檢測電路、方法和像素電路的制作方法
【技術領域】
[0001 ] 本發(fā)明涉及顯示技術領域，特別涉及一種檢測電路、方法和像素電路。
【背景技術】
[0002]隨著顯示技術的發(fā)展，有機發(fā)光二極管(Organic Light-Emitting D1de，OLED)顯示裝置的應用越來越廣泛。OLED顯示裝置可包括多個像素和用于驅動像素的像素驅動電路，其中，每個像素均包括0LED，像素驅動電路可包薄膜晶體管(Thin Film Transistor，簡稱:TFT)和電容。
[0003]在OLED顯示裝置中，由于每個像素對應的TFT的閾值電壓Vth、迀移率、寄生電容和溝道寬度/長度等特定因素是不同的，因此OLED顯示裝置在顯示時會產生亮度不均勻的問題。為解決上述問題，可采用數(shù)據補償?shù)姆椒▽υ揙LED顯示裝置進行數(shù)據補償，例如:通過外部補償電路對OLED顯示裝置中的TFT進行數(shù)據補償。在對TFT進行數(shù)據補償之前，需要對OLED顯示裝置中的TFT的特性參數(shù)進行檢測。
[0004]但是，現(xiàn)有技術中僅存在能夠對TFT的工藝參數(shù)進行檢測的電路，還沒有一種既能夠對TFT的特性參數(shù)進行檢測又能夠對OLED的特性參數(shù)進行檢測的電路。
【發(fā)明內容】
[0005]本發(fā)明提供一種檢測電路、方法和像素電路，用于實現(xiàn)既可以檢測驅動模塊的特性參數(shù)又可以檢測發(fā)光器件的特性參數(shù)。
[0006]為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種檢測電路，包括:第一檢測模塊、第二檢測模塊、負載模塊、發(fā)光器件和驅動模塊，第一檢測模塊和驅動模塊以及負載模塊連接，第二檢測模塊和發(fā)光器件以及負載模塊連接。
[0007]可選地，所述第一檢測模塊包括:第一開關管、第二開關管、第三開關管和存儲電容，所述驅動模塊包括驅動管；
[0008]所述第一開關管的控制極連接至第一控制線，所述第一開關管的第一極連接至數(shù)據線和負載模塊，所述第一開關管的第二極連接至第三開關管的第二極和存儲電容的第一端；
[0009]所述第二開關管的控制極連接至第二控制線，所述第二開關管的第一極連接至基準電源，所述第二開關管的第二極連接至驅動管的控制極和存儲電容的第二端；
[0010]所述第三開關管的控制極連接至第三控制線，所述第三開關管的第一極連接至第一電源，所述第三開關管的第二極連接至驅動管的第一極和存儲電容的第一端；
[0011]所述驅動管的控制極連接至存儲電容的第二端，所述驅動管的第二極連接至發(fā)光器件的第一電極。
[0012]可選地，所述第二檢測模塊包括第四開關管，所述第四開關管的控制極連接至第四控制線，所述第四開關管的第一極連接至數(shù)據線和負載模塊的第一端，所述第四開關管的第二極連接至發(fā)光器件的第一電極。
[0013]可選地，所述發(fā)光器件的第二電極連接至第二電源。
[0014]可選地，所述負載模塊包括負載電容。
[0015]可選地，所述驅動模塊的特性參數(shù)包括閾值電壓或者電子迀移率；
[0016]所述負載模塊的特性參數(shù)包括閾值電壓或者電子迀移率。
[0017]為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種像素電路，包括上述檢測電路和像素補償電路；
[0018]所述像素補償電路用于根據所述驅動模塊的特性參數(shù)對所述驅動模塊進行補償以及根據所述發(fā)光器件的特性參數(shù)對發(fā)光器件進行補償。
[0019]為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種檢測方法，所述方法基于檢測電路，所述檢測電路包括:第一檢測模塊、第二檢測模塊、負載模塊、發(fā)光器件和驅動模塊，第一檢測模塊和驅動模塊以及所述負載模塊連接，第二檢測模塊和發(fā)光器件以及所述負載模塊連接；
[0020]所述方法包括:
[0021]在預充電階段，數(shù)據線向負載模塊提供預充電電壓；
[0022]在第一檢測階段，負載模塊通過第一檢測模塊和驅動模塊進行放電，以檢測出驅動模塊的特性參數(shù)；
[0023]在第二檢測階段，負載模塊通過第二檢測模塊和發(fā)光器件進行放電，以檢測出發(fā)光器件的特性參數(shù)。
[0024]可選地，所述第二檢測模塊包括第四開關管，所述第四開關管的控制極連接至第四控制線，所述第四開關管的第一極連接至數(shù)據線和負載模塊的第一端，所述第四開關管的第二極連接至發(fā)光器件的第一電極；
[0025]所述負載模塊通過第二檢測模塊和發(fā)光器件進行放電包括:
[0026]所述第四開關管開啟，負載模塊通過第四開關管和發(fā)光器件進行放電。
[0027]可選地，所述負載模塊包括負載電容。
[0028]可選地，所述驅動模塊包括驅動管。
[0029]本發(fā)明具有以下有益效果:
[0030]本發(fā)明提供的檢測電路、方法和像素電路的技術方案中，第一檢測模塊和驅動模塊以及負載模塊連接，第二檢測模塊和發(fā)光器件以及負載模塊連接，從而使得本發(fā)明既可以檢測驅動模塊的特性參數(shù)又可以檢測發(fā)光器件的特性參數(shù)。
【附圖說明】
[0031]圖1為本發(fā)明實施例一提供的一種檢測電路的結構示意圖；
[0032]圖2為本發(fā)明實施例二提供的一種檢測電路的結構示意圖；
[0033]圖3為實施例二中檢測電路處于預充電階段的等效電路圖；
[0034]圖4為實施例二中檢測電路處于第一檢測階段的等效電路圖；
[0035]圖5為實施例二中檢測電路處于第二檢測階段的等效電路圖。
【具體實施方式】
[0036]為使本領域的技術人員更好地理解本發(fā)明的技術方案，下面結合附圖對本發(fā)明提供的檢測電路、方法和像素電路進行詳細描述。
[0037]圖1為本發(fā)明實施例一提供的一種檢測電路的結構示意圖，如圖1所示，該檢測電路包括該檢測電路包括:第一檢測模塊11、第二檢測模塊12、負載模塊13、發(fā)光器件14和驅動模塊15，第一檢測模塊11和驅動模塊15以及負載模塊13連接，第二檢測模塊12和發(fā)光器件14以及負載模塊13連接。
[0038]在預充電階段，數(shù)據線DL向負載模塊13提供預充電電壓；在第一檢測階段，負載模塊13通過第一檢測模塊11和驅動模塊15進行放電，以檢測出驅動模塊15的特性參數(shù)；在第二檢測階段，負載模塊13通過第二檢測模塊12和發(fā)光器件14進行放電，以檢測出發(fā)光器件14的特性參數(shù)。
[0039]本實施例中，驅動模塊15的特性參數(shù)可包括閾值電壓或者電子迀移率等。則負載模塊13通過第一檢測模塊11、驅動模塊15和發(fā)光器件14進行放電，以供外部檢測電路檢測出驅動模塊15的特性參數(shù)。
[0040]本實施例中，負載模塊13的特性參數(shù)可包括閾值電壓或者電子迀移率等。則負載模塊13通過第二檢測模塊12和發(fā)光器件14進行放電，以供外部檢測電路檢測出發(fā)光器件14的特性參數(shù)。
[0041]本實施例提供的檢測電路中，第一檢測模塊和驅動模塊以及負載模塊連接，第二檢測模塊和發(fā)光器件以及負載模塊連接，驅動模塊和發(fā)光器件連接，從而使得本實施例既可以檢測驅動模塊的特性參數(shù)又可以檢測發(fā)光器件的特性參數(shù)。本實施例中采用數(shù)據線作為檢測線，將數(shù)據線和檢測線的功能合并，無需再單獨設置檢測線，從而降低了電路復雜度和制造成本。
[0042]圖2為本發(fā)明實施例二提供的一種檢測電路的結構示意圖，如圖2所示，該檢測電路包括:第一檢測模塊11、第二檢測模塊12、負載模塊13、發(fā)光器件14和驅動模塊15，第一檢測模塊11和驅動模塊15以及負載模塊13連接，第二檢測模塊12和發(fā)光器件14以及負載模塊13連接。在預充電階段，數(shù)據線DL向負載模塊13提供預充電電壓；在第一檢測階段，負載模塊13通過第一檢測模塊11和驅動模塊15進行放電，以檢測出驅動模塊15的特性參數(shù)；在第二檢測階段，負載模塊13通過第二檢測模塊12和發(fā)光器件14進行放電，以檢測出發(fā)光器件14的特性參數(shù)。
[0043]進一步地，驅動模塊15還和發(fā)光器件14連接。
[0044]本實施例中，驅動模塊15的特性參數(shù)可包括閾值電壓或者電子迀移率等。則驅動模塊15通過第一檢測模塊11、驅動模塊15和發(fā)光器件14進行放電，以供外部檢測電路檢測出驅動模塊15的特性參數(shù)。
[0045]本實施例中，負載模塊13的特性參數(shù)可包括閾值電壓或者電子迀移率等。則負載模塊13通過第二檢測模塊12和發(fā)光器件14進行放電，以供外部檢測電路檢測出發(fā)光器件14的特性參數(shù)。
[0046]本實施例中，第一檢測模塊11包括:第一開關管Tl、第二開關管T2、第三開關管T3和存儲電容Cst，所述驅動模塊15包括驅動管DrT。第一開關管Tl的控制極連接至第一控制線G1，第一開關管Tl的第一極連接至數(shù)據線DL和負載模塊13，第一開關管Tl的第二極連接至第三開關管T3的第二極和存儲電容Cst的第一端；第二開關管T2的控制極連接至第二控制線G2，第二開關管T2的第一極連接至基準電源Ref，第二開關管T2的第二極連接至驅動管DrT的控制極和存儲電容Cst的第二端；第三開關管T3的控制極連接至第三控制線G3，第三開關管T3的第一極連接至第一電源Vdd，第三開關管T3的第二極連接至驅動管DrT的第一極和存儲電容Cst的第一端；驅動管DrT的控制極連接至存儲電容Cst的第二端，驅動管DrT的第二極連接至發(fā)光器件14的第一電極。
[0047]本實施例中，第二檢測模塊12包括第四開關管T4，第四開關管T4的控制極連接至第四控制線G4，第四開關管T4的第一極連接至數(shù)據線DL和負載模塊13的第一端，第四開關管T4的第二極連接至發(fā)光器件14的第一電極。在預充電階段，第四開關管T4關閉；在第一檢測階段，第四開關管T4關閉；在第二檢測階段，第四開關管T4開啟，負載模塊14通過第四開關管T4和發(fā)光器件14進行放電，以檢測出發(fā)光器件14的特性參數(shù)。
[0048]本實施例中，發(fā)光器件14的第二電極連接至第二電源Vss。例如:第一電極為陽極，第二電極為陰極。
[0049]本實施例中，負載模塊13的第二端接地或者連接至電壓電源線，該電壓電源線為一穩(wěn)定電壓電源線。負載模塊13包括負載電容Cload。
[0050]本實施例中，發(fā)光器件14包括OLED ;第一開關管Tl、第一開關管T2、第三開關管T3、第四開關管T4和驅動管DrT均為TFT。本實施例中，優(yōu)選地，驅動管DrT為P型TFT。
[0051]下面通過圖3至圖5對本實施例提供的檢測電路的工作原理進行詳細描述。<