驅(qū)動(dòng)器ic以及電子設(shè)備的制造方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及驅(qū)動(dòng)器IC以及電子設(shè)備。提供了一種驅(qū)動(dòng)器IC，即使針對(duì)從驅(qū)動(dòng)器IC輸出的檢測(cè)用電壓的反饋輸入電壓受到在被驅(qū)動(dòng)裝置上的噪聲影響，也能夠容易地防止錯(cuò)誤地判定為斷線。對(duì)鎖存驅(qū)動(dòng)器IC輸出而反饋的輸入電壓和檢測(cè)用電壓的比較結(jié)果的鎖存定時(shí)按照上述同步信號(hào)的每個(gè)規(guī)定周期以規(guī)定位移量進(jìn)行位移控制，使得無(wú)論在同步信號(hào)的周期的哪個(gè)定時(shí)在被驅(qū)動(dòng)裝置中產(chǎn)生噪聲，都不會(huì)按照同步信號(hào)的每個(gè)周期每次鎖存受到了該噪聲的影響的判定信號(hào)。
【專利說(shuō)明】
驅(qū)動(dòng)器IC以及電子設(shè)備
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及具備檢測(cè)作為驅(qū)動(dòng)對(duì)象的被驅(qū)動(dòng)裝置中的斷線的功能的驅(qū)動(dòng)器1C，例如涉及作為對(duì)液晶顯示面板進(jìn)行顯示驅(qū)動(dòng)的液晶顯示驅(qū)動(dòng)器而適用、對(duì)液晶顯示面板中的玻璃基板的破損檢測(cè)等適用且有效的技術(shù)。
【背景技術(shù)】
[0002]關(guān)于液晶顯不面板中的玻璃基板的破損檢測(cè)(Display Glass Broken Detect，顯示器玻璃破損檢測(cè))功能，例如在專利文獻(xiàn)I中存在記載。據(jù)此，在中央部形成有液晶顯示部的液晶顯示面板的玻璃基板(TFT基板)的周圍形成斷線檢測(cè)金屬布線，經(jīng)由該金屬布線連接的外部端子通過(guò)制造工序確認(rèn)其導(dǎo)通，由此，能夠檢測(cè)斷線檢測(cè)金屬布線的斷線。在檢測(cè)到斷線的情況下，假設(shè)在玻璃基板發(fā)生了涉及液晶顯示區(qū)域的破裂。在液晶顯示驅(qū)動(dòng)器支持使用了上述的斷線檢測(cè)金屬布線的斷線檢測(cè)的情況下，液晶顯示驅(qū)動(dòng)器朝向斷線檢測(cè)金屬布線輸出規(guī)定的電壓信號(hào)，輸入經(jīng)由斷線檢測(cè)金屬布線反饋的電壓信號(hào)，通過(guò)比較器判別在雙方的電壓信號(hào)中是否產(chǎn)生了容許電壓以上的差，在產(chǎn)生了容許電壓以上的差的狀態(tài)持續(xù)了一定期間的情況下，判斷為斷線發(fā)生、即破裂發(fā)生。
[0003]現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)專利文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)1:日本特開(kāi)2012-220792號(hào)公報(bào)。
[0004]發(fā)明要解決的課題
本發(fā)明人對(duì)具備這樣的斷線檢測(cè)功能的顯示驅(qū)動(dòng)器進(jìn)行了討論。顯示驅(qū)動(dòng)器一邊與顯示定時(shí)同步一邊使用多個(gè)驅(qū)動(dòng)信號(hào)來(lái)驅(qū)動(dòng)液晶面板的柵極電極線以及源極電極線等比較大的負(fù)載。這樣的驅(qū)動(dòng)信號(hào)的變化對(duì)其驅(qū)動(dòng)信號(hào)線附近的斷線檢測(cè)金屬布線施加串音噪聲等。由此，有時(shí)從斷線檢測(cè)金屬布線輸入到比較器的信號(hào)電平不合期望地變化。當(dāng)來(lái)自斷線檢測(cè)金屬布線的信號(hào)導(dǎo)入定時(shí)和上述噪聲的產(chǎn)生定時(shí)一致時(shí)，在比較器的雙方的輸入電壓信號(hào)中產(chǎn)生容許電壓以上的差的狀態(tài)持續(xù)一定期間，存在錯(cuò)誤地判斷為斷線發(fā)生的可能性。即使為了避免由噪聲造成的誤檢測(cè)而欲通過(guò)在一定期間遍及多次導(dǎo)入比較器的輸出來(lái)判定是否為真的破裂發(fā)生，只要導(dǎo)入比較器的輸出的定時(shí)是一定的，也不能對(duì)誤判定的可能性防范于未然。特別是由于顯示驅(qū)動(dòng)器輸出的柵極驅(qū)動(dòng)信號(hào)、源極驅(qū)動(dòng)信號(hào)的變化定時(shí)根據(jù)面板尺寸等而可變，所以，難以正確地預(yù)測(cè)在顯示面板上的噪聲產(chǎn)生定時(shí)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明的目的在于，提供一種驅(qū)動(dòng)器1C，即使針對(duì)從驅(qū)動(dòng)器IC輸出的檢測(cè)用電壓的反饋輸入電壓受到在被驅(qū)動(dòng)裝置上的噪聲影響，也能夠容易地防止錯(cuò)誤地判定為斷線。
[0006]本發(fā)明的上述及其它目的和新的特征根據(jù)本說(shuō)明書(shū)的記述以及附圖而變得明顯。
[0007]用于解決課題的方案
對(duì)在本申請(qǐng)中公開(kāi)的發(fā)明之中的代表性發(fā)明的概要簡(jiǎn)單地說(shuō)明如下。再有，在本項(xiàng)中在括弧內(nèi)記載的附圖內(nèi)附圖標(biāo)記等是用于使理解容易化的一個(gè)例子。
[0008]〔I〕<驅(qū)動(dòng)器IC>
驅(qū)動(dòng)器IC(3)具有與同步信號(hào)(HSYNC)同步地將多個(gè)驅(qū)動(dòng)信號(hào)周期地輸出到被驅(qū)動(dòng)裝置(4)的驅(qū)動(dòng)電路(17、18)、以及檢測(cè)被驅(qū)動(dòng)裝置中的斷線的檢測(cè)電路(10)。所述檢測(cè)電路具有:判別電路(21)，判別從輸出端子(6)輸出檢測(cè)用電壓(Vdl)而反饋到輸入端子(7)的輸入電壓(Vd2)相對(duì)于所述檢測(cè)用電壓是否具有期待的電壓關(guān)系;鎖存電路(24)，對(duì)由所述判別電路得到的其判別結(jié)果進(jìn)行鎖存;異常次數(shù)計(jì)數(shù)器(25)，對(duì)鎖存在所述鎖存電路中的判別結(jié)果連續(xù)地處于所述期待的電壓關(guān)系以外的期間進(jìn)行計(jì)數(shù)，在所述判別結(jié)果變?yōu)槠诖碾妷宏P(guān)系時(shí)初始化其計(jì)數(shù)值；以及定時(shí)控制器(26)，對(duì)鎖存在所述鎖存電路中的鎖存定時(shí)按照所述同步信號(hào)的每個(gè)規(guī)定周期以規(guī)定位移量進(jìn)行位移控制。
[0009]據(jù)此，對(duì)鎖存驅(qū)動(dòng)器IC輸出而反饋的輸入電壓和檢測(cè)用電壓的比較結(jié)果的鎖存定時(shí)按照所述同步信號(hào)的每個(gè)規(guī)定周期以規(guī)定位移量進(jìn)行位移控制，因此，無(wú)論在同步信號(hào)的周期的哪個(gè)定時(shí)在被驅(qū)動(dòng)裝置中產(chǎn)生噪聲，都不會(huì)按照同步信號(hào)的每個(gè)周期每次鎖存受到了該噪聲的影響的判定信號(hào)。因此，阻止了被鎖存的判別結(jié)果遍及同步信號(hào)的每個(gè)周期處于所述期待的電壓關(guān)系以外，即使針對(duì)從驅(qū)動(dòng)器IC輸出的檢測(cè)用電壓的反饋輸入電壓受到在被驅(qū)動(dòng)裝置上的噪聲影響，也能夠防止錯(cuò)誤地判定為斷線。而且，定時(shí)控制器按照所述同步信號(hào)的每個(gè)規(guī)定周期以規(guī)定位移量對(duì)向鎖存電路的判定結(jié)果的鎖存定時(shí)進(jìn)行位移控制，因此，也能夠容易地實(shí)現(xiàn)其誤判定防止。即，能夠自動(dòng)地容易地避免斷線的誤檢測(cè)。
[0010]〔2〕<容許電壓 Δν>
在項(xiàng)I中，所述期待的電壓關(guān)系是所述檢測(cè)用電壓和輸入電壓的絕對(duì)值差電壓為容許電壓(AV)以內(nèi)。所述判別電路基于在存儲(chǔ)電路中可改寫(xiě)地設(shè)定的容許電壓數(shù)據(jù)(DA V)來(lái)判別是否具有所述期待的電壓關(guān)系。
[0011]據(jù)此，能夠根據(jù)噪聲的種類、大小來(lái)決定期待的電壓關(guān)系，而且，還能夠應(yīng)對(duì)噪聲的極性變化。
[0012]〔3〕<單位位移量At>
在項(xiàng)I中，所述定時(shí)控制器基于在所述存儲(chǔ)電路中可改寫(xiě)地設(shè)定的單位位移量數(shù)據(jù)(DA t)來(lái)決定所述位移控制的規(guī)定位移量。
[0013]據(jù)此，在判別電路導(dǎo)入了噪聲的狀態(tài)的情況下，能夠以根據(jù)單位位移量數(shù)據(jù)的單位位移量依次自動(dòng)地位移下一導(dǎo)入定時(shí)，能夠任意地?cái)U(kuò)展該單位位移量。因此，在相對(duì)于同步信號(hào)的周期的噪聲的產(chǎn)生定時(shí)采用各種方式的情況下，也能夠容易地避免鎖存電路每次鎖存該噪聲的影響。
[0014]〔4〕<鎖存偏移(offset)tl>
在項(xiàng)I中，所述定時(shí)控制器按照在所述存儲(chǔ)電路中可改寫(xiě)地設(shè)定的鎖存偏移數(shù)據(jù)(Dtl)來(lái)決定將由所述判別電路得到的判別結(jié)果鎖存在所述鎖存電路中的最初的鎖存定時(shí)。
[0015]據(jù)此，能夠期望地設(shè)定在同步信號(hào)的周期內(nèi)將判別電路的判別結(jié)果最初導(dǎo)入到鎖存電路中的定時(shí)，因此，期望地決定所述鎖存電路的鎖存定時(shí)變得更加容易。
[0016]〔5〕<極限值 N>
在項(xiàng)I中，所述異常次數(shù)計(jì)數(shù)器在計(jì)數(shù)值達(dá)到了在所述存儲(chǔ)電路中可改寫(xiě)地設(shè)定的極限值數(shù)據(jù)(DN)的值時(shí)輸出異常信號(hào)(FLTd)。
[0017]據(jù)此，能夠任意地決定將異常次數(shù)計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)值應(yīng)判斷為斷線還是應(yīng)判斷為錯(cuò)誤地判別噪聲的影響的結(jié)果的累積的極限值，能夠根據(jù)被驅(qū)動(dòng)裝置以及驅(qū)動(dòng)器IC的特性來(lái)自動(dòng)地進(jìn)行斷線檢測(cè)。不過(guò)，當(dāng)然也可以在驅(qū)動(dòng)器IC的外部參照異常次數(shù)計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)值來(lái)判別斷線的有無(wú)。
[0018]〔6〕< 同步次數(shù)11>
在項(xiàng)I中，所述定時(shí)控制器具有對(duì)與所述同步信號(hào)同步的變化的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)的同步次數(shù)計(jì)數(shù)器(30)，在由所述同步次數(shù)計(jì)數(shù)器所計(jì)數(shù)的次數(shù)與由在所述存儲(chǔ)電路中可改寫(xiě)地設(shè)定的同步次數(shù)數(shù)據(jù)(Dn)指定的次數(shù)一致時(shí)，使針對(duì)所述鎖存電路的下一鎖存定時(shí)回到初始定時(shí)。
[0019]據(jù)此，能夠容易地實(shí)現(xiàn)使按照同步信號(hào)的多個(gè)周期的每一個(gè)位移鎖存電路的鎖存定時(shí)的工作輪一圈、環(huán)繞地重復(fù)的工作。
[0020]〔7〕<與鎖存電路的鎖存定時(shí)同步的計(jì)數(shù)脈沖的計(jì)數(shù)>
在項(xiàng)I中，所述異常次數(shù)計(jì)數(shù)器將所述判別結(jié)果為所述期待的電壓關(guān)系以外作為條件對(duì)計(jì)數(shù)脈沖(CNTCLK)進(jìn)行計(jì)數(shù)，所述計(jì)數(shù)脈沖為與所述鎖存電路的鎖存定時(shí)同步地進(jìn)行脈沖變化的信號(hào)，所述定時(shí)控制器輸出所述計(jì)數(shù)脈沖。
[0021]據(jù)此，能夠容易地生成異常次數(shù)計(jì)數(shù)器計(jì)數(shù)的計(jì)數(shù)脈沖。
[0022]〔8〕<按照同步信號(hào)的每個(gè)周期對(duì)鎖存定時(shí)進(jìn)行位移控制>
在項(xiàng)7中，所述定時(shí)控制器按照所述同步信號(hào)的每個(gè)周期進(jìn)行所述鎖存定時(shí)的位移控制。
[0023]據(jù)此，防止斷線的誤檢測(cè)的定時(shí)控制變得簡(jiǎn)單。鎖存定時(shí)的位移控制不限定于此，當(dāng)然也可以按照同步信號(hào)的多個(gè)周期的每一個(gè)或者每幾分之一的周期進(jìn)行。
[0024]〔9〕<電子設(shè)備>
電子設(shè)備(I)具有驅(qū)動(dòng)器IC(3)以及由所述驅(qū)動(dòng)器IC驅(qū)動(dòng)的被驅(qū)動(dòng)裝置(4)。所述被驅(qū)動(dòng)裝置具有斷線檢測(cè)用布線(5)。所述驅(qū)動(dòng)器IC具有與同步信號(hào)同步地將多個(gè)驅(qū)動(dòng)信號(hào)周期地輸出到所述被驅(qū)動(dòng)裝置的驅(qū)動(dòng)電路、以及檢測(cè)所述被驅(qū)動(dòng)裝置的斷線檢測(cè)用布線的斷線的檢測(cè)電路。所述檢測(cè)電路具有:判別電路，判別從連接于所述斷線檢測(cè)用布線的一端部的輸出端子輸出檢測(cè)用電壓而反饋到連接于所述斷線檢測(cè)用布線的另一端部的輸入端子的輸入電壓相對(duì)于所述檢測(cè)用電壓是否具有期待的電壓關(guān)系;鎖存電路，對(duì)由所述判別電路得到的其判別結(jié)果進(jìn)行鎖存;異常次數(shù)計(jì)數(shù)器，對(duì)鎖存在所述鎖存電路中的判別結(jié)果連續(xù)地處于所述期待的電壓關(guān)系以外的期間進(jìn)行計(jì)數(shù)，在所述判別結(jié)果變?yōu)槠诖碾妷宏P(guān)系時(shí)初始化其計(jì)數(shù)值；以及定時(shí)控制器，對(duì)鎖存在所述鎖存電路中的鎖存定時(shí)按照所述同步信號(hào)的每個(gè)規(guī)定周期以規(guī)定位移量進(jìn)行位移控制。
[0025]據(jù)此，由驅(qū)動(dòng)器IC與同步信號(hào)同步地輸出的驅(qū)動(dòng)信號(hào)造成的串音噪聲在斷線檢測(cè)用布線中產(chǎn)生。當(dāng)該噪聲與驅(qū)動(dòng)器IC輸出而反饋的輸入電壓重疊時(shí)，存在驅(qū)動(dòng)器IC誤檢測(cè)為斷線檢測(cè)用布線的斷線(不僅包括完全切斷，還包括由部分性斷裂造成的高電阻連接)的可能性。此時(shí)，驅(qū)動(dòng)器IC取得與項(xiàng)I同樣的作用效果，因此，能夠自動(dòng)地容易地避免斷線的誤檢測(cè)。因此，能夠有助于通過(guò)裝配等制造工序準(zhǔn)確地進(jìn)行被驅(qū)動(dòng)裝置的斷線檢測(cè)用布線是否斷線的判別并且如果斷線則假設(shè)在被驅(qū)動(dòng)裝置中發(fā)生了破裂等的出廠測(cè)試等的可靠性提高。被驅(qū)動(dòng)裝置的斷線檢測(cè)不限于出廠測(cè)試，當(dāng)然也能夠適用于裝入有其的產(chǎn)品、系統(tǒng)中的隨時(shí)間劣化的早期檢測(cè)。
[0026]〔10〕<容許電壓厶乂>
在項(xiàng)9中，所述期待的電壓關(guān)系是所述檢測(cè)用電壓和輸入電壓的絕對(duì)值差電壓為容許電壓以內(nèi)，所述判別電路基于在存儲(chǔ)電路中可改寫(xiě)地設(shè)定的容許電壓數(shù)據(jù)來(lái)判別是否具有所述期待的電壓關(guān)系。
[0027]據(jù)此，取得與項(xiàng)2同樣的作用效果。
[0028]〔11〕<單位位移量么七>
在項(xiàng)9中，所述定時(shí)控制器基于在所述存儲(chǔ)電路中可改寫(xiě)地設(shè)定的單位位移量數(shù)據(jù)來(lái)決定所述位移控制的規(guī)定位移量。
[0029]據(jù)此，取得與項(xiàng)3同樣的作用效果。
[0030]〔12〕<鎖存偏移乜>
在項(xiàng)9中，所述定時(shí)控制器按照在所述存儲(chǔ)電路中可改寫(xiě)地設(shè)定的鎖存偏移數(shù)據(jù)來(lái)決定將由所述判別電路得到的判別結(jié)果鎖存在所述鎖存電路中的最初的鎖存定時(shí)。
[0031]據(jù)此，取得與項(xiàng)4同樣的作用效果。
[0032]〔13〕<極限值~>
在項(xiàng)9中，所述異常次數(shù)計(jì)數(shù)器在計(jì)數(shù)值達(dá)到了在所述存儲(chǔ)電路中可改寫(xiě)地設(shè)定的極限值數(shù)據(jù)的值時(shí)輸出異常信號(hào)。
[0033]據(jù)此，取得與項(xiàng)5同樣的作用效果。
[0034]〔14〕<位移次數(shù)11>
在項(xiàng)9中，所述定時(shí)控制器具有對(duì)與所述同步信號(hào)同步的變化的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)的同步次數(shù)計(jì)數(shù)器，在由所述同步次數(shù)計(jì)數(shù)器所計(jì)數(shù)的次數(shù)與由在所述存儲(chǔ)電路中可改寫(xiě)地設(shè)定的同步次數(shù)數(shù)據(jù)指定的次數(shù)一致時(shí)，使針對(duì)所述鎖存電路的下一鎖存定時(shí)回到初始定時(shí)。
[0035]據(jù)此，取得與項(xiàng)6同樣的作用效果。
[0036]〔 15〕<與鎖存電路的鎖存定時(shí)同步的計(jì)數(shù)脈沖的計(jì)數(shù)>
在項(xiàng)9中，所述異常次數(shù)計(jì)數(shù)器將所述判別結(jié)果為所述期待的電壓關(guān)系以外作為條件對(duì)計(jì)數(shù)脈沖進(jìn)行計(jì)數(shù)。所述計(jì)數(shù)脈沖為與所述鎖存電路的鎖存定時(shí)同步地進(jìn)行脈沖變化的信號(hào)。所述定時(shí)控制器輸出所述計(jì)數(shù)脈沖。
[0037]據(jù)此，取得與項(xiàng)7同樣的作用效果。
[0038]〔16〕<按照同步信號(hào)的每個(gè)周期對(duì)鎖存定時(shí)進(jìn)行位移控制>
在項(xiàng)15的電子設(shè)備中，所述定時(shí)控制器按照所述同步信號(hào)的每個(gè)周期進(jìn)行所述鎖存定時(shí)的位移控制。
[0039]〔17〕<對(duì)驅(qū)動(dòng)器IC進(jìn)行COG安裝后的液晶顯示面板模塊>
在項(xiàng)9中，電子設(shè)備為液晶顯示面板模塊，所述被驅(qū)動(dòng)裝置為形成于玻璃基板的液晶顯示面板，所述斷線檢測(cè)用布線形成在所述玻璃基板的周緣部，所述驅(qū)動(dòng)器IC被COG安裝于所述玻璃基板。
[0040]據(jù)此，能夠判別在液晶顯示面板模塊的玻璃基板中是否發(fā)生了破裂。
[0041 ] 〔 18〕<具有形成在玻璃基板上的液晶驅(qū)動(dòng)器IC的液晶顯示面板模塊>
在項(xiàng)9中，電子設(shè)備為液晶顯示面板模塊，所述被驅(qū)動(dòng)裝置為形成于玻璃基板的液晶顯示面板，所述斷線檢測(cè)用布線形成在所述玻璃基板的周緣部，所述驅(qū)動(dòng)器IC在所述玻璃基板之上由低溫多晶硅TFT形成。
[0042]據(jù)此，能夠判別在液晶顯示面板模塊的玻璃基板中是否發(fā)生了破裂。
[0043]發(fā)明效果對(duì)通過(guò)在本申請(qǐng)中公開(kāi)的發(fā)明之中的代表性發(fā)明得到的效果簡(jiǎn)單地說(shuō)明如下。
[0044]S卩，即使針對(duì)從驅(qū)動(dòng)器IC輸出的檢測(cè)用電壓的反饋輸入電壓受到在被驅(qū)動(dòng)裝置上的噪聲影響，也能夠容易地防止錯(cuò)誤地判定為斷線。
【附圖說(shuō)明】
[0045]圖1是示出斷線檢測(cè)電路的具體例的框圖。
[0046]圖2是例示出作為電子設(shè)備的一個(gè)例子的液晶顯示面板模塊的概略說(shuō)明圖。
[0047]圖3是示出液晶顯示驅(qū)動(dòng)器的具體例的框圖。
[0048]圖4是示出定時(shí)控制器的一個(gè)例子的框圖。
[0049]圖5是例示出斷線檢測(cè)電路的工作定時(shí)的時(shí)序圖。
[0050]圖6是示出在未使鎖存定時(shí)依次位移的情況下的斷線檢測(cè)的工作定時(shí)作為比較例的時(shí)序圖。
[0051 ]圖7是例示出斷線檢測(cè)的工作流程的流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0052]在圖2中例示出作為電子設(shè)備的一個(gè)例子的液晶顯示面板模塊。液晶顯示面板模塊I具有作為被驅(qū)動(dòng)裝置的一個(gè)例子的液晶顯示面板4和作為驅(qū)動(dòng)器IC的一個(gè)例子的顯示驅(qū)動(dòng)器3。液晶顯示面板4例如被形成于玻璃基板2。在玻璃基板2形成有液晶面板的柵極布線、源極布線以及基準(zhǔn)電位布線等許多布線，顯示驅(qū)動(dòng)器3在裸芯片的狀態(tài)下連接于玻璃基板上的對(duì)應(yīng)的布線而安裝。采用所謂C0G(Chip On Glass，玻璃上芯片)安裝。顯示驅(qū)動(dòng)器的裝載方式不限定于此，也可以為利用多晶娃TFT(Thin Film Transistor，薄膜晶體管)構(gòu)造的S0G(SyStem On Glass，玻璃上系統(tǒng))方式。在SOG方式的情況下，液晶驅(qū)動(dòng)器3在玻璃基板2之上由低溫多晶硅TFT形成。無(wú)論在所謂COG或SOG的哪一種的情況下，都在玻璃基板2的周緣部通過(guò)規(guī)定的金屬布線圖案形成有斷線檢測(cè)用布線5。
[0053]雖然未特別圖示，但是，在液晶顯示面板4中，在玻璃基板2上多個(gè)柵極電極線和源極電極線呈交叉狀地配置，在此處多個(gè)像素呈矩陣狀地配置。每一個(gè)像素具有串聯(lián)連接的薄膜晶體管和液晶元件。向每一個(gè)像素的液晶元件施加共同電位，薄膜晶體管的選擇端子連接于對(duì)應(yīng)的柵極電極線，薄膜晶體管的信號(hào)端子連接于在與柵極電極線交叉的方向上配置的對(duì)應(yīng)的源極電極線。將柵極電極線的每一個(gè)的像素的行作為顯示行，以顯示行為單位使像素的薄膜晶體管導(dǎo)通，由此，選擇顯示行(顯示行的掃描)，在顯示行的每個(gè)選擇期間(水平顯示期間)從多個(gè)源極電極線向液晶元件施加灰度電壓。
[0054]顯示驅(qū)動(dòng)器4生成柵極電極線的驅(qū)動(dòng)信號(hào)、向源極電極線的灰度信號(hào)以及共同電位等的信號(hào)并輸出，并且具有斷線檢測(cè)用的輸出端子6和輸入端子7，在輸出端子6連接有斷線檢測(cè)用布線5的一端部，在輸入端子7連接有斷線檢測(cè)用布線5的另一端部。
[0055]在圖3中示出了液晶顯示驅(qū)動(dòng)器的具體例。液晶顯示驅(qū)動(dòng)器3具有從外部輸入顯示數(shù)據(jù)并且進(jìn)行控制數(shù)據(jù)的輸入輸出的主機(jī)接口電路12。在此，設(shè)想液晶顯示面板模塊I的制造工序中的出廠測(cè)試而在主機(jī)接口電路12連接有測(cè)試裝置9，但是，在PC、便攜式終端等中裝入液晶顯示面板模塊I而進(jìn)行產(chǎn)品化的情況下，在主機(jī)接口電路12連接微型計(jì)算機(jī)、數(shù)據(jù)處理器等主機(jī)裝置。控制電路13處理被輸入到主機(jī)接口電路12的顯示數(shù)據(jù)、控制數(shù)據(jù)?？刂齐娐?3譯解所輸入的控制數(shù)據(jù)來(lái)決定內(nèi)部的工作模式，與從主機(jī)接口電路12供給的顯示定時(shí)信號(hào)或在內(nèi)部生成的顯示定時(shí)信號(hào)同步地進(jìn)行顯示驅(qū)動(dòng)控制。具有幀緩沖存儲(chǔ)器(FBM)
14、數(shù)據(jù)鎖存電路15、灰度電壓選擇電路16、源極驅(qū)動(dòng)器17、柵極控制驅(qū)動(dòng)器18、以及VCOM驅(qū)動(dòng)器19來(lái)作為用于驅(qū)動(dòng)控制的內(nèi)部電路。在將顯示數(shù)據(jù)與顯示定時(shí)信號(hào)(垂直同步信號(hào)、水平同步信號(hào))一起按實(shí)時(shí)的時(shí)間序列輸入到主機(jī)接口電路12的情況下，控制電路13—邊與該顯示定時(shí)信號(hào)同步一邊以顯示行為單位將顯示數(shù)據(jù)鎖存在數(shù)據(jù)鎖存電路15中，根據(jù)所鎖存的顯示行單位的數(shù)據(jù)由灰度電壓選擇電路16選擇灰度電壓，源極驅(qū)動(dòng)器17接受所選擇的灰度電壓來(lái)驅(qū)動(dòng)源極電極線Src_l?Src_n。柵極控制驅(qū)動(dòng)器18以水平同步期間為單位依次選擇柵極電極線Gtdn_l?GtdjiuVCOM驅(qū)動(dòng)器19輸出共同電位Vcom。在將顯示數(shù)據(jù)與命令一起向主機(jī)接口電路12供給的情況下，顯示數(shù)據(jù)被暫且儲(chǔ)存在幀緩沖存儲(chǔ)器14中，所儲(chǔ)存的顯示數(shù)據(jù)在根據(jù)在控制電路13的內(nèi)部生成的水平同步信號(hào)的每個(gè)水平同步期間被數(shù)據(jù)鎖存電路15以顯示行為單位讀出，根據(jù)所鎖存的顯示行單位的數(shù)據(jù)由灰度電壓選擇電路16選擇灰度電壓，源極驅(qū)動(dòng)器17接受該灰度電壓來(lái)驅(qū)動(dòng)源極電極線Src_l?Src_n。柵極控制驅(qū)動(dòng)器18以每個(gè)水平同步期間為單位依次選擇柵極電極線Gtdn_l?Gtdn_m。VCOM驅(qū)動(dòng)器19輸出共同電位Vcom。
[0056]液晶顯示驅(qū)動(dòng)器3具有對(duì)液晶顯示面板4的斷線檢測(cè)用布線5的斷線進(jìn)行檢測(cè)的斷線檢測(cè)電路10。與測(cè)試模式中的顯示控制工作并行地，斷線檢測(cè)電路判別在連接于上述斷線檢測(cè)用的輸出端子6和輸入端子7的斷線檢測(cè)用布線5中是否產(chǎn)生斷線。經(jīng)由控制電路13從測(cè)試裝置9等提供斷線檢測(cè)所需要的控制數(shù)據(jù)、同步信號(hào)，斷線的判別結(jié)果經(jīng)由控制電路13被送回到測(cè)試裝置9。如果存在斷線，則測(cè)試裝置9能夠假設(shè)在液晶顯示面板模塊I的玻璃基板2中發(fā)生了破裂。
[0057]在圖1中示出了斷線檢測(cè)電路10的具體例。斷線檢測(cè)電路10具有使用了運(yùn)算放大器的比較器22A、22B以及“或”門23作為判別從輸出端子6輸出檢測(cè)用電壓Vdl而反饋到輸入端子7的輸入電壓Vd2相對(duì)于上述檢測(cè)用電壓Vdl是否具有期待的電壓關(guān)系的判別電路21。檢測(cè)電壓Vdl由如電壓調(diào)節(jié)器那樣的檢測(cè)電壓生成電路20生成。雖然未特別限制，但是，在此，設(shè)想從高電平下降的下降驅(qū)動(dòng)脈沖和相反地從低電平上升的上升驅(qū)動(dòng)脈沖雙方來(lái)作為向斷線檢測(cè)用布線5施加串音噪聲的驅(qū)動(dòng)信號(hào)，假設(shè)它們例如通過(guò)與垂直同步信號(hào)同步的幀同步而交替地切換。比較器22A將檢測(cè)用電壓Vdl輸入到非反相輸入端子(+)，將輸入電壓Vd2輸入到反相輸入端子(_)。比較器22B將檢測(cè)用電壓Vdl輸入到反相輸入端子(-)，將輸入電壓Vd2輸入到非反相輸入端子(+)。利用比較器22A的期待的電壓關(guān)系為Vdl-Vd2<AV。將A V稱為輸入電壓Vd2所容許的變動(dòng)的容許電壓。同樣地，利用比較器22B的期待的電壓關(guān)系為Vd2_Vdl<AV。將AV稱為輸入電壓Vd2所容許的變動(dòng)的容許電壓。因此，如果實(shí)現(xiàn)了滿足I Vd1-Vd2 I < Δ V的期待的電壓關(guān)系，則使判別結(jié)果CMPOUT為低電平(邏輯值O )，如果未實(shí)現(xiàn)期待的電壓關(guān)系(IVdl-Vd2| > Δ V)，則使判別結(jié)果CMPOUT為高電平(邏輯值I)。容許電壓ΔV基于在寄存器27A中可改寫(xiě)地設(shè)定的容許電壓數(shù)據(jù)D △ V來(lái)決定。容許電壓△ V對(duì)于比較器22A作為反相輸入端子(-)側(cè)的偏移(Vdl-AV)來(lái)起作用而對(duì)于比較器22B作為非反相輸入端子(+)側(cè)的偏移(Vdl+Δ V)來(lái)起作用。比較器22A是比較例如由于斷線檢測(cè)用布線5因斷線而阻抗變高等使輸入電壓Vd2變得比檢測(cè)用電壓Vdl低的情況下的電位差的電路。此外，比較器22B是比較例如由于斷線檢測(cè)用布線5因玻璃基板的破損而與其它布線短路等使輸入電壓Vd2變得比檢測(cè)用電壓Vdl高的情況下的電位差的電路。無(wú)論是在由于串音噪聲使輸入電位Vd2變得比檢測(cè)用電壓Vdl高的情況下還是變得比其低的情況下，比較器22A、22B的輸出都同樣地變化。
[0058]由判別電路21得到的判別結(jié)果CMPOUT由鎖存電路24鎖存。鎖存了判別結(jié)果的鎖存電路24的鎖存信號(hào)FFOUT被提供給異常次數(shù)計(jì)數(shù)器25，異常次數(shù)計(jì)數(shù)器25根據(jù)鎖存信號(hào)FFOUT的值來(lái)對(duì)計(jì)數(shù)時(shí)鐘CNTCLK進(jìn)行計(jì)數(shù)。該異常次數(shù)計(jì)數(shù)器25在鎖存于鎖存電路24中的鎖存信號(hào)連續(xù)地處于上述期待的電壓關(guān)系以外的高電平期間對(duì)計(jì)數(shù)時(shí)鐘CNTCLK進(jìn)行計(jì)數(shù)，在判別結(jié)果變?yōu)槠诖碾妷宏P(guān)系時(shí)將其計(jì)數(shù)值初始化為0，在計(jì)數(shù)值達(dá)到極限值N時(shí)輸出異常信號(hào)FLTd。極限次數(shù)N基于在寄存器27C中可改寫(xiě)地設(shè)定的極限值數(shù)據(jù)DN來(lái)決定。
[0059]定時(shí)控制器26生成鎖存電路24的鎖存時(shí)鐘FFCLK和計(jì)數(shù)時(shí)鐘CNTCLK。定時(shí)控制器26按照水平同步信號(hào)HSYNC的每個(gè)規(guī)定周期例如按照每個(gè)單周期以規(guī)定單位位移量△ t對(duì)根據(jù)鎖存時(shí)鐘FFCLK的鎖存電路24的鎖存定時(shí)進(jìn)行位移控制，由此，在計(jì)數(shù)值達(dá)到極限值N之前的期間的每一個(gè)水平同步期間中的鎖存電路24的鎖存定時(shí)依次以單位位移量△ t偏離。單位位移量A t基于在寄存器27B可改寫(xiě)地設(shè)定的單位位移量數(shù)據(jù)D Δ t來(lái)決定。
[0060]定時(shí)控制器26進(jìn)而與鎖存電路24的鎖存定時(shí)同步地使上述計(jì)數(shù)脈沖CNTCLK進(jìn)行脈沖變化。因此，計(jì)數(shù)脈沖數(shù)相當(dāng)于未變?yōu)槠诖碾妷宏P(guān)系的連續(xù)次數(shù)，因此，其連續(xù)N次是指在N次的水平同步期間的每一個(gè)中在彼此不同的定時(shí)進(jìn)行斷線判別的結(jié)果每次連續(xù)地為斷線，并且是指在概率上產(chǎn)生斷線的可能性高。這是以如下情況為前提的:顯示行的驅(qū)動(dòng)定時(shí)、其它的驅(qū)動(dòng)定時(shí)不是水平同步期間而是具有定時(shí)上的偏倚，并不是在水平同步期間的哪個(gè)位置都相同地產(chǎn)生驅(qū)動(dòng)信號(hào)。因此，極限次數(shù)N越多，而且，鎖存定時(shí)的位移量△ t越小，越能夠使判別結(jié)果具有高的可靠性。
[0061 ]定時(shí)控制器26進(jìn)而除單位位移量△ t之外還使用鎖存偏移量tl和用于規(guī)定位移次數(shù)的同步次數(shù)η來(lái)作為規(guī)定上述鎖存定時(shí)的控制量。鎖存偏移量tl為決定將由判別電路21得到的判別結(jié)果鎖存在鎖存電路24中的最初的鎖存定時(shí)的控制量。鎖存偏移量11基于在寄存器27B中可改寫(xiě)地設(shè)定的鎖存偏移量數(shù)據(jù)Dtl來(lái)決定。同步次數(shù)η為用于使針對(duì)鎖存電路24的下一鎖存定時(shí)回到初始定時(shí)的控制量，同步次數(shù)η基于在寄存器27Β中可改寫(xiě)地設(shè)定的同步次數(shù)數(shù)據(jù)Dn來(lái)決定。定時(shí)控制器26基于水平同步信號(hào)HSYNC的變化來(lái)對(duì)水平同步期間的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，在計(jì)數(shù)值達(dá)到同步次數(shù)η時(shí)使鎖存電路24的鎖存定時(shí)回到初始定時(shí)。由此，簡(jiǎn)單地實(shí)現(xiàn)使按照水平同步信號(hào)HSYNC的多個(gè)周期的每一個(gè)位移鎖存電路24的鎖存定時(shí)的工作輪一圈、環(huán)繞地重復(fù)的工作。
[0062]在圖4中例示出定時(shí)控制器26的框圖。同步次數(shù)計(jì)數(shù)器30對(duì)水平同步信號(hào)HSYNC進(jìn)行計(jì)數(shù)，輸入其計(jì)數(shù)值和同步次數(shù)數(shù)據(jù)Dn的邏輯電路31每當(dāng)其計(jì)數(shù)值達(dá)到同步次數(shù)η時(shí)通過(guò)清除信號(hào)CLR將同步次數(shù)計(jì)數(shù)器30的計(jì)數(shù)值初始化為初始值O。邏輯電路32輸入同步次數(shù)計(jì)數(shù)器30的計(jì)數(shù)值m、水平同步信號(hào)HSYNC、單位位移量數(shù)據(jù)D △ t、鎖存偏移量數(shù)據(jù)Dtl，生成上述的鎖存時(shí)鐘FFCLK。邏輯電路33輸入鎖存時(shí)鐘FFCLK和鎖存信號(hào)FFOUT，生成上述計(jì)數(shù)時(shí)鐘CNTCLKο
[0063]為了斷線檢測(cè)而規(guī)定各種控制量的單位位移量數(shù)據(jù)DAt、鎖存偏移量數(shù)據(jù)tl、同步次數(shù)數(shù)據(jù)Dn、極限值數(shù)據(jù)DN、以及容許電壓數(shù)據(jù)D Δ V在測(cè)試模式下被從測(cè)試裝置9經(jīng)由主機(jī)接口 12提供給控制電路13。所提供的每一個(gè)控制數(shù)據(jù)可以被直接加載到寄存器27A、28B、29C中，也可以在暫且存儲(chǔ)于省略圖示的非易失性存儲(chǔ)電路中之后被加載。在最初的測(cè)試工作中未決定最佳的控制量的情況下，適當(dāng)改寫(xiě)控制量而重復(fù)進(jìn)行斷線檢測(cè)工作即可。在針對(duì)同一液晶面板模塊的測(cè)試中使用暫且決定的控制量來(lái)進(jìn)行斷線檢測(cè)用的測(cè)試即可。在還適用于產(chǎn)品出廠后的隨時(shí)間劣化造成的斷線檢測(cè)的情況下，將上述暫且決定的控制量?jī)?chǔ)存在控制電路13內(nèi)部的非易失性存儲(chǔ)裝置中，適當(dāng)初始加載到寄存器的寄存器27、28、29中來(lái)利用即可。寄存器27A、28B、29C為存儲(chǔ)電路27的一個(gè)例子，也可以由SRAM等構(gòu)成存儲(chǔ)電路27。
[0064]在圖5中例示出斷線檢測(cè)電路的工作定時(shí)。在此，使液晶顯示驅(qū)動(dòng)器3為復(fù)位后的休眠狀態(tài)，輸入休眠解除的命令使其成為工作狀態(tài)。作為被提供給液晶顯示面板4的驅(qū)動(dòng)信號(hào)，代表性地示出了 SIGUSIG2，它們?cè)隍?qū)動(dòng)定時(shí)進(jìn)行下降脈沖變化，由此，不合期望地電平降低的串音噪聲重疊于輸入信號(hào)Vd2。在最初的水平同步期間開(kāi)始的時(shí)刻TO以前，異常次數(shù)計(jì)數(shù)器25以及同步次數(shù)計(jì)數(shù)器30的計(jì)數(shù)值為初始值0(m=0)。
[0065]在從時(shí)刻TO開(kāi)始的水平同步期間，同步次數(shù)計(jì)數(shù)器30從O增量到l(m=l)，與時(shí)刻TO1、T02同步地，噪聲與輸入電壓Vd2重疊而下降。該噪聲超過(guò)容許電壓δ V，因此，與噪聲的期間配合地，判別結(jié)果CMPOUT變?yōu)楦唠娖健Ｔ诖?，鎖存偏移量tl與該噪聲的最初的期間重合，因此，在從時(shí)刻TO經(jīng)過(guò)鎖存偏移量tl后的定時(shí)(AtX (m-l)+tl)與鎖存時(shí)鐘FFCLK的脈沖變化同步地鎖存信號(hào)FFOUT被反相為高電平。由此，異常次數(shù)計(jì)數(shù)器25的計(jì)數(shù)值從O增量到I。
[0066]在從時(shí)刻Tl開(kāi)始的下一水平同步期間，同步次數(shù)計(jì)數(shù)器30從I增量到2(m=2)，與時(shí)亥IjTll、T12同步地，與上述同樣地，噪聲與輸入電壓Vd2重疊而下降。該噪聲超過(guò)容許電壓ΔV，因此，與噪聲的期間配合地，判別結(jié)果CMPOUT變?yōu)楦唠娖?。在此，與上述同樣地，鎖存偏移量tl與該噪聲的最初的期間重合，進(jìn)而在鎖存偏移量tl加上了單位位移量At后的定時(shí)與噪聲的下一期間重合。在從時(shí)刻Tl經(jīng)過(guò)鎖存偏移量tl加上了單位位移量At的時(shí)間后的定時(shí)(Δ t X (2-1 )+tI)，鎖存時(shí)鐘FFCLK進(jìn)行脈沖變化，與此同步地，鎖存信號(hào)FFOUT維持高電平。由此，異常次數(shù)計(jì)數(shù)器25的計(jì)數(shù)值從I增量到2。在該例子中，將極限次數(shù)N設(shè)為3以上，因此，即使異常次數(shù)計(jì)數(shù)器25的計(jì)數(shù)值變?yōu)?，異常信號(hào)FLTd也不被激活。
[0067]在從時(shí)刻T2開(kāi)始的下一水平同步期間，同步次數(shù)計(jì)數(shù)器30從2增量到3(m=3)，與時(shí)亥|JT21、T22同步地，與上述同樣地，噪聲與輸入電壓Vd2重疊而下降。該噪聲超過(guò)容許電壓ΔV，因此，與噪聲的期間配合地，判別結(jié)果CMPOUT變?yōu)楦唠娖?。在此，與上述同樣地，鎖存偏移量tl與該噪聲的最初的期間重合，進(jìn)而在鎖存偏移量tl加上了單位位移量At后的定時(shí)與噪聲的下一期間重合。在從時(shí)刻T2經(jīng)過(guò)鎖存偏移量tl加上了單位位移量At的2倍的值的時(shí)間后的定時(shí)(Δ t X (3 -1 )+t I)，鎖存時(shí)鐘FFCLK進(jìn)行脈沖變化(時(shí)刻T23 )，與此同步地，鎖存信號(hào)FFOUT被反相為低電平。由此，異常次數(shù)計(jì)數(shù)器25的計(jì)數(shù)值從2清除為O。
[0068]在圖5的例子中，設(shè)想在各水平同步期間的前半產(chǎn)生2次噪聲的情況，因此，在從時(shí)刻T3開(kāi)始的下一水平同步期間以后，鎖存信號(hào)FFOUT維持低電平，異常次數(shù)計(jì)數(shù)器25的計(jì)數(shù)值維持O。在同步次數(shù)計(jì)數(shù)器30的值達(dá)到同步次數(shù)η之前維持該狀態(tài)，重復(fù)以下同樣的工作。因此，能夠防止由于噪聲的影響而錯(cuò)誤地判斷為斷線。雖然未特別圖示，但是，在實(shí)際產(chǎn)生斷線的情況下，鎖存信號(hào)FFOUT總是為高電平的結(jié)果是，異常次數(shù)計(jì)數(shù)器25的計(jì)數(shù)值超過(guò)極限值N，由此，激活異常信號(hào)FLTd而通知斷線檢測(cè)用布線5的斷線。在圖6中示出了在未使鎖存定時(shí)依次位移的情況下的斷線檢測(cè)的工作定時(shí)作為比較例，但是，在該情況下，向鎖存電路的鎖存定時(shí)在從水平同步期間的開(kāi)始起在時(shí)間tl后被固定，因此，鎖存信號(hào)FFOUT總是為高電平的結(jié)果是，異常次數(shù)計(jì)數(shù)器25的計(jì)數(shù)值超過(guò)極限值N，激活異常信號(hào)FLTd的結(jié)果是，錯(cuò)誤地通知斷線檢測(cè)。
[0069]在圖7中例示出斷線檢測(cè)的工作流程。通過(guò)電源接通而進(jìn)行規(guī)定的通電序列(SI)，之后進(jìn)行向寄存器電路27的初始設(shè)定(S2、S3)，決定單位位移量△ t、鎖存偏移量11、同步次數(shù)n、極限值N、以及容許電壓Δ V。之后開(kāi)始利用顯示驅(qū)動(dòng)器3的顯示工作(S4)，與此并行地，開(kāi)始斷線檢測(cè)電路10的工作(S5)。
[0070]首先，對(duì)檢測(cè)電壓VdI進(jìn)行wo輸出(S6)，對(duì)輸入電壓Vd2進(jìn)行輸入(S7)。一邊維持該狀態(tài)一邊進(jìn)行以下的工作。首先，將定時(shí)位移次數(shù)、即同步次數(shù)計(jì)數(shù)器30的同步次數(shù)設(shè)定為初始值m=0(S8)。邏輯電路32使用同步次數(shù)m、單位位移量△ t、鎖存偏移量11來(lái)與水平同步信號(hào)HSYNC同步地運(yùn)算導(dǎo)入定時(shí)T=tl+(m-l) X Δ t，照此生成鎖存時(shí)鐘FFCLK(S9)。選擇與鎖存數(shù)據(jù)是否擔(dān)負(fù)IVdl-Vd2| > AV的異常的關(guān)系對(duì)應(yīng)的處理(S10)，如果不為異常，則初始化異常次數(shù)計(jì)數(shù)器25的計(jì)數(shù)值(S11)，如果為m2 n，則回到步驟S8，如果不為m2 n，則使次數(shù)計(jì)數(shù)器30進(jìn)行+1增量(m=m+l)(S13)，回到步驟S9。如果為異常，則使異常次數(shù)計(jì)數(shù)器25進(jìn)行+1增量(S14)，之后按照n^n?的判別(S15)回到步驟S8，或者使次數(shù)計(jì)數(shù)器30進(jìn)行+1增量(m=m+ 1)(S16)，判別異常次數(shù)計(jì)數(shù)器25的值是否達(dá)到極限值N(S17)。如果未達(dá)到極限值N，則回到步驟S9，如果達(dá)到，則激活異常信號(hào)FLTd( S18)。
[0071]以上基于實(shí)施方式來(lái)具體地說(shuō)明了由本發(fā)明人完成的發(fā)明，但是，本發(fā)明不限定于此，當(dāng)然能夠在不脫離其主旨的范圍內(nèi)進(jìn)行各種變更。
[0072]例如，驅(qū)動(dòng)器IC不限定于液晶顯示驅(qū)動(dòng)器，能夠適用于對(duì)其它的顯示面板進(jìn)行顯示驅(qū)動(dòng)的驅(qū)動(dòng)器，進(jìn)而適用于其它適當(dāng)?shù)尿?qū)動(dòng)器1C。此外，不限定于使用單位位移量At、鎖存偏移量tl、同步次數(shù)n、極限值N、以及容許電壓AV的全部來(lái)作為各種控制數(shù)據(jù)的情況，可以根據(jù)需要來(lái)使用單個(gè)或者多個(gè)。進(jìn)而也可以適當(dāng)使用其它的控制數(shù)據(jù)。此外，斷線檢測(cè)電路也可以直接連接于可在測(cè)試模式下使用的測(cè)試用的接口電路而接受測(cè)試裝置的控制。此夕卜，驅(qū)動(dòng)器IC不限定于如液晶顯示驅(qū)動(dòng)器那樣的單功能的驅(qū)動(dòng)器，例如也可以混載觸摸面板控制器或者在微型計(jì)算機(jī)中被芯片上安裝(on-chip)為一個(gè)周邊電路。
[0073]此外，在上述實(shí)施方式中，采用2個(gè)比較器22A、22B，利用比較器22A來(lái)比較由于斷線檢測(cè)用布線5因斷線而阻抗變高等使輸入電壓Vd2變得比檢測(cè)用電壓Vdl低的情況下的電位差，利用比較器22B來(lái)比較由于斷線檢測(cè)用布線5因玻璃基板的破損而與其它布線短路等使輸入電壓Vd2變得比檢測(cè)用電壓Vdl高的情況下的電位差，但是，本發(fā)明不限定于此，能夠僅由比較器22A構(gòu)成判別電路。
[0074]附圖標(biāo)記的說(shuō)明 I液晶顯示面板模塊 2玻璃基板
3顯示驅(qū)動(dòng)器4液晶顯不面板5斷線檢測(cè)用布線6輸出端子7輸入端子12主機(jī)接口電路13控制電路14幀緩沖存儲(chǔ)器(FBM)
15數(shù)據(jù)鎖存電路
16灰度電壓選擇電路
17源極驅(qū)動(dòng)器
18柵極控制驅(qū)動(dòng)器
19 VCOM驅(qū)動(dòng)器
Src_l?Src_n源極電極線
Gtdn_l?Gtd_m柵極電極線
Vcom共同電位
Vdl檢測(cè)用電壓
Vd2輸入電壓
20檢測(cè)電壓生成電路
AV容許電壓
21判別電路
CMPOUT判別結(jié)果
22A、22B比較器
23 “或”門
24鎖存電路
FFOUT鎖存信號(hào)
25異常次數(shù)計(jì)數(shù)器
CNTCLK計(jì)數(shù)時(shí)鐘
FFCLK鎖存時(shí)鐘
CNTCLK計(jì)數(shù)時(shí)鐘
26定時(shí)控制器
HSYNC水平同步信號(hào)
Δt單位位移量
N極限值
tl鎖存偏移
η同步次數(shù)
27存儲(chǔ)電路
27A、27B、27C 寄存器
30同步次數(shù)計(jì)數(shù)器
31邏輯電路32邏輯電路。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種驅(qū)動(dòng)器1C，具有與同步信號(hào)同步地將多個(gè)驅(qū)動(dòng)信號(hào)周期地輸出到被驅(qū)動(dòng)裝置的驅(qū)動(dòng)電路、以及檢測(cè)被驅(qū)動(dòng)裝置中的斷線的檢測(cè)電路，其中， 所述檢測(cè)電路具有: 判別電路，判別從輸出端子輸出檢測(cè)用電壓而反饋到輸入端子的輸入電壓相對(duì)于所述檢測(cè)用電壓是否具有期待的電壓關(guān)系； 鎖存電路，對(duì)由所述判別電路得到的其判別結(jié)果進(jìn)行鎖存； 異常次數(shù)計(jì)數(shù)器，對(duì)鎖存在所述鎖存電路中的判別結(jié)果連續(xù)地處于所述期待的電壓關(guān)系以外的期間進(jìn)行計(jì)數(shù)，在所述判別結(jié)果變?yōu)槠诖碾妷宏P(guān)系時(shí)初始化其計(jì)數(shù)值;以及 定時(shí)控制器，對(duì)鎖存在所述鎖存電路中的鎖存定時(shí)按照所述同步信號(hào)的每個(gè)規(guī)定周期以規(guī)定位移量進(jìn)行位移控制。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的驅(qū)動(dòng)器1C，其中，所述期待的電壓關(guān)系是所述檢測(cè)用電壓和輸入電壓的絕對(duì)值差電壓為容許電壓以內(nèi)， 所述判別電路基于在存儲(chǔ)電路中可改寫(xiě)地設(shè)定的容許電壓數(shù)據(jù)來(lái)判別是否具有所述期待的電壓關(guān)系。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的驅(qū)動(dòng)器1C，其中，所述定時(shí)控制器基于在所述存儲(chǔ)電路中可改寫(xiě)地設(shè)定的單位位移量數(shù)據(jù)來(lái)決定所述位移控制的規(guī)定位移量。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的驅(qū)動(dòng)器1C，其中，所述定時(shí)控制器按照在所述存儲(chǔ)電路中可改寫(xiě)地設(shè)定的鎖存偏移數(shù)據(jù)來(lái)決定將由所述判別電路得到的判別結(jié)果鎖存在所述鎖存電路中的最初的鎖存定時(shí)。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的驅(qū)動(dòng)器1C，其中，所述異常次數(shù)計(jì)數(shù)器在計(jì)數(shù)值達(dá)到了在所述存儲(chǔ)電路中可改寫(xiě)地設(shè)定的極限值數(shù)據(jù)的值時(shí)輸出異常信號(hào)。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的驅(qū)動(dòng)器1C，其中，所述定時(shí)控制器具有對(duì)與所述同步信號(hào)同步的變化的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)的同步次數(shù)計(jì)數(shù)器，在由所述同步次數(shù)計(jì)數(shù)器所計(jì)數(shù)的次數(shù)與由在所述存儲(chǔ)電路中可改寫(xiě)地設(shè)定的同步次數(shù)數(shù)據(jù)指定的次數(shù)一致時(shí)，使針對(duì)所述鎖存電路的下一鎖存定時(shí)回到初始定時(shí)。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的驅(qū)動(dòng)器1C，其中，所述異常次數(shù)計(jì)數(shù)器將所述判別結(jié)果為所述期待的電壓關(guān)系以外作為條件對(duì)計(jì)數(shù)脈沖進(jìn)行計(jì)數(shù)， 所述計(jì)數(shù)脈沖為與所述鎖存電路的鎖存定時(shí)同步地進(jìn)行脈沖變化的信號(hào)， 所述定時(shí)控制器輸出所述計(jì)數(shù)脈沖。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的驅(qū)動(dòng)器1C，其中，所述定時(shí)控制器按照所述同步信號(hào)的每個(gè)周期進(jìn)行所述鎖存定時(shí)的位移控制。9.一種電子設(shè)備，具有驅(qū)動(dòng)器IC以及由所述驅(qū)動(dòng)器IC驅(qū)動(dòng)的被驅(qū)動(dòng)裝置，其中， 所述被驅(qū)動(dòng)裝置具有斷線檢測(cè)用布線， 所述驅(qū)動(dòng)器IC具有與同步信號(hào)同步地將多個(gè)驅(qū)動(dòng)信號(hào)周期地輸出到所述被驅(qū)動(dòng)裝置的驅(qū)動(dòng)電路、以及檢測(cè)所述被驅(qū)動(dòng)裝置的斷線檢測(cè)用布線的斷線的檢測(cè)電路， 所述檢測(cè)電路具有: 判別電路，判別從連接于所述斷線檢測(cè)用布線的一端部的輸出端子輸出檢測(cè)用電壓而反饋到連接于所述斷線檢測(cè)用布線的另一端部的輸入端子的輸入電壓相對(duì)于所述檢測(cè)用電壓是否具有期待的電壓關(guān)系； 鎖存電路，對(duì)由所述判別電路得到的其判別結(jié)果進(jìn)行鎖存； 異常次數(shù)計(jì)數(shù)器，對(duì)鎖存在所述鎖存電路中的判別結(jié)果連續(xù)地處于所述期待的電壓關(guān)系以外的期間進(jìn)行計(jì)數(shù)，在所述判別結(jié)果變?yōu)槠诖碾妷宏P(guān)系時(shí)初始化其計(jì)數(shù)值;以及 定時(shí)控制器，對(duì)鎖存在所述鎖存電路中的鎖存定時(shí)按照所述同步信號(hào)的每個(gè)規(guī)定周期以規(guī)定位移量進(jìn)行位移控制。10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的電子設(shè)備，其中，所述期待的電壓關(guān)系是所述檢測(cè)用電壓和輸入電壓的絕對(duì)值差電壓為容許電壓以內(nèi)， 所述判別電路基于在存儲(chǔ)電路中可改寫(xiě)地設(shè)定的容許電壓數(shù)據(jù)來(lái)判別是否具有所述期待的電壓關(guān)系。11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的電子設(shè)備，其中，所述定時(shí)控制器基于在所述存儲(chǔ)電路中可改寫(xiě)地設(shè)定的單位位移量數(shù)據(jù)來(lái)決定所述位移控制的規(guī)定位移量。12.根據(jù)權(quán)利要求9所述的電子設(shè)備，其中，所述定時(shí)控制器按照在所述存儲(chǔ)電路中可改寫(xiě)地設(shè)定的鎖存偏移數(shù)據(jù)來(lái)決定將由所述判別電路得到的判別結(jié)果鎖存在所述鎖存電路中的最初的鎖存定時(shí)。13.根據(jù)權(quán)利要求9所述的電子設(shè)備，其中，所述異常次數(shù)計(jì)數(shù)器在計(jì)數(shù)值達(dá)到了在所述存儲(chǔ)電路中可改寫(xiě)地設(shè)定的極限值數(shù)據(jù)的值時(shí)輸出異常信號(hào)。14.根據(jù)權(quán)利要求9所述的電子設(shè)備，其中，所述定時(shí)控制器具有對(duì)與所述同步信號(hào)同步的變化的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)的同步次數(shù)計(jì)數(shù)器，在由所述同步次數(shù)計(jì)數(shù)器所計(jì)數(shù)的次數(shù)與由在所述存儲(chǔ)電路中可改寫(xiě)地設(shè)定的同步次數(shù)數(shù)據(jù)指定的次數(shù)一致時(shí)，使針對(duì)所述鎖存電路的下一鎖存定時(shí)回到初始定時(shí)。15.根據(jù)權(quán)利要求9所述的電子設(shè)備，其中，所述異常次數(shù)計(jì)數(shù)器將所述判別結(jié)果為所述期待的電壓關(guān)系以外作為條件對(duì)計(jì)數(shù)脈沖進(jìn)行計(jì)數(shù)， 所述計(jì)數(shù)脈沖為與所述鎖存電路的鎖存定時(shí)同步地進(jìn)行脈沖變化的信號(hào)， 所述定時(shí)控制器輸出所述計(jì)數(shù)脈沖。16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的電子設(shè)備，其中，所述定時(shí)控制器按照所述同步信號(hào)的每個(gè)周期進(jìn)行所述鎖存定時(shí)的位移控制。17.根據(jù)權(quán)利要求9所述的電子設(shè)備，其中，所述電子設(shè)備為液晶顯示面板模塊，在所述電子設(shè)備中，所述被驅(qū)動(dòng)裝置為形成于玻璃基板的液晶顯示面板， 所述斷線檢測(cè)用布線形成在所述玻璃基板的周緣部， 所述驅(qū)動(dòng)器IC被COG安裝于所述玻璃基板。18.根據(jù)權(quán)利要求9所述的電子設(shè)備，其中，所述電子設(shè)備為液晶顯示面板模塊，在所述電子設(shè)備中， 所述被驅(qū)動(dòng)裝置為形成于玻璃基板的液晶顯示面板， 所述斷線檢測(cè)用布線形成在所述玻璃基板的周緣部， 所述驅(qū)動(dòng)器IC在所述玻璃基板之上由低溫多晶硅TFT形成。19.根據(jù)權(quán)利要求9所述的電子設(shè)備，其中，所述判別電路具有:第一比較器，將所述檢測(cè)用電壓輸入到非反相輸入端子并將所述輸入電壓輸入到反相輸入端子;第二比較器，將所述檢測(cè)用電壓輸入到反相輸入端子并將所述輸入電壓輸入到非反相輸入端子；以及邏輯電路，對(duì)所述第一比較器的輸出和所述第二比較器的輸出進(jìn)行2輸入，輸出表不輸入電壓相對(duì)于所述檢測(cè)用電壓是否具有期待的電壓關(guān)系的信號(hào)， 所述期待的電壓關(guān)系是所述檢測(cè)用電壓和輸入電壓的絕對(duì)值差電壓為容許電壓以內(nèi)，所述容許電壓對(duì)于第一比較器為反相輸入端子側(cè)的偏移而對(duì)于第二比較器為非反相輸入端子側(cè)的偏移。
【文檔編號(hào)】G09G3/00GK106097940SQ201610274767
【公開(kāi)日】2016年11月9日
【申請(qǐng)日】2016年4月28日 公開(kāi)號(hào)201610274767.2, CN 106097940 A, CN 106097940A, CN 201610274767, CN-A-106097940, CN106097940 A, CN106097940A, CN201610274767, CN201610274767.2
【發(fā)明人】福手明子, 都倉(cāng)幸治, 服部茂雄
【申請(qǐng)人】辛納普蒂克斯日本合同會(huì)社