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一種顯示面板的像素電流補償方法和系統(tǒng)的制作方法

文檔序號:9548394閱讀:420來源:國知局
一種顯示面板的像素電流補償方法和系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明實施例涉及顯示技術(shù),尤其涉及一種顯示面板的像素電流補償方法和系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]顯示面板中的發(fā)光體,尤其是用于低溫多晶硅薄膜晶體管液晶顯示器(LTPS-TFT)的有源矩陣有機發(fā)光二極體(AM0LED),在制造過程中通常會因為多晶硅結(jié)晶化不均導(dǎo)致閾值電壓漂移,使得AM0LED顯示不均,相應(yīng)的也導(dǎo)致顯示面板顯示不均。
[0003]為了改善AM0LED顯示不均的情況,現(xiàn)有技術(shù)中通常使用內(nèi)部補償和外部補償?shù)姆椒ㄟM行顯示補償。內(nèi)部補償方法是指使用有閾值電壓補償功能的像素電路消除閾值電壓漂移的影響,外部補償方法包括外部光學(xué)補償和外部電流補償,外部光學(xué)補償是通過采集信號的方式使用電荷耦合元件(CCD)采集圖像實現(xiàn)補償功能,外部電流補償是通過采集子像素電流實現(xiàn)補償功能的方法。由于采用內(nèi)部補償方法并不能完全改善AM0LED的顯示不均,因此在顯示面板的制程完全結(jié)束后通常還需要使用外部補償方法進行補償。
[0004]現(xiàn)有技術(shù)中多選用電流補償技術(shù)進行外部補償,當前主要有三種電流補償技術(shù)。其中一種電流補償技術(shù)需要在顯示面板中增加專用補償電路才能測試子像素的電流以進行后續(xù)補償。另一種電流補償技術(shù)測試的子像素電流與子像素真實工作時的電流不一致,會造成電流補償不準確,降低電流補償?shù)挠行?。還有一種電流補償技術(shù)在測試當前列子像素的電流時,需要關(guān)閉其他列子像素的電源線,因此需要給每一列子像素均設(shè)計獨立的開關(guān),補償方式繁瑣。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明實施例提供一種顯示面板的像素電流補償方法和系統(tǒng),以解決現(xiàn)有技術(shù)中需要增加專用補償電路補償、補償有效性差、補償過程繁瑣的缺陷。
[0006]第一方面,本發(fā)明實施例提供了一種顯示面板的像素電流補償方法,包括:
[0007]測試所述顯示面板上的子像素在第i灰階的實際電流值,其中,i = 0,1,2,…,η-1,η為灰階等級值;
[0008]將所述子像素在第i灰階的實際電流值調(diào)整為預(yù)設(shè)的該子像素第i灰階的目標電流值,并記錄所述子像素處于第i灰階對應(yīng)的目標電流值時的目標灰階值;
[0009]根據(jù)每一個所述子像素在各目標電流值時的目標灰階值的數(shù)據(jù)分布表,對至少一個待補償顯示面板的子像素進行電流補償。
[0010]第二方面,本發(fā)明實施例還提供了一種顯示面板的像素電流補償系統(tǒng),包括:
[0011]電流測試模塊,用于測試所述顯示面板上的子像素在第i灰階的實際電流值,其中,i = 0,l,2,…,η-1,η為灰階等級值;
[0012]電流調(diào)整模塊,用于將所述子像素在第i灰階的實際電流值調(diào)整為預(yù)設(shè)的該子像素第i灰階的目標電流值,并記錄所述子像素處于第i灰階對應(yīng)的目標電流值時的目標灰階值;
[0013]電流補償模塊,用于根據(jù)每一個所述子像素在各目標電流值時的目標灰階值的數(shù)據(jù)分布表,對至少一個待補償顯示面板的子像素進行電流補償。
[0014]本發(fā)明實施例提供的一種顯示面板的像素電流補償方法和系統(tǒng),通過將測試得到的子像素在第i灰階的實際電流值調(diào)整為預(yù)設(shè)的該子像素第i灰階的目標電流值,并記錄子像素在第i灰階對應(yīng)的目標電流值時的目標灰階值,根據(jù)每一個子像素分別處于η個不同灰階對應(yīng)的各目標電流值時的目標灰階值分布,組成顯示面板的數(shù)據(jù)分布表,通過數(shù)據(jù)分布表對其他顯示面板的任意一個子像素進行電流補償。該技術(shù)方案可使得整個顯示面板的電流均勻分布,與現(xiàn)有技術(shù)相比,不需要增加專用補償電路,且補償效果好、補償過程簡單,在長時間工作時不會因為電流分布不均導(dǎo)致新的顯示不均。
【附圖說明】
[0015]為了更清楚地說明本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案,下面將對實施例描述中所需要使用的附圖做一簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖是本發(fā)明的一些實施例,對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0016]圖1是本發(fā)明一個實施例提供的顯示面板的像素電流補償方法的流程圖;
[0017]圖2是本發(fā)明一個實施例提供的顯示面板的像素電流補償方法的流程圖;
[0018]圖3Α是本發(fā)明一個實施例提供的顯示面板的像素電流補償系統(tǒng)的示意圖;
[0019]圖3Β是本發(fā)明一個實施例提供的另一種顯示面板的像素電流補償系統(tǒng)的示意圖。
【具體實施方式】
[0020]為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚,以下將參照本發(fā)明實施例中的附圖,通過實施方式清楚、完整地描述本發(fā)明的技術(shù)方案,顯然,所描述的實施例是本發(fā)明一部分實施例,而不是全部的實施例?;诒景l(fā)明中的實施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例,都屬于本發(fā)明保護的范圍。
[0021]如圖1所示,為本發(fā)明一個實施例提供的顯示面板的像素電流補償方法的流程圖。本實施例的技術(shù)方案適用于顯示面板顯示不均的情況,該顯示面板的像素電流補償方法可通過顯示面板像素電流補償系統(tǒng)執(zhí)行。
[0022]本實施例提供的一種顯示面板的像素電流補償方法,包括如下步驟:
[0023]S110、測試顯示面板上的子像素在第i灰階的實際電流值,其中,i = 0,1,2,…,η-1, η為灰階等級值。
[0024]如上所述,子像素為顯示面板上的任意一個子像素。測試過程為:調(diào)整該子像素的灰階值為i = 0,測試得到該子像素在第0灰階的實際電流值;再次調(diào)整該子像素的灰階值為i = 1,測試得到該子像素在第1灰階的實際電流值;以此類推,可測試得到該子像素在η個不同灰階的各實際電流值。本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解,子像素不同灰階的實際電流值的測試順序可自行調(diào)整。
[0025]需要說明的是,可選灰階等級值η為η = 2Μ,其中,Μ為大于或等于3的正整數(shù),本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解,通常的灰階等級值η優(yōu)選為256。
[0026]上述操作中,已得到顯示面板上的其中一個子像素在η個不同灰階的各實際電流值,根據(jù)上述操作對顯示面板上的每一個子像素進行測試,則可得到顯示面板上每一個子像素在η個不同灰階的各實際電流值。
[0027]S120、將子像素在第i灰階的實際電流值調(diào)整為預(yù)設(shè)的該子像素第i灰階的目標電流值,并記錄子像素處于第i灰階對應(yīng)的目標電流值時的目標灰階值。
[0028]如上所述,顯示面板的子像素分別為R、G、B,顯示面板上的全部R子像素在相同灰階時的目標電流值應(yīng)相同,因此根據(jù)顯示面板的特性,預(yù)設(shè)顯示面板上的R子像素在每一個灰階對應(yīng)的目標電流值,同理設(shè)置G子像素在每一個灰階對應(yīng)的目標電流值、設(shè)置B子像素在每一個灰階對應(yīng)的目標電流值。需要說明的是,同一灰階時R子像素、G子像素和B子像素對應(yīng)的目標電流值可能不同,如第2灰階時全部R子像素的目標電流值為83 μ A、全部G子像素的目標電流值為79 μ Α、全部Β子像素的目標電流值為86 μ Α。上述操作中子像素是指其中一個R子像素或一個G子像素或一個Β子像素。
[0029]已知子像素在第i灰階的實際電流值和目標電流值,則將該子像素在第i灰階的實際電流值調(diào)整為對應(yīng)的目標電流值,此時該子像素的灰階值可能隨著電流值的變化而發(fā)
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