檢測(cè)及校正裝置的制造方法
【專(zhuān)利摘要】本發(fā)明公開(kāi)了一種檢測(cè)及校正裝置，其用以檢測(cè)多條發(fā)光二極管串，該些發(fā)光二極管串的一端用以接收輸入電壓。上述檢測(cè)及校正裝置包含上拉單元、檢測(cè)單元及校正單元。上拉單元用以可切換地耦接于該些發(fā)光二極管串。檢測(cè)單元用以檢測(cè)該些發(fā)光二極管串的反饋電壓，根據(jù)該些反饋電壓以輸出控制信號(hào)。校正單元用以接收控制信號(hào)以控制上拉單元，俾使上拉單元進(jìn)行切換以耦接于特定發(fā)光二極管串，并上拉特定發(fā)光二極管串的另一端的電壓。
【專(zhuān)利說(shuō)明】
檢測(cè)及校正裝置
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明有關(guān)于一種基本電子電路，且特別是有關(guān)于一種檢測(cè)及校正裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]傳統(tǒng)的顯示裝置的發(fā)光二極管驅(qū)動(dòng)器會(huì)檢測(cè)發(fā)光二極管串的狀態(tài)，若發(fā)光二極管串產(chǎn)生短路或開(kāi)路等異常情形，驅(qū)動(dòng)器會(huì)相應(yīng)地關(guān)閉異常發(fā)光二極管串，以避免增加整體功耗及產(chǎn)生額外的熱量。然而，若關(guān)閉顯示裝置中的異常發(fā)光二極管串，將使得顯示裝置的畫(huà)面亮度不均勻，影響使用者的觀感。
[0003]由此可見(jiàn)，上述現(xiàn)有的方式，顯然仍存在不便與缺陷，而有待改進(jìn)。為了解決上述問(wèn)題，相關(guān)領(lǐng)域莫不費(fèi)盡心思來(lái)謀求解決之道，但長(zhǎng)久以來(lái)仍未發(fā)展出適當(dāng)?shù)慕鉀Q方案。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]
【發(fā)明內(nèi)容】
旨在提供本
【發(fā)明內(nèi)容】
的簡(jiǎn)化摘要，以使閱讀者對(duì)本
【發(fā)明內(nèi)容】
具備基本的理解。此
【發(fā)明內(nèi)容】
并非本
【發(fā)明內(nèi)容】
的完整概述，且其用意并非在指出本發(fā)明實(shí)施例的重要/關(guān)鍵元件或界定本發(fā)明的范圍。
[0005]為解決現(xiàn)有技術(shù)的問(wèn)題，本
【發(fā)明內(nèi)容】
的一技術(shù)態(tài)樣關(guān)于一種檢測(cè)及校正裝置，此檢測(cè)及校正裝置用以檢測(cè)多條發(fā)光二極管串，該些發(fā)光二極管串的一端用以接收輸入電壓。上述檢測(cè)及校正裝置包含上拉單元、檢測(cè)單元及校正單元。上拉單元用以可切換地耦接于該些發(fā)光二極管串。檢測(cè)單元用以檢測(cè)該些發(fā)光二極管串的反饋電壓，根據(jù)該些反饋電壓以輸出控制信號(hào)。校正單元用以接收控制信號(hào)以控制上拉單元，俾使上拉單元進(jìn)行切換以耦接于特定發(fā)光二極管串，并上拉特定發(fā)光二極管串的另一端的電壓。
[0006]因此，根據(jù)本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容，本發(fā)明實(shí)施例藉由提供一種檢測(cè)及校正裝置，藉以改善異常發(fā)光二極管串被關(guān)閉后，顯示裝置的畫(huà)面亮度不均勻而影響使用者的觀感的問(wèn)題。
[0007]在參閱下文實(shí)施方式后，本發(fā)明所屬技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員當(dāng)可輕易了解本發(fā)明的基本精神及其他發(fā)明目的，以及本發(fā)明所采用的技術(shù)手段與實(shí)施態(tài)樣。
【附圖說(shuō)明】
[0008]為讓本發(fā)明的上述和其他目的、特征、優(yōu)點(diǎn)與實(shí)施例能更明顯易懂，【附圖說(shuō)明】如下:
[0009]圖1為依照本發(fā)明一實(shí)施例繪示一種檢測(cè)及校正裝置與其所控制的發(fā)光二極管串的示意圖。
[0010]圖2為依照本發(fā)明另一實(shí)施例繪示一種如圖1所示的檢測(cè)及校正裝置的部分電路示意圖。
[0011]圖3為依照本發(fā)明再一實(shí)施例繪示一種如圖1所示的檢測(cè)及校正裝置的部分電路示意圖。
[0012]圖4為依照本發(fā)明又一實(shí)施例繪示一種如圖1所示的檢測(cè)及校正裝置的部分電路示意圖。
[0013]圖5為依照本發(fā)明另一實(shí)施例繪示一種如圖1所示的檢測(cè)及校正裝置的部分電路示意圖。
[0014]圖6為依照本發(fā)明一實(shí)施例繪示一種檢測(cè)及校正裝置與其所控制的發(fā)光二極管串的示意圖。
[0015]圖7為依照本發(fā)明另一實(shí)施例繪示一種如圖6所示的檢測(cè)及校正裝置的部分電路示意圖。
[0016]根據(jù)慣常的作業(yè)方式，圖中各種特征與元件并未依比例繪制，其繪制方式是為了以最佳的方式呈現(xiàn)與本發(fā)明相關(guān)的具體特征與元件。此外，在不同附圖間，以相同或相似的元件符號(hào)來(lái)指稱(chēng)相似的元件/部件。
[0017]其中，附圖標(biāo)記:
[0018]100:檢測(cè)及校正裝置
[0019]110:上拉單元
[0020]120:檢測(cè)單元
[0021]122:反饋電壓檢測(cè)器
[0022]124:開(kāi)路檢測(cè)器
[0023]126:短路檢測(cè)器
[0024]128:判斷器
[0025]130:校正單元
[0026]131:電流導(dǎo)引器
[0027]136:亮度調(diào)整器
[0028]138:異常控制器
[0029]180:集成電路總線(xiàn)接口
[0030]112:導(dǎo)引模塊
[0031]125:多工器
[0032]127A ?127C:比較器
[0033]132:邏輯判斷器
[0034]133:開(kāi)路電流導(dǎo)引器
[0035]134:解多工器
【具體實(shí)施方式】
[0036]為了使本
【發(fā)明內(nèi)容】
的敘述更加詳盡與完備，下文針對(duì)了本發(fā)明的實(shí)施態(tài)樣與具體實(shí)施例提出了說(shuō)明性的描述;但這并非實(shí)施或運(yùn)用本發(fā)明具體實(shí)施例的唯一形式。實(shí)施方式中涵蓋了多個(gè)具體實(shí)施例的特征以及用以建構(gòu)與操作這些具體實(shí)施例的方法步驟與其順序。然而，亦可利用其他具體實(shí)施例來(lái)達(dá)成相同或均等的功能與步驟順序。
[0037]除非本說(shuō)明書(shū)另有定義，此處所用的科學(xué)與技術(shù)詞匯的含義與本發(fā)明所屬技術(shù)領(lǐng)域中的技術(shù)人員所理解與慣用的意義相同。此外，在不和上下文沖突的情形下，本說(shuō)明書(shū)所用的單數(shù)名詞涵蓋該名詞的復(fù)數(shù)型;而所用的復(fù)數(shù)名詞時(shí)亦涵蓋該名詞的單數(shù)型。
[0038]另外，關(guān)于本文中所使用的“耦接”，可指二或多個(gè)元件相互直接作實(shí)體或電性接觸，或是相互間接作實(shí)體或電性接觸，亦可指二或多個(gè)元件相互操作或動(dòng)作。
[0039]圖1為依照本發(fā)明一實(shí)施例繪示一種檢測(cè)及校正裝置與其所控制的發(fā)光二極管串的示意圖。請(qǐng)參閱圖1，檢測(cè)及校正裝置100用以檢測(cè)多條發(fā)光二極管串LI?Ln，發(fā)光二極管串LI?Ln的一端用以接收輸入電壓，如發(fā)光二極管串LI的上端用以接收輸入電壓。
[0040]上述檢測(cè)及校正裝置100包含上拉單元110、檢測(cè)單元120及校正單元130。于連接關(guān)系上，檢測(cè)單元120親接于校正單元130，校正單元130親接于上拉單元110，上拉單元110用以可切換地耦接于發(fā)光二極管串LI?Ln。于電性操作上，發(fā)光二極管串LI?Ln的一端用以透過(guò)升壓器而接收輸入電壓Vinb。檢測(cè)單元120用以檢測(cè)發(fā)光二極管串LI?Ln的反饋電壓Vcs，并根據(jù)該些反饋電壓Vcs以輸出控制信號(hào)Scon。校正單元130用以接收控制信號(hào)Scon以控制上拉單元110，俾使上拉單元110進(jìn)行切換以耦接于特定發(fā)光二極管串，并上拉特定發(fā)光二極管串的另一端的電壓。
[0041]為利于理解本案的檢測(cè)及校正裝置100的操作方式，請(qǐng)一并參閱圖1與圖2，圖2為依照本發(fā)明另一實(shí)施例繪示一種如圖1所示的檢測(cè)及校正裝置的部分電路示意圖，如上拉單元110與發(fā)光二極管串L2的連接關(guān)系示意圖。若發(fā)光二極管串L2出現(xiàn)短路或開(kāi)路等異常情形，則檢測(cè)單元120會(huì)檢測(cè)出發(fā)光二極管串L2的反饋電壓Vcs異常，并根據(jù)異常的反饋電壓Vcs以輸出控制信號(hào)Scon，隨后，校正單元130接收控制信號(hào)Scon以控制上拉單元110，使得上拉單元110的導(dǎo)引模塊112將發(fā)光二極管串L2的電流12導(dǎo)引至低電壓負(fù)載RL，而能減少低電壓負(fù)載RL的輸入電流。需說(shuō)明的是，為便于理解，低電壓負(fù)載于此處以等效電阻RL加以表示，并非低電壓負(fù)載為電阻。此外，上拉單元110會(huì)提供電壓Vin給發(fā)光二極管串L2，以上拉發(fā)光二極管串L2下端的電壓，藉以降低發(fā)光二極管串L2兩端的跨壓，因而避免增加整體功耗及產(chǎn)生額外的熱量。
[0042]圖3為依照本發(fā)明再一實(shí)施例繪示一種如圖1所示的檢測(cè)及校正裝置的部分電路示意圖。如圖所示，檢測(cè)單元120包含短路檢測(cè)器126及判斷器128，校正單元130包含電流導(dǎo)引器131、亮度調(diào)整器136及異?？刂破?38。于連接關(guān)系上，短路檢測(cè)器126耦接于判斷器128，電流導(dǎo)引器131耦接于短路檢測(cè)器126及判斷器128，亮度調(diào)整器136耦接于短路檢測(cè)器126及集成電路總線(xiàn)接口 180。異?？刂破?38耦接于判斷器128。
[0043]于電性操作上，短路檢測(cè)器126用以檢測(cè)并比較該些反饋電壓Vcsn與短路參考電壓，以輸出檢測(cè)信號(hào)Sd。判斷器128用以根據(jù)檢測(cè)信號(hào)Sd以輸出控制信號(hào)Scon。此外，校正單元130的電流導(dǎo)引器131用以根據(jù)控制信號(hào)Scon以輸出導(dǎo)引信號(hào)Sr(包含圖1中的信號(hào)Srl、Sr2)來(lái)控制圖1、2的上拉單元110，使得上拉單元110將特定發(fā)光二極管串的電流導(dǎo)引至低電壓負(fù)載RL。亮度調(diào)整器136用以根據(jù)檢測(cè)信號(hào)Sd與集成電路總線(xiàn)接口 180傳送來(lái)的設(shè)定值Ds以調(diào)整短路與非短路的發(fā)光二極管串的電流而控制亮度。異?？刂破?38用以接收并根據(jù)控制信號(hào)Scon以輸出錯(cuò)誤信號(hào)Sf，俾使檢測(cè)及校正裝置100持續(xù)控制該些發(fā)光二極管串LI ?Ln0
[0044]圖4為依照本發(fā)明又一實(shí)施例繪示一種如圖1所示的檢測(cè)及校正裝置的部分電路示意圖。如圖所示，判斷器128包含多工器125及多個(gè)比較器127A?127C。多工器125耦接于比較器127B、127C。多工器125用以接收檢測(cè)信號(hào)Sd與反饋電壓Vcsn，并根據(jù)檢測(cè)信號(hào)Sd以輸出反饋電壓Vcsn的一特定電壓Vs。比較器127A?127C用以接收并比較特定電壓Vs、輸入電壓Vin/Reuse間的關(guān)系，以輸出控制信號(hào)Scon(如信號(hào)A、B、C)，供后續(xù)電路進(jìn)行比較判斷。在一實(shí)施例中，多工器125用以接收檢測(cè)信號(hào)Sd與反饋電壓Vcsn并據(jù)以輸出特定電壓Vs作為信號(hào)D，供異?？刂浦?。上述信號(hào)D會(huì)提供給錯(cuò)誤控制單元(圖中未示)，此錯(cuò)誤控制單元收到信號(hào)D時(shí)，會(huì)持續(xù)輸出錯(cuò)誤信號(hào)給系統(tǒng)端，如此一來(lái)，維修人員可透過(guò)系統(tǒng)端讀取得知發(fā)光二極管串LI?Ln發(fā)生故障。
[0045]圖5為依照本發(fā)明另一實(shí)施例繪示一種如圖1所示的檢測(cè)及校正裝置的部分電路示意圖。如圖所示，校正單元130包含邏輯判斷器132及解多工器134。邏輯判斷器132耦接于解多工器134。邏輯判斷器132用以接收并根據(jù)控制信號(hào)Scon(如信號(hào)A、B、C)以輸出切換信號(hào)Swl、Sw2。解多工器134用以接收并根據(jù)切換信號(hào)Swl、Sw2以切換圖1的上拉單元110耦接于特定發(fā)光二極管串。
[0046]舉例而言，請(qǐng)一并參閱圖4與圖5，若發(fā)光二極管串L2出現(xiàn)短路或開(kāi)路等異常情形，多工器125根據(jù)檢測(cè)信號(hào)Sd以輸出發(fā)光二極管串LI?Ln的反饋電壓Vcsn中的特定電壓Vs(如Vcs2)。比較器127A用以接收并比較輸入電壓Vin/Reuse，此外，比較器127B、127C用以接收并比較特定電壓Vs(如Vcs2)與輸入電壓Vin/Reuse，以輸出控制信號(hào)Scon(如信號(hào)A、B、C)。隨后，邏輯判斷器132用以接收并根據(jù)控制信號(hào)Scon(如信號(hào)A、B、C)以輸出切換信號(hào)Swl、Sw2。解多工器134用以接收并根據(jù)切換信號(hào)Swl、Sw2以輸出調(diào)整信號(hào)Srl、Sr2至圖1的上拉單元110，而切換圖1的上拉單元110以親接于特定發(fā)光二極管串。
[0047]圖6為依照本發(fā)明一實(shí)施例繪示一種檢測(cè)及校正裝置與其所控制的發(fā)光二極管串的示意圖。相較于圖1所示的檢測(cè)及校正裝置100，圖6所示的檢測(cè)及校正裝置100A更包含開(kāi)關(guān)單元140。舉例而言，若發(fā)光二極管串L2出現(xiàn)開(kāi)路異常情形，則檢測(cè)單元120的開(kāi)路檢測(cè)器124會(huì)檢測(cè)出發(fā)光二極管串L2的反饋電壓Vcs異常，并根據(jù)異常的反饋電壓Vcs以輸出控制信號(hào)Scon，隨后，校正單元130接收控制信號(hào)Scon以控制開(kāi)關(guān)單元140以將發(fā)光二極管串L2的電流導(dǎo)引至低電壓負(fù)載，俾使開(kāi)路異常的發(fā)光二極管串L2有新的電流路徑可以流通，而不需關(guān)閉發(fā)光二極管串L2，不會(huì)造成顯示裝置的畫(huà)面亮度不均勻。
[0048]舉例而言，若發(fā)光二極管串L2的二極管L27損壞導(dǎo)致開(kāi)路，原本可透過(guò)二極管L27直接朝二極管L28流通的電流路徑已不存在，此時(shí)可控制開(kāi)啟開(kāi)關(guān)SW23，以繞過(guò)二極管L27，將發(fā)光二極管串L2的電流直接由二極管L26導(dǎo)引至低電壓負(fù)載。在另一實(shí)施例中，若發(fā)光二極管串L2的二極管L21損壞導(dǎo)致開(kāi)路，原本可透過(guò)二極管L21直接朝二極管L22流通的電流路徑已不存在，此時(shí)可控制開(kāi)啟開(kāi)關(guān)SW21、SW22，由電源VLED朝二極管L23供電，此時(shí)，電流由二極管L23朝二極管L24流動(dòng)并流經(jīng)開(kāi)關(guān)SW22，以將發(fā)光二極管串L2的電流導(dǎo)引至低電壓負(fù)載。于再一實(shí)施例中，開(kāi)關(guān)單元140還包含其它開(kāi)關(guān)SW24、SW25，以于發(fā)光二極管串L2的不同的二極管損壞導(dǎo)致開(kāi)路時(shí)，重新導(dǎo)引電流路徑，俾使開(kāi)路異常的發(fā)光二極管串L2有新的電流路徑可以流通，而不需關(guān)閉發(fā)光二極管串L2，不會(huì)造成顯示裝置的畫(huà)面亮度不均勻。然本發(fā)明不以圖6所示的開(kāi)關(guān)的配置方式為限，其僅用以例示性地說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)現(xiàn)方式之
O
[0049]圖7為依照本發(fā)明另一實(shí)施例繪示一種如圖6所示的檢測(cè)及校正裝置的部分電路示意圖。請(qǐng)參閱圖7，檢測(cè)單元120包含開(kāi)路檢測(cè)器124、短路檢測(cè)器126及判斷器128。校正單元130包含短路電流導(dǎo)引器131、開(kāi)路電流導(dǎo)引器133、亮度調(diào)整器136及異?？刂破?38。于連接關(guān)系上，開(kāi)路檢測(cè)器124及短路檢測(cè)器126皆耦接于判斷器128，短路電流導(dǎo)引器131耦接于短路檢測(cè)器126及判斷器128，開(kāi)路電流導(dǎo)引器133耦接于開(kāi)路檢測(cè)器124，亮度調(diào)整器136耦接于短路檢測(cè)器126及集成電路總線(xiàn)接口 180。異?？刂破?38耦接于開(kāi)路檢測(cè)器124及判斷器128。
[0050]于電性操作上，請(qǐng)一并參閱圖6與圖7，開(kāi)路檢測(cè)器124用以檢測(cè)并比較該些反饋電壓Vcsn與開(kāi)路參考電壓，以輸出檢測(cè)信號(hào)Sdl。開(kāi)關(guān)單元140用以可切換地耦接于該些發(fā)光二極管串LI?Ln。此外，校正單元130的開(kāi)路電流導(dǎo)引器133接收并根據(jù)檢測(cè)信號(hào)Sdl，以輸出控制信號(hào)Srl以控制開(kāi)關(guān)單元140以將特定發(fā)光二極管串的電流導(dǎo)引至低電壓負(fù)載。在一實(shí)施例中，上述短路參考電壓的電壓值高于開(kāi)路參考電壓的電壓值。需說(shuō)明的是，圖6與圖7中，與前述實(shí)施例具備相同名稱(chēng)與標(biāo)號(hào)的元件，具有類(lèi)似的電性操作，為使本案說(shuō)明書(shū)簡(jiǎn)潔，于此不作贅述。
[0051]由上述本發(fā)明實(shí)施方式可知，應(yīng)用本發(fā)明具有下列優(yōu)點(diǎn)。本發(fā)明實(shí)施例藉由提供一種檢測(cè)及校正裝置，藉以改善異常發(fā)光二極管串被關(guān)閉后，顯示裝置的畫(huà)面亮度不均勻而影響使用者的觀感的問(wèn)題。
[0052]雖然上文實(shí)施方式中公開(kāi)了本發(fā)明的具體實(shí)施例，但其并非用以限定本發(fā)明，本發(fā)明所屬技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員，在不悖離本發(fā)明的原理與精神的情形下，當(dāng)可對(duì)其進(jìn)行各種更動(dòng)與修改，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)以附隨權(quán)利要求書(shū)所界定者為準(zhǔn)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種檢測(cè)及校正裝置，用以檢測(cè)多條發(fā)光二極管串，其特征在于，該些發(fā)光二極管串的一端用以接收一輸入電壓，包含: 一上拉單元，用以可切換地耦接于該些發(fā)光二極管串； 一檢測(cè)單元，用以檢測(cè)該些發(fā)光二極管串的反饋電壓，根據(jù)該些反饋電壓以輸出一控制信號(hào)；以及 一校正單元，用以接收該控制信號(hào)以控制該上拉單元，俾使該上拉單元進(jìn)行切換以耦接于一特定發(fā)光二極管串，并上拉該特定發(fā)光二極管串的另一端的電壓。2.如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)及校正裝置，其特征在于，該上拉單元還用以將該特定發(fā)光二極管串的電流導(dǎo)引至一低電壓負(fù)載。3.如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)及校正裝置，其特征在于，該檢測(cè)單元包含: 一短路檢測(cè)器，用以檢測(cè)并比較該些反饋電壓與一短路參考電壓，以輸出一檢測(cè)信號(hào)；以及 一判斷器，用以根據(jù)該檢測(cè)信號(hào)以輸出該控制信號(hào)。4.如權(quán)利要求3所述的檢測(cè)及校正裝置，其特征在于，該判斷器包含: 一多工器，用以接收該檢測(cè)信號(hào)與該些反饋電壓，并根據(jù)該檢測(cè)信號(hào)以輸出該些反饋電壓的一特定電壓；以及 多個(gè)比較器，用以接收并比較該特定電壓與一輸入電壓，以輸出該控制信號(hào)。5.如權(quán)利要求4所述的檢測(cè)及校正裝置，其特征在于，該校正單元包含: 一邏輯判斷器，用以接收并根據(jù)該控制信號(hào)以輸出一切換信號(hào)；以及 一解多工器，用以接收并根據(jù)該切換信號(hào)以切換該上拉單元，使該上拉單元耦接于該特定發(fā)光二極管串。6.如權(quán)利要求5所述的檢測(cè)及校正裝置，其特征在于，該檢測(cè)單元包含: 一開(kāi)路檢測(cè)器，用以檢測(cè)并比較該些反饋電壓與一開(kāi)路參考電壓，以輸出該控制信號(hào)。7.如權(quán)利要求6所述的檢測(cè)及校正裝置，其特征在于，還包含: 一開(kāi)關(guān)單元，用以可切換地耦接于該些發(fā)光二極管串； 其中該校正單元根據(jù)該控制信號(hào)以控制該開(kāi)關(guān)單元以將該特定發(fā)光二極管串的電流導(dǎo)引至一低電壓負(fù)載。8.如權(quán)利要求7所述的檢測(cè)及校正裝置，其特征在于，該校正單元更包含: 一亮度調(diào)整器，用以接收并根據(jù)該控制信號(hào)以調(diào)整該些發(fā)光二極管串的亮度。9.如權(quán)利要求8所述的檢測(cè)及校正裝置，其特征在于，該校正單元還包含: 一異?？刂破?，用以接收并根據(jù)該控制信號(hào)以輸出一錯(cuò)誤信號(hào)，俾使該檢測(cè)及校正裝置持續(xù)控制該些發(fā)光二極管串。10.如權(quán)利要求9所述的檢測(cè)及校正裝置，其特征在于，該短路參考電壓的電壓值高于該開(kāi)路參考電壓的電壓值。
【文檔編號(hào)】G09G3/32GK105931592SQ201610554421
【公開(kāi)日】2016年9月7日
【申請(qǐng)日】2016年7月14日
【發(fā)明人】詹欣哲, 林勇旭
【申請(qǐng)人】友達(dá)光電股份有限公司