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防偽商標(biāo)或標(biāo)志的制造方法

文檔序號(hào):2636279閱讀:365來(lái)源:國(guó)知局
專(zhuān)利名稱(chēng):防偽商標(biāo)或標(biāo)志的制造方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及防偽商標(biāo)或標(biāo)志的制造方法,特別是涉及利用重離子或裂變碎片輻照成像來(lái)制造防偽商標(biāo)或標(biāo)志的方法。
在當(dāng)前的商品市場(chǎng)中,經(jīng)常出現(xiàn)假冒產(chǎn)品,給消費(fèi)者、生產(chǎn)廠(chǎng)家以至給國(guó)家造成重大損失,因此打假防假成為當(dāng)前商品市場(chǎng)中一個(gè)緊迫問(wèn)題。要達(dá)到有效地打假防假,首先要解決商標(biāo)或產(chǎn)品標(biāo)志的防偽問(wèn)題。目前常見(jiàn)的防偽商標(biāo)或標(biāo)志,有些易被仿制,有些不易被消費(fèi)者鑒別,而有些雖不易仿制,但由于成本過(guò)高而難以推廣。
本發(fā)明的目的是要提供一種既不容易被仿制,同時(shí)又易被消費(fèi)者鑒別,而且造價(jià)低廉的防偽商標(biāo)或標(biāo)志的制造方法。
本發(fā)明人針對(duì)現(xiàn)有防偽商標(biāo)和標(biāo)志存在的缺點(diǎn)進(jìn)行了種種研究,結(jié)果發(fā)現(xiàn),利用重離子(指質(zhì)量大于α粒子的離子)或裂變碎片來(lái)輻照透明的塑料薄膜,然后用NaOH溶液來(lái)處理該薄膜,即可使被輻照的區(qū)域變成不透明或半透明的乳白色,并且能夠透氣透水。如果在重離子或裂變碎片輻照的通道中事先安裝具有鏤空花紋圖案的模具,使得重離子或裂變碎片只能從該模具的鏤空部分通過(guò),這樣就能在塑料薄膜上形成相應(yīng)乳白色的并能透氣透水的花紋圖案。由于這種圖案透氣透水,因此用它作商標(biāo)可以很容易被消費(fèi)者識(shí)別。而且,由于產(chǎn)生重離子或裂變碎片需要使用加速器或原子反應(yīng)堆等大型設(shè)備,因此用該方法制造的商標(biāo)或標(biāo)志不易被仿造。即使有人仿造也很容易查到出處,因?yàn)樵趪?guó)內(nèi)擁有加速器或原子反應(yīng)堆的單位為數(shù)很少。另外,用這種方法制造商標(biāo),成本低于一般的防偽商標(biāo),因此易被廠(chǎng)家接受。由于找到了這種制造防偽商標(biāo)或標(biāo)志方法,至此便完成了本發(fā)明。
本發(fā)明方法的原理是利用能量在80MeV以上的高能重離子或裂變碎片來(lái)輻照透明的塑料薄膜,重離子或裂變碎片可以使薄膜上被輻照的部分受損傷,當(dāng)用Na0H溶液將損傷部分腐蝕掉以后,就在塑料薄膜上形成一些不規(guī)則的微小孔道,其直徑約為0.1μm—12μm,這些孔道的管壁對(duì)入射光按不同方向進(jìn)行反射和折射,因此起一種散射光線(xiàn)的作用,使大部分光線(xiàn)不能透過(guò),于是在透明塑料薄膜上形成了具有所需形狀的乳白色圖案。
本發(fā)明人在許多實(shí)驗(yàn)的基礎(chǔ)上,共提出了兩種用于制造防偽商標(biāo)或標(biāo)志的方法。其中的方法1是利用重離子作為輻照能源,方法2是利用裂變碎片作為輻照能源。
下面參考附圖來(lái)具體地解釋本發(fā)明。


圖1是利用重離子成像法來(lái)制造防偽商標(biāo)或標(biāo)志的示意流程圖;圖2利用裂變碎片成像法來(lái)制造防偽商標(biāo)或標(biāo)志的示意流程圖。
本發(fā)明的方法1是利用重離子成像法來(lái)制造防偽商標(biāo)或標(biāo)志,其特征是利用厚度為5—30μm,較佳為8—20μm的透明塑料薄膜為原材料,利用重離子發(fā)生器產(chǎn)生的重離子為輻照能源,用重離子加速器將重離子加速至其能量達(dá)到80MeV以上,以能穿透塑料薄膜為準(zhǔn),在重離子的通道上安裝有成像模具,使成像后的重離子束輻照在塑料薄膜上,輻照時(shí)間為0.5—2秒,較佳為0.8—1秒,然后用NaOH溶液對(duì)薄膜進(jìn)行蝕刻顯像處理1小時(shí)以上,以干燥后能顯出清晰的圖像為準(zhǔn),最后用水清洗并將其干燥。
在本方法1中所用的重離子的能量沒(méi)有嚴(yán)格的限制,但一般應(yīng)在80MeV以上,最好在130MeV以上,這要取決于所用塑料薄膜的品種和厚度,重離子的能量以能夠穿透被輻照的薄膜為準(zhǔn)。薄膜的厚度以5—30μm為宜,較佳為8—20μm,如果厚度小于5μm,則在將商標(biāo)從商品上取下時(shí)易于把薄膜撕破,這樣就達(dá)不到鑒別真?zhèn)蔚哪康?。如果薄膜厚?0μm,則要求重離子具有較高的能量才能穿透薄膜,這樣在經(jīng)濟(jì)上不可取。但在必要的情況下,也可以使薄膜更厚些。輻照薄膜時(shí)的時(shí)間長(zhǎng)短沒(méi)有嚴(yán)格限制,只要能在薄膜上成象即可,對(duì)于較薄的薄膜,只需0.5秒或1秒即能成像,但時(shí)間長(zhǎng)些也不影響質(zhì)量。在蝕刻步驟中,對(duì)NaOH溶液的濃度沒(méi)有嚴(yán)格的要求,只是NaOH溶液較稀時(shí),蝕刻時(shí)間相應(yīng)要長(zhǎng)些。在一般情況下,NaOH溶液濃度以10—50重量%(以溶液重量為基準(zhǔn))為宜,較佳為20—40重量%。蝕刻時(shí)間沒(méi)有嚴(yán)格限制,以圖象能清晰地顯示出來(lái)為準(zhǔn)。
本發(fā)明的方法2是利用裂變碎片成象法來(lái)制造防偽商標(biāo)或標(biāo)志,其特征是利用厚度為5—30μm,較佳為8—20μm的透明塑料薄膜為原材料,利用原子反應(yīng)堆產(chǎn)生的中子為初級(jí)能源,使中子束轟擊235U靶子以使其放出裂變碎片,使這些裂變碎片通過(guò)成像模具后輻照在塑料薄膜上,輻照時(shí)間為10—20分鐘,接著用NaOH溶液對(duì)薄膜進(jìn)行蝕刻顯像處理1小時(shí)以上,以干燥后能顯出清晰的圖像為準(zhǔn),最后用水清洗并將其干燥。
在方法2中,由于從235U靶子放出的裂變碎片的能量平均已達(dá)到80MeV以上,因此通常不需要進(jìn)一步提高其能量。但由于裂變碎片的粒子密度小于方法1中的重離子粒子密度,因此成像時(shí)間要長(zhǎng)些,但是在輻照時(shí),可以在235U靶子的周?chē)O(shè)置很多片薄膜,這樣就彌補(bǔ)了其成象時(shí)間較長(zhǎng)的不足。在方法2中對(duì)薄膜厚度、NaOH濃度以及對(duì)除了輻照時(shí)間以外的其他條件的掌握皆與上述的方法1相同。
用本發(fā)明方法制成的商標(biāo)或標(biāo)志,其防偽效果明顯優(yōu)于常見(jiàn)的防偽商標(biāo)。消費(fèi)者只需將商標(biāo)或標(biāo)志從商品上取下來(lái),用手指蘸水后涂抹于乳白色的區(qū)域,看其是否透水,或用吸煙時(shí)產(chǎn)生的煙霧吹噴,看其是否透氣,凡是不能透水、透氣者必為假冒商標(biāo)無(wú)疑。另外,利用本發(fā)明的方法制造防偽商標(biāo)或標(biāo)志,成本低廉,生產(chǎn)率高,易于自動(dòng)化。再有是用本發(fā)明方法制造的商標(biāo),仿造困難,即使有人仿造,也容易查出仿造者。因此本發(fā)明的方法與現(xiàn)有技術(shù)的方法相比,具有突出的實(shí)質(zhì)性特點(diǎn)和顯著的進(jìn)步。
下面舉出本發(fā)明的較佳實(shí)施例,但本發(fā)明并不受這些實(shí)施例的限制。
實(shí)施例1在中國(guó)原子能科學(xué)研究院的串列加速器上,以負(fù)離子源產(chǎn)生S-1離子,在將其加速后再將其剝離成11個(gè)正電荷態(tài)的S+11離子,使加速器頭部高壓為10MeV,經(jīng)加速后產(chǎn)生能量為120MeV的硫離子束,束流強(qiáng)度為40毫微安,在左10度管道上通過(guò)成象模具輻射在厚度為12±1μm的聚碳酸酯薄膜上,照射時(shí)間為0.8秒,然后在25重量%(以溶液重量為基準(zhǔn))的NaOH溶液中蝕刻2小時(shí),再用自來(lái)水清洗并在40℃下烘干。結(jié)果獲得了一種在透明薄膜上具有鮮明對(duì)比度的乳白色花紋圖案。這種帶乳白色圖案的塑料薄膜可直接作為商標(biāo)貼于商品上。如果商品包裝的底色也是乳白色的,則可在商標(biāo)薄膜下面襯上一層深色薄膜,這樣仍可獲得圖案鮮明的效果。
實(shí)施例2在中國(guó)原子能科學(xué)研究院的重水反應(yīng)堆上,利用熱中子束來(lái)照射235U靶子,使靶子上產(chǎn)生的裂變碎片通過(guò)成像模具輻照在厚度為12±1μm的聚碳酸酯薄膜上,照射時(shí)間為15分鐘,然后在25重量%(以溶液重量為基礎(chǔ))的NaOH溶液中蝕刻2小時(shí),再用自來(lái)水清洗并在40℃下烘干。結(jié)果獲得了與實(shí)施例1相同的具有鮮明對(duì)比度的乳白色花紋圖案。
上面已通過(guò)實(shí)施例詳細(xì)地解釋了本發(fā)明,本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可以在本發(fā)明的基本構(gòu)思上作出各種改進(jìn)或變化,然而只要不背離本發(fā)明的基本構(gòu)思和實(shí)質(zhì),所有的變化或改進(jìn)都應(yīng)被認(rèn)為屬于本發(fā)明的范圍。
權(quán)利要求
1.一種利用重離子成像來(lái)制造防偽商標(biāo)或標(biāo)志的方法,其特征在于,利用厚度為5—30μm的透明塑料薄膜為原材料,利用重離子發(fā)生器產(chǎn)生的重離子為輻照能源,用重離子加速器將重離子加速至其能量達(dá)到80MeV以上,以能穿透塑料薄膜為準(zhǔn),在重離子的通道上安裝有成像模具,使成像后的重離子束輻照在塑料薄膜上,輻照時(shí)間為0.5—2秒,然后用NaOH溶液對(duì)薄膜進(jìn)行蝕刻顯像處理1小時(shí)以上,以干燥后能顯出清晰的圖像為準(zhǔn),最后用水清洗并將其干燥。
2.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于其中所說(shuō)的塑料薄膜厚度為8—20μm。
3.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于其中所說(shuō)的輻照時(shí)間為0.8—1秒。
4.一種利用裂變碎片成象來(lái)制造防偽商標(biāo)或標(biāo)志的方法,其特征在于,利用厚度為5—30μm的透明塑料薄膜為原材料,利用原子反應(yīng)堆產(chǎn)生的中子為初級(jí)能源,使中子束轟擊235U靶子以使其放出裂變碎片,使這些裂變碎片通過(guò)成像模具后輻照在塑料薄膜上,輻照時(shí)間為10—20分鐘,接著用NaOH溶液對(duì)薄膜進(jìn)行蝕刻顯像處理1小時(shí)以上,以干燥后能顯出清晰的圖像為準(zhǔn),最后用水清洗并將其干燥。
5.如權(quán)利要求4所述的方法,其特征在于其中所述的塑料薄膜厚度為8—20μm。
6.如權(quán)利要求4所述的方法,其特征在于其中所述的輻照時(shí)間為12—15分鐘。
全文摘要
防偽商標(biāo)或標(biāo)志的制法。使高能重離子或裂變碎片通過(guò)成像模具后輻照在透明塑料薄膜上,輻照后可在薄膜上形成具有鮮明對(duì)比度的乳白色圖案。該圖案可作為商標(biāo)或商品標(biāo)志使用。由于薄膜上經(jīng)過(guò)輻照的區(qū)域具有很多微孔,可以透氣透水,故消費(fèi)者易于鑒別真?zhèn)巍_@樣制成的商標(biāo)或標(biāo)志不易仿造,而且制造成本低廉。
文檔編號(hào)G09F3/10GK1116751SQ9410455
公開(kāi)日1996年2月14日 申請(qǐng)日期1994年5月3日 優(yōu)先權(quán)日1994年5月3日
發(fā)明者黃正德, 劉永輝, 侯龍, 楊毅 申請(qǐng)人:黃正德, 劉永輝, 侯龍, 楊毅
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