切換到測試畫面。提供單元130提供公共電壓給液晶顯示面板17是按照特定步長自動(dòng)調(diào)節(jié)公共電壓值，并將調(diào)整的公共電壓值提供給液晶顯示面板17。
[0030]其中，提供單元130可以僅在第一次提供公共電壓給液晶顯示面板17后，將顯示面板17所顯示的畫面切換到測試畫面，液晶顯示面板17在以后公共電壓驅(qū)動(dòng)下，均在此測試畫面下進(jìn)行測試閃爍度即可。處理單元13第一次提供的公共電壓為初始公共電壓，此初始公共電壓可以是一預(yù)先估計(jì)的最佳公共電壓。
[0031]處理單元13計(jì)算出在所有公共電壓下每個(gè)測試位置處的所有閃爍度具體過程可以是，可以依次對(duì)每個(gè)測試位置進(jìn)行測試，具體而言，即對(duì)某一個(gè)測試位置進(jìn)行測試時(shí)，將公共電壓依次設(shè)置成公共電壓測試值，且每設(shè)置成一個(gè)公共電壓測試值時(shí)，對(duì)該測試位置的閃爍度進(jìn)行一次測試(一次測試包括同一公共電壓測試值下多次測試閃爍度，然后取閃爍度平均值的情況，即一個(gè)公共電壓對(duì)應(yīng)一個(gè)閃爍度)，從而得到該測試位置在多個(gè)公共電壓測試值下的閃爍度，然后換另一個(gè)測試位置進(jìn)行測試，最終得到所有測試位置的閃爍度，也可以每設(shè)置一個(gè)公共電壓測試值同時(shí)對(duì)所有測試位置進(jìn)行測試，即在第一個(gè)公共電壓測試值下，測試每個(gè)測試位置的閃爍度，在第二個(gè)公共電壓下，測試每個(gè)測試位置的閃爍度，如此繼續(xù)上述操作，直到在所有預(yù)設(shè)公共電壓測試值下，測試完成對(duì)應(yīng)每個(gè)測試位置的所有閃爍度。每個(gè)測試位置處所有公共電壓與所有閃爍度之間的關(guān)系即如圖1D的關(guān)系曲線，即對(duì)每一個(gè)測試位置，根據(jù)測試位置的閃爍度擬合出的一個(gè)測試位置的閃爍度和公共電壓的關(guān)系曲線，其為能夠準(zhǔn)確反映測試位置的閃爍度隨著公共電壓變化規(guī)律的曲線。
[0032]處理單元13可以為ARM處理器、MCU(Microcontroller Unit，微控制單元)等。
[0033]進(jìn)一步地，處理單元13還可包括快速傅立葉變換(FFT)模塊131和判斷模塊133。快速傅立葉變換模塊131，用于對(duì)數(shù)字信號(hào)進(jìn)行快速傅立葉變換等處理計(jì)算出在所有公共電壓下每個(gè)測試位置處的所有閃爍度。其中，通過傅里葉變換計(jì)算得到閃爍度為目前現(xiàn)有做法，在此不再贅述。判斷模塊133，用于判定是否已計(jì)算完所有公共電壓下每個(gè)測試位置處的所有閃爍度，若否，則繼續(xù)計(jì)算。
[0034]控制單元15，與處理單元13相連，用于根據(jù)每個(gè)測試位置處所有公共電壓與所有閃爍度之間的關(guān)系，輸出控制結(jié)果。
[0035]其中，控制單元15可以為上位機(jī)等設(shè)備?？刂平Y(jié)果包括圖表和關(guān)系曲線，關(guān)系曲線例如為每個(gè)測試位置處所有公共電壓與所有閃爍度之間的關(guān)系曲線，如圖1D中的上方曲線圖所示，圖1D中的上方曲線圖中的9條曲線分別是測試位置1-9所有公共電壓與公共電壓下對(duì)應(yīng)的閃爍度之間的關(guān)系曲線，圖表例如為每個(gè)測試位置處最佳公共電壓與每個(gè)測試位置的對(duì)應(yīng)圖(如圖1D中的左下圖所示)，其中，最佳公共電壓為每個(gè)測試位置處的最小閃爍度對(duì)應(yīng)的公共電壓，圖1D中的左下圖中的測試位置1-9的最佳公共電壓分別為:3.7伏特、3.8伏特、3.7伏特、3.8伏特、3.9伏特、3.7伏特、4.1伏特、4.1伏特、4.2伏特。另外，控制結(jié)果還可以包括液晶顯示面板17的建議公共電壓。液晶顯示面板17的建議公共電壓分情況可以包括如下兩種:一種是，例如若要保證液晶顯示面板17公共電壓均一性，則可以將每個(gè)測試位置處最小閃爍度對(duì)應(yīng)的公共電壓相差較小的一個(gè)電壓作為建議公共電壓，如圖1D所示，建議公共電壓為與測試位置1-9處的最佳公共電壓相差較小的一個(gè)電壓，另一種是若要保證液晶顯示面板17中心區(qū)域最不閃爍，則可以將液晶顯示面板17中心區(qū)域的測試位置最小閃爍度對(duì)應(yīng)的公共電壓作為建議電壓，如圖1D中即為測試位置5的最佳公共電壓3.9伏特。
[0036]綜上所述，本實(shí)施例提供的顯示面板閃爍度測試裝置，通過液晶顯示面板在每一個(gè)公共電壓驅(qū)動(dòng)下，采集單元采集液晶顯示面板每個(gè)測試位置處的亮度信號(hào)，并將所采集的所有公共電壓下每個(gè)測試位置處的亮度信號(hào)轉(zhuǎn)換為模擬電信號(hào)，處理單元將模擬電信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)，并根據(jù)數(shù)字信號(hào)依次計(jì)算出在所有公共電壓下每個(gè)測試位置處的所有閃爍度，以得到每個(gè)測試位置處所有公共電壓與所有閃爍度之間的關(guān)系;控制單元根據(jù)每個(gè)測試位置處所有公共電壓與所有閃爍度之間的關(guān)系，輸出控制結(jié)果。本實(shí)用新型實(shí)施例避免了手動(dòng)測試所帶來的誤差，使得計(jì)算更加準(zhǔn)確，操作簡單，成本較低，并且提高了公共電壓下閃爍度的測試效率。
[0037]第二實(shí)施例
[0038]請參考圖2，其示出了本實(shí)用新型第二實(shí)施例提供的顯示面板閃爍度測試裝置的主要架構(gòu)框圖。圖2是在圖1的基礎(chǔ)上改進(jìn)而來的。其與圖1所示的裝置相似，其不同之處在于，圖2的顯示面板閃爍度測試裝置，還包括:設(shè)置模塊201。
[0039]設(shè)置模塊201，用于在液晶顯示面板17上設(shè)置多個(gè)測試位置。多個(gè)測試位置例如可以至少包括液晶顯示面板17中心區(qū)域的測試位置和液晶顯示面板17周邊區(qū)域的測試位置。
[0040]優(yōu)選地，所述設(shè)置模塊201還包括第一設(shè)置模塊203，第一設(shè)置模塊203用于設(shè)置9個(gè)測試位置，且其中5個(gè)測試位置分別位于液晶顯示面板的四個(gè)角落區(qū)域和一個(gè)中心區(qū)域，另外4個(gè)測試位置分別位于液晶顯示面板相鄰的每兩個(gè)角落區(qū)域測試位置的中間位置。
[0041]本實(shí)施例提供的顯示面板閃爍度測試裝置，還通過在液晶顯示面板17上設(shè)置多個(gè)測試位置，從而能夠自動(dòng)設(shè)置測試位置，避免了手動(dòng)設(shè)置所帶來的誤差，進(jìn)一步提高了公共電壓下閃爍度的測試效率。
[0042]以上所述，僅是本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已，并非對(duì)本實(shí)用新型作任何形式上的限制，雖然本實(shí)用新型已以較佳實(shí)施例揭露如上，然而并非用以限定本實(shí)用新型，任何熟悉本專業(yè)的技術(shù)人員，在不脫離本實(shí)用新型技術(shù)方案范圍內(nèi)，當(dāng)可利用上述揭示的技術(shù)內(nèi)容做出些許更動(dòng)或修飾為等同變化的等效實(shí)施例，但凡是未脫離本實(shí)用新型技術(shù)方案內(nèi)容，依據(jù)本實(shí)用新型的技術(shù)實(shí)質(zhì)對(duì)以上實(shí)施例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾，均仍屬于本實(shí)用新型技術(shù)方案的范圍內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種顯示面板閃爍度測試裝置，其特征在于，其包括: 設(shè)置于液晶顯示面板的每個(gè)測試位置處，所述液晶顯示面板在每一個(gè)公共電壓驅(qū)動(dòng)下，用于采集所述液晶顯示面板每個(gè)測試位置處的亮度信號(hào)，并將所采集的所有公共電壓下每個(gè)測試位置處的亮度信號(hào)轉(zhuǎn)換為模擬電信號(hào)的采集單元； 與所述液晶顯示面板、所述采集單元相連，用于將所述模擬電信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)，并根據(jù)所述數(shù)字信號(hào)依次計(jì)算出在所有公共電壓下每個(gè)測試位置處的所有閃爍度，以得到每個(gè)測試位置處所有公共電壓與所有閃爍度之間的關(guān)系的處理單元； 與所述處理單元相連，用于根據(jù)每個(gè)測試位置處所有公共電壓與所有閃爍度之間的關(guān)系，輸出控制結(jié)果的控制單元。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示面板閃爍度測試裝置，其特征在于，所述模擬電信號(hào)為模擬電壓信號(hào)。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示面板閃爍度測試裝置，其特征在于，所述采集單元為光電二極管，所述處理單元為ARM處理器或MCU，所述控制單元為上位機(jī)。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示面板閃爍度測試裝置，其特征在于，還包括:用于在所述液晶顯示面板上設(shè)置多個(gè)測試位置的設(shè)置模塊。5.根據(jù)權(quán)利要求1、4中任一項(xiàng)所述的顯示面板閃爍度測試裝置，其特征在于，所述測試位置至少包括所述液晶顯示面板中心區(qū)域的測試位置和所述液晶顯示面板周邊區(qū)域的測試位置。6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的顯示面板閃爍度測試裝置，其特征在于，所述設(shè)置模塊還包括:用于設(shè)置9個(gè)測試位置，且其中5個(gè)測試位置分別位于所述液晶顯示面板的四個(gè)角落區(qū)域和一個(gè)中心區(qū)域，另外4個(gè)測試位置分別位于所述液晶顯示面板相鄰的每兩個(gè)角落區(qū)域測試位置的中間位置的第一設(shè)置模塊。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示面板閃爍度測試裝置，其特征在于，所述處理單元還包括:用于提供每一個(gè)公共電壓給所述液晶顯示面板，并在提供公共電壓給所述液晶顯示面板后，將所述液晶顯示面板所顯示的畫面切換到測試畫面的提供單元。
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種顯示面板閃爍度測試裝置，所述顯示面板閃爍度測試裝置包括：液晶顯示面板在每一個(gè)公共電壓驅(qū)動(dòng)下，用于采集液晶顯示面板每個(gè)測試位置處的亮度信號(hào)，并將所采集的所有公共電壓下每個(gè)測試位置處的亮度信號(hào)轉(zhuǎn)換為模擬電信號(hào)的采集單元；用于將模擬電信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)，并根據(jù)數(shù)字信號(hào)依次計(jì)算出在所有公共電壓下每個(gè)測試位置處的所有閃爍度，以得到每個(gè)測試位置處所有公共電壓與所有閃爍度之間的關(guān)系的處理單元；用于根據(jù)每個(gè)測試位置處所有公共電壓與所有閃爍度之間的關(guān)系，輸出控制結(jié)果的控制單元。本實(shí)用新型顯示面板閃爍度測試裝置使得計(jì)算更加準(zhǔn)確，操作簡單，成本較低，并且提高了公共電壓下閃爍度的測試效率。
【IPC分類】G09G3/00, G02F1/13
【公開號(hào)】CN205140484
【申請?zhí)枴緾N201520776535
【發(fā)明人】常琳, 周永超, 張春宇
【申請人】昆山龍騰光電有限公司
【公開日】2016年4月6日
【申請日】2015年10月9日