局，實現(xiàn)了極窄邊框設計，且實現(xiàn)無需點屏就可以實現(xiàn)裂紋檢測的目的。

技術(shù)特征：

1.一種顯示面板，其特征在于，所述顯示面板包括：開關(guān)組件、觸控信號線、以及至少部分圍繞所述顯示面板設置的裂紋檢測信號線；

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示面板，其特征在于，所述信號端為接地端。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示面板，其特征在于，所述觸控信號線包括橫向設置的觸控驅(qū)動線；

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的顯示面板，其特征在于，所述顯示面板還包括：第一控制器，所述觸控驅(qū)動線與所述第一控制器電連接；

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示面板，其特征在于，所述觸控信號線包括縱向設置的觸控感應線；

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的顯示面板，其特征在于，所述顯示面板還包括：第二控制器，所述觸控感應線與所述第二控制器電連接；

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示面板，其特征在于，所述開關(guān)組件的控制端用于接收控制信號；

8.根據(jù)權(quán)利要求1-7任一項所述的顯示面板，其特征在于，所述開關(guān)組件為薄膜晶體管。

9.一種顯示面板的驅(qū)動方法，其特征在于，所述顯示面板的驅(qū)動方法包括：

10.一種顯示裝置，其特征在于，所述顯示裝置包括權(quán)利要求1-8任一項所述的顯示面板。

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提供了一種顯示面板及其驅(qū)動方法、顯示裝置，涉及顯示技術(shù)領域?；陂_關(guān)組件、觸控信號線、以及裂紋檢測信號線的連接方式，通過觸控測試即可檢測裂紋檢測信號線斷裂的情況，以實現(xiàn)顯示面板的裂紋檢測判斷。相比較現(xiàn)有技術(shù)而言，可以省去PCD檢測畫面，簡化布線布局，實現(xiàn)了極窄邊框設計，且實現(xiàn)無需點屏就可以實現(xiàn)裂紋檢測的目的。

技術(shù)研發(fā)人員：李志明,柴青
受保護的技術(shù)使用者：武漢天馬微電子有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/1/2