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一種核電子學(xué)實(shí)驗(yàn)教學(xué)儀器及其實(shí)驗(yàn)方法

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一種核電子學(xué)實(shí)驗(yàn)教學(xué)儀器及其實(shí)驗(yàn)方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及實(shí)驗(yàn)教學(xué)領(lǐng)域,具體地,涉及一種用于核電子學(xué)實(shí)驗(yàn)教學(xué)的儀器及其實(shí)驗(yàn)方法。
【背景技術(shù)】
[0002]核電子學(xué)是在核輻射探測(cè)技術(shù)和電子技術(shù)基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的一門(mén)交叉學(xué)科。核電子學(xué)作為一門(mén)應(yīng)用科學(xué),要求學(xué)生不僅掌握基本核電子學(xué)電路的工作原理,還要能夠正確使用,甚至自主設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā),因此針對(duì)學(xué)生的實(shí)踐訓(xùn)練就顯得尤為重要。另一方面,隨著近十年國(guó)內(nèi)核電的快速發(fā)展及核技術(shù)的民用化,國(guó)家需要大批掌握核技術(shù)的人才,因此近幾年全國(guó)多個(gè)高校陸續(xù)開(kāi)辦核專(zhuān)業(yè)本科教學(xué),開(kāi)辦核專(zhuān)業(yè)的高校從最初的不到十所增長(zhǎng)到了五十余所。同時(shí)由于核電子學(xué)實(shí)驗(yàn)課程是核專(zhuān)業(yè)學(xué)生培養(yǎng)中不可分割的一部分,越來(lái)越多的高校開(kāi)始建設(shè)核電子學(xué)實(shí)驗(yàn)課程。
[0003]目前,高校的核電子學(xué)實(shí)驗(yàn)教學(xué)主要使用傳統(tǒng)NM插件,然而這種基于NM標(biāo)準(zhǔn)(二十世紀(jì)六十年代由美國(guó)原子能委員會(huì)核儀器插件標(biāo)準(zhǔn)委員會(huì)制訂)的NIM插件是為核領(lǐng)域的科學(xué)研宄所開(kāi)發(fā)的儀器。將NIM插件直接用于核電子學(xué)實(shí)驗(yàn)教學(xué)存在很多問(wèn)題:基于NIM機(jī)箱的NIM插件平臺(tái)過(guò)于笨重,而且所有電路全部封裝在金屬盒子里,不方便進(jìn)行電路的信號(hào)測(cè)試;傳輸接口太慢,不能滿(mǎn)足高速數(shù)據(jù)傳輸;直流電源標(biāo)準(zhǔn)不適應(yīng)常用芯片供電要求,需要做電源轉(zhuǎn)換;實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)需傳輸?shù)絇C機(jī)上才能進(jìn)行數(shù)據(jù)處理和結(jié)果顯示,等等。因此開(kāi)發(fā)一套專(zhuān)門(mén)用于核電子學(xué)實(shí)驗(yàn)教學(xué)的儀器對(duì)于新時(shí)期核專(zhuān)業(yè)人才的培養(yǎng)就顯得尤為重要。
[0004]同時(shí),由于NIM插件用于核電子學(xué)實(shí)驗(yàn)教學(xué)的諸多不便,因此以往大多數(shù)高校制定的核電子學(xué)實(shí)驗(yàn)內(nèi)容往往都局限于電路性能測(cè)試和實(shí)驗(yàn)結(jié)果的數(shù)據(jù)處理,缺少電路工作原理測(cè)試這項(xiàng)最基本的內(nèi)容。造成學(xué)生只知其然卻不知其所以然。所以必須要設(shè)計(jì)出一套更加系統(tǒng)的核電子學(xué)實(shí)驗(yàn)課程,來(lái)引導(dǎo)學(xué)生理解核電子學(xué)能做什么,怎么做,為什么要這樣做。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明的目的在于,提供一種適用于高校核電子學(xué)實(shí)驗(yàn)教學(xué)的儀器,以實(shí)驗(yàn)教學(xué)方式帶動(dòng)學(xué)生深入自學(xué)和擴(kuò)展實(shí)踐的目的,激發(fā)學(xué)生對(duì)核電子學(xué)的學(xué)習(xí)興趣,使得學(xué)生在實(shí)驗(yàn)中逐步加深對(duì)核電子學(xué)的理解。
[0006]本發(fā)明采用以下方案實(shí)現(xiàn):一種核電子學(xué)實(shí)驗(yàn)教學(xué)儀器,包括一個(gè)母板實(shí)驗(yàn)箱和多個(gè)子板實(shí)驗(yàn)?zāi)K。其特征在于:所述母板實(shí)驗(yàn)箱設(shè)置有供電單元和可擴(kuò)展實(shí)驗(yàn)平臺(tái);所述多個(gè)子板實(shí)驗(yàn)?zāi)K包括前置放大器實(shí)驗(yàn)?zāi)K、主放大器實(shí)驗(yàn)?zāi)K、單道實(shí)驗(yàn)?zāi)K、多道實(shí)驗(yàn)?zāi)K、定時(shí)實(shí)驗(yàn)?zāi)K、時(shí)數(shù)轉(zhuǎn)換實(shí)驗(yàn)?zāi)K、符合反符合實(shí)驗(yàn)?zāi)K、計(jì)數(shù)器實(shí)驗(yàn)?zāi)K、堆積判棄實(shí)驗(yàn)?zāi)K和數(shù)據(jù)傳輸實(shí)驗(yàn)?zāi)K;
所述供電單元為220V轉(zhuǎn)-12V、-5V、+3.3V、+5V和+12V的開(kāi)關(guān)電源,為可擴(kuò)展實(shí)驗(yàn)平臺(tái)供電;
所述可擴(kuò)展實(shí)驗(yàn)平臺(tái)包括電源單元、液晶屏顯示單元、子板安裝接口單元、數(shù)據(jù)傳輸單元和總線(xiàn)單元。
[0007]在本發(fā)明一實(shí)施例中,所述電源單元從供電單元取電,采用限流保險(xiǎn)絲進(jìn)行短路保護(hù),采用LED燈進(jìn)行供電狀態(tài)顯示。
[0008]在本發(fā)明一實(shí)施例中,所述液晶屏顯示單元為192X64 IXD液晶顯示屏。
[0009]在本發(fā)明一實(shí)施例中,所述子板安裝接口單元包含兩組(4個(gè))32位板對(duì)板連接器和6個(gè)64位板對(duì)板連接器。
[0010]在本發(fā)明一實(shí)施例中,所述數(shù)據(jù)傳輸單元包含USB接口、網(wǎng)絡(luò)接口、RS232接口以及這三種傳輸接口的控制芯片。
[0011]在本發(fā)明一實(shí)施例中,所述總線(xiàn)單元包含32位數(shù)據(jù)總線(xiàn)和控制FPGA。
[0012]在本發(fā)明一實(shí)施例中,所述主放大器實(shí)驗(yàn)?zāi)K包含極性轉(zhuǎn)換電路、微分電路、極零相消電路、三級(jí)無(wú)源積分電路和基線(xiàn)自動(dòng)恢復(fù)電路。
[0013]在本發(fā)明一實(shí)施例中,所述定時(shí)實(shí)驗(yàn)?zāi)K包含過(guò)閾定時(shí)電路、過(guò)零定時(shí)電路和恒比定時(shí)電路。
[0014]在本發(fā)明一實(shí)施例中,所述時(shí)數(shù)轉(zhuǎn)換實(shí)驗(yàn)?zāi)K采用TDC-GP2高精度時(shí)數(shù)轉(zhuǎn)換芯片。
[0015]本發(fā)明另一目的是提供一種上述核電子學(xué)實(shí)驗(yàn)儀器的實(shí)驗(yàn)方法,其特征在于:包括實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)方式和實(shí)驗(yàn)實(shí)施樣例;
所述的實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)方式包括如下:
基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn):通過(guò)測(cè)試單一子板實(shí)驗(yàn)?zāi)K的電路功能,掌握子板實(shí)驗(yàn)?zāi)K的電路原理、功能和主要性能指標(biāo);
綜合實(shí)驗(yàn):通過(guò)將多個(gè)子板實(shí)驗(yàn)?zāi)K組合在一起,搭建具有特定功能的測(cè)量系統(tǒng)并完成系統(tǒng)的主要性能指標(biāo)測(cè)試,掌握常用核信號(hào)測(cè)量系統(tǒng)的核電子學(xué)電路組成結(jié)構(gòu)和信號(hào)處理流程;
設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn):通過(guò)自主選擇實(shí)驗(yàn)課題,自主選擇子板實(shí)驗(yàn)?zāi)K搭建測(cè)量系統(tǒng),完成課題的實(shí)驗(yàn)測(cè)量;培養(yǎng)學(xué)生自主分析測(cè)量需求、選擇相應(yīng)核電子學(xué)電路搭建測(cè)量系統(tǒng),解決多種實(shí)際測(cè)量需求的能力;
所述實(shí)驗(yàn)實(shí)施樣例主要包括:
基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)包括前置放大器實(shí)驗(yàn)、主放大器實(shí)驗(yàn)、單道實(shí)驗(yàn)、多道實(shí)驗(yàn)、過(guò)零定時(shí)實(shí)驗(yàn)、符合反符合實(shí)驗(yàn)、計(jì)數(shù)器實(shí)驗(yàn)和堆積判棄實(shí)驗(yàn);
綜合實(shí)驗(yàn)包括搭建能譜測(cè)量系統(tǒng)、搭建時(shí)間測(cè)量系統(tǒng)和搭建符合反符合測(cè)量系統(tǒng);設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)包括137Cs放射源活度測(cè)量、6tlCo放射源γ能譜測(cè)量、中子活化半衰期測(cè)量、符合法測(cè)量22Na放射源活度。
【附圖說(shuō)明】
[0016]圖1為母板實(shí)驗(yàn)箱內(nèi)電路板的俯視圖。
[0017]圖2為圖1所示電路板的主視圖。
[0018]圖3為圖1所示電路板的仰視圖。
[0019]圖4為母板實(shí)驗(yàn)箱的俯視圖。
[0020]圖5為圖4所示母板實(shí)驗(yàn)箱的左視圖。
[0021 ]圖6為前置放大器實(shí)驗(yàn)?zāi)K結(jié)構(gòu)框圖。
[0022]圖7為前置放大器實(shí)驗(yàn)?zāi)K簡(jiǎn)化電路原理圖。
[0023]圖8為多道實(shí)驗(yàn)?zāi)K簡(jiǎn)化電路原理圖。
[0024]圖9為能譜測(cè)量系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖。
[0025]附圖用來(lái)提供對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步理解,并且構(gòu)成說(shuō)明書(shū)的一部分,與本發(fā)明的實(shí)施例一起用于解釋本發(fā)明,并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的限制。
【具體實(shí)施方式】
[0026]為使本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更為明顯易懂,下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】做詳細(xì)的說(shuō)明。
[0027]在以下描述中闡述了具體細(xì)節(jié)以便于充分理解本發(fā)明。但是本發(fā)明能夠以多種不同于在此描述的其它方式來(lái)實(shí)施,本領(lǐng)域技術(shù)人員可以在不違背本發(fā)明內(nèi)涵的情況下做類(lèi)似推廣。因此本發(fā)明不受下面公開(kāi)的【具體實(shí)施方式】的限制。
[0028]本發(fā)明實(shí)施例提供了一種核電子學(xué)實(shí)驗(yàn)教學(xué)儀器:包括一個(gè)母板實(shí)驗(yàn)箱和多個(gè)子板實(shí)驗(yàn)?zāi)K。母板實(shí)驗(yàn)箱包括供電單元和可擴(kuò)展實(shí)驗(yàn)平臺(tái);子板實(shí)驗(yàn)?zāi)K包括前置放大器實(shí)驗(yàn)?zāi)K、主放大器實(shí)驗(yàn)?zāi)K、單道實(shí)驗(yàn)?zāi)K、多道實(shí)驗(yàn)?zāi)K、定時(shí)實(shí)驗(yàn)?zāi)K、時(shí)數(shù)轉(zhuǎn)換實(shí)驗(yàn)?zāi)K、符合反符合實(shí)驗(yàn)?zāi)K、計(jì)數(shù)器實(shí)驗(yàn)?zāi)K、堆積判棄實(shí)驗(yàn)?zāi)K和數(shù)據(jù)傳輸實(shí)驗(yàn)?zāi)K。主放大器實(shí)驗(yàn)?zāi)K包含極性轉(zhuǎn)換電路、微分電路、極零相消電路、三級(jí)無(wú)源積分電路和基線(xiàn)自動(dòng)恢復(fù)電路;定時(shí)實(shí)驗(yàn)?zāi)K包含過(guò)閾定時(shí)電路、過(guò)零定時(shí)電路和恒比定時(shí)電路;時(shí)數(shù)轉(zhuǎn)換實(shí)驗(yàn)?zāi)K采用TDC-GP2高精度時(shí)數(shù)轉(zhuǎn)換芯片;供電單元主要包括220V轉(zhuǎn)_12V、_5V、+3.3V、+5V和+12V的開(kāi)關(guān)電源及控制開(kāi)關(guān);可擴(kuò)展實(shí)驗(yàn)平臺(tái)包括有:電源單元,包括保險(xiǎn)絲和LED燈。192X64 IXD液晶屏顯示單元。子板安裝接口單元,包括兩組(4個(gè))32位板對(duì)板連接器和6個(gè)64位板對(duì)板連接器。數(shù)據(jù)傳輸單元,包括USB接口、網(wǎng)絡(luò)接口和RS232接口以及這三種傳輸接口的控制芯片。總線(xiàn)單元,包括32位數(shù)據(jù)總線(xiàn)和控制FPGA。
[0029]供電單元,通過(guò)多層變壓、穩(wěn)壓、整流和濾波電路,把家用電轉(zhuǎn)化為可擴(kuò)展實(shí)驗(yàn)平臺(tái)所需要的-12V、-5V、+3.3V、+5V和+12V等多種形式電源,滿(mǎn)足多種實(shí)驗(yàn)條件要求。
[0030]可擴(kuò)展實(shí)驗(yàn)平臺(tái),包括一塊集成各單元安裝接口的電路板(I ),電路板(I)上安裝有保險(xiǎn)絲(2)和LED燈(3),電源通過(guò)保險(xiǎn)絲(2)和LED燈(3)引入電路板(I)。由于采用了描述電源狀態(tài)的LED燈(3),學(xué)生可以時(shí)刻知曉電路的電源供應(yīng)狀態(tài),避免因電源供應(yīng)不正常而影響實(shí)驗(yàn)正常完成。同時(shí)采用保險(xiǎn)絲(2),降低實(shí)驗(yàn)危險(xiǎn)性,保護(hù)學(xué)生安全。
[0031 ] 電路板(I)上同時(shí)安裝有液晶顯示屏(4 )、兩組(4個(gè))32位板對(duì)板連接器(5 )和6個(gè)64位板對(duì)板連接器(6)、32位數(shù)據(jù)總線(xiàn)(7)和控制FPGA。32位數(shù)據(jù)總線(xiàn)(7)通過(guò)PCB走線(xiàn)將兩組32位板對(duì)板連接器(5)和6個(gè)64位板對(duì)板連接器(6)串聯(lián)在一起,安裝在板對(duì)板連接器上的子板實(shí)驗(yàn)?zāi)K可通過(guò)32位數(shù)據(jù)總線(xiàn)(7)實(shí)現(xiàn)相互數(shù)據(jù)傳輸,同時(shí)控制FPGA控制32位數(shù)據(jù)總線(xiàn)(7)的數(shù)據(jù)傳輸并連接到液晶顯示屏(4)控制其顯示。子板實(shí)驗(yàn)?zāi)K的實(shí)驗(yàn)結(jié)果可通過(guò)液晶顯示屏(4)顯示,方便學(xué)生觀察,同時(shí)減少了一些不必要的實(shí)驗(yàn)操作。
[0032]電路板上還安裝有USB接口(8)、網(wǎng)絡(luò)接口(9)、RS232接口( 10)和這三種傳輸接口的控制芯片,控制FPGA連接到USB接口(8)、網(wǎng)絡(luò)接口(9)和RS232接口(10)的控制芯片,向其發(fā)送和從其接收數(shù)據(jù)。
[0033]母板實(shí)驗(yàn)箱包括箱體(11)和箱蓋(12)。箱蓋(12)蓋住箱體(11)時(shí)位于箱體(11)上表面,箱體(11)左側(cè)面開(kāi)有一固定形狀的通孔(13),用于放置控制開(kāi)關(guān),且控制開(kāi)關(guān)正面相對(duì)箱體(11)左側(cè)面朝外。開(kāi)關(guān)電源固定在實(shí)驗(yàn)箱內(nèi)(14)處,通過(guò)導(dǎo)線(xiàn)與控制開(kāi)關(guān)連接。箱內(nèi)有一與箱體(11)左側(cè)面平行的立板(15),箱體(11)上表面靠近后壁一側(cè)有一柔韌性好的金屬條(16),箱體(11)正面有一把手??蓴U(kuò)展實(shí)驗(yàn)平臺(tái)固定在箱體(11)上表面金屬條與立板、箱體后壁與箱體前壁之間,通過(guò)導(dǎo)線(xiàn)與開(kāi)關(guān)電源連接。
[0034]本發(fā)明實(shí)施例,可通過(guò)以下三種實(shí)驗(yàn)方法來(lái)充分體現(xiàn)該核電子學(xué)實(shí)驗(yàn)教學(xué)儀器的實(shí)驗(yàn)方法:基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)、綜合實(shí)驗(yàn)、設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)。具體設(shè)計(jì)的典型實(shí)驗(yàn)包括有:基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)包括前置放大器實(shí)驗(yàn)、主放大器實(shí)驗(yàn)、單道實(shí)驗(yàn)、多道實(shí)驗(yàn)、過(guò)零定時(shí)實(shí)驗(yàn)、符合反符合實(shí)驗(yàn)、計(jì)數(shù)器實(shí)驗(yàn)和堆積判棄實(shí)驗(yàn);綜合實(shí)驗(yàn)包括搭建能譜測(cè)量系統(tǒng)、搭建時(shí)間測(cè)量系統(tǒng)和搭建符合反符合測(cè)量系統(tǒng);設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)包括137Cs放射源活度測(cè)量、6tlCo放射源γ能譜測(cè)量、中子活化半衰期測(cè)量、符合法測(cè)量22Na放射源活度。
[0035]為使基于核電子學(xué)實(shí)驗(yàn)教學(xué)儀器的實(shí)驗(yàn)方法更通俗易懂,下面給出部分具體的典型實(shí)驗(yàn)的實(shí)驗(yàn)方法。
[0036]實(shí)驗(yàn)一:基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)-前置放大器實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)?zāi)康?1、掌握電荷靈敏前置放大器的功能和應(yīng)用;
2、了解電荷靈敏前置放大器的原理;
3、了解電荷靈敏前置放大器的性能指標(biāo)。
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